JPS5993000A - 単結晶薄膜製造用基板 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、単結晶薄膜を製造するための新規な基板に関
する。
する。
大面積の薄膜および薄板状単結晶は、太陽電池はじめイ
メージングセンサ、超大規模集積回路およびエレクトロ
ルミネッセンス表示のために必要となっている。現在、
電子回路素子および表示用材料として使用されている半
導体や誘電体は、種結晶よシ3次元的に成長させた大き
な単結晶を。
メージングセンサ、超大規模集積回路およびエレクトロ
ルミネッセンス表示のために必要となっている。現在、
電子回路素子および表示用材料として使用されている半
導体や誘電体は、種結晶よシ3次元的に成長させた大き
な単結晶を。
一旦成長し、これを機械加工によって薄板状にして使用
に供されている。しかしながら、たとえば電子回路素子
として広く使用されているSi結晶を例にとれば、基板
上のトランジスタやダイオードなどの機能素子は、表面
よりわずか10〜20μmの場所に設置され、実際の基
板厚さは、その加工工程の都合から300〜400μm
の厚さとなっている。すなわち高価な単結晶基板の厚さ
の95%以上が単なる支持としての用途に用いられ、機
能素子の部分は、わずか5%未満の厚さである。
に供されている。しかしながら、たとえば電子回路素子
として広く使用されているSi結晶を例にとれば、基板
上のトランジスタやダイオードなどの機能素子は、表面
よりわずか10〜20μmの場所に設置され、実際の基
板厚さは、その加工工程の都合から300〜400μm
の厚さとなっている。すなわち高価な単結晶基板の厚さ
の95%以上が単なる支持としての用途に用いられ、機
能素子の部分は、わずか5%未満の厚さである。
本発明は、大面積で高純度な増結晶を、機能素子などに
必要な厚さだけ成長させるための基板を提供することを
目的とする。
必要な厚さだけ成長させるための基板を提供することを
目的とする。
以下に本発明の一実施例を説明する。本発明に従う単結
晶薄膜を製造するだめの基板を実現するために、まず従
来の方法によって(100)面を有するシリコン単結晶
ウェハを用意する。次いで(100)面を有するウニ、
ハを選択的にエツチングし、エツチング速度が遅いへき
開面である(111)面を有する第1図に示される原板
1を製造する。この原板1のピラミッド状の各面は、全
て(111)面である。このような選択的なエツチング
を行々うだめのエツチング液は、例えば、ヒドラジンノ
・イドロエイトであっても良く、NaOHであっても良
<、KOHであっても良く、エチレンジアミンとピロカ
テコールとの混合物であっても良く、その他の組成を有
しても良い。 ゛ 第1図に示される原板1の(111)面を有する表面に
軟質状態にある材料を押し当てて、第2図に示される基
板2を得る。この基板2を硬化して、基板2を完成する
。このような基板2を、必要な面積を得るために複数枚
隣接して並べることによって、大きな面積を有する(l
li)面を有する基板を得ることができる。
晶薄膜を製造するだめの基板を実現するために、まず従
来の方法によって(100)面を有するシリコン単結晶
ウェハを用意する。次いで(100)面を有するウニ、
ハを選択的にエツチングし、エツチング速度が遅いへき
開面である(111)面を有する第1図に示される原板
1を製造する。この原板1のピラミッド状の各面は、全
て(111)面である。このような選択的なエツチング
を行々うだめのエツチング液は、例えば、ヒドラジンノ
・イドロエイトであっても良く、NaOHであっても良
<、KOHであっても良く、エチレンジアミンとピロカ
テコールとの混合物であっても良く、その他の組成を有
しても良い。 ゛ 第1図に示される原板1の(111)面を有する表面に
軟質状態にある材料を押し当てて、第2図に示される基
板2を得る。この基板2を硬化して、基板2を完成する
。このような基板2を、必要な面積を得るために複数枚
隣接して並べることによって、大きな面積を有する(l
li)面を有する基板を得ることができる。
第3図は、第2図の基板2の凹所を示す簡略化した図で
ある。この四角錐状の凹所を形成する四つの各面は(1
11)面であり、その頂点は鋭い。
ある。この四角錐状の凹所を形成する四つの各面は(1
11)面であり、その頂点は鋭い。
第2図に示される基板2上に半導体や誘電体を必要な厚
みだけ結晶させることによって、単結晶薄膜を得ること
ができる。この際の結晶物質の堆積法は、蒸着、化学反
応成長法(CVD)、分子線および原子線エビタクシ−
などの気相成長法でもよく、まだ融液成長や溶液成長法
などのいわゆる液相成長法を用いることができる。基板
2の材料として必要な条件は、(a)基板2上への単結
晶の形成時における高温度、例えば500°C〜100
0℃に耐える材料であること、(b)軟質状態で単結晶
表面に押し当てた後に硬化しても、その硬化時に変形せ
ず、しかも基板2としての取り扱い上十分な強度を有す
