JPS5943614A - 差動増幅回路 - Google Patents
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、差動増幅回路に関し、特にMISFET(
絶縁効果型電界効果トランジスタ)により構成されたM
IS集積回路に適した差動増幅回路に関する。
絶縁効果型電界効果トランジスタ)により構成されたM
IS集積回路に適した差動増幅回路に関する。
差動増幅回路は、差動入力段が対称であるため。
ディファレンシャル入力の同相成分を除−去することが
できる。また、電源電圧にノイズが乗っても、差動増幅
回路では同相雑音となるので、出力には電源ノイズによ
る影響が出て来ないという利点がある。特に、ロジック
回路を含むような集U丁回路においては、ロジック動作
によって電源電圧が変動されても、差動増幅回路の出力
にノイズが表われないので極めて好都合である。
できる。また、電源電圧にノイズが乗っても、差動増幅
回路では同相雑音となるので、出力には電源ノイズによ
る影響が出て来ないという利点がある。特に、ロジック
回路を含むような集U丁回路においては、ロジック動作
によって電源電圧が変動されても、差動増幅回路の出力
にノイズが表われないので極めて好都合である。
ところが、差動増幅回路においては、ディファレンシャ
ル入力が同一レベルであっても、回路自体によって定ま
る安定点がないと、出力が上下にゆれてしまい動作点が
安定されないという問題がある。
ル入力が同一レベルであっても、回路自体によって定ま
る安定点がないと、出力が上下にゆれてしまい動作点が
安定されないという問題がある。
この発明は、差動入力段のディファレンシャル出力をソ
ース入力として受けるようなゲート接地形のMISFE
Tを含むカスコード段を設けることによって 高速動作
可能ζ(′Iされた差動増幅回路(C(、・17”1−
r、回路の動作点が安定化されるようにすることを1−
1的とする。
ース入力として受けるようなゲート接地形のMISFE
Tを含むカスコード段を設けることによって 高速動作
可能ζ(′Iされた差動増幅回路(C(、・17”1−
r、回路の動作点が安定化されるようにすることを1−
1的とする。
そのため、本発明は、カスコード段の差動出力を受(・
−+6ような抵抗回路と、この抵抗回路VCよって1し
成されl(C差!肋出力の中間tノベルの電位によって
1ii71作さiするM I S F T7; Tを設
け、このMISFト〕Tのバイアス電流によって、カス
コード段にネガティブフ5イードバックをかけ、出力の
動作点が1民源市川(VD、)と■S8 )のほぼ中間
に安定されるより)(・1−構成し/゛こことを特徴と
する。
−+6ような抵抗回路と、この抵抗回路VCよって1し
成されl(C差!肋出力の中間tノベルの電位によって
1ii71作さiするM I S F T7; Tを設
け、このMISFト〕Tのバイアス電流によって、カス
コード段にネガティブフ5イードバックをかけ、出力の
動作点が1民源市川(VD、)と■S8 )のほぼ中間
に安定されるより)(・1−構成し/゛こことを特徴と
する。
1ソ、下図面に基−づいて本発明を説明する。
第1図しJ、本発明に係る岸動増11・、1)回路の一
実施例k ;−jfニーす。との回路は、バイアス回路
1と差動入力段2と、カス工I−ド段:3と、出力段4
とを有し7でいる。
実施例k ;−jfニーす。との回路は、バイアス回路
1と差動入力段2と、カス工I−ド段:3と、出力段4
とを有し7でいる。
p;、 1iiiJ 人力Ky +2 i’J1.−v
tノ入力M I S F ET Q 1yQ2 と、こ
の人jJi〜・l I S I” 1号TQ+ 、Q
2のドレインにぞ71−ぞ′れ接lt−,モされ、カレ
ントミラー回路を構成する負荷MI S F E T
Qs 、Q4 と、」二記人力M I S F E
T Q+ 、Qzの共追jソースに接続されプこ定電
流M I S F E T Q 5 とにより(14成
されている。
tノ入力M I S F ET Q 1yQ2 と、こ
の人jJi〜・l I S I” 1号TQ+ 、Q
2のドレインにぞ71−ぞ′れ接lt−,モされ、カレ
ントミラー回路を構成する負荷MI S F E T
Qs 、Q4 と、」二記人力M I S F E
T Q+ 、Qzの共追jソースに接続されプこ定電
流M I S F E T Q 5 とにより(14成
されている。
1時に制限されないが、上記入力M I S F ET
Q+。
Q+。
Q2ばNチャンネル型に、負荷M I S FE T
Qs 。
Qs 。
Q、はこれとは逆の導電型で4)る■〕ナヤンネル型に
、また上記定電流MISFr=;TQ、はNチャンネル
型にそれぞれ形成されている。
、また上記定電流MISFr=;TQ、はNチャンネル
型にそれぞれ形成されている。
そし、て、上記入力MISI”ETQ、 と(ン2.お
よび負荷MISIi’ETQ、と(ン。は、同一寸法。
よび負荷MISIi’ETQ、と(ン。は、同一寸法。
I・’J % l’l−をMするように形成される。
これによって、差1助人力段2のオノセノト電圧および
ドリフトが最小にされる。
ドリフトが最小にされる。
バイアス回路1は、上記差動入力段2の定電流MT、5
FETQ、にカレントミラー回路接続に−よリバ・イア
スを与閃メ)定1に流MISl+’F″JTQa と、
コ17) ’JT: ′ljj流M I S F ト〕
T Q a +Z) )” レインと電源’ii圧■D
D との間にLK列接続込れた負イW工MISii”g
TQ? 、Qs 、Qo とからなる。
FETQ、にカレントミラー回路接続に−よリバ・イア
