JPS5949009B2 - 放射線断層撮影装置 - Google Patents
放射線断層撮影装置Info
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- JPS5949009B2 JPS5949009B2 JP52108956A JP10895677A JPS5949009B2 JP S5949009 B2 JPS5949009 B2 JP S5949009B2 JP 52108956 A JP52108956 A JP 52108956A JP 10895677 A JP10895677 A JP 10895677A JP S5949009 B2 JPS5949009 B2 JP S5949009B2
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- rays
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は放射線断層撮影装置に関するもので、特に、被
検体を透過したX線の強度を測定して被検査体の診断部
の断面のX線吸収係数を計算機で計算し、その結果を表
示するコンピユーテッド・トモグラフィ装置(以下CT
装置という)の改良に関するものである。
検体を透過したX線の強度を測定して被検査体の診断部
の断面のX線吸収係数を計算機で計算し、その結果を表
示するコンピユーテッド・トモグラフィ装置(以下CT
装置という)の改良に関するものである。
従来のCT装置は、被検査体を十分に覆い得る拡力ンり
角を有する扇状の放射線を放出する放射線源と、その放
射線を検出する多数の検知セルから成る検出器とを被検
査体のまわりに回転させて、被検査体の断層像を得るの
に必要な投影データを収集していた。
角を有する扇状の放射線を放出する放射線源と、その放
射線を検出する多数の検知セルから成る検出器とを被検
査体のまわりに回転させて、被検査体の断層像を得るの
に必要な投影データを収集していた。
このCT装置では検知セルの数が固定されているため、
被検査体の診断部の大きさ[が変化すると、画像の精度
の向上に寄与する投影データを収集する検知セルの数が
変化し、得られる断層像の精度が診断部の大きさによっ
て変化する欠点があった。
被検査体の診断部の大きさ[が変化すると、画像の精度
の向上に寄与する投影データを収集する検知セルの数が
変化し、得られる断層像の精度が診断部の大きさによっ
て変化する欠点があった。
さらに、検知セルが多くなると検出器からの信号取り出
し線も多くなり、回転する検出器からの信号取り出し機
構も複雑になる欠点があった。
し線も多くなり、回転する検出器からの信号取り出し機
構も複雑になる欠点があった。
本発明は上記欠点を除去し、被検査体が扇状放射線の範
囲よりも大きい場合でも断層撮影可能な放射線断層撮影
装置を提供することを目的とする。
囲よりも大きい場合でも断層撮影可能な放射線断層撮影
装置を提供することを目的とする。
以下、本発明を一実施例に基づいて詳細に説明する。
尚、図面において同じ部分には同一番号を付した。
第1図において、X線管1から放出された放射線即ちX
線2は、拡がり角αを有する扇状ビームである。
線2は、拡がり角αを有する扇状ビームである。
このX線2は、検知手段、例えば複数の検知セル3から
成る検出器4で検出される。
成る検出器4で検出される。
この検出器4及び前記X線管1は、架台5に設置されて
いる。
いる。
架台5は、周囲に歯車(図示せず)を有しており、この
歯車に駆動歯車6が係合している。
歯車に駆動歯車6が係合している。
この駆動歯車6は、電動機7に駆動軸(図示せず)を介
して結合されている。
して結合されている。
前記架台5には、中心軸8を中心にして一定の半径を有
する孔9が設けられている。
する孔9が設けられている。
この孔9に、被検査体10が紙面に垂直な方向に挿入さ
れる。
れる。
X線管1から放出されたX線2の拡がり角αは、前記被
検査体10を包含するように想定された撮影領域11に
X線2の側線12が接し、他方の側線13が中心軸8を
通るように、絞り装置(図示せず)によって規定されて
いる。
検査体10を包含するように想定された撮影領域11に
X線2の側線12が接し、他方の側線13が中心軸8を
通るように、絞り装置(図示せず)によって規定されて
いる。
即ちX線管1と検出器4の中心を結ぶ軸線を架台5の中
心線よりずらせる。
心線よりずらせる。
前記床がり角αは、撮影領域11の大きさに応じて前記
絞り装置によって変えられるようになっている。
絞り装置によって変えられるようになっている。
この状態で電動機7で付勢される架台5を回転駆動し、
X線管1及び検出器4を対向させながら所定の軌道円上
を回転させる。
X線管1及び検出器4を対向させながら所定の軌道円上
を回転させる。
この拡がり角αを有するX線2の側線12,13の位置
合せはX線管1及び検出器4を軌道内の接線方向に対し
て所望の角度回動せしめる放射線回動機構部(図示せず
)によって行う。
合せはX線管1及び検出器4を軌道内の接線方向に対し
て所望の角度回動せしめる放射線回動機構部(図示せず
