JPS5934180A - 放射線結像装置 - Google Patents
放射線結像装置Info
- Publication number
- JPS5934180A JPS5934180A JP14509582A JP14509582A JPS5934180A JP S5934180 A JPS5934180 A JP S5934180A JP 14509582 A JP14509582 A JP 14509582A JP 14509582 A JP14509582 A JP 14509582A JP S5934180 A JPS5934180 A JP S5934180A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- output
- gate
- light
- scintillation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、シンチレーションカメラなどの放射線結像
装置に関する。 シンチレーションカメラでは、シンチレータにガンマ線
などの放射線が入射してシンチレーションが生じると、
その光を光１ｆｉ、子増倍管で電気信号に変換して、位
置計算回路によ炒シンチレーションの位置を求めるよう
にしている。ところがコンブトン散乱が生じ、その次に
光電吸収が生じると、シンチレーション光が２箇所以上
で生じることになるので光の広がシが大きくなシ、この
ような光を変換した電気信号を用いて位置計算を行なえ
ば、その求めた位置の誤差は大きくなるので、当然のこ
とながら、イ（Ｉられる画像の空間分解能は劣化するば
かりである。 このコンノトン散乱−光電吸収の生じる確率は、シンチ
レータとしてＮａＩ結晶を用い、１４０ｋｅＶのガンマ
線を検出する場合、゛約３０係であるから、これを除去
しない限りは空間分解能を向上させることはａｉｔＬい
。 また、このコンブトン散乱が生じた場合の画像の空間分
解能劣化の弊害は他の放射線検出器を用いた放射線結像
装置の場合でも同様である。 た七えは比例計数管の原理を利用したマルチワイヤ計数
管を放射線検出器として用いる場合、コンブトン散乱が
生じると２箇所以上でガスの電離が生じるからである。 ところが、従来の放射線結像装置〜では、このコンプト
ン散乱などによってづｉ光や市、離性・の反応領域が広
がることに起因するＩｔ）大差に対する差１策が何らと
られていなかったため、空間分解能を向上させることは
できなかった。 この発明は、コンプトン散乱などによって発光や電離等
が広がったことを検出してこのときには位置信号の出力
を禁止することにより、誤差の大きい位置４号を除去し
て画像の空間分解能を向上させるようにした放射組結像
装置を提供することを目的とする。 以下、この発明の一実施例について図面を参照しながら
説明する。第１図はとの屍明をシンチレーションカメラ
に適用した一実施例を示すもので、Ｘ方向の構成はＸ方
向の！、ｌ、ｒ成と同様であるから、Ｘ方向のみを示し
Ｘ方向については省略している。第１図において被写体
１１の特定の臓器に集積した几■（放射性同位元素）か
ら発せられたガンマ線はコリメータ】２を経てシンチレ
ータ１３に入射シ、シンチレーションを生じる。シンチ
レーション光はライトガイド１４を経て多数の１） Ｍ
Ｔ （光電子増倍管）】５の各々に導かれて電気信号
に変撓され、この信号はシリアンｆ１６によって前置増
幅される。 この実施例では抵抗マ） ＩＪクス方式の位置計算回路
１８が用いられ、プリアンプ１６の各出力信号は位置計
算用］
装置に関する。 シンチレーションカメラでは、シンチレータにガンマ線
などの放射線が入射してシンチレーションが生じると、
その光を光１ｆｉ、子増倍管で電気信号に変換して、位
置計算回路によ炒シンチレーションの位置を求めるよう
にしている。ところがコンブトン散乱が生じ、その次に
光電吸収が生じると、シンチレーション光が２箇所以上
で生じることになるので光の広がシが大きくなシ、この
ような光を変換した電気信号を用いて位置計算を行なえ
ば、その求めた位置の誤差は大きくなるので、当然のこ
とながら、イ（Ｉられる画像の空間分解能は劣化するば
かりである。 このコンノトン散乱−光電吸収の生じる確率は、シンチ
レータとしてＮａＩ結晶を用い、１４０ｋｅＶのガンマ
線を検出する場合、゛約３０係であるから、これを除去
しない限りは空間分解能を向上させることはａｉｔＬい
。 また、このコンブトン散乱が生じた場合の画像の空間分
解能劣化の弊害は他の放射線検出器を用いた放射線結像
装置の場合でも同様である。 た七えは比例計数管の原理を利用したマルチワイヤ計数
管を放射線検出器として用いる場合、コンブトン散乱が
生じると２箇所以上でガスの電離が生じるからである。 ところが、従来の放射線結像装置〜では、このコンプト