スを与閃メ)定1に流MISl+’F″JTQa と、
コ17) ’JT: ′ljj流M I S F ト〕
T Q a +Z) )” レインと電源’ii圧■D
D との間にLK列接続込れた負イW工MISii”g
TQ? 、Qs 、Qo とからなる。
バイアス回路1を構成するM I S F E T Q
a〜Q、は、適当なコンダクタンス比になるように形
成さノ1ており、11〜源電Jlf二MD I) 〜
■ss 間をこのコンダクタ〕・′ス比で分圧したよ
うを定電圧が上記差動人力段2のMISFETQaに供
給される。
a〜Q、は、適当なコンダクタンス比になるように形
成さノ1ており、11〜源電Jlf二MD I) 〜
■ss 間をこのコンダクタ〕・′ス比で分圧したよ
うを定電圧が上記差動人力段2のMISFETQaに供
給される。
その結果、M I S F E TQ 5が定電流源と
して動作させもね−る。
して動作させもね−る。
土FjLカスコード段3は、ゲート接地回路接続された
一対のPチャンネルM I S F ETQ+o 、Q
IIと、このMI 5FETQ+o 、QIIのドレイ
ンに接続サレ7cM I S F E T Q121
Q10 ト、このMIs””’TQ+7.Q!3と電源
電圧Vss との間に直列接続され/こ定f■5流M
I S F’ E T Q14 、Q10とからなる
。
一対のPチャンネルM I S F ETQ+o 、Q
IIと、このMI 5FETQ+o 、QIIのドレイ
ンに接続サレ7cM I S F E T Q121
Q10 ト、このMIs””’TQ+7.Q!3と電源
電圧Vss との間に直列接続され/こ定f■5流M
I S F’ E T Q14 、Q10とからなる
。
MISF“E T Q 14とQ +5 i’i、前記
バ・イアス回路1の定電流:MISFETQe とカレ
ントミラー回路接続され又いる。これによって、M I
S F’ E TQ I< + Q +5が定電流源
として動作させられ、カスコード段3がバイアス回路1
によってバイアスされる。
バ・イアス回路1の定電流:MISFETQe とカレ
ントミラー回路接続され又いる。これによって、M I
S F’ E TQ I< + Q +5が定電流源
として動作させられ、カスコード段3がバイアス回路1
によってバイアスされる。
ぞして、上記MISFETQ+oとQ oのソースに、
前記入力段2を構成する入力M I S F E TQ
I。
前記入力段2を構成する入力M I S F E TQ
I。
Q、のドl/イン側ノードal 、a2から取り出され
たディファレンシャル出力が入力されでいる。
たディファレンシャル出力が入力されでいる。
そのため、MI 5FETQ+o 、Qoはソース人力
となり、ゲート入力の場合に生じるミラ・−容111に
よる影響がなくなり、カスコード段3が重連動作される
ようになる。
となり、ゲート入力の場合に生じるミラ・−容111に
よる影響がなくなり、カスコード段3が重連動作される
ようになる。
なお、カスコード段3の一〜方のMISFETQ、。+
Q、I2 + Q10は、カスコード段3のバランス
を良好にするために設け1っれている。つ才り、MI
S FE T Q+o 、QIIに流される電流す」1
、人力段2の負荷へ4ISF’ETQs 、Q4の′
lt¥流の一部が分岐されて供給されるので、M I
S FE T Q Ho TQI2゜Q 14がないと
M I S F 1.ThTQs 、Q4に流される
電流が違って来てしまう。そのため、ノードa2のレベ
ルのバランスが悪くなってし1つ。。
Q、I2 + Q10は、カスコード段3のバランス
を良好にするために設け1っれている。つ才り、MI
S FE T Q+o 、QIIに流される電流す」1
、人力段2の負荷へ4ISF’ETQs 、Q4の′
lt¥流の一部が分岐されて供給されるので、M I
S FE T Q Ho TQI2゜Q 14がないと
M I S F 1.ThTQs 、Q4に流される
電流が違って来てしまう。そのため、ノードa2のレベ
ルのバランスが悪くなってし1つ。。
そこで、MI 5FETQn −Qls −Qlsと並
列にM I S F E ’I’Qio 、Q10 、
Q10を設けて、カスコード段3のバランスがくずされ
ないようにしている。
列にM I S F E ’I’Qio 、Q10 、
Q10を設けて、カスコード段3のバランスがくずされ
ないようにしている。
まだ、カスコー ド段3内のMISFETQl、とQC
sは、バイアスの安定性を良くするために設(づら7I
てい、Soこれは、M I S F E T Q12
、Q13を設けない場合には、M I S F ETQ
li 、QCsのドレイン電圧が高くされで、バイアス
回路1の定電i′RM I S F IづTQe と−
ノノスゴード段3の定電流MI S FETQ14 、
Ql!lのミラー特性が悪くなり、:1′アス点が不安
定K 訟れてし甘うからである。
sは、バイアスの安定性を良くするために設(づら7I
てい、Soこれは、M I S F E T Q12
、Q13を設けない場合には、M I S F ETQ
li 、QCsのドレイン電圧が高くされで、バイアス
回路1の定電i′RM I S F IづTQe と−
ノノスゴード段3の定電流MI S FETQ14 、
Ql!lのミラー特性が悪くなり、:1′アス点が不安
定K 訟れてし甘うからである。
−<−C−c、カフ−=7 1トd 3)I〜1’ I
SF E T Q HaとQ 14およびMiSFE
TQ□とQ、、との間にそれ、それM I S F E
T Q10およびQ +sを入れるとともに、M I
S FlづT(ls−Q+。+ Q10 + Q10
