JPS5934240B2 - めつき装置 - Google Patents
めつき装置Info
- Publication number
- JPS5934240B2 JPS5934240B2 JP2653880A JP2653880A JPS5934240B2 JP S5934240 B2 JPS5934240 B2 JP S5934240B2 JP 2653880 A JP2653880 A JP 2653880A JP 2653880 A JP2653880 A JP 2653880A JP S5934240 B2 JPS5934240 B2 JP S5934240B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plating
- hole
- mounting plate
- wafer
- anode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体素子を形成したウェハ等のめつきを行
なうめつき装置に係り、特に、半導体素子の突起電極の
形成に通しためつき装置に関するものである。
なうめつき装置に係り、特に、半導体素子の突起電極の
形成に通しためつき装置に関するものである。
半導体素子(以下単にチップといラ)の回路に形成され
た電極を、他の基板等に接合するための方法として、前
記電極にはんだあろいは金等の突起電極を形成し、この
突起電極を他の基板等の電極の上に直接接合させること
が知られている。
た電極を、他の基板等に接合するための方法として、前
記電極にはんだあろいは金等の突起電極を形成し、この
突起電極を他の基板等の電極の上に直接接合させること
が知られている。
このような接合方法において、同一基板上に複数個のチ
ップを接合する場合、各チップに形成された突起電極の
大きさ(高さ、外径)にバラツキがあると、突起電極の
大きさに比例し接合強度のバラツキが発生する。また、
突起電極が大きすぎると接合時に隣接する電極間が短絡
することがある。また、同一のチップに形成された突起
電極の大きさにバラツキがあると、大きな突起電極が十
分に接合しても、小さな突起電極は接合が不十分であつ
たり、極端な場合には全く接合しないこともある。この
ように、チップに形成される突起電極の大きさのバラツ
キは、その接合強度や、チップを組込んだ回路の信頼性
を左右するため、極力小さくしなければならなぃ。上記
突起電極は、通常、。チップに分割する直前に、ウェハ
の状態゛q君1図に示すようにして形成される。すなわ
ち、ウェハ1上には、所要のパターンの配線と、この配
線の端部の電極2の一部が露出するように窒化シリコン
等の保護膜3が形成されている。このようなウェハ1上
に、まず、銅などの金属を蒸着等の工程で被着させ、(
a)のように、電極下地膜4を形成する。次に、前記電
極下地膜4上にホトレジストを塗布したのち、露光、現
像を行ない、(b)のように、電極゛2の上方に穴の明
いたレジスト膜5を形成する。ついで、電極2の上方に
電気めつきにより、はんだ(もしくは金、以下同様)を
所要の厚さにめつきして、(c)のように、突起電極6
を形成する。そして、レジスト膜5を除去したのち、前
記突起電極6をエツチングレジストとして、電極下地膜
4のエツチングを行ない、不要の電極下地膜4除去して
、(d)のように、所要の突起電極6を形成する。上記
電気メツキ工程においては、一般に用いられる箱形のめ
つき槽を用い、めつき液中でウエハ1を陰極に接続し、
陽極と所定の間隔で対向させてめつきを行なつている。
ップを接合する場合、各チップに形成された突起電極の
大きさ(高さ、外径)にバラツキがあると、突起電極の
大きさに比例し接合強度のバラツキが発生する。また、
突起電極が大きすぎると接合時に隣接する電極間が短絡
することがある。また、同一のチップに形成された突起
電極の大きさにバラツキがあると、大きな突起電極が十
分に接合しても、小さな突起電極は接合が不十分であつ
たり、極端な場合には全く接合しないこともある。この
ように、チップに形成される突起電極の大きさのバラツ
キは、その接合強度や、チップを組込んだ回路の信頼性
を左右するため、極力小さくしなければならなぃ。上記
突起電極は、通常、。チップに分割する直前に、ウェハ
の状態゛q君1図に示すようにして形成される。すなわ
ち、ウェハ1上には、所要のパターンの配線と、この配
線の端部の電極2の一部が露出するように窒化シリコン
等の保護膜3が形成されている。このようなウェハ1上
に、まず、銅などの金属を蒸着等の工程で被着させ、(
a)のように、電極下地膜4を形成する。次に、前記電
