JPS5956165A - 鋼の分光分析装置 - Google Patents
鋼の分光分析装置Info
- Publication number
- JPS5956165A JPS5956165A JP57167093A JP16709382A JPS5956165A JP S5956165 A JPS5956165 A JP S5956165A JP 57167093 A JP57167093 A JP 57167093A JP 16709382 A JP16709382 A JP 16709382A JP S5956165 A JPS5956165 A JP S5956165A
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- analyzed
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/20—Metals
- G01N33/202—Constituents thereof
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- Pathology (AREA)
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は鋼の分光分析装置に関するもので、分析試料
の受入れから分析結果の判定、報告及び記録までの全工
程を無人で処理することが出来るシステムで、生産工程
と直結したダイナミックな自動化を実現したものである
。
の受入れから分析結果の判定、報告及び記録までの全工
程を無人で処理することが出来るシステムで、生産工程
と直結したダイナミックな自動化を実現したものである
。
通常、分光分析装置は他の分析器機に比べてその迅速性
と正確さに大きな特長を有するもので、コンピュータと
の組合せによって現在では鉄鋼製造に欠くことが出来な
い必須の分析器機に位置されるまで発展した。
と正確さに大きな特長を有するもので、コンピュータと
の組合せによって現在では鉄鋼製造に欠くことが出来な
い必須の分析器機に位置されるまで発展した。
他方、鉄鋼製造工程の大型化、迅速化および連鋳機によ
る連続化に対応するため、更に分析所要時間の短縮が課
題となっていた。
る連続化に対応するため、更に分析所要時間の短縮が課
題となっていた。
この発明は、このような実情に対応するために試料を搬
送したり、試料を切断研磨して分析可能な状態にするの
を自動的かつ迅速に行わせることを目的とするものであ
る。
送したり、試料を切断研磨して分析可能な状態にするの
を自動的かつ迅速に行わせることを目的とするものであ
る。
図面に基いてこの発明の一実施例を説明する４゜連鋳工
場２ａ、脱ガスエ楊３ａ、転炉工場４ａ等の試料採取場
所１と試料分析センター６との間に分析試料（図示せず
）を運ぶところのケースレス圧送式試料搬送用気送管装
置５を設けている。
場２ａ、脱ガスエ楊３ａ、転炉工場４ａ等の試料採取場
所１と試料分析センター６との間に分析試料（図示せず
）を運ぶところのケースレス圧送式試料搬送用気送管装
置５を設けている。
該気送管装置５は６００ｍ〜８００ｍのかなυ離れた場
所間を気送管で分析試料を赤熱状態のままで迅速に運ぶ
ことができるようになっている。
所間を気送管で分析試料を赤熱状態のままで迅速に運ぶ
ことができるようになっている。
試料分析センター６では受取器７で分析試料を受は取り
切換器８において本、装置系統２０か予備装置系統３０
のいずれかの、方に分析試料が送られる。つ壕り、通常
は自動化シーケンスが作動している本装置系統２０の方
に分析試料が自動的に送られるが分析工程でトラブルが
生じて自動化シーケンスが進行しなくなった場合切換器
８を手動操作して分析試料は予備装置系統３０の方に送
られる０ 以下の分析工程では主として本装置系統２０について説
明し、予備装置８０については符号を括弧をつけて説明
するのにとどめる。
切換器８において本、装置系統２０か予備装置系統３０
のいずれかの、方に分析試料が送られる。つ壕り、通常
は自動化シーケンスが作動している本装置系統２０の方
に分析試料が自動的に送られるが分析工程でトラブルが
生じて自動化シーケンスが進行しなくなった場合切換器
８を手動操作して分析試料は予備装置系統３０の方に送
られる０ 以下の分析工程では主として本装置系統２０について説
明し、予備装置８０については符号を括弧をつけて説明
するのにとどめる。
自動切断研磨機２１． （８１）では受信した赤熱状
態の分析試料を冷却・切断し分析可能な状態になるよう
に検体表面の研磨仕上を自動的に行なう。
態の分析試料を冷却・切断し分析可能な状態になるよう
に検体表面の研磨仕上を自動的に行なう。
搬送口ボッ） ２２． （８２）は自動切断研磨機２
