JPS5946551A - 質量分析装置におけるピ−ク判別方法 - Google Patents
質量分析装置におけるピ−ク判別方法Info
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- JPS5946551A JPS5946551A JP57157588A JP15758882A JPS5946551A JP S5946551 A JPS5946551 A JP S5946551A JP 57157588 A JP57157588 A JP 57157588A JP 15758882 A JP15758882 A JP 15758882A JP S5946551 A JPS5946551 A JP S5946551A
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- electric field
- peak
- ion
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- ions
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は二重収束質量分析系の後段に第２の電場を付加
した所謂ＭＳ／ＭＳ装置に関する。
した所謂ＭＳ／ＭＳ装置に関する。
近時、電場と磁場を組合わせた二重収束質量分析系の後
段に、更に質量分析系を配置した所謂ＭＳ／ＭＳ装置が
提案されている。このＭＳ／ＭＳ装置では、第１の質量
分析系によって精度良く選別した特定の前駆イオンを２
つの分析系の間に配置した衝突室へ導入して、分裂解離
させ、生成した娘イオンを第２の分析系へ導入し、該分
析系の掃引により娘イオンの質量スペクトルを得るもの
であり、第１の分析系によって前駆イオンを高精度に選
別できるため、得られたスペクトルは前駆イオンに対す
る分解能が極めて高いという特徴を有している。特に第
２の分析系として電場を用いると、構成がそれ程複雑に
ならず価格的にも有利なことから、この電場を付加する
方式のＭＳ／ＭＳ装置が着目されている。
段に、更に質量分析系を配置した所謂ＭＳ／ＭＳ装置が
提案されている。このＭＳ／ＭＳ装置では、第１の質量
分析系によって精度良く選別した特定の前駆イオンを２
つの分析系の間に配置した衝突室へ導入して、分裂解離
させ、生成した娘イオンを第２の分析系へ導入し、該分
析系の掃引により娘イオンの質量スペクトルを得るもの
であり、第１の分析系によって前駆イオンを高精度に選
別できるため、得られたスペクトルは前駆イオンに対す
る分解能が極めて高いという特徴を有している。特に第
２の分析系として電場を用いると、構成がそれ程複雑に
ならず価格的にも有利なことから、この電場を付加する
方式のＭＳ／ＭＳ装置が着目されている。
ところが、この方式のＭ Ｓ ／ Ｍ ’Ｓ装間では、
上述の如く得られるスペクトルは前駆イオンに対する分
解能は高いものの娘イオンに対する分解能は高くなく、
シャープなスペクトル中得られｈいという欠点を有ｌノ
でいる。そこで本発明者は第１の質量分析系の電場及び
ＰＡ場そして第２の電場を、夫々の強度の比を一定に保
った状態で掃引することにより、シャープなスペクトル
を得ることのできるＭＳ／ＭＳ装覧を提案１ノでいる。
上述の如く得られるスペクトルは前駆イオンに対する分
解能は高いものの娘イオンに対する分解能は高くなく、
シャープなスペクトル中得られｈいという欠点を有ｌノ