極下地膜4上にホトレジストを塗布したのち、露光、現
像を行ない、(b)のように、電極゛2の上方に穴の明
いたレジスト膜5を形成する。ついで、電極2の上方に
電気めつきにより、はんだ(もしくは金、以下同様)を
所要の厚さにめつきして、(c)のように、突起電極6
を形成する。そして、レジスト膜5を除去したのち、前
記突起電極6をエツチングレジストとして、電極下地膜
4のエツチングを行ない、不要の電極下地膜4除去して
、(d)のように、所要の突起電極6を形成する。上記
電気メツキ工程においては、一般に用いられる箱形のめ
つき槽を用い、めつき液中でウエハ1を陰極に接続し、
陽極と所定の間隔で対向させてめつきを行なつている。
このため、陽極から流れる電流が一担円錐状に広がつた
のち、ウエ一・1に向けて集束されるため、ウエハ1の
外周部に集中し、第2図に示すように、ウエハ1の中心
部に比べ外周部のめつきが厚くなる。このめつき厚は、
たとえば、平均80μmの厚さのめつきを行なつた場合
、ウエ・・1の中心部と外周部とでは±16μm程度の
バラツキが発生し、突起電極の大きさに大きなバラツキ
を・与える欠点がある。本発明の目的は、上記した従来
技術の欠点をなくし、均一な厚さのめつきができるよう
にしためつき装置を提供するにある。
のち、ウエ一・1に向けて集束されるため、ウエハ1の
外周部に集中し、第2図に示すように、ウエハ1の中心
部に比べ外周部のめつきが厚くなる。このめつき厚は、
たとえば、平均80μmの厚さのめつきを行なつた場合
、ウエ・・1の中心部と外周部とでは±16μm程度の
バラツキが発生し、突起電極の大きさに大きなバラツキ
を・与える欠点がある。本発明の目的は、上記した従来
技術の欠点をなくし、均一な厚さのめつきができるよう
にしためつき装置を提供するにある。
上記目的を達成するため、本発明においては、ウエハと
陽極を平行に配置し、かつ、ウエハと陽極との対向間隙
を、ウエ・・の外径とほぼ同径の円筒状の壁で囲い、陽
極から流れる電流の広がりを防止し、ウエ・・に向けて
直線的に流すようにしたことを特徴とする。
陽極を平行に配置し、かつ、ウエハと陽極との対向間隙
を、ウエ・・の外径とほぼ同径の円筒状の壁で囲い、陽
極から流れる電流の広がりを防止し、ウエ・・に向けて
直線的に流すようにしたことを特徴とする。
以下、本発明の実施例を図面にしたがつて説明する。
第3図ないし第5図は、本発明の第1の実施例を示ずも
ので、同図において、めつき槽本体10には、中央にめ
つきすべきウエハ1とほぼ同径の貫通穴11が形成され
、かつ、その両端面FlC.は、貫通穴11と同心円上
に環状の溝12が形成され、この溝12内に&@Oリン
グ13が取付けられてぃる。
ので、同図において、めつき槽本体10には、中央にめ
つきすべきウエハ1とほぼ同径の貫通穴11が形成され
、かつ、その両端面FlC.は、貫通穴11と同心円上
に環状の溝12が形成され、この溝12内に&@Oリン
グ13が取付けられてぃる。
また、めつき槽本体10vcほ、貫通穴11の壁面に相
対向するように開口する一対の穴14,15が穿設され
、各々めつき液の供給管16と排出管17が接続されて
いる。ウエハ取付板18には、ウエハ1が嵌合するウエ
ハ1の厚さより浅ぃ溝19が形成され、かつ.その周囲
には止具20が数個所定の間隔で配置されてぃる。そし
て、溝19内にウエハ1を嵌合させ,かつ、止具20で
ウエハ1を止めたのち、図示しない駆動手段によりめつ
き槽本体10のOリング13に圧着されるようになつて
いる。なお、止具20は、ウエハ1への通電端子を兼ね
ている。陽極取付板21には、陽極22が取付けられ、
陽極22が、めつき槽本体10の貫通穴11内に突出す
るように、Oリング13を介しボルト23でめつき槽本
体10の端面に固定されている。そして、めつき槽本体
10の貫通穴11と、ウエハ19および陽極22の間に
、密閉空間24を形成し、この密閉空間24に供給管2
4に供給管16および穴14を通してめつき液を供給し
、穴15および排出管17を通して排出する。上記のよ
うな構成のめつき装置で、ウエハ1と陽極22を約20
m1Lの間隔で対向させめつき液として、硼弗化鉛20
0f/e1硼弗酸20f/e1硼酸20f/e1ゼラチ
/1f/eからなる硼弗化鉛めつき液を用い、めつき電
流密度2A/Dm2液温30℃、めつき液流速約2CT
IL./Secで約60分間めつきを行なつた結果、め
つき厚の分布が、第4図に示すようにほぼ均一となり、
従来の80μm±16μmに対しバラツキをなくすこと
ができた。
対向するように開口する一対の穴14,15が穿設され
、各々めつき液の供給管16と排出管17が接続されて
