JPS5984133A - 磁気軸受された回転体の不つり合い測定装置 - Google Patents
磁気軸受された回転体の不つり合い測定装置Info
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- JPS5984133A JPS5984133A JP19441682A JP19441682A JPS5984133A JP S5984133 A JPS5984133 A JP S5984133A JP 19441682 A JP19441682 A JP 19441682A JP 19441682 A JP19441682 A JP 19441682A JP S5984133 A JPS5984133 A JP S5984133A
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- Japan
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- arithmetic
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 6
- 239000003550 marker Substances 0.000 claims description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 abstract description 3
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M1/00—Testing static or dynamic balance of machines or structures
- G01M1/14—Determining imbalance
- G01M1/16—Determining imbalance by oscillating or rotating the body to be tested
- G01M1/22—Determining imbalance by oscillating or rotating the body to be tested and converting vibrations due to imbalance into electric variables
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Balance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
木シ１′シ明は、磁気軸受により支持さｎた回転体の不
つり合い測定装置に関する。
つり合い測定装置に関する。
磁気軸受とは、回転体を磁気力を利用して支持するＩＩ
ｉ！ｌｌ受である。この軸受は摩耗、疲労が無い等の特
徴があるため近年盛んな研究が行なわれている。この用
途には、例えばターボ分子ポンプ、遠心分離器、工作機
械用スピンドル等力アル。
ｉ！ｌｌ受である。この軸受は摩耗、疲労が無い等の特
徴があるため近年盛んな研究が行なわれている。この用
途には、例えばターボ分子ポンプ、遠心分離器、工作機
械用スピンドル等力アル。
磁気軸受は回転体を有する間係上、回転中の過大な振ｎ
廻りを回避する為、釣合修正を施さねば表らないことは
一般の回転機器と同様であるが下記のような欠点を有し
ていた。
廻りを回避する為、釣合修正を施さねば表らないことは
一般の回転機器と同様であるが下記のような欠点を有し
ていた。
α）釣合修正を施した回転体を、磁気軸受のステータ内
に組み込む場合、回転体に取り付けらｎた部品を構造上
取りはずさなけ１’Ｌばならないことがら９、せっかく
釣合をとっても無駄になってしまう。
に組み込む場合、回転体に取り付けらｎた部品を構造上
取りはずさなけ１’Ｌばならないことがら９、せっかく
釣合をとっても無駄になってしまう。
（２）釣合修正は、いわゆる釣合修正機（バランサー〕
を使用して行なうが、この機械での釣合状態と磁気支持
したときの釣合状態が微妙に異なり、磁気支４’：ｌ′
したときの回転：！、Ｔ Ｉ＋ｉでは過大表振れ廻りを
生ずることがある。
を使用して行なうが、この機械での釣合状態と磁気支持
したときの釣合状態が微妙に異なり、磁気支４’：ｌ′
したときの回転：！、Ｔ Ｉ＋ｉでは過大表振れ廻りを
生ずることがある。
（３）磁気軸受で支持した回転体に、秤々の付加質量を
装着して回転させることがあり、このＪＬ３合には性力
ＩＩ質１住の秒類がかわるごとに回転体をステータから
とりはずして釣合修正を実行せねばならない煩雑さがあ
る。
装着して回転させることがあり、このＪＬ３合には性力
ＩＩ質１住の秒類がかわるごとに回転体をステータから
とりはずして釣合修正を実行せねばならない煩雑さがあ
る。
上記のような欠点がある為、磁気軸受を使用した回転体
の釣合修正は、磁気支持さルた状態で、すなわち回転体
が磁久＋ＩＱＩ＋受に組み込１−ｎだ状態で行なわ才す
ることか望１ｎていた。
の釣合修正は、磁気支持さルた状態で、すなわち回転体
