JPS5928367A - 調整目標電圧設定方法 - Google Patents
調整目標電圧設定方法Info
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- JPS5928367A JPS5928367A JP57137307A JP13730782A JPS5928367A JP S5928367 A JPS5928367 A JP S5928367A JP 57137307 A JP57137307 A JP 57137307A JP 13730782 A JP13730782 A JP 13730782A JP S5928367 A JPS5928367 A JP S5928367A
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- Japan
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- voltage
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、集積回路等を被調整回路とする機能トリミン
グ装置において、その対象部分の電圧と調整目標電圧と
の差を高精度で求め、その値に応じて当該機能トリミン
グを正確に行うだめの調整目標電圧設定方式に関するも
のである。
グ装置において、その対象部分の電圧と調整目標電圧と
の差を高精度で求め、その値に応じて当該機能トリミン
グを正確に行うだめの調整目標電圧設定方式に関するも
のである。
一般に機能トリミング装置は、被調整回路の調整対象部
分の電圧を測定するとき、Ａ／Ｄ変換器またはそれを応
用したデータ読出し可能な電圧計（例えば、ディジタル
電圧計）を使用している。
分の電圧を測定するとき、Ａ／Ｄ変換器またはそれを応
用したデータ読出し可能な電圧計（例えば、ディジタル
電圧計）を使用している。
しかしながら、それらの測定回路には、その非直線性、
ドリフトが存在するので、測定精度に限界があり、調整
精度の向上を妨げる原因となっていた。また、上記のよ
うな電圧計は、測定時間が長く、調整効率の向上も困難
であった。
ドリフトが存在するので、測定精度に限界があり、調整
精度の向上を妨げる原因となっていた。また、上記のよ
うな電圧計は、測定時間が長く、調整効率の向上も困難
であった。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくシ、被
調整回路の対象部分の電圧と調整目標電圧との差を高精
度で求め、その値に応じて当該機能トリミングを正確で
効率的に行うことができる調整目標電圧設定方式を提供
することにある。
調整回路の対象部分の電圧と調整目標電圧との差を高精
度で求め、その値に応じて当該機能トリミングを正確で
効率的に行うことができる調整目標電圧設定方式を提供
することにある。
本発明に係る調整目標電圧設定方式の構成は、被調整回
路の対象部分の電圧を測定し、そのディジタル値と当該
調整目標電圧のディジタル値との差に応じて所要調整量
を算出し、その調整量に応じて被調整回路の当該対象部
分の回路定数を変化させるように制御・処理をする機能
を有する機能トリミング装置において、調整目標電圧の
設定を被調整回路の各対象部分に対応して所望のディジ
タル値で行いうるようにするとともに、そのビット数を
上記対象部分の電圧測定結果のＡ／Ｄ変換のビット数よ
りも充分に多くするようにしだものである。
路の対象部分の電圧を測定し、そのディジタル値と当該
調整目標電圧のディジタル値との差に応じて所要調整量
を算出し、その調整量に応じて被調整回路の当該対象部
分の回路定数を変化させるように制御・処理をする機能
を有する機能トリミング装置において、調整目標電圧の
設定を被調整回路の各対象部分に対応して所望のディジ
タル値で行いうるようにするとともに、そのビット数を
上記対象部分の電圧測定結果のＡ／Ｄ変換のビット数よ
りも充分に多くするようにしだものである。
これを要するに、目標調整電圧をディジタル値で設定し
うるようにすることにより、そのプログラマブル化を容
易とするとともに、そのビット数を上記電圧測定結果の
Ａ／Ｄ変換のビット数よりも充分に多くすることにより
、上記Ａ／Ｄ変換における誤差、非直線性等を吸収して
電圧測定の高精度化を可能とするものである。