１、 （８１）で仕上げられた検体を把持して中間受
皿２８． （８８）の箇所まで搬送する。分析ロボツ
） ２４． （８４）は検体を中間受皿２３゜（３３
）から把持して分光分析計２６． （３６）にセット
し、また標準試料研磨機２５． （１５）から標準試
料（図示せず）を把持して分光分析計２６、 （８６
）にセットし分析時の経時的変化を初期状態に修正する
だめの標準化作業にも使われる。更に、分析ロボッ）２
４． （８４）は分析終了後標準試料を再度把持して
標準試料研磨機２５、 （８５）に戻すことが出来る
。
１、 （８１）で仕上げられた検体を把持して中間受
皿２８． （８８）の箇所まで搬送する。分析ロボツ
） ２４． （８４）は検体を中間受皿２３゜（３３
）から把持して分光分析計２６． （３６）にセット
し、また標準試料研磨機２５． （１５）から標準試
料（図示せず）を把持して分光分析計２６、 （８６
）にセットし分析時の経時的変化を初期状態に修正する
だめの標準化作業にも使われる。更に、分析ロボッ）２
４． （８４）は分析終了後標準試料を再度把持して
標準試料研磨機２５、 （８５）に戻すことが出来る
。
分光分析計２６． （８６）によって得られた測光値
はマイクロコンピュータ２７． （８７）Ｋて含有量
に変換されて分析コンピュータ１０ａに伝送すれる。分
析コンピュータ１０ａでは分析試料の有する製造番号、
製造工場名等の情報を予め連鋳工場２ａ、脱ガス工場？
ａ等におけるそれぞれの設定盤２ｂ、３＾・ら受信し
て記憶しているのでそれらの情報と前記分光分析計２６
． （８６）による分析値とをつき合わせて上位コン
ピュータ】１に分析結果を自動的に報告することができ
る０即チ、分析コンピュータ１．Ｏａが上位コンピュー
タ１１に報告を完了しないと次の試料発進は出来ないよ
うになっている。
はマイクロコンピュータ２７． （８７）Ｋて含有量
に変換されて分析コンピュータ１０ａに伝送すれる。分
析コンピュータ１０ａでは分析試料の有する製造番号、
製造工場名等の情報を予め連鋳工場２ａ、脱ガス工場？
ａ等におけるそれぞれの設定盤２ｂ、３＾・ら受信し
て記憶しているのでそれらの情報と前記分光分析計２６
． （８６）による分析値とをつき合わせて上位コン
ピュータ】１に分析結果を自動的に報告することができ
る０即チ、分析コンピュータ１．Ｏａが上位コンピュー
タ１１に報告を完了しないと次の試料発進は出来ないよ
うになっている。
なお、気送管装置５による分析試料の発送前に各分析試
料の情報を前記の如く各設定盤２ｂ、８ｂ、４ｂから分
析コンピュータ１０ａに伝送しておかなければ気送管装
置５は作動しないようになっている。
料の情報を前記の如く各設定盤２ｂ、８ｂ、４ｂから分
析コンピュータ１０ａに伝送しておかなければ気送管装
置５は作動しないようになっている。
次に、本発明に付加的に加えられる装置について説明す
る。本装置系統２０における分析工程にトラブルが生じ
た場合について説明する。この場一旦閉鎖されるが切換
器８を操作して手動にすれば再び分析試料が送れる状態
になり、経路９を経て分析試料は予備装置系統３０側に
送られそこでの分析工程は本装置系統２０の場合と同様
に行われる。
る。本装置系統２０における分析工程にトラブルが生じ
た場合について説明する。この場一旦閉鎖されるが切換
器８を操作して手動にすれば再び分析試料が送れる状態
になり、経路９を経て分析試料は予備装置系統３０側に
送られそこでの分析工程は本装置系統２０の場合と同様
に行われる。
上述した如くこの発明は、連鋳工場２ａ、脱ガス工場３
ａ等の試料採取場所１から試料分析センター６へ分析試
料を運ぶところのケースレス圧送式試料搬送用気送管装
置５を設け、試料分析センター６に送られてきた分析試
料を分析可能な状態に加工するところの自動切断研磨機
２１と該自動切断研磨機２１により加工された分析試料
を中間受皿２３″！、で運ぶところの搬送ロボット２２
と分析試料を中間受皿２３から分光分析側２６まで運ぶ
ところの分析ロボット２４と試料の分析結果を判定、伝
送、記録するところの各種コ／ビュータ２７．１０ａ、
１１とを直列的に配設し試料の分析が全て自動的に処理
され得るように構成したものである。
ａ等の試料採取場所１から試料分析センター６へ分析試
料を運ぶところのケースレス圧送式試料搬送用気送管装
置５を設け、試料分析センター６に送られてきた分析試
料を分析可能な状態に加工するところの自動切断研磨機
２１と該自動切断研磨機２１により加工された分析試料
を中間受皿２３″！、で運ぶところの搬送ロボット２２
と分析試料を中間受皿２３から分光分析側２６まで運ぶ
ところの分析ロボット２４と試料の分析結果を判定、伝
送、記録するところの各種コ／ビュータ２７．１０ａ、
１１とを直列的に配設し試料の分析が全て自動的に処理
され得るように構成したものである。
