JPS5958851A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS5958851A JPS5958851A JP57168932A JP16893282A JPS5958851A JP S5958851 A JPS5958851 A JP S5958851A JP 57168932 A JP57168932 A JP 57168932A JP 16893282 A JP16893282 A JP 16893282A JP S5958851 A JPS5958851 A JP S5958851A
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- pattern
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- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
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- H01L2924/1615—Shape
- H01L2924/16152—Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap
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- H01L2924/161—Cap
- H01L2924/1615—Shape
- H01L2924/16195—Flat cap [not enclosing an internal cavity]
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(aJ 発明の技術分野
本発明は連続打抜形成されるインナーパターンを信号線
接続用のパターン導体とするいわゆるビングリッドアレ
イ型半導体装置に関する。
接続用のパターン導体とするいわゆるビングリッドアレ
イ型半導体装置に関する。
(b) 技術の背景
通常高信和性を要求される半導体装置は外部芥囲気の影
響を受けない耐湿性のハーメチックシール構造とするの
が一般的であり、半導体素子を収容したセラミック容器
の封止Vi蓋板(キャップ)を金錫(Au −Sn )
鉛錫半田(Pb−8n)低融点ガラス、シーム抵抗溶接
等によシ接>t’して行なわれる。気密封止形パッケー
ジには主としてサイドフL/−2形、サーディツプ形、
ピンクリッドアレイ形があシ、何れも一長一短がある。
響を受けない耐湿性のハーメチックシール構造とするの
が一般的であり、半導体素子を収容したセラミック容器
の封止Vi蓋板(キャップ)を金錫(Au −Sn )
鉛錫半田(Pb−8n)低融点ガラス、シーム抵抗溶接
等によシ接>t’して行なわれる。気密封止形パッケー
ジには主としてサイドフL/−2形、サーディツプ形、
ピンクリッドアレイ形があシ、何れも一長一短がある。
半々1体素子の向密度高集積化されるに従い外部との信
号ツー接続用端子数は項加しこれに伴い多ピン構成のパ
ッケージが1利となる。更にコスト低減のための封止構
造について研究開発がなされている。
号ツー接続用端子数は項加しこれに伴い多ピン構成のパ
ッケージが1利となる。更にコスト低減のための封止構
造について研究開発がなされている。
(C1従来技術と問題点
絹1図は従来のピングリッドアレイ形半導体装置を示す
断面図である。多数開の外部端子3を周辺部に配設した
セミシック基板l上に半導体素子2を搭載し、半導体素
子2の入出力信号端子とセラミック基板1に設けたメタ
ライズ導体とをワイヤボンデング接続した後、金属又は
セラミックキャップ4を金−錫シール5等で刺止する。
断面図である。多数開の外部端子3を周辺部に配設した
セミシック基板l上に半導体素子2を搭載し、半導体素
子2の入出力信号端子とセラミック基板1に設けたメタ
ライズ導体とをワイヤボンデング接続した後、金属又は
セラミックキャップ4を金−錫シール5等で刺止する。
半導体素子2の入出力信号端子はワイヤ6及びメタライ
ズ導体を介して外部端子3に厄気Hすに結合される。
ズ導体を介して外部端子3に厄気Hすに結合される。
このように榊敢キれるビングリッドアレイ半導体装置は
部品構成が複雑でるり例えはメタライズ害体を被膜形成
したセミシックを積層して焼成する基板形成及び外部端
子3の埋込固定半導体素子2をセラミック基板lへのマ
ウンド実装或いはキャブ4の封止等生産グロ七スも多岐
にわたシ量産化自動化されにくい。これに対して内部配
線にリードフレームを用い、セラミック基板上に半導体
素子をマウントし低傾虫点ガラスでセラミックキャップ
をシールするサーディツプ形がある。
部品構成が複雑でるり例えはメタライズ害体を被膜形成
したセミシックを積層して焼成する基板形成及び外部端
子3の埋込固定半導体素子2をセラミック基板lへのマ
ウンド実装或いはキャブ4の封止等生産グロ七スも多岐
にわたシ量産化自動化されにくい。これに対して内部配
線にリードフレームを用い、セラミック基板上に半導体
素子をマウントし低傾虫点ガラスでセラミックキャップ
をシールするサーディツプ形がある。
第2図は従来のサーディツプ形半導体装置を示す断面図
である。セラミック基板7に半導体素子8を搭載し、リ
ードフレーム9で構成されるパターン導体と半導体素子
8の信号端子をワイヤボンデング接続し、パターン導体
及びセラミックキャップlOを低融ガラス11でシール
する。このように構成されるサーディツプ形半導体装置
は量産化に有利である反面外部リードピン12はパター
ン導体をなすリードフレーム9と一体的に形成されるデ
ュアルイン型であるため、多ピン構成が要求される大容
量素子には不向きでおシ、また半導体容器を大型化し多
ピン構成とすることは装置への実装密度を低減させ好ま
しくない。