が磁久＋ＩＱＩ＋受に組み込１−ｎだ状態で行なわ才す
ることか望１ｎていた。
本発明は上述に述べた欠点を除去するためになさ′ｔ′
Ｌ、たもので、回転体を磁見軸受内に組み込んだ状態で
釣合修正する場合に泪測手段となる不っり合い測定装置
を提供している。以下図面に基づいて詳細に説明してい
く。
Ｌ、たもので、回転体を磁見軸受内に組み込んだ状態で
釣合修正する場合に泪測手段となる不っり合い測定装置
を提供している。以下図面に基づいて詳細に説明してい
く。
第１図は本発明に係る不つり合い測定装置を、磁気軸受
の断面図と共に示したものである。図において、１α、
ｌｂは回転体２０半径方同位置を電気的に検出する半径
方向位置検出コイルである。＞ ａ 、 ｉ ｂから得
ら几る半径万同位置信号は、図１ｒｉｌですよｑ′１略
しているが、磁気支持の安定化機構である制御装置に導
が扛最終的に磁気吸引力を発生する半径方間電磁石巻線
コイル３ａ、３ｂを励υ、′２して回転体２を２１６径
方向所足の位置に磁気支持せしめる。回転体２はモータ
４に、より回転駆動さ２’Ｌる。回転パルス検出回路５
は、軸端面にとりっけた回転検出マーカ６が回転速度検
出コイル７を通過するときのインダクタンス変化を捉え
て、１回転に１個のパルスを発生する。８は回転パルス
検出回路、５の出カバルス波形を整形する波形整形回路
である。回転軸に直交する面内で直角な２万回の半径方
向変位は半径方間変位検出回路９ａ、９ｂにょｔ）電気
信号に変換さ几、その出方信号はサンプラ−ｉｏ ａ
、 ｔａ ｂで波形整形回路８の出方に同期してサンプ
リングさ几る。サンプリング信号は続く第１演算回路１
１α、１１ｂに導か牡、回転検出マーカ６を基準とした
振扛１：と位相角が計算さｎる。回転体の基本的運動軌
跡は円であるが、実齢の軌跡輪円とはならず橢円軌跡と
なるのが普通である。この場合には、回転検出マーカ６
を基単にした位相角の算出に対し第１演算回露１１ａ。
の断面図と共に示したものである。図において、１α、
ｌｂは回転体２０半径方同位置を電気的に検出する半径
方向位置検出コイルである。＞ ａ 、 ｉ ｂから得
ら几る半径万同位置信号は、図１ｒｉｌですよｑ′１略
しているが、磁気支持の安定化機構である制御装置に導
が扛最終的に磁気吸引力を発生する半径方間電磁石巻線
コイル３ａ、３ｂを励υ、′２して回転体２を２１６径
方向所足の位置に磁気支持せしめる。回転体２はモータ
４に、より回転駆動さ２’Ｌる。回転パルス検出回路５
は、軸端面にとりっけた回転検出マーカ６が回転速度検
出コイル７を通過するときのインダクタンス変化を捉え
て、１回転に１個のパルスを発生する。８は回転パルス
検出回路、５の出カバルス波形を整形する波形整形回路
である。回転軸に直交する面内で直角な２万回の半径方
向変位は半径方間変位検出回路９ａ、９ｂにょｔ）電気
信号に変換さ几、その出方信号はサンプラ−ｉｏ ａ
、 ｔａ ｂで波形整形回路８の出方に同期してサンプ
リングさ几る。サンプリング信号は続く第１演算回路１
１α、１１ｂに導か牡、回転検出マーカ６を基準とした
振扛１：と位相角が計算さｎる。回転体の基本的運動軌
跡は円であるが、実齢の軌跡輪円とはならず橢円軌跡と
なるのが普通である。この場合には、回転検出マーカ６
を基単にした位相角の算出に対し第１演算回露１１ａ。
１１ ｂ内で補正演算も行なうようにしである。１１α
、１１ｂの演算結果に基づいて、第２演算回路１２では
、回転体２の軸方向のどこに不っり合いが存在するのか
を計算し、その結果は表示器１３に出力さ扛る。表示器
１３の出力結果に基づいて、回転体２にバランスウェイ
トを付加するが、回転体２の質量を部分的に除去すｎば
不りフ合い修正作業は完了する。しかしながら、磁気軸
受を用いた回転体では、軸方向にモータ、半径方向電磁
石等が配置さ扛ている為、不つり合い修正１作業の施せ
る場所が限定さｎてくる。そこで、あらかじめ定めた不
クシ合い修正可能装置における不っり合い修正量及び位
相角を求めるべく第３の演算回路１４を設け、その結果
は表示器１５に出力さ扛下っり合い修正を容易に行なえ
るようにしている。
、１１ｂの演算結果に基づいて、第２演算回路１２では
、回転体２の軸方向のどこに不っり合いが存在するのか
を計算し、その結果は表示器１３に出力さ扛る。表示器
１３の出力結果に基づいて、回転体２にバランスウェイ
トを付加するが、回転体２の質量を部分的に除去すｎば
不りフ合い修正作業は完了する。しかしながら、磁気軸
受を用いた回転体では、軸方向にモータ、半径方向電磁
石等が配置さ扛ている為、不つり合い修正１作業の施せ
る場所が限定さｎてくる。そこで、あらかじめ定めた不
クシ合い修正可能装置における不っり合い修正量及び位
相角を求めるべく第３の演算回路１４を設け、その結果
は表示器１５に出力さ扛下っり合い修正を容易に行なえ
るようにしている。
以上本発明の不つり合い測定装置にょ扛ば、回転体２を
磁気軸受に組み込んだままの状態で、不クク合い修正を
行なうことが可能となるため、回転体２を磁気、軸受か
らとりはずすと云う煩雑さから開放さ３．磁気支持状態
でのっり合いをとることができるのである。