)によって行う。
以上のように設定されたX線管1及び検出器4の所定の
位置で、被検査体10を照射したX線2は、検出器4で
検出される。
位置で、被検査体10を照射したX線2は、検出器4で
検出される。
検出されたX線の強度は、電気信号に変換され、この信
号は情報処理手段の一部を構成する信号処理装置15で
処理される。
号は情報処理手段の一部を構成する信号処理装置15で
処理される。
この処理された信号は、中央演算処理装置16に送られ
、被検査体の断面の各部におけるX線吸収係数が周知の
コンボリューション法等を用いて計算される。
、被検査体の断面の各部におけるX線吸収係数が周知の
コンボリューション法等を用いて計算される。
この計算結果は、表示装置17に送られ表示される。
また、中央演算処理装置16は発生制御器18を通して
X線管1のX線発生を制御している。
X線管1のX線発生を制御している。
さらに、中央演算処理装置16は、電動機6を通して架
台5の回転制御も行っている。
台5の回転制御も行っている。
そして、X線管1吸び検出器4の所定の回転ステップ角
度の位置毎にX線が放出され、それぞれの位置における
投影データが収集される。
度の位置毎にX線が放出され、それぞれの位置における
投影データが収集される。
前記のステップ角度は、180度の約数にする。
従って、X線管1及び検出器4は、半回転してそれぞれ
X線管1′及び検出器4′の位置にくる。
X線管1′及び検出器4′の位置にくる。
第2図は第1図の実施例の要部動作説明図である。
この第2図においてX線管1及び検出器4はX線管1″
及び検出器4“に対し、またX線管1′及び検出器4′
はX線管1#′及び検出器4″′に対し、それぞれ18
0度位置がずれている。
及び検出器4“に対し、またX線管1′及び検出器4′
はX線管1#′及び検出器4″′に対し、それぞれ18
0度位置がずれている。
X線管1と検出器4の中心を結ぶ軸線21が、発生点1
4を中心にして架台の中心線に対してα/2だけ回動し
た位置にずれた時に、X線を照射させ撮影領域11の左
半分を撮影する。
4を中心にして架台の中心線に対してα/2だけ回動し
た位置にずれた時に、X線を照射させ撮影領域11の左
半分を撮影する。
撮影領域11の残りの右半分の撮影は、X線管1を18
0度回転させX線管1″の位置にきた時に行なう。
0度回転させX線管1″の位置にきた時に行なう。
この時、撮影領域11の断層像を得るのに必要な検知セ
ルの数は拡がり角2αの扇状X線を検出する検出器のそ
れと比べ約半分になるが従来の装置と比べて検知セルの
間隔は一定だから分解能は実質的に変わらない。
ルの数は拡がり角2αの扇状X線を検出する検出器のそ
れと比べ約半分になるが従来の装置と比べて検知セルの
間隔は一定だから分解能は実質的に変わらない。
かつ、撮影領域11と同じ分解能で撮影領域11′の断
層像も得られる。
層像も得られる。
また、検出器で検出されるデータ数は拡がり角2αの扇
状X線を検出する場合と比べて半分になるため、データ
の処理時間も短かくなる。
状X線を検出する場合と比べて半分になるため、データ
の処理時間も短かくなる。
第3図は、診断部位によってその撮影領域31が前記撮
影領域11より小さくなる場合の撮影例を示したもので
、第2図と同様の要領で撮影が行なわれる。
影領域11より小さくなる場合の撮影例を示したもので
、第2図と同様の要領で撮影が行なわれる。
撮影領域31の断層像は検出器4の一部分32即ちX線
の側線1゛2と架台の中心線とに挟まれた検出器の部分
によって収集される投影データから得られる。
の側線1゛2と架台の中心線とに挟まれた検出器の部分
によって収集される投影データから得られる。
また、検出器4の他部分33即ちX線の他の側線13と
架台の中心線とに挟まれた検出器の部分によって収集さ
れる投影データからは、撮影領域34の断層像が得られ
る。
架台の中心線とに挟まれた検出器の部分によって収集さ
れる投影データからは、撮影領域34の断層像が得られ
る。
撮影領域31の前記撮影領域34に該当する部分の断層
像と、撮影領域34の断層像とを比較することにより、
X線照射中の被検査体の動きによる断層像の画質の低下
を補償することができる。
像と、撮影領域34の断層像とを比較することにより、
X線照射中の被検査体の動きによる断層像の画質の低下
を補償することができる。
以上、本発明によれば、被検査体が扇状X線内に含まれ
ない場合において散乱線の増加を伴う広角度扇状X線及
び検出面の広い検出器を使用しなくても断層像を得るこ
とが可能な放射線断層撮影装置を提供することができる
。
ない場合において散乱線の増加を伴う広角度扇状X線及
び検出面の広い検出器を使用しなくても断層像を得るこ
とが可能な放射線断層撮影装置を提供することができる
。
すなわち広角度扇状X線の場合、両端付近に散乱線が生
じやすく、画質に悪影響を及ぼすが、本願発明の装置で
はこの影響は少ないという効果がある。
じやすく、画質に悪影響を及ぼすが、本願発明の装置で
はこの影響は少ないという効果がある。
尚、本発明は前記実施列に限定されず、X線源はアメリ
シウム等の放射線源でもよく、本発明の特許請求の範囲
