JPS5966783A - 文字列検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明ＣＪ１略同じ大きさの文字が複数個列状に並べ
られて形成される文字列が任意に回転している場合の該
文字列の水平線との傾きを検出し、文字抜けや汚れなど
の印刷不良を検出する検！′Ｆ装置に関する。かかる検
査装置は、一般に文字の種類や大きさ、または数等に関
係なく短時間で欠陥を検出できるものであることが望ま
しい。

従来、文字の印刷不良の検査は、個々の文字が所定領域
内にあるとか、または文字列が所定方向に来るという条
件のもとで行なわれるのが一般的である。したがって、
印刷物の位置規制が充分行なわれるものならば勿論問題
はないが、円形錠剤に付された文字等のように、錠剤の
回転によって印刷文字がランダムな方向にくるようなも
のに対しては適用することができない。つまり、印刷さ
れるべき物体が円形などの場合には、その姿勢から文字
列の方向を検出することができないという欠点がある。

この発明は上述の如き欠点を除去すべくなされたもので
、個々の文字の大きさが略一定で、同一方向に並んでい
る文字列である限りは、文字列を形成する各文字の字体
、文字と文字との間隔、個数などの文字列の特徴に関係
なく、また文字列が任意の方向にあっても文字抜け、汚
れなどの不良を短時間に、しかも高精度に検出しうる検
査装置を提供することを目的とする。

その特徴は、２値化され画素化された文字列の水平、垂
直方向の投影パターンから所定の演算をすることにより
文字列の概略の傾きを求め、該傾きをもとにして少しず
つ走査方向を変え、そのとき得られるセグメント数、投
影値の変化が最大となる傾きをちって文字列の傾きを決
定し、該傾きと直交する方向に文字列分走査して得らｌ
する投影パターンによって個々の文字を分離するととも
に、文字列または個々の文字の特徴量を抽出してこれを
標準値と比較することにより文字列における文字抜け、
汚れ等の不良を検査するようにした点にある〇 以１・−１この発明の実施例を図面を参１！４１　して
説明する。

第１Ｎはこの発明の実施例を示すブロック南である。

同図において、■は画像メモリ、２はアドレス発生器、
３は投影パターン検出部、４はセグメント数検出部、５
はマイクＬ１コンビー１−−タの如きデータ処理装置で
ある。

まず、図示されない検め対象４チクを一、；レビカメラ
により撮像して得られる撮像信号６所定のしきい値レベ
ルで２値化するとともに、所定の（ｒ＜号を用いて量子
化（絵素化または画素化）したデータ■）ＡＴＡが順次
面位メモリ１に記ｔζｌされる。アドレス発生器２は、
上記量子化データを所定の順序で記憶するためのアドレ
スを発生するとともに、任意のアドレスを指定すること
により画像メモリ１から所望の画像データを読出ず。投
影パターン検出部３は、画像メモＩＪ　］−の水平また
は垂直走査毎に読出されるデータの文字列を表わす画素
の数、すなわち投影値を抽出し、セグメント数検出部４
は同じく文字列を表わす画素の連なり（セグメント）の
数を抽出する。データ処理装置５は投影パターン検出部
３から得られる個々の投影値を積算することによって投
影パターンの面積（ｉｉＩ［ｉ素の合計値）を求めると
ともに、該面積を２分する水平または垂直方向の位置を
検出して文字列の重心（中心）を求め、さらに該面積二
分割線によって分割される各領域毎の重心を演算し、こ
れらの重心を結ぶ線分から文字列の概略的な傾きを求め
る。

この点について、図面を参照してもう少し詳しく説明す
る。

第２図は文字列の中心を求める方法を説明する説明図、
第３，４図は文字列の上下、左右部分の中心を求める方
法を説明する説明図である。

第２図に示されるように、文字列はここでは１つの矩形
ＣＨとして表わされ、該文字列Ｃ）−Ｉを水平走査した
とき該文字列を表わす画素の個数、つまり投影値のパタ
ーンがＰＨとして表わされており、同様に文字列ＣＨを
垂直方向に走査したとき該文字列を表わす投影値のパタ
ーンがＰｖとして表オ）されている１、なお、投影パタ
ーンを表わす個々の投影値は第１図の投影パターン検出
部３によって抽出される。これら各方向の投影値を積算
すればその面積となり、該面積の二分割線の交点は文字
列ＣＩＩの重心（中心）を表わすものと考えることがで
きるので、第１図に示されるデータ処理装置５によって
水平投影パターンＰＨの中心線Ｇｖと、垂直投影パター
ンＰｖの中心線（′Ｔ１■とを求め、その交点Ｃｏ　（
ＧＴ（、（Ｂｙ　）を文字列ＣＨの重心とする。なお、
該重心は図形の回転に関係なく不変である。

