JPS5991510A - Testing device of function in process control - Google Patents
Testing device of function in process controlInfo
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- JPS5991510A JPS5991510A JP57201528A JP20152882A JPS5991510A JP S5991510 A JPS5991510 A JP S5991510A JP 57201528 A JP57201528 A JP 57201528A JP 20152882 A JP20152882 A JP 20152882A JP S5991510 A JPS5991510 A JP S5991510A
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B17/00—Systems involving the use of models or simulators of said systems
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- G—PHYSICS
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0256—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults injecting test signals and analyzing monitored process response, e.g. injecting the test signal while interrupting the normal operation of the monitored system; superimposing the test signal onto a control signal during normal operation of the monitored system
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明はプラントのプロセス制御をhうプロセス制御
計算機の機能を試験する機能試験装置に関するものであ
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a functional testing device for testing the functionality of a process control computer that performs process control in a plant.
従来この種の装置として第1図に示すものがあった。図
において(1)はプロセス制御計算機で、(2)はプロ
セス制御プログラムメモリ(このメモリに関連する機能
全般を含めてプロセス制御用ソフトウェアと言うことも
できる。)、+31は診断用プログラムメモリ(このメ
モリに関連する機能全般を含めて機能テスト用ソフトウ
ェアと言うこともできる。)である。A conventional device of this type is shown in FIG. In the figure, (1) is a process control computer, (2) is a process control program memory (which can also be called process control software including all functions related to this memory), and +31 is a diagnostic program memory (this It can also be called functional testing software, including all functions related to memory.)
多くの場合、プロセス制御計算機(1)はマイクロコン
ピュータで、ホスト計算機の制御の下にプラントのプロ
セスの一部を制御する。ホスト計算機によ?て制御され
るこのよりなマイクロコンピュータを必要台数備えてプ
ラント全体のプロセス制御を行っている。プロセス制御
を行う場合、プロセス制御計算機[11はプロセス制御
プログラムメモリ(2)からのプログラムを読出してそ
のプログラムの命する所に従ってプロセス制御ヲ行って
いる。In many cases, the process control computer (1) is a microcomputer that controls part of the plant process under the control of a host computer. By host computer? The required number of microcomputers are installed to control the entire plant process. When performing process control, the process control computer [11] reads a program from the process control program memory (2) and performs process control according to the instructions of the program.
この場合は診断用プログラムメモリ(3)は読出されな
い。In this case, the diagnostic program memory (3) is not read out.
プロセス!ti制御プログラムの診断を行う(一般的に
もえばプロセス1blI御割算機の機能テストを行う〕
W1合には、普通の場合はプロセス制御計算機(1)か
らのプロセス大田力を遮断し、診断用プログラムメモリ
(3)を読出してそのプログラムを実行することによっ
て1.プロセス入力をシミュレート(simu−Iat
e)する16号を発生してプロセス制御)用ソフトウェ
アt21 VC4え、かつプロセス制御用ソフトウェア
(2)からのプロセス出力を機能テスト用ソフトウェア
(3)において判定し又は処理することによってプロセ
ス制?i11詣算弓(1)の機能を試練する。プロセス
;li’制御^−1:9IQ9 filに与えられる外
部環境をシミュレートするだめの11′1報はあらかじ
め診断用プログラムに組込′1′れており、試験結果を
判定するのに多・数のテークを必費とする場合、これら
のデータはプロセス匍1 ;、’H−1ルー1トウェア
(2)から順次出力され、機能テスト用ソフトウェア(
3)に集められた上で、試、I(1カ結果の判定に用い
られる。process! Diagnose the ti control program (generally, perform a functional test of the process 1blI control divider)
In case of W1, normally, the process output from the process control computer (1) is cut off, the diagnostic program memory (3) is read out, and the program is executed. Simulate process inputs (simu-Iat
e) Software for process control (T21 VC4) by generating No. 16 to perform process control) and determining or processing the process output from the process control software (2) in the function test software (3)? Test the functions of the i11 Pilgrimage Bow (1). The 11'1 information for simulating the external environment given to the process; li' control^-1:9IQ9 fil is pre-installed in the diagnostic program, and many times are needed to judge the test results. If it is necessary to take a number of takes, these data are sequentially output from the process 匍1;,'H-1 route software (2) and sent to the functional test software (2).
After being collected in 3), it is used to judge the results of the test.
従来の装置;5、はり、上のように構成埒れているので
、壌[(〕1用プログラムメモリ(3)を読出してこれ
を実行することは、当然、プロセス?lii制御プログ
ラムメモ1月2)を読出してこれを実行する作業に影響
を及す。Conventional device: 5. Since the configuration is as shown above, it is natural to read the program memory (3) for the program memory (3) and execute it as a process? 2) and affects the work of reading and executing it.
したがって、診断用プログラムは簡単なものしか実現す
ることができず、プロセス制御言」算機(1)の機能を
動的に動作試験することは困難であるという欠点があっ
た。Therefore, only a simple diagnostic program can be implemented, and it is difficult to dynamically test the functions of the process control computer (1).