でいる。そこで本発明者は第１の質量分析系の電場及び
ＰＡ場そして第２の電場を、夫々の強度の比を一定に保
った状態で掃引することにより、シャープなスペクトル
を得ることのできるＭＳ／ＭＳ装覧を提案１ノでいる。
ところが、この提案装置において１９られる質量スペク
トル中ルイオンに対する分解能は良くなったものの、今
度は逆に前駆イオンに対する分解能が低下してしまうた
め、スペクトル中に本来の前駆イオンに極めて近い質量
数を持つ別の前駆イオンが存在した場合、その別の前駆
イオンから派生した娘イオンが混入してしまい、どのピ
ークが不要な混入ピークなのか判別することが困難であ
っｌご 。
トル中ルイオンに対する分解能は良くなったものの、今
度は逆に前駆イオンに対する分解能が低下してしまうた
め、スペクトル中に本来の前駆イオンに極めて近い質量
数を持つ別の前駆イオンが存在した場合、その別の前駆
イオンから派生した娘イオンが混入してしまい、どのピ
ークが不要な混入ピークなのか判別することが困難であ
っｌご 。
本発明はこの点に鑑みてなされたものであり、イオン源
と、該イオン源で生成されたイオンが導入される電場と
磁場を右する二重収束質量分析系と、該二重収束質量分
析系を通過したイオンを検出するためのイオン検出器と
、該イオン検出器と前記二重収束質量分析系との間に配
置される第２の電場と、前記二重収束質量分析系を構成
する電場と磁場及び前記第２の電場の夫々の強度の比を
一定に保って該電場及び磁場の強度を掃引する手段を備
えた質量分析装置において、前記第２の電場の強度を微
小範囲で複数段階に変化させ、口つ各段階で前記掃引手
段による掃引を行い、その複数回の掃引に基づいて前記
検出器から得られるスペクトル信号中に含まれる各ピー
クについて、そのピーク強度の変化をモニタすることに
より不要な混入ピークを正確に判別することのできる方
法を捉供するものである。以下、図面を用いて本発明の
一実施例を詳述する。
と、該イオン源で生成されたイオンが導入される電場と
磁場を右する二重収束質量分析系と、該二重収束質量分
析系を通過したイオンを検出するためのイオン検出器と
、該イオン検出器と前記二重収束質量分析系との間に配
置される第２の電場と、前記二重収束質量分析系を構成
する電場と磁場及び前記第２の電場の夫々の強度の比を
一定に保って該電場及び磁場の強度を掃引する手段を備
えた質量分析装置において、前記第２の電場の強度を微
小範囲で複数段階に変化させ、口つ各段階で前記掃引手
段による掃引を行い、その複数回の掃引に基づいて前記
検出器から得られるスペクトル信号中に含まれる各ピー
クについて、そのピーク強度の変化をモニタすることに
より不要な混入ピークを正確に判別することのできる方
法を捉供するものである。以下、図面を用いて本発明の
一実施例を詳述する。
第１図は本発明にかかる方法を実施するための装置の一
例を示す構成図であり、図中１はイオン化箱、スリット
等より成るイオン源、２は主スリッ１〜．３はイオン８
ｉ！１と主スリット２との間に配置される第１１ｉＩ！
ｉ突室である。主スリット２から取出されたイオンは、
同心円筒電極４． ／ｌ’間に形成される電場Ｅ１及び
磁ｔ（ｉ５．５’（磁ｔｒｉ ５ ’ は３− 図示せず）間に形成される磁場Ｂから成る二重収束ＭＰ
ｌｔ分析系６に入射した後、中間スリット７の位置へ収
束される。該中間スリット７の近傍には第２＠突室８が