いる。ウエハ取付板18には、ウエハ1が嵌合するウエ
ハ1の厚さより浅ぃ溝19が形成され、かつ.その周囲
には止具20が数個所定の間隔で配置されてぃる。そし
て、溝19内にウエハ1を嵌合させ,かつ、止具20で
ウエハ1を止めたのち、図示しない駆動手段によりめつ
き槽本体10のOリング13に圧着されるようになつて
いる。なお、止具20は、ウエハ1への通電端子を兼ね
ている。陽極取付板21には、陽極22が取付けられ、
陽極22が、めつき槽本体10の貫通穴11内に突出す
るように、Oリング13を介しボルト23でめつき槽本
体10の端面に固定されている。そして、めつき槽本体
10の貫通穴11と、ウエハ19および陽極22の間に
、密閉空間24を形成し、この密閉空間24に供給管2
4に供給管16および穴14を通してめつき液を供給し
、穴15および排出管17を通して排出する。上記のよ
うな構成のめつき装置で、ウエハ1と陽極22を約20
m1Lの間隔で対向させめつき液として、硼弗化鉛20
0f/e1硼弗酸20f/e1硼酸20f/e1ゼラチ
/1f/eからなる硼弗化鉛めつき液を用い、めつき電
流密度2A/Dm2液温30℃、めつき液流速約2CT
IL./Secで約60分間めつきを行なつた結果、め
つき厚の分布が、第4図に示すようにほぼ均一となり、
従来の80μm±16μmに対しバラツキをなくすこと
ができた。
なお、上記実施例において、めつき槽本体10、ウエハ
取付板18および陽極取付板21は、アクリル板等の絶
縁材料で形成されている。
取付板18および陽極取付板21は、アクリル板等の絶
縁材料で形成されている。
また、陽極は鉛板で形成されてぃる。第6図は、本発明
の第2の実施例を示すもので、同図において、めつき槽
本体10aVc.は、貫通穴11が形成されている。
の第2の実施例を示すもので、同図において、めつき槽
本体10aVc.は、貫通穴11が形成されている。
また、めつき槽本体10aにはめつき液の供給管16と
排出管17が接続され、かつ、これらの供給管16と排
出管17に連通する穴14,15が形成されている。前
記穴14,15は各々枝穴14a,14b,14cと1
5a,15b,15eに分岐して、その一端が前記貫通
穴11の壁面に向けて開口している。その他は、前記実
施例と同様であるから図示は省略してある。上記の構成
において、前記第]の実施例と同じめつき液を用いてめ
つきを行なうと、メツキ液の流速を3cr1L/Sec
程度まで上昇させることができ、その結果、電流密度を
4A/Dm′まで向上させることができる。
排出管17が接続され、かつ、これらの供給管16と排
出管17に連通する穴14,15が形成されている。前
記穴14,15は各々枝穴14a,14b,14cと1
5a,15b,15eに分岐して、その一端が前記貫通
穴11の壁面に向けて開口している。その他は、前記実
施例と同様であるから図示は省略してある。上記の構成
において、前記第]の実施例と同じめつき液を用いてめ
つきを行なうと、メツキ液の流速を3cr1L/Sec
程度まで上昇させることができ、その結果、電流密度を
4A/Dm′まで向上させることができる。
したがつて、前記実施例と同じ厚さのめつきを行なうの
に、めつき時間を約30分に短縮し、しかも、前記実施
例と同様にウエハ全体にほぼ均一なめつきを行なうこと
ができる。第7図ないし第8図は、本発明の第3の実施
例を示すもので、同図において、第3図および第4図と
同じものは同じ符号を付けて示してある。めつき槽本体
10bの貫通穴11と給排液用の穴14および1511
′$.、各穴14,15から貫通穴11の接線方向に向
けて拡開する扇状の通路14d,15d1Cよつて連通
するように構成されてぃる。上記の構成において、前記
第1の実施例と同一のめつき液を用いてめつきを行なう
と、メツキ液の流速を約50!N,/Secまで上昇さ
せることができ、その結果、電流密度を6A/Dm”ま
で向上させることができる。したがつて、前記各実施例
と同じ厚さのめつきを行なうのに、めつき時間を約20
分Vc短縮することができ、しかも、前記各実施例と同
様に、ウエハ全体にほぼ均一なめつきを行なうことがで
きる。第9図ないし第12図は、本発明の第4の実施例
2k示すもので、同図(Cおいて、第3図、第4図、第
7図および第8図と同じものは、同じ符号を付けて示し
てある。
に、めつき時間を約30分に短縮し、しかも、前記実施
例と同様にウエハ全体にほぼ均一なめつきを行なうこと
ができる。第7図ないし第8図は、本発明の第3の実施
例を示すもので、同図において、第3図および第4図と
同じものは同じ符号を付けて示してある。めつき槽本体