この発明は従来のものの上記の欠点を除去するためにな
されたもので、共通のチータウエイに接続されている複
数台のプロセス制御計算機に対し共通な診断用■算機を
設け、この診断用計算機内に機能テストソフトウェアと
入出力ソフトウェアとを内蔵し、ぢシ能試験を実施しよ
りとするプロセス制御計算機に対し診断用計9機からチ
ータウエイを介してプロセス入出力をシミュレートする
信号を入出力するよ5 VC構成し/ζものである。こ
のように構成すると、診断用割算機は機能試験の対象と
なるプロセス’+ii制御計算機の動作によって制限を
受けることなく、機74トチストソフトウェアと人出力
ソフトウエアを自由VC動作させることができるので、
プロセス?tiIt御計11−機の機能を動的に動作状
j%〒することができる。This invention was made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks of the conventional ones, and it provides a common diagnostic computer for multiple process control computers connected to a common cheatway, and The system has built-in function test software and input/output software, and inputs/outputs signals simulating process input/output from a total of 9 diagnostic machines to the process control computer used for performing performance tests via Cheetahway. 5 VC is configured/ζ. With this configuration, the diagnostic divider is not restricted by the operation of the process '+ii control computer that is the subject of the functional test, and can operate the machine 74 tocist software and human output software using free VC. So,
process? It is possible to dynamically change the operating state of the machine's functions.
以−ト、この発明の実施例を図面について説明する。第
2図はこの発明の一実施例を示すブロック[・ン[で、
1101 、 fin Uそれぞれプロセス制御計算機
、(2o)は診断用計算機、(31)、(32)はそれ
ぞれ機能テストソフトウェア、(4)は入出力ソフトウ
ェア、(5)はデータウェイ、(61)、(62)はそ
れぞれ入出力装置、(7)はマンマシンインタフェース
装置でアル。Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. FIG. 2 shows a block diagram showing an embodiment of the present invention.
1101 and fin U are each a process control computer, (2o) is a diagnostic computer, (31) and (32) are each a functional test software, (4) is an input/output software, (5) is a data way, (61), ( 62) are input/output devices, and (7) is a man-machine interface device.
プラントからのプロセス入出力は入出力装置(61)
。Process input/output from the plant is input/output device (61)
.
(62)からチータウエイ(5)を経てプロセス制御計
詩」≠1lo) 、 (1υに入出力されて処理される
。プラントの運転員はマンマシンインタフェース装置t
it、 t71 K 表示されるプラントの状態を観察
しながらプラントの制御を行う。From (62) through Cheetah Way (5), the process control signal is input/outputted and processed.
it, t71 K Control the plant while observing the displayed plant status.
夢能テストを実施しないで、プラントの運転ヲ行9楊合
は、診断用計算機′は不動作状態にある。If the plant is not running without performing a diagnostic test, the diagnostic computer is inactive.
プロセス制a: 8」算機[(!iに対する機能テスト
を実施する場合は、診断用計算機(20)は機能テスト
ンフトウェア(31)と入出力ソフトウェア(4)とを
発動しプロセス制御計算機uO)のプロセス入力をシミ
ュレートする信号を発生しデータウェイ(5)を介して
プロセス制御計算機110i K入力する。捷たこの計
算機(10)からのプロセス出力はデータウェイ(5)
を経て診断用計算(1f2U)に入力される。Process system a: 8" computer [(! When performing a functional test on the ) is generated and input to the process control computer 110iK via the data way (5). The process output from Katakotako's calculator (10) is the data way (5)
The data is input to the diagnostic calculation (1f2U) through .
以上の動作において、プロセス制御計算機1o)は機能
テストソフトウェア(31)、入出力ソフトウェア(4
]の動作とは無関係に動作することができるので、第1
図の構成の場合とは異り、上述のソフトウェアを動作さ
せるためプロセス’Ni1f御計算俵1101に負荷が
かかることはない。したがって、プロセス制御計算機t
llllは機能テストを実施する場合もこれを実施しな
い場合も同様な動作をすればよいので、動的な動作試験
を実行することができる。In the above operations, the process control computer 1o) includes the function test software (31) and the input/output software (4).
], so the first
Unlike the configuration shown in the figure, there is no load placed on the process 'Ni1f calculation bag 1101 in order to operate the above-mentioned software. Therefore, the process control computer t
Since llll can perform the same operation whether or not a functional test is performed, a dynamic operational test can be performed.
