JPS5994118A - 所定数の相互に独立した直流電圧の発生及び変更のための方法及び回路装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はＤ−Ａ変換器による読書き記憶装置に記憶さ
れた対応するディジタル値の変換によって所定数の相互
に独立した直流電圧を発生し１つ変更するための方法に
関する。この発明は更に、この方法を実施するための回
路装置に、特に、超音波による非破壊材料試験に使用さ
れる超音波測定及び試験装置におけるその方法及び回路
装置の使用に関する。

電子装置の調整のために又はこの種の装置を種種の場合
の動作条件に適合させるために、測定中は一定値にとど
まり、続いて装置を別の動作条件に適合させることがで
きるように非常に速く調整され得るような直流電圧を自
由に使えることが必要である。このような直流電圧は、
例えば、振幅ゲートの評価限界値の設定、これの接続時
間の変更、及び超音波装置の表示面へのパルスピークの
表示のために必要とされる。

この調整可能な直流電圧をポテンショメータ回路によっ
て発生することが一般に行われている。

しかし、これはそれぞれの直流電圧に対して個別のポテ
ンショメータを装置の前面パネル又は操作パネルに設け
なければならないという欠点を有する。この場合大きな
場所を必要とすることの外に装置の操作が困難になり、
又操作の誤りが極めて容易に起こり得る。

ラジオ及びテレビジョン技術から既に知られていること
であるが、例えばただ一つのポテンショメータ又はその
他の装置を用いて複数の相互に独立した直流電圧を発生
し、これをアナログ−ディジタル変換（Ａ−Ｄ変換）に
よりディジタル値に変換してディジタル値記憶装置に記
憶しておけば、それを呼び出してディジタル−アナログ
変換（Ｄ−Ａ変換）することにより直流電圧として使用
することができる。このような既知の装置は特に、直流
電圧により容量ダイオードを受信周波数への装置の同調
のために制御するように設計されている（例えば　ドイ
ツ国公開特許明細書第２５２０６７６号）、このような
装置な場合には、このような直流電圧が同時に発生され
るので、それぞれの設定されるべき直流電圧に対して別
々のＤ−Ａ変換器を設けなければならないことが特に不
利である。

更に、少なくとも一つのポテンショメータ又はアップ・
ダウン計数器によって記憶されるべき直流電圧をまず発
生しなければならす、しかもこの発生をそれぞれの変更
ごとに新しく行なわなければならないことが不利である
。このさい、直流電圧の一定の迅速な調整を行うことは
、この直流電圧を設定部品によりまず事前設定しなけれ
ばならないので不可能であるのか又はあまりにも煩雑で
ある。

簡単に、場所をとらずしかも安価に実現することができ
る方法であって、これを用いて選択可能な直流電圧を数
秒程度で迅速に変更することのできる最初に述べた種類
の方法を示すという問題がこの発明の基礎になっている
。更に、この発明による方法に対する回路装置も示され
るべきものである。

この問題は、この発明において、Ｄ−Ａ変換器を用いて
の読書き記憶装置に記憶された対応するディジタル値の
変換による所定数の相互に独立した直流電圧の発生及び
変更のための方法であって；直流電圧の発生が対応して
事前付与された時間（周期）中にそれぞれ連続して行わ
れること、連続して経過する周期が絶えず繰り返される
周期系列を形成すること；　この目的のために各個別の
周期中に、この周期のためにアドレスされた読書き記憶
装置（２）の領域の内容を一度事前調整として事前調整
可能な二進計数器（４）に読み込み且つその後再び読書
き記憶装置に読み込み戻して、この読み込み戻された計
数器状態をアナログ直流電圧に変換すること；　それぞ
れの直流電圧の最小値の変更を、事前調整として二進計
数器に読み込まれた記憶装置内容が１ディジタル段階だ
け減分又は増分されてその後に初めて実際の値として読
書き記憶装置に読み込み戻されてアナログ直流電圧に変
換されるように行うこと；　それぞれの直流電圧の最小
値の整数倍の変更のために対応する回数の周期系列の繰
返しを行うこと；を特徴とする上記の方法によって、あ
るいはマルチプレクサ（５）の入力（５α〜５ｒＬ）が
セレクタスイッチ（９）の接点（９α〜９ｒＬ）に接続
され１つそれの出力（５１）がアントゲ−１）の第１人
力に接続されていて、このアンドゲートの出力が事前調
整可能な二進計数器（４）のセット入力（４４）に接続
されていること；整定ボタン（８）がアンドゲート０３
）の第２人力と事前調整可能な二進計数器（４）の計数
入力（４１，４２）とに接続されていること；　読書き
記憶装置（２）の出力（２のが事前調整可能な二進計数
器（４）のプリセット入力（４３に接続され且つこの計
数器の出力（句が読書き記憶装置の入力（２１）に接続
されていること；Ｄ−Ａ変換器（６）の入力（６１）が
事前調整可能な二進計数器（４）の出力（４■に接続さ
れ且つこのＤ−Ａ変換器の出力（（至）がデマルチプレ
クサ（７）の入力（７１）に接続されていて、これの出
力（７α〜７ｒＬ）に発生直流電圧が存在していること
；　周期制御のためにシーケンス制御回路（１）が設け
られていて、これがアンドゲート０３）の第３人力と、
事前調整可能な二進計数器（４）の受取り人力（４６）
と、読書き記憶装置（２）のアドレス指定入力（２３）
、書込み入力（２４）及び読取り入力（２５）と、マル
チプレクサ（５）のアドレス指定入力（５２）と、デマ
ルチプレクサ（７）のアドレス指定入力（７２）とに接
続されていること；　パルス発生器旧）が設けられてい
てこれがシーケンス制御装置（１）に接続されているこ
と；　を特徴とする回路装置によって達成される。