10bの貫通穴11と給排液用の穴14および1511
′$.、各穴14,15から貫通穴11の接線方向に向
けて拡開する扇状の通路14d,15d1Cよつて連通
するように構成されてぃる。上記の構成において、前記
第1の実施例と同一のめつき液を用いてめつきを行なう
と、メツキ液の流速を約50!N,/Secまで上昇さ
せることができ、その結果、電流密度を6A/Dm”ま
で向上させることができる。したがつて、前記各実施例
と同じ厚さのめつきを行なうのに、めつき時間を約20
分Vc短縮することができ、しかも、前記各実施例と同
様に、ウエハ全体にほぼ均一なめつきを行なうことがで
きる。第9図ないし第12図は、本発明の第4の実施例
2k示すもので、同図(Cおいて、第3図、第4図、第
7図および第8図と同じものは、同じ符号を付けて示し
てある。
円筒形のスペーサ25の外径は、めつき槽本体10の貫
通穴11と同径に貫通穴11に嵌合するように形成され
、中心Vc.ぱ、めつきすべきウエハ1の外径と同径の
貫通穴11aが形成されている。スペーサ25の円周部
には、スペーサ25をめつき槽本体10に嵌入したとき
、めつき槽本体10に形成された扇状の通路14d,1
5dと連通する通路14eと15eが形成されている。
上記構成において、大径のウエハのめつきを行なう場合
には、スペーサ25を貫通穴11から取外した状態で使
用し、小径のウエハ1のめつきを行なう場合には、スペ
ーサ25を、通路14eと15eが各々通路14dと1
5dVc連通するように貫通穴11内に圧入して行なう
。
通穴11と同径に貫通穴11に嵌合するように形成され
、中心Vc.ぱ、めつきすべきウエハ1の外径と同径の
貫通穴11aが形成されている。スペーサ25の円周部
には、スペーサ25をめつき槽本体10に嵌入したとき
、めつき槽本体10に形成された扇状の通路14d,1
5dと連通する通路14eと15eが形成されている。
上記構成において、大径のウエハのめつきを行なう場合
には、スペーサ25を貫通穴11から取外した状態で使
用し、小径のウエハ1のめつきを行なう場合には、スペ
ーサ25を、通路14eと15eが各々通路14dと1
5dVc連通するように貫通穴11内に圧入して行なう
。
貫通穴11を4インチウエハ用に形成した上記のような
構成のめつき装置で、2インチウエハの外径とほぼ同径
の貫通穴11aを設けたスペーサ25めつき槽本体10
に嵌入し、めつき液としてシアン金カリウムを主成分と
する金めつき液を用い、めつき電流密度2A/Dm”、
液温65℃、めつき液流速約2CT!L/Secで約6
0分間めつきを行なつた。
構成のめつき装置で、2インチウエハの外径とほぼ同径
の貫通穴11aを設けたスペーサ25めつき槽本体10
に嵌入し、めつき液としてシアン金カリウムを主成分と
する金めつき液を用い、めつき電流密度2A/Dm”、
液温65℃、めつき液流速約2CT!L/Secで約6
0分間めつきを行なつた。
めつきしたウエハは2イ/チウエハであり、陽極には白
金めつきしたチタン陽極を用いた。その結果、前記実施
例と同様にウエハ全体にほぼ均一なめつきをすることが
できた。なお、4インチウエハについても、スペーサ2
5を貫通穴11から取外した状態で、上記実施例と同様
にめつきを行ない、ウエ・・全体に均一なめつきをする
ことができた。
金めつきしたチタン陽極を用いた。その結果、前記実施
例と同様にウエハ全体にほぼ均一なめつきをすることが
できた。なお、4インチウエハについても、スペーサ2
5を貫通穴11から取外した状態で、上記実施例と同様
にめつきを行ない、ウエ・・全体に均一なめつきをする
ことができた。
以上述べた如く、本発明によれば、めつき槽本体に形成
された貫通穴の両端にウエ・・と陽極を相対向するよう
に固定し貫通穴とウエハおよび陽極によつて構成される
密閉空間に、めつき液を流してめつきを行なうようにし
たので、ウエハ全体にほぼ均一な厚さのめつきを行なう
ことができる。
された貫通穴の両端にウエ・・と陽極を相対向するよう
に固定し貫通穴とウエハおよび陽極によつて構成される
密閉空間に、めつき液を流してめつきを行なうようにし
たので、ウエハ全体にほぼ均一な厚さのめつきを行なう
ことができる。
また、貫通穴に対するめつき液の供給口および排出口を
各々複数個づつ設けたので、貫通穴内のめつき液の流速
を大きくすることができ、めつき時間を短縮することが
できる。さらに、貫通穴に対するめつき液の供給口およ
び排出口を扇状に拡開させることにより、さらに貫通穴
内のめつき液の流速をさらに大きくすることができ、電
流密度を上げて、めつき時間をさらに短縮することがで