うるようにすることにより、そのプログラマブル化を容
易とするとともに、そのビット数を上記電圧測定結果の
Ａ／Ｄ変換のビット数よりも充分に多くすることにより
、上記Ａ／Ｄ変換における誤差、非直線性等を吸収して
電圧測定の高精度化を可能とするものである。
以下、本発明の実施例を図に基づいて説明する。
第１図は、本発明に係る調整目標電圧設定方式の一実施
例の方式構成図、第２図は、その処理フローチャートで
ある。
例の方式構成図、第２図は、その処理フローチャートで
ある。
ここで、１は、処理装置、２は、調整駆動ユニット、３
は、Ｄ／Ａ変換回路（Ｄ／Ａ）、４は、増幅回路、５は
、切換回路、６は、減衰回路、７最初に、上記各部の機
能・動作を説明する。
は、Ｄ／Ａ変換回路（Ｄ／Ａ）、４は、増幅回路、５は
、切換回路、６は、減衰回路、７最初に、上記各部の機
能・動作を説明する。
Ｄ／Ａ変換回路３は、処理装置１からディジタルデータ
を受け、そのデータに従って種々のアナログ電圧を出力
することができる。また、増幅回路４は、Ｄ／Ａ変換回
路３の出力を増幅し、被調整回路ＩＣの調整目標電圧を
発生する。
を受け、そのデータに従って種々のアナログ電圧を出力
することができる。また、増幅回路４は、Ｄ／Ａ変換回
路３の出力を増幅し、被調整回路ＩＣの調整目標電圧を
発生する。
すなわち、Ｄ／Ａ変換回路３．増幅回路４により、処理
装置１から出力するディジタルデータに応じて調整目標
電圧に等しい任意の基準電圧が得られるようにし、種々
の被調整回路ＩＣの調整目標電圧に適用できるようにし
たものである。
装置１から出力するディジタルデータに応じて調整目標
電圧に等しい任意の基準電圧が得られるようにし、種々
の被調整回路ＩＣの調整目標電圧に適用できるようにし
たものである。
ここで使用するＤ／Ａ変換回路３．増幅回路４は、それ
ぞれ、測定回路に使用するＡ／Ｄ変換回路７の精度より
も充分に高いものを選択して使用する。例えば、Ａ／Ｄ
変換回路７に１２ビット精度の回路を使用する場合、Ｄ
／Ａ変換回路３には１６ビツト精度の回路を用いるとと
もに、これに対応して増幅回路４も誤差の小さい回路を
使用する。
ぞれ、測定回路に使用するＡ／Ｄ変換回路７の精度より
も充分に高いものを選択して使用する。例えば、Ａ／Ｄ
変換回路７に１２ビット精度の回路を使用する場合、Ｄ
／Ａ変換回路３には１６ビツト精度の回路を用いるとと
もに、これに対応して増幅回路４も誤差の小さい回路を
使用する。
次に、切換回路５は、処理装置１によって制御され、被
調整回路ＩＣの測定信号電圧と、Ｄ／Ａ変換回路３．増
幅回路４によって出力される基準電圧とのいずれかを選
択し、次段の減衰回路６に入力する。
調整回路ＩＣの測定信号電圧と、Ｄ／Ａ変換回路３．増
幅回路４によって出力される基準電圧とのいずれかを選
択し、次段の減衰回路６に入力する。
減衰回路６は、入力された信号を、次段のＡ／Ｄ変換回
路７０入力許容電圧以内に減衰させ、Ａ／Ｄ変換回路７
に入力する。
路７０入力許容電圧以内に減衰させ、Ａ／Ｄ変換回路７
に入力する。
Ａ／Ｄ変換回路７は、処理装置１から変換開始信号を受
けると、アナログ入力信号電圧をディジタル信号に変換
して処理装置１に出力する。
けると、アナログ入力信号電圧をディジタル信号に変換
して処理装置１に出力する。
処理装置１は、例えば、マイクロコンピュータ。
ミニコンピユータなどで構成することができ、Ｄ／Ａ変
換回路３．切換回路５．Ａ／Ｄ変換回路７を制御し、Ａ
／Ｄ変換回路７の出力データを取り込み、あらかじめ定
められた処理プログラムを実行し、調整駆動ユニット２
を制御する。その動作は、後述する第２図の処理フロー
チャートに示すとおりである。
換回路３．切換回路５．Ａ／Ｄ変換回路７を制御し、Ａ
／Ｄ変換回路７の出力データを取り込み、あらかじめ定
められた処理プログラムを実行し、調整駆動ユニット２
を制御する。その動作は、後述する第２図の処理フロー
チャートに示すとおりである。
調整駆動ユニット２は、例えば、レーザにょるトリミン
グ装置であって、処理装置１からトリミング量を入力し
、それに従って被調整回路ＩＣ（例えば、厚膜モジュー
ル）の上に形成された厚膜抵抗体、コンデンサ等をトリ
ミングし、その回路定数を変化させて当該関連電圧が調
整目標電圧となるように調整する。被調整回路ＩＣの調
整対象部品が可変の抵抗器、コンデンサ、コイルなどで
あれば、調整駆動ユニット２は、それらの部品の定数を