ここで、第３図の如く、文字列ＣＨを表わす矩形ＡＢＣ
Ｄにおいて、点Ａ、Ｃからそれぞれ中心ｔｆｊｃｘｖに
水平な線を引き辺ＢＣ，ＡＤと交わる点をＰ、Ｑとして
平行四辺形ＡＰＣＱを考えると、該平行四辺形ＡＰＣＱ
が中心線虫によって上下に分割される部分Ａ’ＰＲ８，
５ＲＣＱも同様に平行四辺形となる０そして、平行四辺
形は回転対称図形であるから、該四辺形ＡＰＲ８，５Ｒ
ＣＱの重心も文字列ＣＨの重心ＣＯを求めたときと同様
の手法によって求めることができるＯこうして求められ
た重心が、第３図ではＣＵ（上方中心点）。

ＣＤ　（下方中心点）として示されている０なお）これ
らの点Ｃｏ、ＣＵおよびＣＤは所定の傾きを有する直線
上にあり、該直線は平行四辺形ＡＰＣＱの辺ＡＱ、ＣＰ
と平行、つまり矩形Ａ　Ｉ３　ＣＩ）の傾きと一致する
。先の面積２分割線Ｃ３ｖ　、　ＧＩ（によって分割さ
れる図形ＡＢＲ８、ＳＲ，ＣＱを回転対称図形とするた
めに、上述の如（Ａ、Ｃから水平線を引き領域ＡＢＰ　
、ＣＤＱを除外して考えるようにしたが、この領域Ａ、
ＢＰ、ＣＤＱの面積は矩形ＡＢＣＤが４５°傾いたとき
に最大となり、その値Ｓは辺ＡＢの長さをａとするとき
５−ｉ７２で表わされることがわかる。そこで、水平投
影パターンＰＨの両端から面積が８２／／２に相当する
部分ＰＨＵ　ｐ　ＰｌＩＤを除く領域ＰＨ１＊　ＰＨ２
においＣそれぞれの重心を求めることにすれば、より正
確な重心もとづいて求められた重心であり、これらは中
心点Ｃｏとともに同−直線」−にあってその傾きは矩形
Ａ　Ｂ　ＣＤの傾きＯと一致する。なお、このような考
え方は上述の如き矩形の場合だけでなく、一般に任意の
平行四辺形においても上記と同様にして貢用することが
できる。

以上は図形の傾ぎ角Ｏがｉ４５°より垂直に近い場合に
つい一〇説明したが、０が±４５°より水平方向に近い
ときには、９０°方向を変えてメモリから垂直方向のデ
ータを読出して上記と同様に垂直投影パターンを求める
。すなわち、第４図に示されるように、垂直投影パター
ンｌ）ｖがら両端のａ２／２の面積に相当する部分を除
いた左方領域ＰＶ２　ｐ右方領域ＰＶＩにおいて、それ
ぞれ左方、右方の画像中心ＣＬ、ＣＢを求め、これらの
点と先の中心ｃｏによって文字列ＣＨの傾きを求めるも
のである。なお、このようにするのは、文字列の傾きに
よって除外される領域が大きくなりすぎるからである。

また、この傾きが土４５°から垂直に近いか、あるいは
水平に近いかの判定は、第２図における水平投影パター
ン幅Ｉ”ＭＷと垂直投影パターン幅ＰＶＷの大小を比較
することによって可能であり、この場合、値の小さい方
の投影方向よりに傾いていることから判別可能である。

なお、以上では１つの図形として扱いうる場合について
述べたが、離散的な図形であっても回転対称であってか
つ任意に回転しても水平または垂直な直線によって２つ
の回転対称な図形に分離できるものであれば、上記と同
様にして取り扱いうろことは云う迄もない。