ること、(c)結晶面である(111)面であるピラミ
ッドの形が正確に転写してレプリカすることができ、歪
みを生じないこと。および(d)安価であること。が必
要である。
みだけ結晶させることによって、単結晶薄膜を得ること
ができる。この際の結晶物質の堆積法は、蒸着、化学反
応成長法(CVD)、分子線および原子線エビタクシ−
などの気相成長法でもよく、まだ融液成長や溶液成長法
などのいわゆる液相成長法を用いることができる。基板
2の材料として必要な条件は、(a)基板2上への単結
晶の形成時における高温度、例えば500°C〜100
0℃に耐える材料であること、(b)軟質状態で単結晶
表面に押し当てた後に硬化しても、その硬化時に変形せ
ず、しかも基板2としての取り扱い上十分な強度を有す
ること、(c)結晶面である(111)面であるピラミ
ッドの形が正確に転写してレプリカすることができ、歪
みを生じないこと。および(d)安価であること。が必
要である。
このような基板2の材料としては、例えばセラミクスや
グラファイトなどが好適する。セラミクスとしては、例
えばアルミナAI!2o3を主成分とするセラミクスで
あっても良く、窒化ボロンBNを主成分とするセラミク
スであっても良く、SiCを主成分とするセラミクスで
あっても良く、また金属であっても良い。さらに、この
ような基板2の材料としてはガラスなどであっても良い
。
グラファイトなどが好適する。セラミクスとしては、例
えばアルミナAI!2o3を主成分とするセラミクスで
あっても良く、窒化ボロンBNを主成分とするセラミク
スであっても良く、SiCを主成分とするセラミクスで
あっても良く、また金属であっても良い。さらに、この
ような基板2の材料としてはガラスなどであっても良い
。
金属製の基板2け1次のようにして製造される。
第4図を参照して、原板3上に金属を蒸着して蒸着層4
を、第4図+1+のように形成する。この蒸着層4は1
例えばすすや亜鉛である。次に、第4図(2)で示され
るように蒸着層4を電極としてメッキを行ない、メッキ
層5を形成する。このメッキ層5は1例えばニッケルな
どであっても良い。そこで、第4図(3)に示されるよ
うにメッキ層5はろう6によって基台7上にろうづけす
る。ろう6としては、例えば金や銀などのように、その
後の単結晶形成時の温度に耐える融点の高い材料である
。
を、第4図+1+のように形成する。この蒸着層4は1
例えばすすや亜鉛である。次に、第4図(2)で示され
るように蒸着層4を電極としてメッキを行ない、メッキ
層5を形成する。このメッキ層5は1例えばニッケルな
どであっても良い。そこで、第4図(3)に示されるよ
うにメッキ層5はろう6によって基台7上にろうづけす
る。ろう6としては、例えば金や銀などのように、その
後の単結晶形成時の温度に耐える融点の高い材料である
。
基台7は1例えばステンレス鋼などであっても良い。こ
のようにして蒸着層4およびメッキ層5には、原板30
表面に形成されている(111)面が転写されることに
なる。そこで第4図(3)に示されている半製品を、蒸
着層4を選択的に溶融する溶融液に浸漬しする。これに
よって蒸着層4が溶融し、第4図(4)に示されるよう
に、メッキ層5とろう6と基台7とから成る基板8が得
られる。溶融液としては、例えば蒸着層4がすすである
ときには、塩酸である。
のようにして蒸着層4およびメッキ層5には、原板30
表面に形成されている(111)面が転写されることに
なる。そこで第4図(3)に示されている半製品を、蒸
着層4を選択的に溶融する溶融液に浸漬しする。これに
よって蒸着層4が溶融し、第4図(4)に示されるよう
に、メッキ層5とろう6と基台7とから成る基板8が得
られる。溶融液としては、例えば蒸着層4がすすである
ときには、塩酸である。
セラミクスやグラファイトやガラスに代えて用いられる
金属としては、例えばステンレス鋼、モリブデン、タン
グステン、白金などである。
金属としては、例えばステンレス鋼、モリブデン、タン
グステン、白金などである。
このようにしてメッキ層5の表面5aには、原板3の表
面に形成された(111)面が転写されて、レプリカさ
れる。このメッキ層5の表面5aに、半導体や誘電体を
結晶させることによって単結晶薄膜を得ることができる
。
面に形成された(111)面が転写されて、レプリカさ
れる。このメッキ層5の表面5aに、半導体や誘電体を
結晶させることによって単結晶薄膜を得ることができる
。
蒸着層4は、金々どであっても良い。蒸着層4を省略し
て、原板3上にメッキ層5を形成しても良い。原板3と
、その結晶面に蒸着またはメッキして得られるレプリカ
である基板とけ、原板3との熱膨張率が異なり、この熱
膨張率の違いを利用して原板3から基板8を取シ外すよ
うにしても良い。
て、原板3上にメッキ層5を形成しても良い。原板3と
、その結晶面に蒸着またはメッキして得られるレプリカ
である基板とけ、原板3との熱膨張率が異なり、この熱
膨張率の違いを利用して原板3から基板8を取シ外すよ
うにしても良い。