とMIS F E T Q4 、Qu 、QCs 、
Q+pの:」ンダイ゛タンスの1七を、バイア二人回路
1のMqSFETQ、。
SF E T Q HaとQ 14およびMiSFE
TQ□とQ、、との間にそれ、それM I S F E
T Q10およびQ +sを入れるとともに、M I
S FlづT(ls−Q+。+ Q10 + Q10
とMIS F E T Q4 、Qu 、QCs 、
Q+pの:」ンダイ゛タンスの1七を、バイア二人回路
1のMqSFETQ、。
Qs * Q−、、Qe C’Jンダクタンス比に合
わ−げることによって、カスコ・−ド段3の・くイアス
点が安定化されでいる。とれものコンダクタンス比が合
っていないt、電源′EK圧の僅かな変動によ、つ−C
)くイアス点がえ”!1iiIIされてしまうおそれが
ある。
わ−げることによって、カスコ・−ド段3の・くイアス
点が安定化されでいる。とれものコンダクタンス比が合
っていないt、電源′EK圧の僅かな変動によ、つ−C
)くイアス点がえ”!1iiIIされてしまうおそれが
ある。
ン人に、土ハ己カス’V −ド段3へのノイー トノく
、ツク系ニツい−C説明する。4七記M I S F
E T Q toとQ。
、ツク系ニツい−C説明する。4七記M I S F
E T Q toとQ。
のドレイン電圧すなわちカスコード段3の出力ノードb
、、b2の電位は、直列接続された一対のNチャンネル
形M I S F’ 1号T Q10 、Q17の両端
に供給サレテイル。コ(7) M I S F E T
Q 16とQ I7のゲート端−f’−K H5電流
電圧VDD が印加されでJ・・す、負荷抵抗として作
用する。これによって、カスコード段3の出力ノード)
)i+b2の電位の中間のレベルの電圧を発生するーf
IEの分圧抵抗回路が構成きれる。
、、b2の電位は、直列接続された一対のNチャンネル
形M I S F’ 1号T Q10 、Q17の両端
に供給サレテイル。コ(7) M I S F E T
Q 16とQ I7のゲート端−f’−K H5電流
電圧VDD が印加されでJ・・す、負荷抵抗として作
用する。これによって、カスコード段3の出力ノード)
)i+b2の電位の中間のレベルの電圧を発生するーf
IEの分圧抵抗回路が構成きれる。
このMISFETQteとQ !、 i/j、同一の抵
抗値とカリ、かつ200にΩのような高い抵抗値を持つ
ようにされている。これにより、カスコード段:3の出
力ノードb、、b、にレベル差が生じるようす1iTi
常ノ動作状態f、M、 I S F E T Qu+
、Q10に大きな電流が流されて、出力レベル(ノー
ドb2のレベル)が変動されないようにされている。
抗値とカリ、かつ200にΩのような高い抵抗値を持つ
ようにされている。これにより、カスコード段:3の出
力ノードb、、b、にレベル差が生じるようす1iTi
常ノ動作状態f、M、 I S F E T Qu+
、Q10に大きな電流が流されて、出力レベル(ノー
ドb2のレベル)が変動されないようにされている。
丑だ、上記負荷抵抗としでM I S F E T Q
16とQ 17の共通ソース(ノードC)には、前記
カスコード段;3に′フィードバックをかけるだめのM
ISFETQuの・ゲートが接続されている。
16とQ 17の共通ソース(ノードC)には、前記
カスコード段;3に′フィードバックをかけるだめのM
ISFETQuの・ゲートが接続されている。
このMISFETQteのソースには、基準電圧■、。
f、が印加されでいるとともeて、ドレイン側には電源
型Ff−,VSS との間に負荷M I S F E
T Q l。
型Ff−,VSS との間に負荷M I S F E
T Q l。
が直列接^4;pれている。そし″C1十記基準電圧V
rcfは回路のグランドレベル(VDl)と■Ssの中
間レベル)よりも、MISFETQteのしきい植直圧
vth 分だけ高い値に設定される。従って、M I
S F J号TQ+sのゲート電圧すなわちノードCの
電位が、グランドレベルよりも1J1:いとM I S
FE T Q +sはオフ、5れ、グランドレベル−
なると、MI SFETQ+sがオンされて、MISF
ETQte 、Qroにバイアス1(i,流が流されろ
。
rcfは回路のグランドレベル(VDl)と■Ssの中
間レベル)よりも、MISFETQteのしきい植直圧
vth 分だけ高い値に設定される。従って、M I
S F J号TQ+sのゲート電圧すなわちノードCの
電位が、グランドレベルよりも1J1:いとM I S
FE T Q +sはオフ、5れ、グランドレベル−
なると、MI SFETQ+sがオンされて、MISF
ETQte 、Qroにバイアス1(i,流が流されろ
。
ま/7−、、上記M T S F E T Q toと
並列に同一導電型のM I S F 12 T Q 2
0が設りられ、このMI SFE T Q,、とQ,。
並列に同一導電型のM I S F 12 T Q 2
0が設りられ、このMI SFE T Q,、とQ,。
は)7レントミラ一回路接続され一Cいる。こフ1によ
ー)て、MI S F E T QCsがオンされて、
MI SFETQ+oK電流が流込れると、MI S
F E T Q20にはM I S F ’J”: T
Q 1.とのW/L比(W:チーヤンネル幅,■7二
チヤンネル長)に比例した電流が流されるようになる。
ー)て、MI S F E T QCsがオンされて、
MI SFETQ+oK電流が流込れると、MI S
F E T Q20にはM I S F ’J”: T
Q 1.とのW/L比(W:チーヤンネル幅,■7二
チヤンネル長)に比例した電流が流されるようになる。