この発明の特別の利点は、多数の調整されるべき直流電
圧（パラメータ）を持った装置の場合この電圧を単に二
つの回路素子によってディジタル的に調整できることで
ある。一方ではセレクタスイッチによって対応する変更
されるべき電圧の選択が行われる。そして他方では、例
えば抑圧スイッチにより、対応する電圧値が調整される
。この場合このスイッチは対応する所定の電圧値が達成
されるまで押圧される。特別の利点は非破壊材料試験用
の超音波試験装置の場合に存在するか、この装置では従
来使用されている範囲設定値、測定範囲選択、増幅調節
などの調整のための回転ノブが超音波試験のためのこの
装置の操作を著しく困難にしている。

この発明のその他の詳細事項及び利点は第１図ないし第
８図について説明される実施例から明らかになる。

第１図において、マルチプレクサ５の入力５ａないし５
ｒＬはセレクタスイッチ９の接点９αないし９ｒＬに接
続され、又マルチプレクサ出力５１はアンドゲート１３
の第１人力に導かれている。アンドゲート１３の第２人
力は整定ボタン８に接続され且つその第６人力はシーケ
ンス制御装置１に接続されている。このシーケンス制御
装置はバルマ発生器】ｌによって制御される。シーケン
ス制御装置ｌは二進分割器（図示せず）を備えている。

アンドゲート１３の出力は事前調整可能な二進計数器４
のセット人力４４に導かれている。二進計数器４のプリ
セット人力４３は読書き記憶装置２の出力２２に接続さ
れ、又この記憶装置の入力２１は二進計数器４の出力４
５とＤ−Ａ変換器６の入力６１とに接続されている。デ
マルチプレクサ７の入カフ１はＤ−Ａ変換器の出力６２
に接続されている。デマルチプレクサの出カフａ〜７ｎ
は発生された直流電圧の短時間記憶のためにコンデンサ
１５１１〜１５ｒＬに導かれている。シーケンス制御装
置１は導線１６０により個々の電圧のアドレス指定のた
めにマルチプレクサ５、読書き記憶装置２及びデマルチ
プレクサ７に接続されている。第１図においては又緩衝
蓄電池１２か設けられており、これがシーケンス制御装
置を経て読書き記憶装置に接続されているので、読書き
記憶装置の内容は動作中断期間中も保持される。

第２図ａないし第２図ｆはシーケンス制御装置ｌで発生
したパルスのいくつかを示す。第２図ａはパルス発生器
によって発生された周波数ｆのパルス列１５０を示して
いる。これからシーケンス制御装置１における図示され
ていない二進分割器により第２図６ないし第２図ｆに示
したパルス１５１ないし１５５が発生されるが、これは
この発明の詳細な説明するのに使用される。符号ｔａは
各周期の開始、ｔｅはその終了を示す。１周期はバルマ
１５１　（第２図ｂ）のＨ状態又はＬ状態によって決定
される。このパルスは、例えばｆ／２８の周波数が得ら
れるように、パルス列１５０を二進分割することによっ
て発生される。この周波数ｆ゛から生じるその他の周波
数ｆ／２１．ｆ／２２＋ないし例えばｆ／２１０は示さ
れていない。これらのパルスのうち、例えば周波数ｆ／
２８　、ｆ／２　”及びｆ／２ｒｏはマルチプレクサに
対するアドレスとして必要である。