ところで、−列に並んだ文字列は、個々の文字のすべて
に外接する矩形によって囲まれるものと考えることがで
きる。したがって、任意の文字パターンが該矩形内で一
様に分布するものとすれば、上述した如き手法によって
その傾きを求めることができる。すなわち、文字列の大
きさは予め分かつているので、それに外接する矩形の大
きさも決まり、さらに傾きの判定によって除外すべき領
域内にくる文字面積も分かる。実際には、文字列パター
ンは必ずしも外接する矩形内で一様に分布していないし
、また同転対称であるとも云えないが、それに近いもの
として扱って差しつかえないことが経験的に確かめられ
ている。したがって、矩形として求めた傾きは、文字の
傾きに近い値になるが、正確に一致するとは限らない３
．そこで、以上のようにして求められた傾きをもとにし
て、より正確な傾きを求める方法を以下に述べる。

第５図はかかる方法を概略的に説明するための説明図、
第６図は決定された傾きにもとづいて走査される文字列
の走査方向とそれに直交する方向の投影パターンを説明
する説明図である。

第５図からも明らかなように、文字列Ｃ）Ｉの傾きと一
致する方向に走査を行なうと、殆んど全ての文字パター
ンの一部が現われて投影値が大きくなるのに対し、この
傾きからはずれるにつれて現われるパターンの数、すな
わち投影値が小さくなることがわかる。したがって、上
述の如くして求めた近似的な傾きに対して、走査線ＳＣ
の傾きを少しずつ（り〜３°）変えては第１図で説明し
た画像メモリ内のデータを走査し、信用する。なお、こ
のような走査は、同じく第１図のアドレス発生器から適
宜なアドレスを与えることにより行なうことができる。

こうして、それぞれの角度で走査したときの各走査方向
の投影パターンを第１図における投影パターン検出部に
て検出するとともに、各走査線上に現われるセグメント
の数、すなわち文字列パターンが背景から分離される区
間（背景が論理″Ｏ″のときは論理″１”の区間、背景
が論理″１″のときは論理”０”の区間）の数を第１図
におけるセグメント数検出部により求める。

なお、投影パターンは、各走査毎に現われる各セグメン
トの長さの和である。したがって、走査線ＳＣの方向を
少しずつ変えて走査したとき、文字列パターンが現われ
始める位置から該パターンが無くなる迄の間でセグメン
ト数の変化が最大となるときの走査方向が、文字列パタ
ーンの方向に最も近い方向であるとして最適の方向を決
定する。

また、セグメント数の変化が最大となるところでは、投
影値の変化も最大となる。さらに、セグメント数はノイ
ズの影響を受は易いので、投影値との和をとり、その値
から傾きまたは方向を決定する方がより確実である０ 文字列の傾きが決定したら、第６図に示されるように、
その方向と直交する方向に画像データを走査して投影パ
ターンＰｖを求める。直交する方向の画素の投影値は、
文字と文字との切ね目において殆んど０”になるので、
これを利用して個々の文字に分離すれば、各文字の走査
方向と直交する方向の投影パターンを取り出すことがで
きる０ここで、文字列の先頭から１番目の文字の投影ノ
くターンをＰ；（ｋ）　（ｉ＝ｔ　、　２・・・・・・
ｔｋ；文字列方向に見た量子化きざみ（画素）数）で表
わし、ΣＰＩ（ｋ）＝Ｓｉとずれば、Ｓｊは１番目の文
字の而に 積値を表わすことになる。こうしで文字を分離すること
により文字の個数が分かり、また先頭文字の投影パター
ンの位置と最後にくる文字の投影パターンの位置から対
象文字列の長さＬを求めることができるので、文字抜け
や汚れＰＲなどの余分のパターンの存在を知ることが可
能となる。また、個々の文字毎に投影パターンＰｉ（ｋ
）および面積ｆ直Ｓ、を標準値として予め記憶しておき
、これを文字列の傾きと直交する方向に走査しで得られ
るデータと比較することにより、文字個数や文字列長さ
による比較よりもざらに精密な判定を行なうことができ
る。つまり、投影パターンＰ　１（ｋ　）および面積Ｓ
Ｉとの比較マツチングにより、文字のかすれや個々の文
字における部分的なノくターン異常などをも検出するこ
とが可能となるものである。