である。セラミック基板7に半導体素子8を搭載し、リ
ードフレーム9で構成されるパターン導体と半導体素子
8の信号端子をワイヤボンデング接続し、パターン導体
及びセラミックキャップlOを低融ガラス11でシール
する。このように構成されるサーディツプ形半導体装置
は量産化に有利である反面外部リードピン12はパター
ン導体をなすリードフレーム9と一体的に形成されるデ
ュアルイン型であるため、多ピン構成が要求される大容
量素子には不向きでおシ、また半導体容器を大型化し多
ピン構成とすることは装置への実装密度を低減させ好ま
しくない。
(d) 発明の目的
本発明は上記の欠点に鑑み、外部リード端子を打抜成形
されるインナーパターン(リードフレーム)の一端に固
定し、セラミック容器にガラス融着する量産化に有利な
ピングリッドアレイ形半導体装置の提供を目的とする。
されるインナーパターン(リードフレーム)の一端に固
定し、セラミック容器にガラス融着する量産化に有利な
ピングリッドアレイ形半導体装置の提供を目的とする。
(e) 発明の構成
上記目的は本発明によれば半導体素子を搭載する基板と
該基板上に形成されたガラス層と、該ガンスノー上に配
設され該半導体素子と電気的に接続された導体片と該導
体片と電気的に接続されたリードピンで構成されること
によって達せられる。
該基板上に形成されたガラス層と、該ガンスノー上に配
設され該半導体素子と電気的に接続された導体片と該導
体片と電気的に接続されたリードピンで構成されること
によって達せられる。
(f+ 発明の実施例
以下本発明の実施例を図面によシ詳述する。
第3図は本発明の一実施例であるインナーパターンを示
す平面図、第4図はインナーパターンに外部リードを取
付けた断面図である。鉄ニツケル合金(Fc−N’i)
等でなるフレーム21に所定のパターン22をグレ子成
形しその一422aに同一素材又はコバルト合金(Fe
−Ni −Co )の外部リード23(第4図)をス
ポット溶接等により固定する。第4図に示すように外部
リード23に頭部23aを設はパターン22の一端22
aに設けたリード挿、入孔22bに係止させ垂直に位置
出し後溶接によシ固定する。またパターン22の先端2
2c[はアルミ又は金等の膜を形成しワイヤボンデング
を容易にする。
す平面図、第4図はインナーパターンに外部リードを取
付けた断面図である。鉄ニツケル合金(Fc−N’i)
等でなるフレーム21に所定のパターン22をグレ子成
形しその一422aに同一素材又はコバルト合金(Fe
−Ni −Co )の外部リード23(第4図)をス
ポット溶接等により固定する。第4図に示すように外部
リード23に頭部23aを設はパターン22の一端22
aに設けたリード挿、入孔22bに係止させ垂直に位置
出し後溶接によシ固定する。またパターン22の先端2
2c[はアルミ又は金等の膜を形成しワイヤボンデング
を容易にする。
第5図のけ)、(ロ)図は本発明の一実施例であるセラ
ミック基板を示す構成図であり(イ)は構成を説明する
ための分解図、(ロ)は組立断面図である。外部リード
23を固定したインナーパターン22と外部リード23
に対応して貫通孔24を備えた低融点ガラスのプレフォ
ーム25及び同様に貫通孔26を設けたセラミックベー
ス27によシセラミック基&28を購成しプレフォーム
25を加熱融解させてセラミックベース27に外部リー
ド23を固定させるものでめる。
ミック基板を示す構成図であり(イ)は構成を説明する
ための分解図、(ロ)は組立断面図である。外部リード
23を固定したインナーパターン22と外部リード23
に対応して貫通孔24を備えた低融点ガラスのプレフォ
ーム25及び同様に貫通孔26を設けたセラミックベー
ス27によシセラミック基&28を購成しプレフォーム
25を加熱融解させてセラミックベース27に外部リー
ド23を固定させるものでめる。
第6図は本発明の一実施例であるピングリッドアレイ形
十碍体装置を示す断面図である。
十碍体装置を示す断面図である。
セラミック基板28上のプレフォーム25に図のように
半導体素子29を搭載しプレフォーム25よシ更に融点
の低いガラス部材で熱融着固定ブーる。
半導体素子29を搭載しプレフォーム25よシ更に融点
の低いガラス部材で熱融着固定ブーる。
これは先に融着した外部リード23の接着強度に影響を
与えないための配慮である。しかる後に半4体素子29
の信号線接続用パッドとインチパターン22の先端部2
2b(第2図、第3図参照)をワイヤ30でボンデング
接続し、内側を凹状に形成したセラミックキャップ31
でガラス封止し第3図で示すフレーム21とパターン2
2とを抜角光する接続部21aを切断し外部!J −)
” 23を半田ディツプ等で表面処理する。このように
構成する半導体装置であって従来のピングリッドアレイ
形に比しセラミック基板形成及びリードピン埋込は簡素
化されまたサーディツプ形に比し多ビン構成とすること
ができる大きな効果かある。
与えないための配慮である。しかる後に半4体素子29
の信号線接続用パッドとインチパターン22の先端部2
2b(第2図、第3図参照)をワイヤ30でボンデング
接続し、内側を凹状に形成したセラミックキャップ31
でガラス封止し第3図で示すフレーム21とパターン2
2とを抜角光する接続部21aを切断し外部!J −)
” 23を半田ディツプ等で表面処理する。このように
構成する半導体装置であって従来のピングリッドアレイ
形に比しセラミック基板形成及びリードピン埋込は簡素
化されまたサーディツプ形に比し多ビン構成とすること
ができる大きな効果かある。
(g) 発明の効果
以上詳細に説明したように本発明のピングリッドアレイ
(a造とすることによシセラミック基板のメタライズパ
ターン形成、チップ搭載面の表面処理は年女となp外’
a:” ’)−)埋込処理は簡素化される。
(a造とすることによシセラミック基板のメタライズパ
ターン形成、チップ搭載面の表面処理は年女となp外’