また、診断用計算機(2o+のテスト機能を増加するに
は機能テストソフトウェアを増力1し、プロセス制御計
算機101 、 (illの人出力を増力口する場合は
、入出力ソフトウェア(4)を修正又は追加することに
よh’12)’lFT’7汁Jjfl−+7−7L−J
、ニー1r茶y5Zプロセス入力に対しプロセス制御泪
n機の応答性が問題となるよう々場合をシミュレートす
る時、オ′1ン1に示す装置i−t、ではプロセス制御
計算機11)がプロセス制御プログラムメモリ(2)と
診断用プログラムメモリ(3;との両方を読出してこの
両方を実行しなければならぬので、実際のプロセス制御
の場合より応答が遅れることがあるが、第2図に示すこ
の発明の装置では、プロセス制御汀1算機dO)の動作
は人踪のプロセス制御の場合とそのシミュレーションの
場合とで全く同様でを)るので、同様な応答性をシミュ
レートでさるという効果がある。In addition, to increase the test function of the diagnostic computer (2o+), increase the function test software (1), and to increase the human output of the process control computer 101, (ill), modify or add the input/output software (4). By doing h'12)'lFT'7 juice Jjfl-+7-7L-J
When simulating a case where the responsiveness of the process control machine to the process input becomes a problem, the process control computer 11) is Since it is necessary to read and execute both the control program memory (2) and the diagnostic program memory (3), the response may be delayed compared to actual process control. In the apparatus of the present invention shown in FIG. effective.
〔発1シ1の効果〕
以上のようにこの発明によれは、プロセス!Ilj御=
tg+、’磯の外M6に診断用計算機を設けたので、応
答性の確認宿の高度な機能テスト−を実施することがで
き、丑だ多様なシミュレート様能あるいはテスト!ル能
を容易V(迫力ロ俊更することができるという効果があ
る。[Effects of the first effect] As described above, this invention is a process! Ilj's =
tg+ has installed a diagnostic computer at Iso no Soto M6, so it is possible to conduct advanced functional tests to confirm responsiveness, and to perform a wide variety of simulation functions and tests! It has the effect of being able to easily change the power level to V (powerful speed).
4、図111」の1″+’l’j単な説明第1図は従来
の装置を示すブロック図、第2図はこの発明の一実施例
を示すブロック図である。4. 1''+'l'j of ``Fig. 111'' Simple Explanation Fig. 1 is a block diagram showing a conventional device, and Fig. 2 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
+10) 、 01J・・・・・プロセス制御機、12
0)・・・・−・・診断用計算機、(31)、 (32
,1・・・機能テストソフトウェア、+41・・・・・
・・・・入出力ソフトウェア、+51・・・・・・・・
・データウェイ、(61)、(62,1・・・入出力装
置、+7)・・・・・・・・・・・・マンマシンインク
フェース装置。+10), 01J...Process control machine, 12
0)・・・・・・Diagnostic computer, (31), (32
,1... Functional test software, +41...
...Input/output software, +51...
- Data way, (61), (62,1...input/output device, +7)...Man-machine ink face device.
代理人 葛 野 信 −Agent Nobu Kuzuno -
Claims (1)
、上記データウェイに接続される入出力装置と、上記プ
ロセス制御計算機から上記入出力装置を介してプラント
のプロセス制御を行う手段と、上記データウェイに接続
され機能テストソフトウェアと入出力ソフトウェアとを
内蔵する診断用計算機と、この診断用計算機から上記デ
ータウェイを介して上記プロセス制御計算機に対する機
能テストを行い、プロセス入出カラシミュレートした入
出力を行う手段とを備え、たプロセス制御における機能
テスト装置。a process control computer connected to a common dataway; an input/output device connected to the dataway; a means for controlling a plant process from the process control computer via the input/output device; a diagnostic computer which is connected and has built-in function test software and input/output software; and a means for performing a function test from the diagnostic computer to the process control computer via the data way and performing input/output that simulates the process input/output color. Functional test equipment in process control.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57201528A JPS5991510A (en) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | Testing device of function in process control |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57201528A JPS5991510A (en) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | Testing device of function in process control |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5991510A true JPS5991510A (en) | 1984-05-26 |
Family
ID=16442536
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57201528A Pending JPS5991510A (en) | 1982-11-17 | 1982-11-17 | Testing device of function in process control |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5991510A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63316105A (en) * | 1987-06-18 | 1988-12-23 | Mitsubishi Electric Corp | Simulation device for programmable controller |
US7467051B2 (en) | 2005-12-07 | 2008-12-16 | Marine Cybernetics As | Method and a system for testing of a power management system of a marine vessel |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5371772A (en) * | 1976-12-07 | 1978-06-26 | Komatsu Ltd | Simulation load system of sequence controller |
-
1982
- 1982-11-17 JP JP57201528A patent/JPS5991510A/en active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5371772A (en) * | 1976-12-07 | 1978-06-26 | Komatsu Ltd | Simulation load system of sequence controller |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63316105A (en) * | 1987-06-18 | 1988-12-23 | Mitsubishi Electric Corp | Simulation device for programmable controller |
US7467051B2 (en) | 2005-12-07 | 2008-12-16 | Marine Cybernetics As | Method and a system for testing of a power management system of a marine vessel |
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