原板1,3を用いて多数の基板2,8を製造すると、原
板が変形、破壊、摩耗などしてくる。原板1,3を製造
することは手間がかかり、したがって基板2.8の生産
性が悪くなる結果となる。
板が変形、破壊、摩耗などしてくる。原板1,3を製造
することは手間がかかり、したがって基板2.8の生産
性が悪くなる結果となる。
この問題を解決するために、本発明に従えば次のように
して生産性を高めることができる。
して生産性を高めることができる。
第5図+1)を参照して、シリコン単結晶である原板9
の表面には(111)面が形成されている。この原板9
の表面に熱硬化性樹脂、例えばエポキシ樹脂などを軟質
状態で押し当てて第1の基板10を製造する。この第1
基板10の表面10aは、(111)面を有する。そこ
でこの第1基板10を硬化する。次に第5図(2)で示
されるように第1基板10の(111)面を有する表面
10a上に軟質状態にある熱硬化性樹脂を押し当てて、
第2の基板11を作る。次いでこの第2基板11を硬化
する。このようにして第2基板11には、原板10と同
一の形状を有する表面が転写して得られる。
の表面には(111)面が形成されている。この原板9
の表面に熱硬化性樹脂、例えばエポキシ樹脂などを軟質
状態で押し当てて第1の基板10を製造する。この第1
基板10の表面10aは、(111)面を有する。そこ
でこの第1基板10を硬化する。次に第5図(2)で示
されるように第1基板10の(111)面を有する表面
10a上に軟質状態にある熱硬化性樹脂を押し当てて、
第2の基板11を作る。次いでこの第2基板11を硬化
する。このようにして第2基板11には、原板10と同
一の形状を有する表面が転写して得られる。
次に第5図(3)に示されるように、第2基板11a上
に単結晶形成のための条件(a)〜(d)を備えだ材料
から成る軟質状態の第3基板12を押し当てる。
に単結晶形成のための条件(a)〜(d)を備えだ材料
から成る軟質状態の第3基板12を押し当てる。
このようにして得られた軟質基板12を硬化して、第5
図(4)で示される第3基板12を得る。第3基板12
は1例えば前述のようにセラミクスやグラファイトやガ
ラスであっても良く、また第2基板11の単結晶表面に
蒸着またはメッキし、その後第2基板11を加熱によっ
てまたは薬品などによって除去して製造しても良い。こ
のようにすれば。
図(4)で示される第3基板12を得る。第3基板12
は1例えば前述のようにセラミクスやグラファイトやガ
ラスであっても良く、また第2基板11の単結晶表面に
蒸着またはメッキし、その後第2基板11を加熱によっ
てまたは薬品などによって除去して製造しても良い。こ
のようにすれば。
結晶が形成される第3基板12は、第2基板11を共通
に用いて、多数枚製造することができ、この共通に用い
られる第2基板11が摩滅、摩耗、変形、破壊などした
ときには、第1基板10をもとに再び多数製造すること
ができる。また、第1原板10が使用に耐えなくなった
ときに初めて、原板9から原板10を製造すれば良い。
に用いて、多数枚製造することができ、この共通に用い
られる第2基板11が摩滅、摩耗、変形、破壊などした
ときには、第1基板10をもとに再び多数製造すること
ができる。また、第1原板10が使用に耐えなくなった
ときに初めて、原板9から原板10を製造すれば良い。
このようにして原板9からのレプリカである第1基板1
0の製造回数を減よすことができ、したがって原板9の
製造回数を減らすことができ、生産性の向上を図ること
ができる。
0の製造回数を減よすことができ、したがって原板9の
製造回数を減らすことができ、生産性の向上を図ること
ができる。
本発明に従えば、第2基板1,11を、熱硬化性樹脂に
代えてセラミクス、グラファイト、ガラスおよび金属な
どの材料によって製造し、この第2基板11上に単結晶
を形成するようにしても良い。
代えてセラミクス、グラファイト、ガラスおよび金属な
どの材料によって製造し、この第2基板11上に単結晶
を形成するようにしても良い。
このようにして得られた基板2,8,10,11.12
(これらを総括して参照符14で以下に示す)を隣接し
て一平面上に並べて大面積の単結晶薄膜を形成する代わ
りに、これらの基板14を第6図に示すように大きな直
円筒状ドラム13の表面に貼着けて固定し、支持ドラム
15との間にドラム13.15が回転しているときに軟
質状態の材料16を挾み込み、これによって基板14の
表面に形成されている(111)面を材料16上に転写
して、この材料16を基板として用いても良い。
(これらを総括して参照符14で以下に示す)を隣接し
て一平面上に並べて大面積の単結晶薄膜を形成する代わ
りに、これらの基板14を第6図に示すように大きな直
円筒状ドラム13の表面に貼着けて固定し、支持ドラム
15との間にドラム13.15が回転しているときに軟
質状態の材料16を挾み込み、これによって基板14の
表面に形成されている(111)面を材料16上に転写
して、この材料16を基板として用いても良い。