この発明の詳細な説明するために、読書き記憶装置この
領域においては既に諸値が記憶されているものと仮定す
る。この諸値は偶然存在することもあり又先行の動作段
階から生じることもある。

記憶内容は緩衝蓄電池１２により動作中断の期間中も保
持される。

シーケンス制御装置１により導線１６０を介してアドレ
スされ且つ持続時間がそれぞれパルス１５１のＬ状態又
はＨ状態によって与えられる第１周期においては、この
周期に割り当てられた読書き記憶装置２の記憶領域がア
ドレスされる。導線１６２により読書き記憶装置の書込
み人力２４に供給されたバルマ１５２の持続時間中、ア
ドレスされた記憶領域の内容は導線】６１により二進計
数器４のシリセット入力４３０所に存在している。この
パルマ持続時間中計数器は導線１６３を通してパルマ１
５３により、記憶内容を受は取れという指令を受ける。

この周期においては、マルチプレクサの分岐回路にある
セレクタスイッチ９の接点９αが開いているのでアンド
ゲートが遮断されたままであるため、計数器４はそのセ
ット人力４４にアンドゲート１３からセットバルマを受
は取ることができない。導線１６５により読書き記憶装
置２の読取り人力２５に供給されたパルス１５５によっ
て読書き記憶装置２は計数器内容を導線１６６によりア
ドレスされた領域に変更しないで受は取るようにされる
。パルマ１５５の終了時（ｔ１５５）　　からこの周期
の終了時Ｃｔｅ）まで、すなわち時間ｔＡ／Ｄの間、計
数器内容はＤ−Ａ変換器６の入力６１に存在し、そこで
アナログ電圧Ｕ１に変換される。このアナログ電圧はデ
マルチプレクサ７を経てこの電圧のために設けられた記
憶コンデンサ１５ａに供給される。好都合にもコンデン
サ１５１Ｚは次の超周期の持続時間中、すなわちこの第
１周期が再びアドレスされるまでこのアナログ電圧を維
持するようなキャパシタンスを持ちさえすればよい。時
点ｔ−ｅの後洗の周期がアドレスされると、今アドレス
された読書き記憶装置２の領域について既述の経過が生
じて対応するアナログ電圧がコンデンサ１５ｂに電圧Ｕ
２として記憶される。

次に第６周期がアドレスされると、既に記述したように
、読書き記憶装置２の対応する領域の内容は計数器４に
送られる。この周期中アンドゲートは第１図及び第３図
に示したようにセレクタスイッチ９かも接点９Ｃを通し
てマルチプレクサ５を経てその第１人力に電圧を受ける
。整定ボタン８が負又は正の位置に置かれている場合に
はアンドゲートの第２人力も又電圧を受ける。導線１６
４におけるパルス１５４によりアンドゲートの第６人力
も電圧を有していてアンドゲートが開いているので、計
数器４０セット人力４４はパルス１５４の前縁でセット
指令を受ける。整定ボタン８がマイナス位置に設定され
たかプラス位置に設定されたかに従って、それゆえ計数
器４が計数方向入力４１．４．２により順方向計数を行
うように設定されているか逆方向計数を行うように設定
されているかに従って、読書き記憶装置のちょうどアド
レスされた領域の内容によって事前調整された計数器は
１ビツトだけ前進又は後退する。この現在変更された計
数器値は既に記述したようにパルス１５５によって実際
の値として読書き記憶装置の対応する領域に書き込まれ
且つ同時にＤ−Ａ変換器に供給されるので、コンデンサ
１５Ｃは新しい電圧値Ｕ３に再充電される。この新しい
電圧値は先行のものとは１ディジタル段階だけ異なって
いる。次の諸周期、すなわち周期４ないしルは周期ｌ及
び２と全く同様に経過する。

周期ルが終了すると、周期１ないしルが一定の繰返しで
再び行われる。この各繰返しにおいて電圧Ｕ３はセレク
タスイッチ及び整定ボタンが接続されたままであるかぎ
り、１ディジタル段階だけ変えられる。好都合にも、Ｋ
ディジタル段階のセット電圧の変更はやはり周期過程の
に回の繰返しを必要とするだけである。

