JPS5932807A - 絵柄面積率測定装置 - Google Patents

絵柄面積率測定装置

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Publication number
JPS5932807A
JPS5932807A JP57143019A JP14301982A JPS5932807A JP S5932807 A JPS5932807 A JP S5932807A JP 57143019 A JP57143019 A JP 57143019A JP 14301982 A JP14301982 A JP 14301982A JP S5932807 A JPS5932807 A JP S5932807A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measured
light
area ratio
reflecting mirror
reflected light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57143019A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiaki Masuda
増田 俊朗
Akihide Saito
斎藤 明秀
Shosuke Fujio
藤生 昌介
Masaki Nojima
野島 正樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Printing Co Ltd filed Critical Toppan Printing Co Ltd
Priority to JP57143019A priority Critical patent/JPS5932807A/ja
Publication of JPS5932807A publication Critical patent/JPS5932807A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/28Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring areas
    • G01B11/285Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring areas using photoelectric detection means

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は絵柄面積率測定装置に関するものであり、詳
しくは点光源から発せられるスポット光を測定対象面に
照射し、この測定対象面に於ける反射光の強度を測定す
ることにより絵柄の面積率を測定する装置に関するもの
である。
例えばオフセット印刷版のように絵柄部分とそれ以外の
部分とで反射率が異なることを利用(〜でその絵柄部分
の全体に占める面積の割合即ち絵柄面積率を測定するこ
とが知らhており、またより高速度、高精度に測定する
ことを目的にし・−ザービームを測定対象面への照明光
とし、これをガルバノミラ−で振って測定対象面を走査
することが考えられている。
これを第1図に基づき説明すると、レーザー光源(1)
より照射された照明光はフィルター(3)、レンズ(4
)を介してガルバノミラ−(5)の面で反射され、測定
対象面(2)に入射される。ガルバノミラ−(5)は発
振電源(7)により単振動を起こしているため、照明光
はスリット(6)で振り角が調整され測定対象1rij
(2)を往復運動し走査することになる。この照明光の
測定対象面(2)からの反射光をフォトマルチプライヤ
等の光電変換素子(8)で受光し、電気信号に変換して
演算処理し絵柄面積率を測定するものである。
このような装置に於いては一般に電位場に交流(正弦波
)を加えるため、ミラーの振動も正弦波的な窪振動とな
る。このため、ガルバノミラ−の振り角はある一定値以
上太き(とれず、また静止点近傍での角速度の変化が絵
柄面積率測定の際のサンプリングピッチに誤差を生じせ
しめるために正確な測定が困離であるという欠点を有し
ている。
さらに、またこのように角速度の変化により同一サンプ
リングパルスを与えても照明光の移動距離πr・θ は工「となりθが大きくなる程誤差が大きくなるため、
この問題を解消しようとして振り角を小さくすると、ミ
ラーと測定対象面との距離を太きく12なげれば一定走
査面を確保できないので装置全体が大きくなってしまう
欠点が新たに生じてくる。
従って、本発明の目的とするところは、測定誤差が発生
することのない照明光の走査機能を有する絵柄面積率測
定装置を提供することにあり、さらに他の目的は上記目
的を達した上で装置の大型化を阻市し、よりコンパクト
にまとめることが可能な絵柄面積率測定装置を提供す4
)ことにある。
このような目的を達するべくなされた本発明は照明光と
出力する照明手段と5照明光を測定対象面に照射する反
射手段と5反射手段を回転する回転手段と、スリットと
、測定対象面からの反射光を受光する受光手段とを具備
することを特徴とする絵柄面積率測定装置である。
以下に本発明を図面の実施例に基づき詳細に説明する。
四囲であり、第4図は照明光の走査の状態を示す説明図
であり、第5図は各種ミラーの説明図である。
第2図及び第6図に示されるように、測定対象面にスポ
ット状の照明光(この実施例では1/−ザービーム)を
照射、走査するための反射ミラー(101は回転子(1
6)に固定1−て取利けもれ、この回転1”−(161
はその一端が軸受圓に支承され、他端は電機子02)が
取付けられて軸受げに回転可能に支持されている。電機
子(12)の周囲には界磁(13)、整流子(1ωが配
され、公知の直流電動機が構成されており、このような
回転手段α旧主図示されていない制御装置からの信号に
より制御される直流電源04)に接続されている。また
、(6)は第1図に示したものと同様の振り角を調整す
るスリットである。
なお、この実施例では回転手段として直流電源により駆
動される直流電動機を用いた構成で回転角速度を制御す
るものについて説明するが、周波数変換可能な交流電源
と誘動電動機等の他の回転手段を用いても良い。
このような走査機構は第2図に示されるようにレーザー
光源(1)から発射され、フィルター(3)及びレンズ
(4)等を通過した照明光であるレーザービームな測定
対象面(2)に照射し、これを走査し得るような位置に
設けられることになる。
以上のような構成を有する絵柄面積率測定装置の作用に
ついて以下に説明する。
レーザ・−光源(1)から発射されたレーザービームは
フィルター(3)及びレンズ(4)で測定に適した光に
修正され5反射ミラー(+01に入射される。反射ミラ
ー0〇)は前述の如くの回転手段により一定の回転速度
で回転するものであり、このため反射ミラー(1,01
からの反射光は第4図に示されるようにスリット(6)
で走査範囲が決定されて測定対象面(2)に照射され、
その反射光がフォトマルチプライヤ(8)に受光される
。これにより、一定タイミングでサンプリングしても測
定対象面に於げろ等ピッチでのサンプリングが可能とな
る。なお、この際測定対象面(2)が反射ミラー(10
1の回転軸を中心とした円周面を有していれば良い。こ
のように回転角速度の一定化がサンプリングピッチな等
しくし、測定精度の向上をもたらすことになる。
また、スリット(6)の11〕及び設置位置を調節する
ことにより、走査範囲を任意に設定することかでき、測
定対象面(2)が大きく走査範囲が広い場合であっても
回転角速度が一定であるので広角度の走査ができ装置自
体をコンパクトにすることが「げ能である。
さらに、第5図に示されるように反射ミラー0())を
両面ミラー (同図(イ))、多面ミラー(同図(ロ)
(ハ))のように構成すれば走査間隔を短かくすること
が1丁能である。
以上述べたように本発明によれば、照明光による測定対
象面の走査が等速度で行なえるため、測定精度が向上し
、また、より広範囲な走査が可能であるので反射ミラー
と測定対象面の間の距離を小さくすることかでき装置全
体をコンパクトにすることができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の絵柄面積率測定装置の光学系の説明図、
第2図は本発明にかかる絵柄面積率測定装置の光学系の
説明図、第6図は同照明光の走査手段の説明図、第4図
は照明光の走査の状態を示す説明図、第5図は各種ミラ
ーの説明図である。 (6)・・・スリット 00)・・・反射ミラー 07
)・・・回転手段特許出願人 凸版印刷株式会社 第2図 714