上パiシR4. I S F E T Q 20のドレ
インと前記MISFETQ? −Qsの共通ドレイン
との間にはMIS F E T Q!+が接続されてお
り、MISFI号TQ2。
インと前記MISFETQ? −Qsの共通ドレイン
との間にはMIS F E T Q!+が接続されてお
り、MISFI号TQ2。
に流さねる電流は、MISFE;TQ,、を介しレ(イ
アス回路1から供給されるようにされでいる。
アス回路1から供給されるようにされでいる。
1〜かも、上記MISFETQz+はかなり抵抗値が畠
くなるように形成されて、)くイアス回路1にフィード
バックによる影響を与えないようにされ一Cいる。ぞし
て、上記MISFETQ,。とQ2+との接続ノードd
の電位が、前記カスコード段;3のM I S F E
T Qro−QCsのゲートに印加されるように接続
されている。
くなるように形成されて、)くイアス回路1にフィード
バックによる影響を与えないようにされ一Cいる。ぞし
て、上記MISFETQ,。とQ2+との接続ノードd
の電位が、前記カスコード段;3のM I S F E
T Qro−QCsのゲートに印加されるように接続
されている。
出力段4は、電源型)1E■l)D と■ss と
の間にi列接続すレ*M I S F E T Q22
とQ tsとからなる。このM I S F E T
Q 22とQ 23のゲートに,前記カスコード段3の
一方の出カッ・−ドb2の電位が供給されており、一種
のCMOSインノ(−夕を構成している。そして、この
MISFETQ22とQ23との接続ノードeから出力
電圧Vo.ut.が取り出されるようにされている。な
お、C++Cz+c3は、前記カスコード段3と出力段
40ノードe′との間に設けられた位相補償用のコンデ
ンサである。
の間にi列接続すレ*M I S F E T Q22
とQ tsとからなる。このM I S F E T
Q 22とQ 23のゲートに,前記カスコード段3の
一方の出カッ・−ドb2の電位が供給されており、一種
のCMOSインノ(−夕を構成している。そして、この
MISFETQ22とQ23との接続ノードeから出力
電圧Vo.ut.が取り出されるようにされている。な
お、C++Cz+c3は、前記カスコード段3と出力段
40ノードe′との間に設けられた位相補償用のコンデ
ンサである。
次に上記差動増幅回路の作用を説明する。
先ず、例えば差動入力段2の入力MISFETQ、のゲ
ート端子にプラスの入力が、また人力MISI”ETQ
、のゲート端子にマイナスの入力が入って来た場合を考
える。
ート端子にプラスの入力が、また人力MISI”ETQ
、のゲート端子にマイナスの入力が入って来た場合を考
える。
この場合、差動入力段2の出力ノードa1の電位がマイ
ナスに、またノードa2の電位がプラスになるように動
作される。ノードal+82の電位が入力されるカスコ
ード段3のM I S F E TQ+o。
ナスに、またノードa2の電位がプラスになるように動
作される。ノードal+82の電位が入力されるカスコ
ード段3のM I S F E TQ+o。
Qoはゲート接地回路接続されているので、ソース人力
の大きなMISFETQ+tのバイアスの方が大きくバ
イアスされて、 M I S F ETQllのドレイ
ン電/f(ノードb2 )がプラスにされ、M IS
F E T Q 1oのドレイン電圧(ノードl)、)
がマイナスになる。
の大きなMISFETQ+tのバイアスの方が大きくバ
イアスされて、 M I S F ETQllのドレイ
ン電/f(ノードb2 )がプラスにされ、M IS
F E T Q 1oのドレイン電圧(ノードl)、)
がマイナスになる。
なお、上記の場合、MI 5FETQ+o 、Qllか
ら見たMIsFETQs −Q4のインピーダンスは
非常に低いため、入力段2におりるケインはほとんどな
く、カスコード段3におけるゲインが非常に高くなって
、ノードb、’+cおいては、ノードa、に対して50
dB程度の高いゲインが得られる。
ら見たMIsFETQs −Q4のインピーダンスは
非常に低いため、入力段2におりるケインはほとんどな
く、カスコード段3におけるゲインが非常に高くなって
、ノードb、’+cおいては、ノードa、に対して50
dB程度の高いゲインが得られる。
そして、このとき、カスコード段3の出力ノードb、、
b2間に接続された負荷M I S F E TQ+6
−Q1□の接続ノードCの電位は、ノードbl と1
)2の電位の中間すなわちほぼ回路のグランドレベルに
される。ところが、ノードCの電位がゲートに印加され
ているMI SF″E T Q +gのソース電圧は、
グランドレベルよりもしきい値電圧だけ高い基準電圧■
、。、にされている。そのため%MI 5FETQ+a
はオフ状態にされ、MISFETQIQおよびQ 20
には電流が流されない。従って、入力信号が上記のよう
に逆相の場合には、M I S F E T QCs〜
Q 20を介して上記カスコード段3にフィードバック
がかけられることはない。
b2間に接続された負荷M I S F E TQ+6
−Q1□の接続ノードCの電位は、ノードbl と1
)2の電位の中間すなわちほぼ回路のグランドレベルに
される。ところが、ノードCの電位がゲートに印加され
ているMI SF″E T Q +gのソース電圧は、
グランドレベルよりもしきい値電圧だけ高い基準電圧■
、。、にされている。そのため%MI 5FETQ+a
はオフ状態にされ、MISFETQIQおよびQ 20
には電流が流されない。従って、入力信号が上記のよう
に逆相の場合には、M I S F E T QCs〜