今度は、整定ボタン８の短時間の操作（約０．１秒）の
操作によりセット電圧が１デイジタル値だけ変わるもの
と仮定すれば、セット電圧を最小値から最大値に変える
のにどれだけの時間がかかるかを概算することができる
。例えばパルス発生器１１に対して１１　ｋＨｚの周波
数を選択し且つ変えられるべき電圧の設定範囲をそれぞ
れ２５６デイジタル段階に分割すると、調整可能な全範
囲を一巡するためには、それぞれの設定されるべき範囲
に対して約２１秒の時間が必要である。この時間は次の
考察から明らかになる。

パルス１５１はＬ状態においても又Ｈ状態においてもそ
れぞれ１周期を規定する。パルス１５０のパルス繰返周
波数が１．　ｔ　ｋＨｚの場合には１周期は女ｘ　２”
／１１　ｋＨｚ　＝　１１．６　ｍｓの時間を持ッテイ
７）。

７つの電圧を発生して所望により変えることができる。

すなわち７周期が１周期系列を形成する（ｒＬ＝７）と
仮定すれば、１周期系列は約８１ｍ５持続することにな
る。次にアナログ電圧を２５６デイジタル段階だけ変え
るためには２５６Ｘ８１ｍＳｚ２／ｓ　　の時間が必要
である。

第６図には態形の回路装置が示されているが、これは第
１図のものに比べて、関数発生器１０の挿入により設定
時間が著しく短縮されるという利点を有している。この
関数発生器は時間に依存してパルス繰返周波数ｆ、すな
わちパルス発生器１１のパルス列１５０を増大させる。

整定ボタンの操作後、パルス発生器１１は最初その基本
周波数、すなわちこの例においてはｉ　１　ｋＨｚで発
振する。整定ボタン８の操作時間の増大とともに関数発
生器はその出力電圧を増大させ、従ってパルス発生器１
１の周波数を例えば１７０ｋＨｚまで増大させ名。

この目的のためにパルス発生器は電圧制御発振器（ＶＣ
Ｏ）でなければならない。この高い周波数は整定ボタン
の数秒の操作持続時間後には既に達成されている。この
高周波数と、二進分割によって制約された周期時間の短
縮とによって、電圧の全調整範囲を覆うための平均調整
時間は数秒になる。

例えば整定ボタンを長く押圧することによって電圧は粗
く事前調整され、そして短時間の抑圧によって所望の正
確な値にされる。

第４図に示したように、この発明による方法はマイクロ
プロセッサの配置にも都合よく適している。この例にお
いてはマイクロプロセッサ１６が図示されているが、こ
れはシーケンス制御装置１、マルチプレクサ５、二進計
数器４、読書き記憶装置２及びＤ−Ａ変換器６の機能を
代理する。そしてこのマイクロプロセッサには外部的に
セレクタスイッチ９、整定ボタン８、デマルチプレクサ
７、パルス発生器１１及び緩衝蓄電池１２が接続されて
いる。

第５図はマイクロプロセッサに対する簡単化された流れ
図を示す。この流れ図はやはり第１図及び第６図による
回路装置について読めばよい。流れ図は第１調整電圧で
スタートする（ブロック１０１　）、この調整電圧と関
係した読書き記憶装置の記憶領域が読み出される（ブロ
ック１０２）、マイクロプロセッサの計数器又は累算器
はこの読出し内容でセットされる（ブロック１０３）、
次にこの調整電圧に関係したセレクタスイッチの接点が
操作されたか否かが検査される（ブロック１０４）、肯
定の場合には（２０１）、整定ボタンがグラスにセット
されたか否かが検査される（ブロック１０５）、肯定の
場合には（２０２）、計数器が増分される（ブロック１
０６）、否定の場合には（２０３）、整定ボタンがマイ
ナスにセットされたか否かが検査される（ブロック１０
７）、肯定の場合には（２０４）、計数器が減分される
（ブロック１０８）、整定ボタンが操作されていない場
合、従って確認が行われていない場合には、計数器は不
変化のままである（２０５）、ブロック１０４において
この調整電圧と関連したセレクタスイッチが操作された
ことが確認されていない場合には（２０５）、計数器は
やはり不変化のままである。実際の計数器状態はＤ−Ａ
変換され、そしてこの調整電圧と関連した記憶コンデン
サはこのアナログ値まで充電又は被電させられる（ノロ
ツク１０９）、更に、実際の計数器状態は読書き記憶装
置におけるその関係の記憶領域に新たに書き込まれる（
ブロック１１０）、その後洗の調整電圧がアドレスされ
る（ノロツク１Ｊ１）、すべての調整電圧が一巡すると
、第１調整電圧が再びアトゝレスされる（ブロック１１
２）、このようにしてこの順序が絶えず繰り返される。