に含まれる変形例を含むことは勿論である。
シウム等の放射線源でもよく、本発明の特許請求の範囲
に含まれる変形例を含むことは勿論である。
第1図は、本発明の一実施例であるCT装置の概略図、
第2図は前記実施例の要部動作説明図、第3図は他の実
施例の部分説明図である。 1、 1’、 1“、1″′・・・・・・X線管、3・
・・・・・検知セル、4. 4’、 4”、 4“
′・・・・・・検出器、5・・・・・・架台、6・・・
・・・駆動歯車、7・・・・・・電動機、9・・・・・
・孔、15信号処理装置、16・・・・・・中央演算処
理装置、17・・・・・・表示装置、18・・・・・・
発生制御器。
第2図は前記実施例の要部動作説明図、第3図は他の実
施例の部分説明図である。 1、 1’、 1“、1″′・・・・・・X線管、3・
・・・・・検知セル、4. 4’、 4”、 4“
′・・・・・・検出器、5・・・・・・架台、6・・・
・・・駆動歯車、7・・・・・・電動機、9・・・・・
・孔、15信号処理装置、16・・・・・・中央演算処
理装置、17・・・・・・表示装置、18・・・・・・
発生制御器。
Claims (1)
- 1 被検体中の回転中心に対して、この回転中心を含み
、かつ左右いずれか一方に変位した側のみに扇状放射線
を放射する放射線源と、この被検体を透過した前記扇状
放射線を検出するように前記回転中心に対して変位して
配置された放射線検出器と、この検出器と前記放射線源
とを前記被検体の回転中心に対して相対的に1回転走査
する駆動手段と、前記検出器より供給される信号により
前記被検体の断面像を得る処理手段とを備えることによ
り前記被検体を覆うことができない検出器によって、前
記被検体の全体を走査することを特徴とする放射線断層
撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52108956A JPS5949009B2 (ja) | 1977-09-12 | 1977-09-12 | 放射線断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52108956A JPS5949009B2 (ja) | 1977-09-12 | 1977-09-12 | 放射線断層撮影装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5443487A JPS5443487A (en) | 1979-04-06 |
JPS5949009B2 true JPS5949009B2 (ja) | 1984-11-30 |
Family
ID=14497910
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52108956A Expired JPS5949009B2 (ja) | 1977-09-12 | 1977-09-12 | 放射線断層撮影装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5949009B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4215229A (en) * | 1978-06-15 | 1980-07-29 | Koppers Company, Inc. | Process for alkylating phenolic compounds to produce ortho- and para-monoalkylated phenols and 2,4- and 2,6-dialkylated phenols |
JPS58116342A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-11 | 株式会社島津製作所 | コンピユ−タ断層撮影装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50109782A (ja) * | 1974-01-31 | 1975-08-29 | ||
JPS52134791A (en) * | 1976-05-07 | 1977-11-11 | Hitachi Medical Corp | Cross section tester |
-
1977
- 1977-09-12 JP JP52108956A patent/JPS5949009B2/ja not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50109782A (ja) * | 1974-01-31 | 1975-08-29 | ||
JPS52134791A (en) * | 1976-05-07 | 1977-11-11 | Hitachi Medical Corp | Cross section tester |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5443487A (en) | 1979-04-06 |
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