配置されており、該衝突室８を通過したイオンは、その
後方に配置された同心円筒電極９，９′間に形成される
電場Ｆ２を通過し、イオン検出器１０へ入射して検出さ
れる。該検出器１０から得られた検出信号は、増幅器１
１を介して記録計１２へ供給され、記録される。該記録
計１２には掃引回路１３からの掃引信号が供給されてお
り、該掃引信号は前記円筒電極４，４′及び９，９′簡
に電圧を印加するための電場電源１４．１５．、、及び
磁極５，５′を励磁するためのコイルに電流を供給する
磁場電源１６にも送られる。
例を示す構成図であり、図中１はイオン化箱、スリット
等より成るイオン源、２は主スリッ１〜．３はイオン８
ｉ！１と主スリット２との間に配置される第１１ｉＩ！
ｉ突室である。主スリット２から取出されたイオンは、
同心円筒電極４． ／ｌ’間に形成される電場Ｅ１及び
磁ｔ（ｉ５．５’（磁ｔｒｉ ５ ’ は３− 図示せず）間に形成される磁場Ｂから成る二重収束ＭＰ
ｌｔ分析系６に入射した後、中間スリット７の位置へ収
束される。該中間スリット７の近傍には第２＠突室８が
配置されており、該衝突室８を通過したイオンは、その
後方に配置された同心円筒電極９，９′間に形成される
電場Ｆ２を通過し、イオン検出器１０へ入射して検出さ
れる。該検出器１０から得られた検出信号は、増幅器１
１を介して記録計１２へ供給され、記録される。該記録
計１２には掃引回路１３からの掃引信号が供給されてお
り、該掃引信号は前記円筒電極４，４′及び９，９′簡
に電圧を印加するための電場電源１４．１５．、、及び
磁極５，５′を励磁するためのコイルに電流を供給する
磁場電源１６にも送られる。
１７．１８は夫々該掃引信号を分圧して磁場電源１６、
電場電源１５へ送るためのポテンショメータである。
電場電源１５へ送るためのポテンショメータである。
斯かる構成において、第２衝突室８は本発明に直接必要
ではないので、イオン通路から外すか、又は衝突ガスを
充満させずイオンがそのまま通過４− できるようにしておかれる。ここで、先に述べた本発明
者の提案装置について説明する。イオン源１で生成され
たイオン（前駆イオン）をＩｎｏ＋とすれば、該イオン
は衝突室３内に適宜な圧力で存在するアルゴン等の衝突
ガス分子と衝突し、次式に従って解離し娘イオンｍ１＋
が生成される。
ではないので、イオン通路から外すか、又は衝突ガスを
充満させずイオンがそのまま通過４− できるようにしておかれる。ここで、先に述べた本発明
者の提案装置について説明する。イオン源１で生成され
たイオン（前駆イオン）をＩｎｏ＋とすれば、該イオン
は衝突室３内に適宜な圧力で存在するアルゴン等の衝突
ガス分子と衝突し、次式に従って解離し娘イオンｍ１＋
が生成される。
ｍｏ”→ｌＬ＋＋（ｌ１ｌｏ ｍｌ）・・（１）この
娘イオンｍ１＋は前駆イオンｍｏ＋がＶａなるエネルギ
ーを持っていたとすれば、Ｖａ×（Ｉｔ ／ ｍｏ ）
のエネルギーを有する。この様にｌｌ１１なる質量を持
ち、Ｖａ Ｘ （ＩＬ ／用０）なるエネルギーを持つ
娘イオンが電場Ｅ１を通過し得るＥｌの強度［＋ｄは次
式で表わされる。
娘イオンｍ１＋は前駆イオンｍｏ＋がＶａなるエネルギ
ーを持っていたとすれば、Ｖａ×（Ｉｔ ／ ｍｏ ）
のエネルギーを有する。この様にｌｌ１１なる質量を持
ち、Ｖａ Ｘ （ＩＬ ／用０）なるエネルギーを持つ
娘イオンが電場Ｅ１を通過し得るＥｌの強度［＋ｄは次
式で表わされる。
Ｅ＋ ｄ ＝Ｆ＋ ｏ Ｘ （ＩＬ ／ ｍｏ ）−（