Q 20を介して上記カスコード段3にフィードバック
がかけられることはない。
その結果、上記の場合には出力段4のMISFETQt
z 、Q23のゲートに、カスコード段3の出力ノード
b、のプラスの1111位が印加される。これによって
、M I S F ET Q22がオフ、M I S
F E TQ23がオンされて、出力段4の出力ノード
eには、カスコード段3の出力ノードb2の電圧に比例
しだ(20dB程度増幅されている)逆相の出力電圧V
outが表われる。
z 、Q23のゲートに、カスコード段3の出力ノード
b、のプラスの1111位が印加される。これによって
、M I S F ET Q22がオフ、M I S
F E TQ23がオンされて、出力段4の出力ノード
eには、カスコード段3の出力ノードb2の電圧に比例
しだ(20dB程度増幅されている)逆相の出力電圧V
outが表われる。
一方、入力MI 5FETQ+ 、Q2に同相の例え
はプラスの入力信号が入って来た場合には、ノードal
および、ノードa2が同じマイナスレベルにされる。
はプラスの入力信号が入って来た場合には、ノードal
および、ノードa2が同じマイナスレベルにされる。
これによって、カスコード段3のMISFETQ、、と
Q oの317792件が同一にされて、ノードb、
とb2が電源電圧vS8 には9つくように動作される
。
Q oの317792件が同一にされて、ノードb、
とb2が電源電圧vS8 には9つくように動作される
。
つ1す、実施例の回路では、予めψすえばMISFET
Q+2 、QCsあるいはQ +41 Q rsのゲー
ト幅WをMISFETQs 、Q4およびQ lo
+ Q oに比較して大きくなるように形成しておくこ
とによって、M I S F E T Q +2〜Q
rsの抵抗値がMISFETQs 、Q4 、Q+
o 、Qoに比べて小さくなるようにして、ノードb、
、b、の電圧が電源電圧■ss に向かって下げられる
ように宿代されている。
Q+2 、QCsあるいはQ +41 Q rsのゲー
ト幅WをMISFETQs 、Q4およびQ lo
+ Q oに比較して大きくなるように形成しておくこ
とによって、M I S F E T Q +2〜Q
rsの抵抗値がMISFETQs 、Q4 、Q+
o 、Qoに比べて小さくなるようにして、ノードb、
、b、の電圧が電源電圧■ss に向かって下げられる
ように宿代されている。
このようにして、カスコード段3の出力ノードb、、b
、、の電位が下げられると、負荷抵抗/こるMI 5F
ETQ+6.Q10の接続ノードCの電位もこれに応じ
て降下させられる。ぞし、て、2ノードCの電位が、基
準電比” r e fよりもL7さい仙市1圧vth
分だけ低いグランドレベル以下になると、MISFET
Q+sがオン状態にされて、MI SFE T Q 1
oにバイアス電流が流されるようになる。
、、の電位が下げられると、負荷抵抗/こるMI 5F
ETQ+6.Q10の接続ノードCの電位もこれに応じ
て降下させられる。ぞし、て、2ノードCの電位が、基
準電比” r e fよりもL7さい仙市1圧vth
分だけ低いグランドレベル以下になると、MISFET
Q+sがオン状態にされて、MI SFE T Q 1
oにバイアス電流が流されるようになる。
これによって、MISFJ号T Q 20にも負荷MI
S F E T Q 21を介してバイアス回路1から
供給される電流が流される。そのため、M I S F
E T Q、2゜とQ 21の接続ノードd(7)電
位が降下させられ、MI S F E T Q+o−Q
Csのゲート電位が低くされる。
S F E T Q 21を介してバイアス回路1から
供給される電流が流される。そのため、M I S F
E T Q、2゜とQ 21の接続ノードd(7)電
位が降下させられ、MI S F E T Q+o−Q
Csのゲート電位が低くされる。
その結果、Pチャンネル形M I S F E T Q
loとQ oのゲートソース間’I¥i、圧は大きく
、まブこNチャンネル形M I S F E T Q
+2とQ rsのゲートソース間′市圧は小さくされて
、カスコード段3の出力ノ−ドb、、b、の電位が上昇
させられるようになる。つ寸り、抵抗回路を構成するM
I S F E T QCs。
loとQ oのゲートソース間’I¥i、圧は大きく
、まブこNチャンネル形M I S F E T Q
+2とQ rsのゲートソース間′市圧は小さくされて
、カスコード段3の出力ノ−ドb、、b、の電位が上昇
させられるようになる。つ寸り、抵抗回路を構成するM
I S F E T QCs。
Ql1およびM、l5FETQ+8〜Q 21によって
、カスコード段3のM I S F E T Q 、。
、カスコード段3のM I S F E T Q 、。
〜Q +sのゲートに負力1)還がかけられる。
しかして、ノードb、、b、の電位がグランドレベルに
なると、ノードCの電位もグランドレベルにされるため
、M I S F E T Q +sがオフされる。
なると、ノードCの電位もグランドレベルにされるため
、M I S F E T Q +sがオフされる。
そのため、カスコード段3の出力ノードb2は、同相信
号に対する動作点がグランドレベルに安定されるように
なる。入力段2にマイナスのl1YJ相信号が入った場
合も同様である。
号に対する動作点がグランドレベルに安定されるように
なる。入力段2にマイナスのl1YJ相信号が入った場
合も同様である。
なお、実施例のような回路においては、カスコード段3
で充分な振幅の出力信号が得られないため、出力段4を
付加して出力信号が電源電圧まで充分に振幅されるよう