基板14に代えてシリコン単結晶であっても良い。シリ
コン単結晶の(111)面を有するピラミッド構造はそ
の高さが1例えば約1μm程度であシ、したがってドラ
ム13上に貼着けられる基板14の外形は例えば1mの
直径を有することによって(111)面の変形を無視す
ることができる範囲に抑えられる。
コン単結晶の(111)面を有するピラミッド構造はそ
の高さが1例えば約1μm程度であシ、したがってドラ
ム13上に貼着けられる基板14の外形は例えば1mの
直径を有することによって(111)面の変形を無視す
ることができる範囲に抑えられる。
基板1,9としては上述の実施例ではシリコンなどが用
いられたけれども、その他の結晶、例えば水晶などであ
っても良い。
いられたけれども、その他の結晶、例えば水晶などであ
っても良い。
第2図に示される基板8、および第5図に示される第3
基板12は、原板1,3.9のピラミッド構造の転写で
あるので、その(111)面から成る凹所を有する。こ
のような基板2,8.12の凹所底部は尖鋭であるので
、結晶が原板1,3゜9に比べて成長し易いという優れ
た効果が発揮される。またこれらの基板2,3,10,
11.12として優れた電気絶縁性を有する材料によっ
て実現したとき、それらの基板2,8,10,11゜1
2上に形成きれる誘電体結晶を用いた集積回路の機能素
子間の電気的絶縁を向上することができ、高密度集積化
が一層容易になる。またこのような基板2,8,10,
11.12の材料として熱伝導性の良好な材料を用いた
ときには、その上に形成される半導体や誘電体を用いた
集積回路などの熱放散を良好に行なうことができる。ま
たこれらの基板2,8,10,11.12が金属製であ
るときには、電極としてそのまま用いることができ。
基板12は、原板1,3.9のピラミッド構造の転写で
あるので、その(111)面から成る凹所を有する。こ
のような基板2,8.12の凹所底部は尖鋭であるので
、結晶が原板1,3゜9に比べて成長し易いという優れ
た効果が発揮される。またこれらの基板2,3,10,
11.12として優れた電気絶縁性を有する材料によっ
て実現したとき、それらの基板2,8,10,11゜1
2上に形成きれる誘電体結晶を用いた集積回路の機能素
子間の電気的絶縁を向上することができ、高密度集積化
が一層容易になる。またこのような基板2,8,10,
11.12の材料として熱伝導性の良好な材料を用いた
ときには、その上に形成される半導体や誘電体を用いた
集積回路などの熱放散を良好に行なうことができる。ま
たこれらの基板2,8,10,11.12が金属製であ
るときには、電極としてそのまま用いることができ。
接触抵抗をなくすことができる。またこれらの基板2,
8,10,11.12の材料として安価な物を用いて単
結晶を必要な厚みだけ形成することによって、極めて安
価な集積回路などを実現することができる。このような
レプリカされた基板上への結晶はたとえばGa Ash
In Sb などの半導体をはじめ、PbTiO
3やP L 7. Tなどの5’Ji@電体などの誘電
体であってもよい。
8,10,11.12の材料として安価な物を用いて単
結晶を必要な厚みだけ形成することによって、極めて安
価な集積回路などを実現することができる。このような
レプリカされた基板上への結晶はたとえばGa Ash
In Sb などの半導体をはじめ、PbTiO
3やP L 7. Tなどの5’Ji@電体などの誘電
体であってもよい。
本発明のさらに他の実施例として、単結晶へき開表面の
レプリカである第1基板を合成樹脂などの材料で作り、
その第1基板の表面に蒸着やメッキなどによって金属な
どの材料で第1基板のレプリカである第2基板を作り、
その後に第1基板を溶剤で洗い流す。
レプリカである第1基板を合成樹脂などの材料で作り、
その第1基板の表面に蒸着やメッキなどによって金属な
どの材料で第1基板のレプリカである第2基板を作り、
その後に第1基板を溶剤で洗い流す。
以上のように本発明によれば、単結晶のへき開表面のレ
プリカである基板上に単結晶薄膜を形成するようにした
ので、大面積の単結晶薄膜を生産することができるよう
になシ、これにより1人面積の単結晶薄膜が必要とされ
ている極めて大きな電子技術の各分野において広範囲に
実施されることができる。
プリカである基板上に単結晶薄膜を形成するようにした
ので、大面積の単結晶薄膜を生産することができるよう
になシ、これにより1人面積の単結晶薄膜が必要とされ
ている極めて大きな電子技術の各分野において広範囲に
実施されることができる。
第1図は1本発明の一実施例の基板2を製造するために
用いられる原板1の斜視図、第2図は本発明の一実施例
の基板1の斜視図、第3図は第2図に示される基板2の
一つの凹所を示す簡略化した図、第4図は本発明の他の
実施例の製造方法を示す断面図、第5図は本発明のさら
に他の実施例の製造方法を示す断面図、第6図は本発明
の他の実施例の製造方法を示す側面図である。 1.3.9・・・原板、2,8,10,11,12゜1