第６図は超音波パルスによる材料試験のための既知の回
路装置を示す。この図において超音波プローブは１７１
で示されている。このプローブは、トリガ段１７４に接
続されている送信器１７３がら電気パルスを受けてこれ
を超音波パルスに変換する。

この例ではこの同じプローブ１．７１は材料片における
反射物によって発生されたエコーパルマを受信してこれ
を電気パルスに変換し、この電気パルスを、感度限界値
の調整可能な増幅器１７５を通して範囲設定装置１７６
、　Ｉ　７７に導く１、こ坊の範囲設定装置を通過した
後この電気パルスは超音波装置の表示部分に供給されて
表示面１７８上に表示される。範囲設定装置１７６及び
１７７はそのそれぞれ開始時点１７９ａ及び１８０α並
びにそのそれぞれの終了時点】７９ｂ及び１８０／！ｌ
の変更によってその持続時間並びに時間的位置（時間範
囲）を調整することができる。それぞれの評価限界値１
７９Ｃ及びＪ８０Ｃ（振幅限界値）は各時間範囲ごとに
調整することができる。この時間範囲は表示面上で長方
形１７９及び１８０として示されている。この範囲設定
装置は、それぞれの時間範囲内に発生する超音波信号を
そのそれぞれの振幅が設定されたそれぞれの評価限界値
よりも大きい場合にかぎり超音波装置の表示面１７８上
に表示することを実現するものである。

第７図は枠内領域において、次の７つの調整可能な事項
（パラメータ）に対する調整ノブの普通の配置の例を示
している。

Ａ：第１の時間範囲１７９ノ初め１７９ａＢ：第１の時
間範囲１７９の終り１７９ｈＣ：〜の時間範囲１７９の
評価限界値１７９ＣＤ：第２の時間範囲１８０の初め１
８０ａＥ：第２の時間範囲１８０の終り１８０ｈＦ：こ
の時間範囲１８０の評価限界値１８０ＣＧ：増幅器１７
５の感度限界値 第８図においては枠内領域に、前記の７つのパラメータ
の調整のためのこの発明によるノブ又はボタンの配置が
示されているが、この場合好都合にも７パラメータの一
つを選択するための位置ＡないしＧを備えたただ一つの
セレクタスイッチ９とパラメータ値（調整電圧）を増分
（十）又は減分（−）するための一つの整定ボタン８が
必要なだけである。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の方法の実現及び説明のだめのこの発
明による回路装置のブロック式接続図である。 第２図ａから第２図ｆまではこの方法を説明するための
パルスの時間的関係を示す図である。 第６図は第１図の回路装置に対して関数発生器が付加さ
れているもののブロック式接続図である。 第４図はマイクロプロセッサによりこの発明の方法を実
現するためのブロック式接続図である。 第５図は、特にマイクロポロセッサを使用した場合の、
この発明の方法の順序を示す簡単化された流れ図である
。 第６図は、例えば第１図、第３図又は第４図による回路
装置を使用することのできる超音波試験装置を概略的に
示すブロック式接続図である。 第７図は第６図による超音波装置の前面パネルにおける
操作部品の普通の配置の例を示す。 第８図はこの発明による回路装置の一つを使用した場合
の第６図による超音波装置の前面パネルにおける操作部
品の配置例を示す。 これらの図面において、１はシーケンス制御装置、２は
読書き記憶装置、４は二進計数器、５はマルチプレクサ
、６はＤ−Ａ変換器、７はデマルチプレクサ、８は整定
ボタン、９はセレクタスイッチ、ｌＯは関数発生器、１
１はパルス発生器、１３はアンドゲート、１６はマイク
ロプロセッサを示す。 特許出願人　　クラウドクラマー・ゲゼルシャフト・ミ
ツト・ベシュレンクテルΦ ハフツヤク （ｌＡ、４る） ＦＩＧ、　４ １７Ｂ ＦＩＧ、　７　　　　　　　　　　ＦＩＧ、　８１、事
件の表示 昭和５８年特許　願第　７８８８８　　号３、補正をす
る者 事件との関係　　　出　願　人 住所 名　称　　クラウドクラマー・ゲゼルシャフトベット・
ベシュレンクテル・ハフランク ４、代理人 ５、補正命令の日付　　昭和５８年　８月３０日（発〆
臼）６、補正の対象 明細書の〔図面の簡単な説明〕の欄 ４、図面の簡単な説明 Ｚ補正の内容