にされている。しかし、この出力段4は必ずしも設ける
必貿はなく、振幅の小さなカスコード段3の出力をその
丑ま次段の回路に出力させることも可能である。
で充分な振幅の出力信号が得られないため、出力段4を
付加して出力信号が電源電圧まで充分に振幅されるよう
にされている。しかし、この出力段4は必ずしも設ける
必貿はなく、振幅の小さなカスコード段3の出力をその
丑ま次段の回路に出力させることも可能である。
さらに、図面の実施例では、バイアス回路1を構成する
MISFETQ?およびカスコード段3を構成するMI
5FETQ+2 、QCsの基体とソースとが接続さ
れている。これは、M I S F ETQ?およびQ
l2 、QCs Kおけるバックゲート効果をなくして
、しきい値電圧■、11 を小さくするためである。
MISFETQ?およびカスコード段3を構成するMI
5FETQ+2 、QCsの基体とソースとが接続さ
れている。これは、M I S F ETQ?およびQ
l2 、QCs Kおけるバックゲート効果をなくして
、しきい値電圧■、11 を小さくするためである。
また、実施例では入力段2を構成する入力MISFET
Q+ 、Q2 も基体とソースとが接続されている。
Q+ 、Q2 も基体とソースとが接続されている。
これによって、■th が小さくなり、入力段の動作可
変電圧を下げることができるようになる。
変電圧を下げることができるようになる。
以上説明したように、本発明では差動入力段からの出力
をソース入力として受けるようなMISF E ’1”
を含むカスコード段の出力ノードに抵抗回路を接続し、
この抵抗回路によってカスコード段の出力の中間レベル
の電位を形成させ、この中間電位VζよってMISFE
TQ+sを動作させてバイアス電流を流し、M I S
F E T Q Ie〜Q 21を介してカスコード
段のMISFETQ+o−QCsに負帰還をかけるよう
にしたので、回路自体によって定まる安定点ができるよ
うになり、これによって回路の動作点が安定され1回路
のダイナミックレンジも充分に確保されるようになると
いう効果がある。
をソース入力として受けるようなMISF E ’1”
を含むカスコード段の出力ノードに抵抗回路を接続し、
この抵抗回路によってカスコード段の出力の中間レベル
の電位を形成させ、この中間電位VζよってMISFE
TQ+sを動作させてバイアス電流を流し、M I S
F E T Q Ie〜Q 21を介してカスコード
段のMISFETQ+o−QCsに負帰還をかけるよう
にしたので、回路自体によって定まる安定点ができるよ
うになり、これによって回路の動作点が安定され1回路
のダイナミックレンジも充分に確保されるようになると
いう効果がある。
第1図Vよ本発明に係る差動増幅回路の一実施例を示す
回路+1”り成因である。 エ バイアス回路、2・差動入力段、3・・カスコード
段、4・出力段、Ql 、Q2゛・・入力MISF E
T−QCs 、Ql7・抵抗回路。
回路+1”り成因である。 エ バイアス回路、2・差動入力段、3・・カスコード
段、4・出力段、Ql 、Q2゛・・入力MISF E
T−QCs 、Ql7・抵抗回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 一対の入力トランジスタを含む差動入力段と。 この差動入力段をバイアスするためのバイアス回路と、
上記差動人力段のディファレンシャル出力をソース人力
材+」とすべくゲート接地された一対のトランジスタを
含むカスコード段とを備えた差動増幅回路であ−)で、
上記カスコード段のディファレンシャル出力を受けるこ
とによってその中間レベルの電位を形成する抵抗回路と
、この抵抗回路によって形成された電位によって動作さ
せられるトランジスタとを有し、該トランジスタに流れ
るバイアス電流によって形成される電位により、前記カ
スコード段のトランジスタに負シ91)還がかけられ、
−4−配力スコード段の出力が所定のレベルに安定され
るようにされでなることを特徴とする差動増1ツ、1回
路。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57152731A JPS5943614A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 差動増幅回路 |
KR1019830003581A KR900008753B1 (ko) | 1982-09-03 | 1983-07-30 | 차동 증폭기 |
FR838312881A FR2532797B1 (fr) | 1982-09-03 | 1983-08-04 | Amplificateur differentiel |
GB08322913A GB2126817A (en) | 1982-09-03 | 1983-08-25 | Differential amplifier |
US06/528,656 US4538114A (en) | 1982-09-03 | 1983-09-01 | Differential amplifier |
DE19833331626 DE3331626A1 (de) | 1982-09-03 | 1983-09-01 | Differentialverstaerker |