磁気軸受に組み込んだままの状態で、不クク合い修正を
行なうことが可能となるため、回転体２を磁気、軸受か
らとりはずすと云う煩雑さから開放さ３．磁気支持状態
でのっり合いをとることができるのである。
図面は本発明に係る磁気軸受の不クク合い測定装置であ
る。 Ｊα、１ｂ、、半径方同位買検出コイル、２゜、回転体
、３Ｇ、３ｂ１．半径方間電磁石巻線コイル、４０．モ
ータ、５００回転パルス検出回路、６００回転検出マー
カ、７０９回転速度検出コイル、８１．波形整形回路、
９α、９ｂ、、半径方間変位検出回路、１０ａ、１０ｂ
、、サンプラー、ＩＪα、ｉｉｂ、、第１演算回路、１
２．、第２演算回路、１３−、、表示器、１４０．第３
演算回路、１５．。 表示器。 以上 出願人 株式会社第二精工合
る。 Ｊα、１ｂ、、半径方同位買検出コイル、２゜、回転体
、３Ｇ、３ｂ１．半径方間電磁石巻線コイル、４０．モ
ータ、５００回転パルス検出回路、６００回転検出マー
カ、７０９回転速度検出コイル、８１．波形整形回路、
９α、９ｂ、、半径方間変位検出回路、１０ａ、１０ｂ
、、サンプラー、ＩＪα、ｉｉｂ、、第１演算回路、１
２．、第２演算回路、１３−、、表示器、１４０．第３
演算回路、１５．。 表示器。 以上 出願人 株式会社第二精工合
Claims (1)
- 少なくとも１個の１１１＋方同磁Ｚ軸受と、少なくとも
２個の半径方向磁気軸受を備えた制御形磁気軸受に於い
て、回転軸と直交する面内で直角ガ２方向の半径方向変
位出力を回転速度検出装置の出力信号に同期してサンプ
リングするサンプラーと、ザンブリング信号金基にして
回転体の振ｎ量及び回転検出マーカを基準とした位相角
度を引算する第１の演算回路と、前記第１演算回路の演
算結果から回転体の不つり合い量と不クシ合い角度を計
算する第２の演算回路と、前記第２演算回路の演算結果
を表示する表示器と、前記第２演算回路の演算結果に基
づき回転体の不つり合い修正可能位置におけるアンバラ
ンス修正量及び修正角度を求める第３の演算回路とから
なる磁気軸受の不つり合い測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19441682A JPS5984133A (ja) | 1982-11-05 | 1982-11-05 | 磁気軸受された回転体の不つり合い測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19441682A JPS5984133A (ja) | 1982-11-05 | 1982-11-05 | 磁気軸受された回転体の不つり合い測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5984133A true JPS5984133A (ja) | 1984-05-15 |
| JPS6334416B2 JPS6334416B2 (ja) | 1988-07-11 |
Family
ID=16324235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19441682A Granted JPS5984133A (ja) | 1982-11-05 | 1982-11-05 | 磁気軸受された回転体の不つり合い測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5984133A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62220827A (ja) * | 1986-03-22 | 1987-09-29 | Shimadzu Corp | 釣合試験機 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5331184A (en) * | 1976-09-03 | 1978-03-24 | Hitachi Ltd | Balancing system for rotary machine |
-
1982
- 1982-11-05 JP JP19441682A patent/JPS5984133A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5331184A (en) * | 1976-09-03 | 1978-03-24 | Hitachi Ltd | Balancing system for rotary machine |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62220827A (ja) * | 1986-03-22 | 1987-09-29 | Shimadzu Corp | 釣合試験機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6334416B2 (ja) | 1988-07-11 |
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