ン散乱などによってづｉ光や市、離性・の反応領域が広
がることに起因するＩｔ）大差に対する差１策が何らと
られていなかったため、空間分解能を向上させることは
できなかった。 この発明は、コンプトン散乱などによって発光や電離等
が広がったことを検出してこのときには位置信号の出力
を禁止することにより、誤差の大きい位置４号を除去し
て画像の空間分解能を向上させるようにした放射組結像
装置を提供することを目的とする。 以下、この発明の一実施例について図面を参照しながら
説明する。第１図はとの屍明をシンチレーションカメラ
に適用した一実施例を示すもので、Ｘ方向の構成はＸ方
向の！、ｌ、ｒ成と同様であるから、Ｘ方向のみを示し
Ｘ方向については省略している。第１図において被写体
１１の特定の臓器に集積した几■（放射性同位元素）か
ら発せられたガンマ線はコリメータ】２を経てシンチレ
ータ１３に入射シ、シンチレーションを生じる。シンチ
レーション光はライトガイド１４を経て多数の１） Ｍ
Ｔ （光電子増倍管）】５の各々に導かれて電気信号
に変撓され、この信号はシリアンｆ１６によって前置増
幅される。 この実施例では抵抗マ） ＩＪクス方式の位置計算回路
１８が用いられ、プリアンプ１６の各出力信号は位置計
算用］
【み抵抗１７の各々を経て加算されたのちエネル
ギ信号２で態勢：されて位↑Ｎ信号Ｘが得られる。ＰＭ
Ｔ１５はたとえば３７本または７５本配列され、そのＸ
方向の位置に応じて１）（み抵抗１７の値が決められて
いる（なお、マルチワイヤ泪数管を用いる場合には各ワ
イヤ′市極の出力がプリアンプ１６によって前置増幅さ
れるようにｔｉｌｔ成するだけで他の構成は同じである
）。才だ各プリアンプ１６の出力は、全て一定の抵抗値
とされた抵抗１９を粁て加算器２０に送られてエネルギ
信号Ｚを１４＃ ％ このエネルギ４８号２は波高弁別
器２１によって波高弁別され、所望のエネルギウィンド
内に入っていると判定されたときに出力信号を牛１゛る
。偏差値計算回路は、偏差値計算用重み抵抗２２と、加
算器２３と、割算器２４と、乗Ｘ′？器２５と、引ｑ−
器２６とにより第１〜成されている。位１ｆ５ｆ信号Ｘ
は、引力器２６の出力信号をケ゛−１−伯−号とするケ
゛−） ２７、及び波高弁別器２１の出カイへ号をｒ−
ト信号とするケート２８を１ｌｌｔ次経て図１示しなイ
表示管またはコンビーータメモリに送られる。 ここで、第１番目のＰＭＴ１５の出力をＳｉとすると、
エネルギ信号Ｚは Ｚ＝ΣＳ。 となる。捷だ、第１番目のＰＭ’ｌ”１５のＸ方向位置
に相当する重み係数ｋｉとすると、この第ｉｆｔ目の、
ＰＭＴ１５に接続された位１１゛ｆ計算用ｒＦみ抵抗１
７の抵抗値１もＸｉは、 】 １祝ｉ″「 となっており、位置信号Ｘは、 Ｘ＝Σｋｉｓｉ／耶Ｓ。 １ ｔ の計算によって求められることになる。そして偏差値計
９回路によって求められる偏差値Ａは、である。そのた
め、第１番目のＰＭ、Ｔ１５に接続された偏差値計算用
重み抵抗ＲＡ：（ｒＪ、几Ａ ｔ ＱＣ＝ に、２ に定められている。 この偏差値Ａはコンプトン散乱が生じたときに大きな値
をとるようにその計９式を適当に定めればよく、上記の
式に限定されない１．コンゾトン散乱が生じない場合は
、第２図に示すようにシンチレータ１３内のＩ Ａ 、
１）、でうＹ、：ｙｔ吸収が起シ、発光点はこの点Ｐ１
のみとなるが、コンゾトン散乱が生じると第３図のよう
に、点Ｐ２でコンノトン散乱が起って発光し１５次の点
Ｐ３でｙ′（：電吸収によυ発ブＣ７するというように
うＧ光点が２箇所以上となり、シンチレーション光の広
がりが大きくなる。上記の計算式によれば、偏差値Ａは
このシンチレーション光の広がシが大きい場合に大きな
値をとるようになっている。たとえば第４図に示すよう
に、Ｘ力面の位置０〜４に７・１応して第１〜５番目の
ＰＭＴ１５が配列され、それぞれから信号８１〜Ｓ５が
生じ、重み係数に１〜に５の各々の値がＯ〜４であると
した場合について述べる。このとき、回じＸ＝２付近で
発、光が生じたとしても（イ）発光の広がりが小さい場
合には８１ ＝８５−Ｏｅ ５２＝１． Ｏｅ Ｓ３
＝：３．０８４ ＝ １．０の各信号が得られ、（ロ）
発光の広がりが大きい場合にはＳにＱ、 ５ ｅ Ｓ２
＝１．５ ｔ Ｓ３−１、０ 、８４ ＝ １．、５
、８５ ＝ Ｑ、 ５の各信号がイ（Ｉられる。それ
ぞれ」二記各式によシＸ、Ａの各植を８１算してみると
、 （イ）の場合 Ｘ＝２．ＯＡ＝０．４ （ロ）の場合 Ｘ＝２．ＯＡ＝１．４ となり、光の広がシが大きくなればへの値も大きくなる
。なお、上記では発光位ｔ〆もが同じものとして１算し
たが、異なる位置の場合でも光の広がりが同じであれば
への値は同じになシ、への値は光の広がシを表わす指柳