２）ここでＥ＋ｏは前駆イオン検出器が電’Ｊｊ Ｅ
＋を通過し得る強度である。
２）ここでＥ＋ｏは前駆イオン検出器が電’Ｊｊ Ｅ
＋を通過し得る強度である。
次に、娘イオンが磁場Ｂを通過し得る磁場Ｂの強度Ｂｄ
は次式で現わされる。
は次式で現わされる。
３ｄ２＝Ｂｏ２Ｘ（ｍｔ／Ｉｔｌｏ）２・＝（３）ここ
でＢｏは前駆イオンｍｏ＋が磁場Ｂを通過し得る強度で
ある。
でＢｏは前駆イオンｍｏ＋が磁場Ｂを通過し得る強度で
ある。
更に、娘イオンが電場Ｅ２を通過し得るＦ２の強度Ｅ２
ｄはＥｌと同様に次式で表わされる。
ｄはＥｌと同様に次式で表わされる。
Ｆ２ ｄ ＝Ｆ２０ Ｘ （Ｉｔ ／ ｍｏ ）＝・（
４）ここで［２０は前駆イオンｍｏ＋が電場Ｅ２を通過
し得る強度である。
４）ここで［２０は前駆イオンｍｏ＋が電場Ｅ２を通過
し得る強度である。
上記（２）、（３）、（４）式より次式が得られる。
Ｅｌｏ２／Ｂｏ２＝Ｅ＋ｄ２／Ｂｄ２−（５）Ｅ２ｏ２
／Ｂｏ２＝Ｅ２ｄ２／Ｂｄ２−（６）（５）、（６）式
かられかる様に、前駆イオ”ン１＋１ｏ＋を通過させる
ための２つの電場強度と磁場強度の比の値と、娘イオン
を通過させるための２つの電場強度と磁場強度の比の値
は等しい。逆に言えば、Ｆｌ ：Ｂ：Ｆ２の比を一定
に保ってＢを（従ってＥｌ 、Ｆ２も）ｎ引すれば、前
駆イオンｍｏ＋から派！Ｉニジたすべての娘イオンを取
出して検出することができることになる。
／Ｂｏ２＝Ｅ２ｄ２／Ｂｄ２−（６）（５）、（６）式
かられかる様に、前駆イオ”ン１＋１ｏ＋を通過させる
ための２つの電場強度と磁場強度の比の値と、娘イオン
を通過させるための２つの電場強度と磁場強度の比の値
は等しい。逆に言えば、Ｆｌ ：Ｂ：Ｆ２の比を一定
に保ってＢを（従ってＥｌ 、Ｆ２も）ｎ引すれば、前
駆イオンｍｏ＋から派！Ｉニジたすべての娘イオンを取
出して検出することができることになる。
その測定手順は、先ず最初に衝突室３に衝突ガスを入れ
ない状態で前駆イオンｍＱ＋を分析系へ導入し、該イオ
ンｍＱ＋が分析系を通過することができ検出器１０へ入
射し得るｊ；うなＥｌ 、Ｂ。
ない状態で前駆イオンｍＱ＋を分析系へ導入し、該イオ
ンｍＱ＋が分析系を通過することができ検出器１０へ入
射し得るｊ；うなＥｌ 、Ｂ。
Ｆ２の強度Ｅ＋ ｏ 、Ｂｏ 、Ｆｚ ｏを、例えば手
動にて電［１／１．１６．１５及びポテンショメータ１
７．１８を操作することにより求め、Ｅｌ 、Ｂ。
動にて電［１／１．１６．１５及びポテンショメータ１
７．１８を操作することにより求め、Ｅｌ 、Ｂ。
Ｆ２の初期値が夫々Ｅ＋ ｏ 、Ｂｏ 、Ｆ２ ｏに設
定されるように各電源１４．１６．１５及びポテンショ
メータ１７．１８をセラ１−シておく。
定されるように各電源１４．１６．１５及びポテンショ
メータ１７．１８をセラ１−シておく。
次に１Ｍ引回路１３を作動させると、該掃引回路は第２
図（ａ ）に示される様な掃引信号を発ｔｐする。各電
源１４．１６．１５は該掃引信号に基づきＥｌ 、Ｂ、
Ｆ２を第２図（ｂ ）、 （ｃ ）、 （ｄ ）に
示で様に初期値Ｅ＋ｏ 、Ｂｏ 、Ｆ２０から零へ向（
ブてＥｌ：Ｂ：Ｆ２の比を一定に保ち一斉に掃引する。
図（ａ ）に示される様な掃引信号を発ｔｐする。各電
源１４．１６．１５は該掃引信号に基づきＥｌ 、Ｂ、
Ｆ２を第２図（ｂ ）、 （ｃ ）、 （ｄ ）に
示で様に初期値Ｅ＋ｏ 、Ｂｏ 、Ｆ２０から零へ向（
ブてＥｌ：Ｂ：Ｆ２の比を一定に保ち一斉に掃引する。