a:” ’)−)埋込処理は簡素化される。
しかもカラス力止が可能となる等経済的で量産化が−u
l能となる大きな効果がある。
l能となる大きな効果がある。
第1図は従来のビングリッドアレイ形半導体装置を丞′
j″断面囚、第2図は従来のサーディツプ形半導体装置
を示す断面図、第3図は本発明の一実力視例であるイン
ナーパターンを示す平面図、第4図はインナーパターン
に外部リードを取付けた断面図、第5図の(イ)、(ロ
)図は本発明の一実施例であるセラミック基板を示す構
成図でおシ(イ)図/Ii構成を説明うるための分解図
、(ロ)は組立萌面図、第6図は本発明の一実施例であ
るビングリッドアレイル半導体装置を示す断面図である
。 図甲、21fdフレーム、22はインナーパターン、2
3は外部リード、24.26はR逃孔、25tニゲレフ
オーム、27はセラミックベース、28はセラミック基
板、29は半尋体素子、30はワイヤ、31i1.セラ
ミックキャップを示す。 第1図 第31 第4図 一91ζ− 第5図 一グー 第61¥l
j″断面囚、第2図は従来のサーディツプ形半導体装置
を示す断面図、第3図は本発明の一実力視例であるイン
ナーパターンを示す平面図、第4図はインナーパターン
に外部リードを取付けた断面図、第5図の(イ)、(ロ
)図は本発明の一実施例であるセラミック基板を示す構
成図でおシ(イ)図/Ii構成を説明うるための分解図
、(ロ)は組立萌面図、第6図は本発明の一実施例であ
るビングリッドアレイル半導体装置を示す断面図である
。 図甲、21fdフレーム、22はインナーパターン、2
3は外部リード、24.26はR逃孔、25tニゲレフ
オーム、27はセラミックベース、28はセラミック基
板、29は半尋体素子、30はワイヤ、31i1.セラ
ミックキャップを示す。 第1図 第31 第4図 一91ζ− 第5図 一グー 第61¥l
Claims (1)
- 半導体素子を搭載する基板と該基板上に形成されたガラ
スJiJと、該ガラス層上に配設され該半導体素子と電
気的に接続された害体片と、該樽体片と電気的に接続さ
れたリードビンを有することを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57168932A JPS5958851A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57168932A JPS5958851A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5958851A true JPS5958851A (ja) | 1984-04-04 |
JPS638620B2 JPS638620B2 (ja) | 1988-02-23 |
Family
ID=15877214
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57168932A Granted JPS5958851A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5958851A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6437842A (en) * | 1987-08-03 | 1989-02-08 | Shinko Electric Ind Co | Package for pga type semiconductor device |
JPH01117084A (ja) * | 1987-10-29 | 1989-05-09 | Nec Corp | プラスチックピングリッドアレイパッケージ |
US4890152A (en) * | 1986-02-14 | 1989-12-26 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Plastic molded chip carrier package and method of fabricating the same |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56126951A (en) * | 1980-03-12 | 1981-10-05 | Hitachi Ltd | Semicondutor device |
JPS56137645A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-27 | Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai | Semiconductor device |
JPS5759454U (ja) * | 1980-09-26 | 1982-04-08 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5335873A (en) * | 1976-09-15 | 1978-04-03 | Tokico Ltd | Enclosed type cylinder device |
-
1982
- 1982-09-28 JP JP57168932A patent/JPS5958851A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH01117084A (ja) * | 1987-10-29 | 1989-05-09 | Nec Corp | プラスチックピングリッドアレイパッケージ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPS638620B2 (ja) | 1988-02-23 |
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