JPS5961774A - 電子捕獲検出器 - Google Patents
電子捕獲検出器Info
- Publication number
- JPS5961774A JPS5961774A JP17262882A JP17262882A JPS5961774A JP S5961774 A JPS5961774 A JP S5961774A JP 17262882 A JP17262882 A JP 17262882A JP 17262882 A JP17262882 A JP 17262882A JP S5961774 A JPS5961774 A JP S5961774A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- collector
- purge gas
- electron
- gas
- cell
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/64—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using wave or particle radiation to ionise a gas, e.g. in an ionisation chamber
- G01N27/66—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using wave or particle radiation to ionise a gas, e.g. in an ionisation chamber and measuring current or voltage
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、電子捕獲検出器（Ｆ、ＣＤ）に関するもの
で、試料ガスの汚染による劣化を防止したＦｔＣＤを提
供する。
で、試料ガスの汚染による劣化を防止したＦｔＣＤを提
供する。
ＥＯＤは、選択的高感度検出器とじて多くの微量分析に
用いられている極めて有用な検出器であるが、ＥＣＤセ
ル（イオン化源の入ったチャン／（）が試料ガス中の不
純物やカラム液相で汚染さｈてくると、第１図に示すよ
うに、クロマトグラフ上でピーク後端部分（Ｔ）が負方
向へ振れる現象を起こし、ピーク面積の計算が困難にな
り、定量精度が低下するという欠点をもっている。
用いられている極めて有用な検出器であるが、ＥＣＤセ
ル（イオン化源の入ったチャン／（）が試料ガス中の不
純物やカラム液相で汚染さｈてくると、第１図に示すよ
うに、クロマトグラフ上でピーク後端部分（Ｔ）が負方
向へ振れる現象を起こし、ピーク面積の計算が困難にな
り、定量精度が低下するという欠点をもっている。
上記現象は異常テーリング現象として古くから知られて
おり、その原因はイオン化源表面に蓄積した汚れ物質が
電子親和性の高い物質と接触して引起す接触電位のため
であると説明されている。
おり、その原因はイオン化源表面に蓄積した汚れ物質が
電子親和性の高い物質と接触して引起す接触電位のため
であると説明されている。
そこで、イオン化源が試料ガスに接触しないように、イ
オン化源をパージガスで包与込んでしまう構造０ＥＣＤ
が提案されたが、異常テーリング現象を防止する上で満
足な成果を得られていない。
オン化源をパージガスで包与込んでしまう構造０ＥＣＤ
が提案されたが、異常テーリング現象を防止する上で満
足な成果を得られていない。
この発明の発明者は、このような事情に鑑みて鋭意研究
を行ったところ、従来の通説と具なり、ＥＣＤセル中の
電子捕集用電極（コレクタ）の表面に汚れ物質が固着し
て絶縁性膜を形成することが異常テーリング現象の主因
であるとの知見を新たに得た。 そしてこの知見に基い
て、この発明を完成したものである。
を行ったところ、従来の通説と具なり、ＥＣＤセル中の
電子捕集用電極（コレクタ）の表面に汚れ物質が固着し
て絶縁性膜を形成することが異常テーリング現象の主因
であるとの知見を新たに得た。 そしてこの知見に基い
て、この発明を完成したものである。
すなわち、この発明は、端的に言えば、試料ガスによっ
てコレクタ表面が汚染されることをパージガスにより防
ぐことで異常テーリング現象を防止したＥＣＤを提供す
るものである。
てコレクタ表面が汚染されることをパージガスにより防
ぐことで異常テーリング現象を防止したＥＣＤを提供す
るものである。
以下、第２図〜第３図を参照して、この発明を詳説する
。 なお、これによりこの発明が限定されるものではな
い。
。 なお、これによりこの発明が限定されるものではな
い。
第２図に示す（１）は、この発明のＥＣＤの一実施例で
ある。 ＥＣＤセル（２）内の別個の位置に、イオン化
源としての放射線源（３）と、コレクタ（４）とが各々
設置されておシ、またそれらの間には通孔（６）を有す
る隔膜（５）が設けられている。 隔膜（５）はたとえ
ばステンレス鋼である。 試料ガス入口（７）は、放射
線源（３）の近傍に設けられ、カラム（Ｃ）が接続され
る。 排気口（８）は、放射線源（３）とコレクタ（４
）の中間付近に設けられ、排気管（Ｅ）が接続される。
ある。 ＥＣＤセル（２）内の別個の位置に、イオン化
源としての放射線源（３）と、コレクタ（４）とが各々