そのため、゛掃引開始時には衝突室３で解離しなかった
前駆イオンが分析系を通過して検出され、以後解離によ
り派生した娘イオンが質量数の大きい順に順次分析系を
通過して検出される。
前駆イオンが分析系を通過して検出され、以後解離によ
り派生した娘イオンが質量数の大きい順に順次分析系を
通過して検出される。
従って掃引信号によって掃引される記録計１２へその検
出信号を導入して記録すれば、前駆イオン７− に始まって順次娘イオンのピークが描かれた質量スペク
トルが得られる。この質♀スペク１〜ルは、娘イオンが
二重収束条件の成り立つ電場「１．磁場Ｂにより分析さ
れるため、該娘イオンの質量に対する分解能が高く、シ
ャープなスペクトルどなる。ただし、前駆イオンに対す
る分解能は低下するので、不要なピークが混入してしま
うことは先に述べた。
出信号を導入して記録すれば、前駆イオン７− に始まって順次娘イオンのピークが描かれた質量スペク
トルが得られる。この質♀スペク１〜ルは、娘イオンが
二重収束条件の成り立つ電場「１．磁場Ｂにより分析さ
れるため、該娘イオンの質量に対する分解能が高く、シ
ャープなスペクトルどなる。ただし、前駆イオンに対す
る分解能は低下するので、不要なピークが混入してしま
うことは先に述べた。
この点について検討すると、一般に質量ｍを持つイオン
が電場Ｅ＋ 、 ｖＡｓｓを通過するにはａを装置に関
する定数として ｍ −ａ ｘＢ２ ／Ｅ＋ −（７）な
る関係が成立する必要がある。これをＢ Ｅ＋平面で考
えると、第３図の如く質φｍをパラメータとした２次曲
線どなる。第３図において前駆イオン ｍｏ ＋、ｍイ
オンｍ１＋は夫々の質量数で定まる２次曲線ｉｏ 、Ａ
、上にあるＢとＥｌの値をもつ場合に電場Ｅ１及び磁場
Ｂ及び電場Ｆ２と同じ条件の第２の電場Ｅ２を通過し得
る。
が電場Ｅ＋ 、 ｖＡｓｓを通過するにはａを装置に関
する定数として ｍ −ａ ｘＢ２ ／Ｅ＋ −（７）な
る関係が成立する必要がある。これをＢ Ｅ＋平面で考
えると、第３図の如く質φｍをパラメータとした２次曲
線どなる。第３図において前駆イオン ｍｏ ＋、ｍイ
オンｍ１＋は夫々の質量数で定まる２次曲線ｉｏ 、Ａ
、上にあるＢとＥｌの値をもつ場合に電場Ｅ１及び磁場
Ｂ及び電場Ｆ２と同じ条件の第２の電場Ｅ２を通過し得
る。
先に述べた構成でＥｌと８の比を一定にして昂８−
引することは第３図において（Ｂｏ 、 Ｅｌ ｏ ）
を通る直線Ｌ１に沿って掃引することを意味しており、
掃引がＱｌとＬｌの交点Ｃ１に来ｌ〔時に娘イオンｍ２
＋のピークが分析系を通過して検出される。
を通る直線Ｌ１に沿って掃引することを意味しており、
掃引がＱｌとＬｌの交点Ｃ１に来ｌ〔時に娘イオンｍ２
＋のピークが分析系を通過して検出される。
ところが、例えば前駆イオン ｍｏ＋と極わずか質量数
の責なる前駆イオンｍ２＋が存在し、それからｍ１＋に
極近い質量を持つ娘イオンｍ３＋が派生したとすると、
ｍ２＋、ｍ３＋に対応する曲線は交２，９．３（破線）
となり、１−１とρ、３の交点Ｃ２のところでｍ３＋の
持つエネルギーの広がりのためｍ３＋が検出されてしま
い、これが不要な混入ピークとなるのである。このこと
を第３図のＣ＋ 、Ｃ２の部分を拡大し高さ方向にイオ
ン量をとった第４図を用いて更に説明する。
の責なる前駆イオンｍ２＋が存在し、それからｍ１＋に
極近い質量を持つ娘イオンｍ３＋が派生したとすると、
ｍ２＋、ｍ３＋に対応する曲線は交２，９．３（破線）