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 絵柄を有する測定対象面に照明光を照射し、その反射光
    の強度ンこ基づき絵柄の面積率を測定する装置に於いて
    、測定対象面を照明するためのレーザービーム等の照明
    光を発する照明手段と、照明光を測定対象面に照射可能
    なるように偏向する反射手段と、反射手段を一定角速度
    で回転させる回転手段と、反射手段からの反射光を所望
    の走査範囲のみ通過させる調整手段と、測定対象面から
    の反射光を受光し電気信号に変換する受光手段を具備す
    ることを特徴とする絵柄面積率測定装置。
JP57143019A 1982-08-18 1982-08-18 絵柄面積率測定装置 Pending JPS5932807A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57143019A JPS5932807A (ja) 1982-08-18 1982-08-18 絵柄面積率測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57143019A JPS5932807A (ja) 1982-08-18 1982-08-18 絵柄面積率測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5932807A true JPS5932807A (ja) 1984-02-22

Family

ID=15329034

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57143019A Pending JPS5932807A (ja) 1982-08-18 1982-08-18 絵柄面積率測定装置

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JP (1) JPS5932807A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013521524A (ja) * 2010-03-04 2013-06-10 シュナイダー、ゲゼルシャフト、ミット、ベシュレンクテル、ハフツング、ウント、コンパニー、コマンディト、ゲゼルシャフト 眼鏡フレームを測定するための測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013521524A (ja) * 2010-03-04 2013-06-10 シュナイダー、ゲゼルシャフト、ミット、ベシュレンクテル、ハフツング、ウント、コンパニー、コマンディト、ゲゼルシャフト 眼鏡フレームを測定するための測定装置

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