この発明によれば、分析試料の分析作業が全て無人で行
われるど共に分析時間短縮が行われ省力化が実現出来る
。
われるど共に分析時間短縮が行われ省力化が実現出来る
。
また、分析作業の無人化を実現するために分光分析計２
６に使う発光電極（自動クリーニング機構を取付け、交
換頻度を減少出来る。
６に使う発光電極（自動クリーニング機構を取付け、交
換頻度を減少出来る。
まだ、分光分析計の経時的変化による分析精度の悪化を
防止するため、標準試料による修正作業を自動標準試料
研磨機２５と分析ロボット２４との組合せによって無人
化出来る。
防止するため、標準試料による修正作業を自動標準試料
研磨機２５と分析ロボット２４との組合せによって無人
化出来る。
また、分析試料発送から分析結果報告に至る全工程につ
いて必要なサンプルトラツキングンステムが容易に構成
１ｆｊ来るなどの特長がある。
いて必要なサンプルトラツキングンステムが容易に構成
１ｆｊ来るなどの特長がある。
施例を示すブロック線図である。
１ 試料採取場所
２ａ 連鋳工場
３ａ 脱ガス工場
５ 気送管装置
６ 試料分析センター
１０ａ 分析コンピュータ
１１ 上位コンピュータ
２１ 自動切断研磨機
２２ 搬送ロボット
２３ 中間受皿
２４ 分析ロボット
２６ 分光分析計
２７ マイクロコンピュータ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 連鋳工場、脱ガス工場等の試料採取場所から遠隔地にあ
る試料分析センターへ分析試料を運ぶところのケースレ
ス圧送式試料搬送用気送管装置を設け、該試料分析セン
ターに送られてきた分析試料を分析可能な状態に加工す
るところの自動切断研磨機と該自動切断研磨機により加
工された分析試料を中間受皿まで運ぶところの搬送ロボ
ットと分析試料を中間受皿から分光分析計まで運ぶとこ
、 ろの分析ロボットと試料の分析結果を判定、伝送。 記録するところの各種コンピュータとを直列的に配設し
試料の分析が全て自動的に処理され得るように構成した
ことを特徴とする鋼の分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57167093A JPS5956165A (ja) | 1982-09-25 | 1982-09-25 | 鋼の分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57167093A JPS5956165A (ja) | 1982-09-25 | 1982-09-25 | 鋼の分光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5956165A true JPS5956165A (ja) | 1984-03-31 |
| JPH0216994B2 JPH0216994B2 (ja) | 1990-04-19 |
Family
ID=15843286
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57167093A Granted JPS5956165A (ja) | 1982-09-25 | 1982-09-25 | 鋼の分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5956165A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0490899U (ja) * | 1990-12-25 | 1992-08-07 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54124796A (en) * | 1978-03-21 | 1979-09-27 | Sumitomo Metal Ind | Method of automatically analyzing molten steel sample |
-
1982
- 1982-09-25 JP JP57167093A patent/JPS5956165A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54124796A (en) * | 1978-03-21 | 1979-09-27 | Sumitomo Metal Ind | Method of automatically analyzing molten steel sample |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0216994B2 (ja) | 1990-04-19 |
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