となり、１−１とρ、３の交点Ｃ２のところでｍ３＋の
持つエネルギーの広がりのためｍ３＋が検出されてしま
い、これが不要な混入ピークとなるのである。このこと
を第３図のＣ＋ 、Ｃ２の部分を拡大し高さ方向にイオ
ン量をとった第４図を用いて更に説明する。
第４図においてＦ２はＥ＋＝Ｅ＋ｏとＱ２との交点と原
点Ｏを結んだ直線で、Ｌｌと同様に前駆イオンｍ２＋か
ら派生したすべての娘イオンはこの直線Ｌ２の上に存在
する。ところが、娘イオンｍ、”、ｍ３＋はｊ５ｖ離時
に運動エネルギーが一部放出されたりすることからエネ
ルギーに広がりがあり、夫々曲線Ｑ １．’Ｑ ２で示
す様に１−１ と込１の交点Ｃ１及び１−２と９．３の
交点ｃ３を中心として、ｃｌ＋ 、 Ｆ１３に沿ってか
なりの裾の広がりを持つ分布を示す。そのため、Ｌｌに
治った掃引を行うと、１−１ とＱ３の交点Ｃ２の部分
で９２の裾の広がりの部分のｍ３＋イオンが検出されて
第５図（ａ）に示す小ざいビークＰ２が得られ、次に同
様にＬｌと込１の交点Ｃ１の部分で０１の中心部のｍ１
＋イオンが検出されて第５図＜ａ ＞に示す大きなビー
クＰ１が得られる。この様にして１１に沿った掃引を行
うと、ｍ３＋の持つエネルギーの広がりのために、本来
存在することのないビークＰ２が混入してしまい、本来
のビークＰ１との区別がつかなくなっている。
点Ｏを結んだ直線で、Ｌｌと同様に前駆イオンｍ２＋か
ら派生したすべての娘イオンはこの直線Ｌ２の上に存在
する。ところが、娘イオンｍ、”、ｍ３＋はｊ５ｖ離時
に運動エネルギーが一部放出されたりすることからエネ
ルギーに広がりがあり、夫々曲線Ｑ １．’Ｑ ２で示
す様に１−１ と込１の交点Ｃ１及び１−２と９．３の
交点ｃ３を中心として、ｃｌ＋ 、 Ｆ１３に沿ってか
なりの裾の広がりを持つ分布を示す。そのため、Ｌｌに
治った掃引を行うと、１−１ とＱ３の交点Ｃ２の部分
で９２の裾の広がりの部分のｍ３＋イオンが検出されて
第５図（ａ）に示す小ざいビークＰ２が得られ、次に同
様にＬｌと込１の交点Ｃ１の部分で０１の中心部のｍ１
＋イオンが検出されて第５図＜ａ ＞に示す大きなビー
クＰ１が得られる。この様にして１１に沿った掃引を行
うと、ｍ３＋の持つエネルギーの広がりのために、本来
存在することのないビークＰ２が混入してしまい、本来
のビークＰ１との区別がつかなくなっている。
ここで、第５図（ａ ）の様なスペクトルが得られた時
、第２の電場Ｅ２の強度の初期値を微小昂変え（例えば
弱めて）、ＥｌとＥｌの比を極ゎずか変えてＬｌに沿っ
た掃引を行うことを考える。
、第２の電場Ｅ２の強度の初期値を微小昂変え（例えば
弱めて）、ＥｌとＥｌの比を極ゎずか変えてＬｌに沿っ
た掃引を行うことを考える。
Ｆ２の強度が変わったことにより、掃引は実質的に１−
１ではなく第４図におけるＬＩ′に沿って行われること
と等価になる。従って１＋’ に沿った掃引によって得
られるスペクトルは第５図（ｂ）に示す様にＰｌの高さ
がＰ１’ と低くなりＦ２の高さがＰ２’ と高くなっ
たものとなる。更にもう１段階「２の強度の初期値を弱
めて掃引を行うと、掃引は実質的にし１“に沿ったもの
と等価になり、第５図（Ｃ）に示す様にＰｌの高さがＰ
ｌ“と更に低くなり、逆にＦ２の高さがＦ２“と更に高
くなったスペクトノ１が得られる。この様にしてＥｌの
強度を、Ｆ２０を挾んで＋側及び−側へ微小段階に変化
させ、ｄつその各段階において掃引を行えば、ＰｌとＦ
２はピークの高さが変化し、このピークの高さの変化を