となることが分る（なお、マルチワイヤＨ−１算管の場
合は、がス市１０箇所の広かシを表わす指標となる）。 この人の値が大きいときはＸの誤差が太きいと考えられ
るので、実験で適当に定めだある一定値よりＡが大きく
なったときにケ゛−ト２７で位置信号Ｘの出力を禁止す
ることにより、誤差の少ない位置４１号Ｘのみが出力さ
れ、これによって構成される画像の空間情態を高めるこ
とができる１、 以上、実施例について説、明したように、この発明によ
れば、放射線の入射によって生じる発光や電離がコンゾ
トン散乱等によシ広１１・）、囲に広がったときに位置
信号が出力されるのを禁止しているため、誤差の大きな
位置信号か出力されるのを阻止でき、画像の空間分ｔ’
ｆ（能を向上させることができる。
ギ信号２で態勢：されて位↑Ｎ信号Ｘが得られる。ＰＭ
Ｔ１５はたとえば３７本または７５本配列され、そのＸ
方向の位置に応じて１）（み抵抗１７の値が決められて
いる（なお、マルチワイヤ泪数管を用いる場合には各ワ
イヤ′市極の出力がプリアンプ１６によって前置増幅さ
れるようにｔｉｌｔ成するだけで他の構成は同じである
）。才だ各プリアンプ１６の出力は、全て一定の抵抗値
とされた抵抗１９を粁て加算器２０に送られてエネルギ
信号Ｚを１４＃ ％ このエネルギ４８号２は波高弁別
器２１によって波高弁別され、所望のエネルギウィンド
内に入っていると判定されたときに出力信号を牛１゛る
。偏差値計算回路は、偏差値計算用重み抵抗２２と、加
算器２３と、割算器２４と、乗Ｘ′？器２５と、引ｑ−
器２６とにより第１〜成されている。位１ｆ５ｆ信号Ｘ
は、引力器２６の出力信号をケ゛−１−伯−号とするケ
゛−） ２７、及び波高弁別器２１の出カイへ号をｒ−
ト信号とするケート２８を１ｌｌｔ次経て図１示しなイ
表示管またはコンビーータメモリに送られる。 ここで、第１番目のＰＭＴ１５の出力をＳｉとすると、
エネルギ信号Ｚは Ｚ＝ΣＳ。 となる。捷だ、第１番目のＰＭ’ｌ”１５のＸ方向位置
に相当する重み係数ｋｉとすると、この第ｉｆｔ目の、
ＰＭＴ１５に接続された位１１゛ｆ計算用ｒＦみ抵抗１
７の抵抗値１もＸｉは、 】 １祝ｉ″「 となっており、位置信号Ｘは、 Ｘ＝Σｋｉｓｉ／耶Ｓ。 １ ｔ の計算によって求められることになる。そして偏差値計
９回路によって求められる偏差値Ａは、である。そのた
め、第１番目のＰＭ、Ｔ１５に接続された偏差値計算用
重み抵抗ＲＡ：（ｒＪ、几Ａ ｔ ＱＣ＝ に、２ に定められている。 この偏差値Ａはコンプトン散乱が生じたときに大きな値
をとるようにその計９式を適当に定めればよく、上記の
式に限定されない１．コンゾトン散乱が生じない場合は
、第２図に示すようにシンチレータ１３内のＩ Ａ 、
１）、でうＹ、：ｙｔ吸収が起シ、発光点はこの点Ｐ１
のみとなるが、コンゾトン散乱が生じると第３図のよう
に、点Ｐ２でコンノトン散乱が起って発光し１５次の点
Ｐ３でｙ′（：電吸収によυ発ブＣ７するというように
うＧ光点が２箇所以上となり、シンチレーション光の広
がりが大きくなる。上記の計算式によれば、偏差値Ａは
このシンチレーション光の広がシが大きい場合に大きな
値をとるようになっている。たとえば第４図に示すよう
に、Ｘ力面の位置０〜４に７・１応して第１〜５番目の
ＰＭＴ１５が配列され、それぞれから信号８１〜Ｓ５が
生じ、重み係数に１〜に５の各々の値がＯ〜４であると
した場合について述べる。このとき、回じＸ＝２付近で
発、光が生じたとしても（イ）発光の広がりが小さい場
合には８１ ＝８５−Ｏｅ ５２＝１． Ｏｅ Ｓ３
＝：３．０８４ ＝ １．０の各信号が得られ、（ロ）
発光の広がりが大きい場合にはＳにＱ、 ５ ｅ Ｓ２
＝１．５ ｔ Ｓ３−１、０ 、８４ ＝ １．、５
、８５ ＝ Ｑ、 ５の各信号がイ（Ｉられる。それ
ぞれ」二記各式によシＸ、Ａの各植を８１算してみると
、 （イ）の場合 Ｘ＝２．ＯＡ＝０．４ （ロ）の場合 Ｘ＝２．ＯＡ＝１．４ となり、光の広がシが大きくなればへの値も大きくなる
。なお、上記では発光位ｔ〆もが同じものとして１算し
たが、異なる位置の場合でも光の広がりが同じであれば
への値は同じになシ、への値は光の広がシを表わす指柳
となることが分る（なお、マルチワイヤＨ−１算管の場
合は、がス市１０箇所の広かシを表わす指標となる）。 この人の値が大きいときはＸの誤差が太きいと考えられ
るので、実験で適当に定めだある一定値よりＡが大きく
なったときにケ゛−ト２７で位置信号Ｘの出力を禁止す
ることにより、誤差の少ない位置４１号Ｘのみが出力さ
れ、これによって構成される画像の空間情態を高めるこ
とができる１、 以上、実施例について説、明したように、この発明によ
れば、放射線の入射によって生じる発光や電離がコンゾ
トン散乱等によシ広１１・）、囲に広がったときに位置