設置されておシ、またそれらの間には通孔（６）を有す
る隔膜（５）が設けられている。 隔膜（５）はたとえ
ばステンレス鋼である。 試料ガス入口（７）は、放射
線源（３）の近傍に設けられ、カラム（Ｃ）が接続され
る。 排気口（８）は、放射線源（３）とコレクタ（４
）の中間付近に設けられ、排気管（Ｅ）が接続される。
コレクタ（４）の近傍には、パージガス導入口（９）が
設けられ、パージガス導入管（Ｐ）が接続される。 パ
ージガスけたとえばＮ、やＨｅである。
設けられ、パージガス導入管（Ｐ）が接続される。 パ
ージガスけたとえばＮ、やＨｅである。
このＥ ＣＤ （１）において、第２図に破線で示すよ
うにパージガスを適当な流量たとえば５０〜１００ｍ１
／分で流通すれば、コレクタ（４）は、ノく−ジガスに
包み込まれて試料ガスに接触せず、汚染されない。 一
方、試料ガスを第２図に実線で示すように供給すれば、
電子は通孔（６）全透過してコレクタ（４）に捕集され
るので通常のごとく検出器として機能する。
うにパージガスを適当な流量たとえば５０〜１００ｍ１
／分で流通すれば、コレクタ（４）は、ノく−ジガスに
包み込まれて試料ガスに接触せず、汚染されない。 一
方、試料ガスを第２図に実線で示すように供給すれば、
電子は通孔（６）全透過してコレクタ（４）に捕集され
るので通常のごとく検出器として機能する。
このＥＣＤ（１）によれば、コレクタ（４）が清浄に保
たれるので、異常テーリング現象の発生が防止される。
たれるので、異常テーリング現象の発生が防止される。
第８図に示す（１１）は、この発明のＥＯＤの他の実施
例である。 管状のＥＯＤセル０２の一端側にイオン化
源としてグロー放電電極α３が設けられ、他端にコレク
タ（１４１が設けられている。 試料ガス人口］１７１
および排気口財は、いずれもグロー放電電極０３とコレ
クタａφの間に設けられている。 またコレクタ０４）
の近傍にパージガス導入口（Ｉｆｉが設けられ、さらに
グロー放電電極０３の近傍にもパージガス導入口のが設
けられている。
例である。 管状のＥＯＤセル０２の一端側にイオン化
源としてグロー放電電極α３が設けられ、他端にコレク
タ（１４１が設けられている。 試料ガス人口］１７１
および排気口財は、いずれもグロー放電電極０３とコレ
クタａφの間に設けられている。 またコレクタ０４）
の近傍にパージガス導入口（Ｉｆｉが設けられ、さらに
グロー放電電極０３の近傍にもパージガス導入口のが設
けられている。
このＫ ＯＤ １１３１において、第８図に破線で示す
ようにパージガスを流通すると共に、実線で示すように
試料ガスを供給すれば、検出器として機能し、かつグロ
ー放電電極０；ヤおよびコレクタ０４の汚染が防止され
る。 従って異常テーリング現象が防止される。
ようにパージガスを流通すると共に、実線で示すように
試料ガスを供給すれば、検出器として機能し、かつグロ
ー放電電極０；ヤおよびコレクタ０４の汚染が防止され
る。 従って異常テーリング現象が防止される。
以上の説明から理解されるように、この発明０ＥＣＤは
、試料ガス入口と排気口とを有するセル内にイオン化源
と電子捕集用電極とを設置してなる電子捕獲検出器にお
いて、電子捕集用電極を包み込むパージガスをセル内に
導入するだめの導入口を電子捕集用電極の近傍に設け、
パージガスを流すことにより試料ガスをセルに導入して
も試料ガスが電子捕集用電極に接触してこれを汚染しな
いようにしたことを特徴とするものであって、これによ
り異常テーリング現象が防止されるから、長期間にわた
り高精度の測定が行えるようになる。
、試料ガス入口と排気口とを有するセル内にイオン化源
と電子捕集用電極とを設置してなる電子捕獲検出器にお
いて、電子捕集用電極を包み込むパージガスをセル内に
導入するだめの導入口を電子捕集用電極の近傍に設け、
パージガスを流すことにより試料ガスをセルに導入して
も試料ガスが電子捕集用電極に接触してこれを汚染しな
いようにしたことを特徴とするものであって、これによ
り異常テーリング現象が防止されるから、長期間にわた
り高精度の測定が行えるようになる。
また、ＫＯＤの汚染を防ぐために試料ガスを前処理する
ような手間−も不要になる。
ような手間−も不要になる。
第１図は従来のＥＯＤで生じていた異常テーリング現象
を説明するクロマトグラム、第２図はこの発明のＢＯＤ
の一実施例の断面図、第８図はこの発明のＥＯＤの他の
実施例の断面図である。 （１）［１１１・・・Ｅ ＯＤ 、 （２１Ｑ２・・・
ＥＣＤセル、（３）・・・放射線源、０３・・・グロー
放電電極、（４）（１４１・・・コレクタ、（７）ｔ１
７１・・・試料ガス入口、（８１（１８１・・・排気口
、ｔ９１＋１９１・・・パージガス導入口。 代理人 弁理士 野河信太部 −１−１
を説明するクロマトグラム、第２図はこの発明のＢＯＤ
の一実施例の断面図、第８図はこの発明のＥＯＤの他の
実施例の断面図である。 （１）［１１１・・・Ｅ ＯＤ 、 （２１Ｑ２・・・
ＥＣＤセル、（３）・・・放射線源、０３・・・グロー
放電電極、（４）（１４１・・・コレクタ、（７）ｔ１
７１・・・試料ガス入口、（８１（１８１・・・排気口
、ｔ９１＋１９１・・・パージガス導入口。 代理人 弁理士 野河信太部 −１−１