ＰｌとＦ２についてＥｌの強度を横軸にとってプロット
すると、第６図が得られる。この図から分る様に、本来
の前駆イオンｍＱ＋から派生した娘イオンｍ１＋に対応
するビークＰ１はＦ２０を中心にｑｌに対応した略対称
な変化を示し、混入した娘イオンｍ３＋に対応するビー
クＰ２は、Ｆ２０を外れた位置で高さが１１− 最高となる。従ってこの点に着目すれば、検出したピー
クが本来の前駆イオンから派生したものなのか、混入ピ
ークなのかを即座に判別することが出来る。
１ではなく第４図におけるＬＩ′に沿って行われること
と等価になる。従って１＋’ に沿った掃引によって得
られるスペクトルは第５図（ｂ）に示す様にＰｌの高さ
がＰ１’ と低くなりＦ２の高さがＰ２’ と高くなっ
たものとなる。更にもう１段階「２の強度の初期値を弱
めて掃引を行うと、掃引は実質的にし１“に沿ったもの
と等価になり、第５図（Ｃ）に示す様にＰｌの高さがＰ
ｌ“と更に低くなり、逆にＦ２の高さがＦ２“と更に高
くなったスペクトノ１が得られる。この様にしてＥｌの
強度を、Ｆ２０を挾んで＋側及び−側へ微小段階に変化
させ、ｄつその各段階において掃引を行えば、ＰｌとＦ
２はピークの高さが変化し、このピークの高さの変化を
ＰｌとＦ２についてＥｌの強度を横軸にとってプロット
すると、第６図が得られる。この図から分る様に、本来
の前駆イオンｍＱ＋から派生した娘イオンｍ１＋に対応
するビークＰ１はＦ２０を中心にｑｌに対応した略対称
な変化を示し、混入した娘イオンｍ３＋に対応するビー
クＰ２は、Ｆ２０を外れた位置で高さが１１− 最高となる。従ってこの点に着目すれば、検出したピー
クが本来の前駆イオンから派生したものなのか、混入ピ
ークなのかを即座に判別することが出来る。
本発明はこの様な考え方に基づいており、実際の手順は
、ポテンショメータ１８を例えば手動にて操作し、Ｅｌ
の強度の初期値をＦ２０を中心に微小幅で何段階かに変
化させ、その各段階において掃引回路１３による掃引を
行って得られた第５図（ａ＞、（ｂ）、（ｃ）に示され
る様なスペクトルを記録計１２に順次記録した後、各ス
ペクトル中の同一位置に現れるピークについて、そのピ
ークの高さの変化をモニターし、第６図に示される様に
Ｅｌの変化に合わせてプロットしてゆけば良い。又、記
録した後の処理は人手を用いなくともコンピュータ等に
より容易に行うことが出来るし、Ｅｌの強度の初期値を
微小範囲で複数段階に変化させることもコンビコータ等
により自動的に行うことが出来ることは言うまでもない
。
、ポテンショメータ１８を例えば手動にて操作し、Ｅｌ
の強度の初期値をＦ２０を中心に微小幅で何段階かに変
化させ、その各段階において掃引回路１３による掃引を
行って得られた第５図（ａ＞、（ｂ）、（ｃ）に示され
る様なスペクトルを記録計１２に順次記録した後、各ス
ペクトル中の同一位置に現れるピークについて、そのピ
ークの高さの変化をモニターし、第６図に示される様に
Ｅｌの変化に合わせてプロットしてゆけば良い。又、記
録した後の処理は人手を用いなくともコンピュータ等に
より容易に行うことが出来るし、Ｅｌの強度の初期値を
微小範囲で複数段階に変化させることもコンビコータ等
により自動的に行うことが出来ることは言うまでもない
。
尚、上記例では衝突室３にて前駆イオンをガス１２−
分子に衝突させて解離させたが、試料によっては前駆イ
オンの寿命が短く、イオン源と分析系の間の自由空間で
自然に解離してしまうものもある。