IT22738/83A IT1168715B (it) | 1982-09-03 | 1983-09-01 | Amplificatore differenziale costituito da transistor ad effetto di campo del tipo metallo-isolante-semiconduttore |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57152731A JPS5943614A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 差動増幅回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5943614A true JPS5943614A (ja) | 1984-03-10 |
Family
ID=15546923
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57152731A Pending JPS5943614A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | 差動増幅回路 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4538114A (ja) |
JP (1) | JPS5943614A (ja) |
KR (1) | KR900008753B1 (ja) |
DE (1) | DE3331626A1 (ja) |
FR (1) | FR2532797B1 (ja) |
GB (1) | GB2126817A (ja) |
IT (1) | IT1168715B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11505091A (ja) * | 1995-05-12 | 1999-05-11 | アナログ・デバイセス・インコーポレーテッド | 均衡型二重折返しカスコード演算増幅器 |
US6531921B2 (en) | 2000-09-27 | 2003-03-11 | Denso Corporation | Operational amplifier |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4658157A (en) * | 1985-05-31 | 1987-04-14 | Rca Corporation | IGFET comparator circuit having greater control of intended offset voltage |
US4644295A (en) * | 1986-02-04 | 1987-02-17 | Motorola, Inc. | Balanced differential load and method |
EP0261482B1 (de) * | 1986-09-26 | 1994-07-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Operationsverstärker |
JPS63240109A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-05 | Toshiba Corp | 差動増幅器 |
IT1214249B (it) * | 1987-06-10 | 1990-01-10 | Sgs Microelettronica Spa | Amplificatore operazionale di potenza cmos ad alte prestazioni. |
US4924191A (en) * | 1989-04-18 | 1990-05-08 | Erbtec Engineering, Inc. | Amplifier having digital bias control apparatus |
IT1239386B (it) * | 1990-03-13 | 1993-10-20 | Sgs Thomson Microelectronics | Amplificatore operazionale cmos a transconduttanza |
US5132560A (en) * | 1990-09-28 | 1992-07-21 | Siemens Corporate Research, Inc. | Voltage comparator with automatic output-level adjustment |
US5451898A (en) * | 1993-11-12 | 1995-09-19 | Rambus, Inc. | Bias circuit and differential amplifier having stabilized output swing |
FR2770947B1 (fr) * | 1997-11-07 | 1999-12-24 | Sgs Thomson Microelectronics | Amplificateur differentiel a transistor mos |
US6362687B2 (en) * | 1999-05-24 | 2002-03-26 | Science & Technology Corporation | Apparatus for and method of controlling amplifier output offset using body biasing in MOS transistors |
US11258414B2 (en) * | 2020-02-27 | 2022-02-22 | Texas Instruments Incorporated | Compact offset drift trim implementation |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5429073B2 (ja) * | 1973-04-07 | 1979-09-20 | ||