きる。さらにまた、スペーサを設けることにより、大き
さの異るウエハのめつきを行なうことができる。また、
後工程におけるチツプの接合時に、接合強度を均一化1
−、かつ、信頼性を大巾に向上させることができるなど
、品質や作業性を大巾に向上することができる効果があ
る。
各々複数個づつ設けたので、貫通穴内のめつき液の流速
を大きくすることができ、めつき時間を短縮することが
できる。さらに、貫通穴に対するめつき液の供給口およ
び排出口を扇状に拡開させることにより、さらに貫通穴
内のめつき液の流速をさらに大きくすることができ、電
流密度を上げて、めつき時間をさらに短縮することがで
きる。さらにまた、スペーサを設けることにより、大き
さの異るウエハのめつきを行なうことができる。また、
後工程におけるチツプの接合時に、接合強度を均一化1
−、かつ、信頼性を大巾に向上させることができるなど
、品質や作業性を大巾に向上することができる効果があ
る。
第1図は半導体素子に接合用の突起電極を形成する工程
を示す工程図、第2図は従来のめつき装置によつてめつ
きされためつきの厚さの分布を示す図、第3図は本発明
によるめつき装置の第1の実施例を示す側面断面図、第
4図は第3図の正面図、第5図は本発明によるめつき装
置でめつきした時のめつき厚の分布を示す図、第6図は
本発明によるめつき装置の第2の実施例の要部を示す正
圃析面図、第7図は本発明によるめつき装置の第3の実
施例を示す側面断面図、第8図は第7図の正面図、第9
図はスペーサの側面析面図、第10図は第9図の正面図
、第11図は本発明によるめつき装置の第4の実施例を
示す側面断面図、第12図は第11図の正面図である。 1・・・ウエハ、10・・・めつき槽本体、11・・・
貫通穴、14,15・・・穴、14a,14b,14c
,15a,15b,15c・・・枝穴、14d,14e
,15d,1,5e・・・通路、18・・・ウエハ取付
板、21・・・陽極取付板、22・・・陽極、24・・
・密閉空間。
を示す工程図、第2図は従来のめつき装置によつてめつ
きされためつきの厚さの分布を示す図、第3図は本発明
によるめつき装置の第1の実施例を示す側面断面図、第
4図は第3図の正面図、第5図は本発明によるめつき装
置でめつきした時のめつき厚の分布を示す図、第6図は
本発明によるめつき装置の第2の実施例の要部を示す正
圃析面図、第7図は本発明によるめつき装置の第3の実
施例を示す側面断面図、第8図は第7図の正面図、第9
図はスペーサの側面析面図、第10図は第9図の正面図
、第11図は本発明によるめつき装置の第4の実施例を
示す側面断面図、第12図は第11図の正面図である。 1・・・ウエハ、10・・・めつき槽本体、11・・・
貫通穴、14,15・・・穴、14a,14b,14c
,15a,15b,15c・・・枝穴、14d,14e
,15d,1,5e・・・通路、18・・・ウエハ取付
板、21・・・陽極取付板、22・・・陽極、24・・
・密閉空間。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被めつき物の外径とほぼ同径の貫通穴を形成し、か
つ、この貫通穴の内周面に向けて開口するめつき液の供
給口および排出口を形成しためつき槽と、電源に接続さ
れた陽極を支持する陽極取付板と、電源の陰極に接続さ
れた被めつき物を支持する被めつき物の取付板とを備え
、前記貫通穴を通して陽極と被めつき物とが対向するよ
うに前記めつき槽に陽極取付板と取付板とを固定し、貫
通穴と陽極取付板および取付板の間に密閉空間を構成し
、この密閉空間にめつき液を供給して、めつきを行なう
ようにしたことを特徴とするめつき装置。 2 めつき槽に各々複数個のめつき液の供給口と排出口
を形成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
のめつき装置。 3 めつき槽に形成されためつき液の供給口と排出口の
開口部を、めつき槽の貫通穴もしくは、その接線方向に
向けて扇状に拡開させたことを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載のめつき装置。 4 めつき槽に形成された貫通穴に嵌合し、かつ、各々
めつき液の供給口と排出口に連通するめつき液の供給口
と排出口を形成した円筒状のスペーサを設けたことを特
徴とする特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか
に記載のめつき装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2653880A JPS5934240B2 (ja) | 1980-03-05 | 1980-03-05 | めつき装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2653880A JPS5934240B2 (ja) | 1980-03-05 | 1980-03-05 | めつき装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56123399A JPS56123399A (en) | 1981-09-28 |
JPS5934240B2 true JPS5934240B2 (ja) | 1984-08-21 |
Family
ID=12196263
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2653880A Expired JPS5934240B2 (ja) | 1980-03-05 | 1980-03-05 | めつき装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5934240B2 (ja) |
-
1980
- 1980-03-05 JP JP2653880A patent/JPS5934240B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56123399A (en) | 1981-09-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6033540A (en) | Plating apparatus for plating a wafer | |
US3809625A (en) | Method of making contact bumps on flip-chips | |
US4842699A (en) | Method of selective via-hole and heat sink plating using a metal mask | |
US3501681A (en) | Face bonding of semiconductor devices | |
JPH10125685A (ja) | 突起電極およびその形成方法 | |
US3241931A (en) | Semiconductor devices | |
US3507756A (en) | Method of fabricating semiconductor device contact | |
JP2003034893A (ja) | メッキ方法およびメッキ装置 | |
US5901436A (en) | Method of manufacturing lead frame | |
JPS5934240B2 (ja) | めつき装置 | |
US4011144A (en) | Methods of forming metallization patterns on beam lead semiconductor devices | |
US4795694A (en) | Manufacture of fine structures for semiconductor contacting | |
US3421206A (en) | Method of forming leads on semiconductor devices | |
JPH09139387A (ja) | 半導体装置の電極形成方法 | |
JP2882416B2 (ja) | 電解めっきによる金属素子の形成方法 | |
JP7274353B2 (ja) | 基板のめっき方法 | |
JPS6241320B2 (ja) | ||
JPH0350733A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH0568559B2 (ja) | ||
GB2244176A (en) | Method and apparatus for forming a conductive pattern on an integrated circuit | |
JPS6179261A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH0444291A (ja) | 厚膜導体回路基板の製造方法 | |
JPS622639A (ja) | 支持体付きリ−ドフレ−ムの製造方法 | |
JPS5828829A (ja) | 半導体ウエハ−のメツキ装置 | |
JPS61229328A (ja) | 半導体装置の製造方法 |