なお、投影パターンＰｉ（ｋ）およＱ・面積値Ｓｉを用
いる比較マツチングにおいて、対象文字列が１８０゜以
上回転している場合は、１８０°以下の場合とその文字
の配列が逆になるので、文字の順序を反転した比較マツ
チングを行なう必要があることは云う迄もない。

以上のように、この発明によれば水平方向お上び垂直方
向の投影パターンから画像中心を求め、画像中心を通る
水平または垂直線で２分される領域のそれぞれにおいて
、再び水平、垂直の投影パターンから画像中心を求めて
、各々の画像中心を通る直線の傾きから概略の文字列の
傾き（方向）を出す、つまり、文字自体のパターンによ
らずに傾きを出すようにしたので、文字の種類、大きさ
。

数に関係なく傾き検出が可能であり、また文字パターン
の複雑さに影響されないので、文字が変わっても処理時
間は一定であるという利点をもたらすものである。こう
して概略の傾きを検出した後、その方向を中心に角度を
少しずつ変えた方向に画像データを走査し、１走査毎に
現われるセグメント数と投影値を求め、走査の進行方向
にみて、文字の現われる部分ないしは終わる部分での、
セグメント数の変化量の最大となる走査方向をみつけ、
文字列の正確な傾きを検出する。これは、文字列に外接
する矩形の長手方向の辺には、はぼ文字の数分だけのセ
グメントが現われるという特徴を利用して、文字列の傾
きを正確に検出するものである。方向を変えて走査し、
セグメント数、パターン、投影パターンを抽出するまで
はハード的に行い、できるたり処理時間がかからないよ
うにし、また、ノイズによる影響を除くために、投影値
も合わせ用いることにより、より安定した判定かできる
ようにしている。傾きの検出を、概略的に行った後で、
より正確に行うというように２段階で行うことにより、
傾き検出の処理時間の短縮を計っている。傾きを検出し
た後で、それと直交する方向への投影パターンを求め、
個々の文字に分離して、 （１）分離された文字の個数Ｎ１文字列の長さしを求め
、正常な文字列のＮ’　、　Ｌｏと比較する。

（２）文字毎の面積値Ｓｉを正常な文字列の文字毎の標
準値Ｓ０・と比較する。

！ （３）文字毎の投影パターンＰｉ（ｋ）と、正常な文字
列の文字毎の投影パターンＰ０゜（ｋ）との、ツチング
を行なう。

なお、（０）印を付された記号は、その標準値を表わす
ものである。

したがって、（１）のみにより、文字抜け、汚れなどの
余分なパターンの検出が行われ、また、（１）に（２）
を加えて判定することにより、文字のかすれ。

欠けなどが検出されるＯさらに、（１）に（３）を加え
て判定すれば、（２）を加えたときよりいっそう細部に
わたる判定が可能であるＯつまり、（３）は（２）の判
定を、文字列の方向に１画素きざみで細かく行ったもの
で、（２）を含むので、同時にやる意味はない。