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. （１）Ｄ−Ａ変換器を用いての読書き記憶装置に記憶さ
   れた対応するディジタル値の変換による所定数の相互に
   独立した直流電圧の発生及び変更のための方法であって
   、 −直流電圧の発生が対応して事前付与された時間（周期
   ）中にそれぞれ連続して行われること、−連続して経過
   する周期が絶えず繰り返される周期系列を形成すること
   、 −この目的のために各個別の周期中に、この周期のため
   にアドレスされた読書き記憶装置（２）の領域の内容を
   一度事前調整として事前調整可能な二進計数器（４）に
   読み込み且つその後再び読書き記憶装置に読み込み戻し
   て、この読み込み戻された計数器状態をアナログ直流電
   圧に変換すること、 −それぞれの直流電圧の最小値の変更を、事前調整とし
   て二進計数器に読み込まれた記憶装置内容が１ディジタ
   ル段階だけ減分又は増分されてその後に初めて実際の値
   として読書き記憶装置に読み込み戻されてアナログ直流
   電圧に変換されるように行うこと、 −それぞれの直流電圧の最小値の整数倍の変更のために
   対応する回数の周期系列の繰返しを行うこと、 を特徴とする前記の方法。
2. （２）直流電圧の最小値の倍数の変更のさいに調整時間
   を短縮するために周期時間を減小させんことを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項に記載の方法。
3. （３）−マルチプレクサ（５）の入力（５（Ｚ〜５ｎ、
   ）がセレクタスイッチ（９）の接点（９α〜９ｆＬ）に
   接続され且つそれの出力（５１）がアンドゲート０３）
   の第１人力に接続されていて、このアント９ゲートの出
   力が事前調整可能な二進計数器（４）のセット入力（４
   ４）に接続されていること、 −　整定ボタン（８）がアンドゲート０３）の第２人力
   と事前調整可能な二進計数器（４）の計数入力（４１゜
   ４２）とに接続されていること。 −読書き記憶装置（２）の出力（２渇が事前調整可能な
   二進計数器（４）のプリセット入力（４３）に接続され
   且つこの計数器の出力（４５１が読書き記憶装置の入力
   （２１）に接続されていること、 −Ｄ−Ａ変換器（６）の入力（６１）が事前調整可能な
   二進計数器（４）の出力（４５）に接続され且つこのＤ
   −Ａ変換器の出力（６２）がデマルチプレクサ（力の入
   力（７１）に接続されていて、これの出力（７α〜７ｎ
   、）Ｋ発生直流電圧が存在していること、−周期制御の
   ためにシーケンス制御回路（１）が設けられていて、こ
   れがアンドゲート０３）の第６人力と、事前調整可能な
   二進計数器（４）の受取り人力（４６）と、読書き記憶
   装置（２）のアドレス指定入力（２３）、書込み入力（
   ２４）及び読取り入力（２勺と、マルチプレクサ（５）
   のアドレス指定入力（５２）と、デマルチプレクサ（力
   のアト９レス指定入力（７２）とに接続されていること
   、 −パルス発生器（１１）が設けられていてこれがシーケ
   ンス制御装置（１）に接続されていること、を特徴とす
   る特許請求の範囲第１項に記載の方法を実施するための
   回路装置。
4. （４）関数発生器（１０）が設けられていて、これの入
   力が整定ボタン（８）に接続され且つそれの出力がパル
   ス発生器（１１）に接続されていて、このノセルス発生
   器０１）が電圧制御発振器（ＶＣ○）であることを特徴
   とする特許請求の範囲第６項に記載の回路装置。
5. （５）　　シーケンス制御回路（１）、マルチプレクサ
   （５）、二進計数器（４）、読書き記憶装置（２）及び
   Ｄ−Ａ変換器（６）がマイクロプロセッサ（１６）の諸
   部分であって、これに外部的にセレクタスイッチ（９）
   、整定ボタン（８）、デマルチプレクサ（力及びパルス
   発生器（１１）が接続されていることを特徴とする特許
   請求の範囲第３項に記載の回路装置。
6. （６）　　非破壊材料試験のための超音波試験装置にお
   ける、特許請求の範囲第１項及び第２項に記載の方法並
   びに特許請求の範囲第３項ないし第５項に記載の回路装
   置の使用。