オンの寿命が短く、イオン源と分析系の間の自由空間で
自然に解離してしまうものもある。
その場合には、衝突室３をイオン通路から外すか又はガ
スを充満させないでイオンをそのまま通過させるように
すれば良い。
スを充満させないでイオンをそのまま通過させるように
すれば良い。
第１図は本発明の一実施例の構成を示す図、第２図乃至
第６図はその動作を説明するための図である。 １：イオン源、３：Ｉｉｉ突室、 ４．４’、９．９’：同心円筒電極、 ５．５’：磁極、１０：イオン検出器、１２：記録計、
１３：掃引回路、 １４．１５：電場Ｎ源、１６：磁場電源、１７．１８：
ポテンショメータ。
第６図はその動作を説明するための図である。 １：イオン源、３：Ｉｉｉ突室、 ４．４’、９．９’：同心円筒電極、 ５．５’：磁極、１０：イオン検出器、１２：記録計、
１３：掃引回路、 １４．１５：電場Ｎ源、１６：磁場電源、１７．１８：
ポテンショメータ。
Claims (1)
- イオン源と、該イオン源で生成されたイオンが導入され
る電場と磁場を有する二重収束質量分析系と、該二重収
束質量分析系を通過したイオンを検出するためのイオン
検出器と、該イオン検出器と前記二重収束質量分析系と
の間に配置される第２の電場と、前記二重収束質量分析
系を構成する電場と磁場及び前記第２の電場の夫々の強
度の比を一定に保って該電場及び磁場の強度を掃引する
手段を備えた質量分析装置において、前記第２の電場の
強度を微小範囲で複数段階に変化させ、且つ各段階で前
記掃引手段による掃引を行い、その複数回の掃引に基づ
いて前記検出器から得られるスペクＩ−ル信号中に含ま
れる各ピークについて、そのピーク強度の変化をモニタ
するようにしたことを特徴とするピーク判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57157588A JPS5946551A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 質量分析装置におけるピ−ク判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57157588A JPS5946551A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 質量分析装置におけるピ−ク判別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5946551A true JPS5946551A (ja) | 1984-03-15 |
Family
ID=15652981
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57157588A Pending JPS5946551A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 質量分析装置におけるピ−ク判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5946551A (ja) |
-
1982
- 1982-09-09 JP JP57157588A patent/JPS5946551A/ja active Pending
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