なお、（１）　、　（２）　、　（３）はともに文字列
の回転移動に影響されず、（１）、（２）は文字の平行
移動にもよらない・〕（３）も、文字毎に投影パターン
の始端を合わせて行えば、平行移動に影響されず、また
、（ｉ）　ｖ　（２）　？　（３）ともに、文字の種類
、大きさ、数によらない判定方法になっているＱなお、
処理時間はデータを比較する回数を考えれば、（］、）
より（１）と（２）　、　（１）と（３）の順で処理時
間がかかるが、どの程度まで不良を検出したいか、また
は処理速度の制限から、そのいずれか最適な方法を選択
することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の実施例を示すブロック図、第２図は
文字列の中心を求める方法を説明するための説明図、第
３，４図は文字列の上下、左右の部分の中心を求める方
法を説明するための説明図、第５図は文字列の傾きを検
出する方法を説明する説明図、第６図は文字列の列方向
およびそれと直交する方向の投影パターンを説明する説
明図であるＯ 符号説明 １・・・・・・画像メモリ、２・・・・・・アドレス発
生器、：３・・・・・・投影パターン検出部、４・・・
・・・セグメント数検田部、５・・・・・・データ処理
装置 代理人　弁理士　並　木　昭　夫 代理人　弁理士　松　崎　　　　清 第　１　図 第　２１４ 第３図 □ 第４図 １１８本１５岬　ｅ　月２８　日 特許庁長Ｂ若杉和夫　殿 １、事件の表示 昭和５７年　特許願　第１７６２６２号２、発明の名称
　　　　文字列検査装置３　補正をする者 事件との関係　　特許出願人 住　所　川崎市川崎区１Ｈ辺新０１１番１号＜−ｔｘ＝
助−１−名） ４、代理人〒１０５電話０３（５８０）９５１３住　所
　東京都港区虎ノ門−丁目５番４号大塚ビル３１活６、
　　ｈｔｉｌＥノ対象（１）　　ｒＱ明ノ＋ｔＮ４１Ｒ
ａｆｊ４Ｊ　ノ［（２、特許請求の範囲」の楠 ７、補正の内容 （１）（イ）明細書第７頁第１３〜１４行目の「重心（
中心）」を「中心」と補正する。 （ロ）同第７頁第１５行目「・・・・・・重心を演算し
、これらのＭ（心」とあるのを「・・・・・・中心を演
算し、これらの中心」と補正する。 （ハ）　同第８頁１行目「中心を・・・・・・である。 」の次に「なお、以下の説明では文字列を１つの矩形と
して取り扱うこととする。 したがって、文字列の重心と中心とは一致するので重心
または中心と表現するが、−６２図形についてはこの限
りではない。」なる文章を挿入する。 （２、特許請求の範囲を別利；のとおり補正する。 特許請求の範囲 １）略同じ大きさの轢数の文字からなる検査対象文字列
を水平、垂直走査して得られる撮像信号を２値（Ｉｓ　
Ｌ画素化して記憶する画像メモリ手段と、該メモリ手段
のアドレスを指定することにより該画像データを所定位
置から所定方向へ走査して続出すアドレス指定手段と、
該指定手段により１走査毎に読出される１Ｌｌｊ像デー
タの前記文字列を表え）ず画累数（投影値）と該ηｌｊ
素の連なりの数（セグメント数）とを抽出する特徴抽出
手段と、前記文字列の水平、垂り走査によって得られる
各投影値から水平、垂直方向の投影パターンを求めると
ともに、該投影パターンおよび＋’＋ｉＪ記セグメント
数にもとづき文字列の傾きを決定し、該傾きと直交する
方向に前記画像メモリを走査することによって文字列の
投影パターンを得る演算制御手段とをす１ｕえ、該文字
列の傾きと直交する方向の投影パターンにより文字列ま
たは文字列を構成する個々の文字の検査を行なうことを
特徴とする文字列検査装置。 ２）特許δトｌ＞１この範囲第１項に記載の文字列検査
装置Ｕにおいて、前記演算制御手段は水平、垂直方向の
投影パターンの各Ｕｔｉ積を２始゛分する勺割線の交点
から文字列の小心を曲算するとともに、該分割線によっ
て分書ｊされる各領域についても個々にその中心を演算
し１これら複数の中心を結ぶ直線によって文字列の概略
的な傾きを求めた後、該傾きを基準として少しずつ走査
の傾きを変えて前記田１１像メモリ全走査し、そのとき
得られる前記セグメント数または投影値の変化が最大値
となる傾ぎをもって前記文字列の傾きとすることを特徴
とする文字列検査装置１Ｌ０ ３）特に′１・ｍ１京の範υ自第２項に記載の文字列検
査装置行において、前記演算ｉｉＪ［御手段は水平２組
直方向の投影パターン中−カ）らその傾きが水平に近い
かまたは」ム直Ｇこ近いかをｆ４ｊ別し、前記２分割さ
れる各領域の中心を前者の場合は垂直方向の、また後舌
は水平方向の各投影パターンからそれぞれ演算すること
を特徴、とする文字列検査装置。 ４）％・許ｇｉ’Ｊ求の範囲第３項に記載の文字列検査
装置において、前記演算制御手段は２分割される各領域
が回転対称図形となるように、その両端部の所定面積に
相当する領域を無視して重心を演算することを特徴とす
る文字列検査装置。 ５）特許請求の範囲第１項に記載の文字列検査装置にお
いて、決定された文字列の傾きと直交する方向に画像メ
モリを走査して得られる投影パターンから個々の文字を
分離して、その個数および文字列の長さを求め、これを
標準値と比較することにより文字列を検査することを特
徴とする文字列検査装置。 ６）特許１ｉｒＪ求の範囲第１項に記載の文字列検査装
置において、決定された文字列の傾きと直交する方向に
ｌ１２Ｉｌｉ像メモリを走査して得られる投影パターン
から個々の文字を分離するとともに、文字毎のｉ′Ｉ′
ｌＪ積を求め、該面積値を標準のそれと比較することに
より文字列を検査することを特徴とする文字列検査装置
。 ７）特ｉｆｆ″梢求の範囲第１項に記載の文字列検査装
置ａにおいて、決定された文字列の傾きとｍ交する方向
に１ｉＩｉＪ像メモリを走査して得られる投影ノぐター
ンから個々の文字を分離し、分離された文字毎の投影パ
ターンを標準のそれと比較することにより文字列の検査
を行なうことを特徴とする文字列検査装置０