4・・・基板 代理人 弁理士 西教圭一部 第1図 第2図 第4図 (1) (2)(3)
(4)第5図
用いられる原板1の斜視図、第2図は本発明の一実施例
の基板1の斜視図、第3図は第2図に示される基板2の
一つの凹所を示す簡略化した図、第4図は本発明の他の
実施例の製造方法を示す断面図、第5図は本発明のさら
に他の実施例の製造方法を示す断面図、第6図は本発明
の他の実施例の製造方法を示す側面図である。 1.3.9・・・原板、2,8,10,11,12゜1
4・・・基板 代理人 弁理士 西教圭一部 第1図 第2図 第4図 (1) (2)(3)
(4)第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (11単結晶へき開表面のレプリカであることを特徴と
する単結晶薄膜製造用基板。 (2)前記レプリカは、軟質状態で単結晶のへき開表面
に押し当て、その後に、硬化して成ることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の単結晶薄膜製造用基板。 (3)前記レプリカは、単結晶のへき開表面を蒸着また
はメンキした後に単結晶のへき開表面から取シ外して成
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の単結晶
薄膜製造用基板。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57202298A JPS5993000A (ja) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | 単結晶薄膜製造用基板 |
DE8383306543T DE3371801D1 (en) | 1982-11-17 | 1983-10-27 | A substrate for manufacturing single crystal thin films |
EP83306543A EP0113954B1 (en) | 1982-11-17 | 1983-10-27 | A substrate for manufacturing single crystal thin films |
US06/732,855 US4735396A (en) | 1982-11-17 | 1985-05-10 | Substrate for manufacturing single crystal thin films |
US06/862,199 US4717630A (en) | 1982-11-17 | 1986-05-09 | Substrate for manufacturing single crystal thin films |
US06/927,710 US4758399A (en) | 1982-11-17 | 1986-11-07 | Substrate for manufacturing single crystal thin films |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57202298A JPS5993000A (ja) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | 単結晶薄膜製造用基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5993000A true JPS5993000A (ja) | 1984-05-29 |
JPS6129920B2 JPS6129920B2 (ja) | 1986-07-10 |
Family
ID=16455225
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57202298A Granted JPS5993000A (ja) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | 単結晶薄膜製造用基板 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US4735396A (ja) |
EP (1) | EP0113954B1 (ja) |
JP (1) | JPS5993000A (ja) |
DE (1) | DE3371801D1 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4874438A (en) * | 1986-04-01 | 1989-10-17 | Toyo Communication Equipment Co., Ltd. | Intermetallic compound semiconductor thin film and method of manufacturing same |
JPH0625370Y2 (ja) * | 1988-11-30 | 1994-07-06 | 橋本フォーミング工業株式会社 | 車輌用フロントウインドウモールディング |