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、試料ガス入口と排気口とを有するセル内にイオン化
源（！：電子捕集用電極とを設置してなる電子捕獲検出
器において、 電子捕集用電極を包み込むパージガスをセル内に導入す
るだめの導入口を電子捕集用電極の近傍に設け、パージ
ガスを流すことにより試料ガスをセルに導入しても試料
ガスが電子捕集用電極に接触してこれを汚染しないよう
にしたことを特徴とする電子捕獲検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17262882A JPS5961774A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 電子捕獲検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17262882A JPS5961774A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 電子捕獲検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5961774A true JPS5961774A (ja) | 1984-04-09 |
Family
ID=15945397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17262882A Pending JPS5961774A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 電子捕獲検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5961774A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6161459U (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-25 | ||
| JPH01146158U (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-09 | ||
| KR100852559B1 (ko) | 2007-01-26 | 2008-08-18 | 대우조선해양 주식회사 | 선박의 스모크 실측을 위한 측정시스템 |
| JP2009236928A (ja) * | 2009-07-15 | 2009-10-15 | Shimadzu Corp | エレクトロンキャプチャ検出器 |
| CN107907621A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-04-13 | 浙江福立分析仪器股份有限公司 | 一种气相色谱仪的自清洁电子捕获检测器及其应用方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55116249A (en) * | 1979-02-27 | 1980-09-06 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Electron arresting type detector |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP17262882A patent/JPS5961774A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55116249A (en) * | 1979-02-27 | 1980-09-06 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Electron arresting type detector |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6161459U (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-25 | ||
| JPH0514207Y2 (ja) * | 1984-09-28 | 1993-04-15 | ||
| JPH01146158U (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-09 | ||
| KR100852559B1 (ko) | 2007-01-26 | 2008-08-18 | 대우조선해양 주식회사 | 선박의 스모크 실측을 위한 측정시스템 |
| JP2009236928A (ja) * | 2009-07-15 | 2009-10-15 | Shimadzu Corp | エレクトロンキャプチャ検出器 |
| CN107907621A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-04-13 | 浙江福立分析仪器股份有限公司 | 一种气相色谱仪的自清洁电子捕获检测器及其应用方法 |
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