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）略同じ大きさの複数の文字からなる検査対象文字列
   を水平、垂直走査して得られる撮像信号を２値化し画素
   化して記憶する画像メモリ手段と、該メモリ手段のアド
   レスを指定することにより該画像データを所定位置から
   所定方向へ走査して読出ずアドレス指定手段と、該指定
   手段により１走査毎に読出される画像データの前記文字
   列を表わす画素数（投影値）と該画素の連なりの数（セ
   グメント数）とを抽出する特徴抽出手段と、前記文字列
   の水平、垂直走査によって得られる各投影値から水平、
   垂直方向の投影パターンを求めるととモニ、該投影パタ
   ーンおよび前記セグメント数にもとづき文字列の傾きを
   決定し、該傾きと直交する方向に前記画像メモリを走査
   することによって文字列の投影パターンを得る演算制御
   手段とを備え、該文字列の傾きと直交する方向の投影パ
   ターンにより文字列または文字列を構成する個々の文字
   の検査を行なうことを特徴とする文字列検査装置０ ２、特許請求の範囲第１項に記載の文字列検査：装置に
   おいて、前記演算制御手段は水平、垂直方向の投影パタ
   ーンの各面積を２等分する分割線の交点から文字列の重
   心を演算するとともに、該分割線によつ−Ｃ分割される
   各領域についても個々にその重心を演所し、これら複数
   の重心を結ぶ直線によって文字列の概略的な傾きを求め
   た後、該傾きを基準として少しずつ走査の傾きを変えて
   前記画像メモリを走査し、そのとき得られる前記セグメ
   ント数または投影値の変化が最大値となる傾きをもって
   前記文字列の傾きとすることを特徴とする文字列検査装
   置。 ３）特許請求の範囲第２項に記載の文字列検査装置にお
   いて、前記演算制御手段は水平、垂直方向の投影パター
   ン幅からその傾きが水平に近いかまたは垂直に近いかを
   判別し、前記２分割される各領域の重心を前者の場合は
   垂直方向の、また後者は水平方向の各投影パターンから
   それぞれ演算することを特徴とする文字列検査装置。 ４）特許請求の範囲第３項に記載の文字列検査装置にお
   いて、前記演算制御手段は２分割される各領域が回転対
   称図形となるように、その両端部の所定面積に相当する
   領域を無視して重心を演算することを特徴とする文字列
   検査装置。 ５）特許請求の範囲第１項に記載の文字列検査装置にお
   いて、決定された文字列の傾きと直交する方向に画像メ
   モリを走査して得られる投影パターンから個々の文字を
   分離して、その個数および文字列の長さを求め、これを
   標準値と比較することにより文字列を検査することを特
   徴とする文字列検査装置。 ６）特許請求の範囲第１項に記載の文字列検査装置にお
   いて、決定された文字列の傾きと直交する方向に画像メ
   モリを走査して得られる投影パターンから個々の文字を
   分離するとともに九文字毎の面積を求め、該面積値を標
   準のそれと比較することにより文字列を検査することを
   特徴とする文７）特許請求の範囲第１項に記載の文字列
   検査装置において、決定された文字列の傾きと直交する
   方向に画像メモリを走査して得られる投影パターンから
   個々の文字を分ルｆＣシ、分陪された文字毎の投影パタ
   ーンを標準のイーれと比較することにより文字列の検査
   を行なうことを特徴とする文字列検査装置。