DE3902452A1 (de) * | 1989-01-27 | 1990-08-02 | Heliotronic Gmbh | Mit einer strukturierten oberflaeche versehene substrate fuer das aufwachsen von erstarrenden schichten aus schmelzen, insbesondere von halbleitermaterial |
US4992699A (en) * | 1989-09-05 | 1991-02-12 | Eastman Kodak Company | X-ray phosphor imaging screen and method of making same |
US5580827A (en) * | 1989-10-10 | 1996-12-03 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Casting sharpened microminiature tips |
US5270098A (en) * | 1990-08-10 | 1993-12-14 | Harris Corporation | Lightweight, flexible waffleline interconnect structure and methods of producing same |
DE4202455C1 (ja) * | 1992-01-29 | 1993-08-19 | Siemens Ag, 8000 Muenchen, De | |
JP2572000B2 (ja) * | 1992-12-03 | 1997-01-16 | 本田技研工業株式会社 | 摺動面構成体 |
DE4317565A1 (de) * | 1993-05-26 | 1994-12-08 | Siemens Ag | Orientierte polykristalline Schicht auf einem Fremdsubstrat, Verfahren zu ihrer Herstellung und dafür geeignetes Werkzeug |
US6610235B1 (en) * | 1997-06-30 | 2003-08-26 | The Regents Of The University Of California | Method of fabricating epidermal abrasion device |
JP4111669B2 (ja) * | 1999-11-30 | 2008-07-02 | シャープ株式会社 | シート製造方法、シートおよび太陽電池 |
GB2362754A (en) * | 2000-05-25 | 2001-11-28 | Nanogate Ltd | A method of growing single crystals |
US6946362B2 (en) * | 2002-09-06 | 2005-09-20 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method and apparatus for forming high surface area material films and membranes |
DE102010020162A1 (de) * | 2010-05-11 | 2011-11-17 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Verfahren zur Strukturierung eines Strahlungsauskoppelelements |
WO2012030897A1 (en) * | 2010-09-02 | 2012-03-08 | Board Of Trustees Michigan State University | N-doped single crystal diamond substrates and methods therefor |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPS4834069A (ja) * | 1971-09-06 | 1973-05-15 | ||
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US4218283A (en) * | 1974-08-23 | 1980-08-19 | Hitachi, Ltd. | Method for fabricating semiconductor device and etchant for polymer resin |
US4333792A (en) * | 1977-01-03 | 1982-06-08 | Massachusetts Institute Of Technology | Enhancing epitaxy and preferred orientation |