US4010425A (en) * | 1975-10-02 | 1977-03-01 | Rca Corporation | Current mirror amplifier |
US4267517A (en) * | 1977-12-07 | 1981-05-12 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Operational amplifier |
GB1592800A (en) * | 1977-12-30 | 1981-07-08 | Philips Electronic Associated | Linear amplifier |
US4188588A (en) * | 1978-12-15 | 1980-02-12 | Rca Corporation | Circuitry with unbalanced long-tailed-pair connections of FET's |
US4315223A (en) * | 1979-09-27 | 1982-02-09 | American Microsystems, Inc. | CMOS Operational amplifier with improved frequency compensation |
US4284959A (en) * | 1979-11-13 | 1981-08-18 | Rca Corporation | Folded-cascode amplifier arrangement with cascode load means |
NL8001120A (nl) * | 1980-02-25 | 1981-09-16 | Philips Nv | Differentiele belastingsschakeling uitgevoerd met veldeffecttransistoren. |
NL8001410A (nl) * | 1980-03-10 | 1981-10-01 | Philips Nv | Versterkerschakeling. |
US4383223A (en) * | 1980-04-10 | 1983-05-10 | Motorola, Inc. | CMOS Operational amplifier employing push-pull output stage |
US4459555A (en) * | 1982-01-24 | 1984-07-10 | National Semiconductor Corporation | MOS Differential amplifier gain control circuit |
-
1982
- 1982-09-03 JP JP57152731A patent/JPS5943614A/ja active Pending
-
1983
- 1983-07-30 KR KR1019830003581A patent/KR900008753B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1983-08-04 FR FR838312881A patent/FR2532797B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1983-08-25 GB GB08322913A patent/GB2126817A/en not_active Withdrawn
- 1983-09-01 IT IT22738/83A patent/IT1168715B/it active
- 1983-09-01 DE DE19833331626 patent/DE3331626A1/de not_active Ceased
- 1983-09-01 US US06/528,656 patent/US4538114A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11505091A (ja) * | 1995-05-12 | 1999-05-11 | アナログ・デバイセス・インコーポレーテッド | 均衡型二重折返しカスコード演算増幅器 |
US6531921B2 (en) | 2000-09-27 | 2003-03-11 | Denso Corporation | Operational amplifier |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2126817A (en) | 1984-03-28 |
FR2532797B1 (fr) | 1990-11-30 |
DE3331626A1 (de) | 1984-03-08 |
GB8322913D0 (en) | 1983-09-28 |
FR2532797A1 (fr) | 1984-03-09 |
IT1168715B (it) | 1987-05-20 |
IT8322738A0 (it) | 1983-09-01 |
US4538114A (en) | 1985-08-27 |
KR840005946A (ko) | 1984-11-19 |
KR900008753B1 (ko) | 1990-11-29 |
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