信号が出力されるのを禁止しているため、誤差の大きな
位置信号か出力されるのを阻止でき、画像の空間分ｔ’
ｆ（能を向上させることができる。
第１図はこの発明の一実施例のブロック図、第２図及び
第３図は発光の広がシ具合を智１明するだめの模式図、
第４図は偏差値Ａを説明するための模式図である。 １１・・・被写体 １２・・・コリメータ１
３・・・シンチレータ １４・・ライトがイド１５
１．・Ｐ’ＭＴ １６・・・）０リアンプ
２５・・・乗算器 ２６・・・引ｑ器２７ 、
２８・・・ｒ−） −４“ ４ｉ＝０ ４ｚ−７ ０１ ｑ図
第３図は発光の広がシ具合を智１明するだめの模式図、
第４図は偏差値Ａを説明するための模式図である。 １１・・・被写体 １２・・・コリメータ１
３・・・シンチレータ １４・・ライトがイド１５
１．・Ｐ’ＭＴ １６・・・）０リアンプ
２５・・・乗算器 ２６・・・引ｑ器２７ 、
２８・・・ｒ−） −４“ ４ｉ＝０ ４ｚ−７ ０１ ｑ図
Claims (1)
- （１）放射線の入射に応じて所定の位置ごとの電気（８
号を生じる放射線検出器と、前記？１７．グ（信号によ
シ位置計算を行なって放射線入射位置を表わす位置信号
を得る位置計算回路とを備えてなる放射線結像装置にお
いて、前記の所定の位置ごとの電気信号が広範囲にわた
って生じていることを検出する偏差値計贈、回路を設け
て、この偏差値計算回路の出力に応じて前記位置信号が
出力されるのを禁止するようにしたことを特徴とする放
射線結像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14509582A JPS5934180A (ja) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | 放射線結像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14509582A JPS5934180A (ja) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | 放射線結像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5934180A true JPS5934180A (ja) | 1984-02-24 |
| JPH0452419B2 JPH0452419B2 (ja) | 1992-08-21 |
Family
ID=15377252
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14509582A Granted JPS5934180A (ja) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | 放射線結像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5934180A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000321357A (ja) * | 1999-03-10 | 2000-11-24 | Toshiba Corp | 核医学診断装置 |
| JP2011089901A (ja) * | 2009-10-22 | 2011-05-06 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 検出結果補正方法、その検出結果補正方法を用いた放射線検出装置、その検出結果補正方法を実行するためのプログラム、及びそのプログラムを記録する記録媒体 |
-
1982
- 1982-08-20 JP JP14509582A patent/JPS5934180A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000321357A (ja) * | 1999-03-10 | 2000-11-24 | Toshiba Corp | 核医学診断装置 |
| JP2011089901A (ja) * | 2009-10-22 | 2011-05-06 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 検出結果補正方法、その検出結果補正方法を用いた放射線検出装置、その検出結果補正方法を実行するためのプログラム、及びそのプログラムを記録する記録媒体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0452419B2 (ja) | 1992-08-21 |
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