US4147584A (en) * | 1977-12-27 | 1979-04-03 | Burroughs Corporation | Method for providing low cost wafers for use as substrates for integrated circuits |
GB1601206A (en) * | 1978-03-13 | 1981-10-28 | Massachusetts Inst Technology | Enhancing epitaxy or preferred orientation |
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US4250135A (en) * | 1979-05-17 | 1981-02-10 | Orsini Peter C | Roller for producing continuous sueded or grit type finish and method of making |
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EP0193830A3 (en) * | 1980-04-10 | 1986-10-01 | Massachusetts Institute Of Technology | Solar cell device incorporating plural constituent solar cells |
US4350561A (en) * | 1980-05-16 | 1982-09-21 | Spire Corporation | Single crystal processes and products |
US4303463A (en) * | 1980-09-29 | 1981-12-01 | Cook Melvin S | Method of peeling thin films using directional heat flow |
US4371421A (en) * | 1981-04-16 | 1983-02-01 | Massachusetts Institute Of Technology | Lateral epitaxial growth by seeded solidification |
US4565599A (en) * | 1981-12-21 | 1986-01-21 | Massachusetts Institute Of Technology | Graphoepitaxy by encapsulation |
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US4444620A (en) * | 1983-09-12 | 1984-04-24 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Growth of oriented single crystal semiconductor on insulator |
-
1982
- 1982-11-17 JP JP57202298A patent/JPS5993000A/ja active Granted
-
1983
- 1983-10-27 EP EP83306543A patent/EP0113954B1/en not_active Expired
- 1983-10-27 DE DE8383306543T patent/DE3371801D1/de not_active Expired
-
1985
- 1985-05-10 US US06/732,855 patent/US4735396A/en not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-05-09 US US06/862,199 patent/US4717630A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-11-07 US US06/927,710 patent/US4758399A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0113954B1 (en) | 1987-05-27 |
US4717630A (en) | 1988-01-05 |
EP0113954A1 (en) | 1984-07-25 |
US4758399A (en) | 1988-07-19 |
JPS6129920B2 (ja) | 1986-07-10 |
DE3371801D1 (en) | 1987-07-02 |
US4735396A (en) | 1988-04-05 |
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