変化させる治具（例えば、回転ドライバ）をも備えたも
のである。
グ装置であって、処理装置１からトリミング量を入力し
、それに従って被調整回路ＩＣ（例えば、厚膜モジュー
ル）の上に形成された厚膜抵抗体、コンデンサ等をトリ
ミングし、その回路定数を変化させて当該関連電圧が調
整目標電圧となるように調整する。被調整回路ＩＣの調
整対象部品が可変の抵抗器、コンデンサ、コイルなどで
あれば、調整駆動ユニット２は、それらの部品の定数を
変化させる治具（例えば、回転ドライバ）をも備えたも
のである。
次に、全体の動作を第１図、第２図に基づいて説明する
。
。
まず、処理装置１は、被調整回路ＩＣの電圧測定、対象
部分のトリミングに先立ち、切替回路５をＤ／Ａ変換回
路３．増幅回路４側にセットした後、被調整回路ＩＣの
対象部分の調整目標電圧Ｓｏに対一応するディジタルデ
ータＣ９をＤ／Ａ変換回路３へ送出する。
部分のトリミングに先立ち、切替回路５をＤ／Ａ変換回
路３．増幅回路４側にセットした後、被調整回路ＩＣの
対象部分の調整目標電圧Ｓｏに対一応するディジタルデ
ータＣ９をＤ／Ａ変換回路３へ送出する。
Ｄ／Ａ変換回路３は、その出力Ｃ１を増幅率αの増幅回
路４へ入力し、増幅回路４は、その出力α・ＣＩを切換
回路５に入力する。ここで、α・Ｃ＋＝Ｓｏとなるよう
に、あらかじめ、上記ディジタルデータＣ８の値を実測
等によって決定しておく。
路４へ入力し、増幅回路４は、その出力α・ＣＩを切換
回路５に入力する。ここで、α・Ｃ＋＝Ｓｏとなるよう
に、あらかじめ、上記ディジタルデータＣ８の値を実測
等によって決定しておく。
その出力α・Ｃ＋＝Ｓｏは、切替回路４を通して減衰率
１／β（β≧１）の減衰回路６に入力され、その出力Ｓ
Ｏ／βは、Ａ／Ｄ変換回路７に入力される。
１／β（β≧１）の減衰回路６に入力され、その出力Ｓ
Ｏ／βは、Ａ／Ｄ変換回路７に入力される。
Ａ／Ｄ変換回路７ば、処理装置１からのＡ、 ／ Ｄ変
換スタート信号により、上記入力ＳＯ／βをＡ／Ｄ変換
したディジタル値Ｓ１を処理装置１に読み取らせる。
換スタート信号により、上記入力ＳＯ／βをＡ／Ｄ変換
したディジタル値Ｓ１を処理装置１に読み取らせる。
処理装置１は、そのデータＳ１を一時記憶し、次に切換
回路５を被調整回路ＩＣ側へ切換え、その測定信号電圧
Ｘ。１を前述と同様の経路で取り込む。
回路５を被調整回路ＩＣ側へ切換え、その測定信号電圧
Ｘ。１を前述と同様の経路で取り込む。
すなわち、その測定信号電圧Ｘ（Ｂが減衰回路６に入力
され、その出力ＸＯ，／βがＡ／Ｄ変換回路７に入力さ
れ、これをＡ／Ｄ変換しだ値Ｘ１が処理装置１に読み取
られて記憶される。
され、その出力ＸＯ，／βがＡ／Ｄ変換回路７に入力さ
れ、これをＡ／Ｄ変換しだ値Ｘ１が処理装置１に読み取
られて記憶される。
処理装置１は、ここで取り込んだデータＸＩと先に一時
記憶したデータＳ１との差（Ｓ＋Ｘ＋）を求め、あらか
じめ処理装置１に設定しておいた当該対象部分の調整目
標範囲の公差Ｔ１と上記差（Ｓｌ−ＸＩ）との大小を比
較する。
記憶したデータＳ１との差（Ｓ＋Ｘ＋）を求め、あらか
じめ処理装置１に設定しておいた当該対象部分の調整目
標範囲の公差Ｔ１と上記差（Ｓｌ−ＸＩ）との大小を比
較する。
差（Ｓ＋−Ｘｔ）が公差Ｔｔ より太きいときは、更に
、その差の値〔（Ｓｌ−Ｘｌ）−Ｔ１〕と、あらかじめ
処理装置１に設定しておいだ調整定数Ｒとの積（Ｓ＋
ＸＩ−Ｔ１） Ｘ Ｒ＝Ｄ ＋を求め、その値Ｄ＋を
調整量として調整駆動ユニット２を制御し、被調整回路
ＩＣの当該対象部分からの測定信号電圧Ｘｏ＋を調整目
標電圧Ｓｏに近付けるようにトリミングをせしめる。
、その差の値〔（Ｓｌ−Ｘｌ）−Ｔ１〕と、あらかじめ
処理装置１に設定しておいだ調整定数Ｒとの積（Ｓ＋
ＸＩ−Ｔ１） Ｘ Ｒ＝Ｄ ＋を求め、その値Ｄ＋を
調整量として調整駆動ユニット２を制御し、被調整回路
ＩＣの当該対象部分からの測定信号電圧Ｘｏ＋を調整目
標電圧Ｓｏに近付けるようにトリミングをせしめる。
ここで、調整定数Ｒは、調整駆動ユニット２に対応した
定数で、例えば、レーザ式、サンドブラスト式のトリマ
であれば切断長など、また、スクリュードライバ式のト
リマであればボリューム回転角などである。
定数で、例えば、レーザ式、サンドブラスト式のトリマ
であれば切断長など、また、スクリュードライバ式のト
リマであればボリューム回転角などである。
以後、切換回路５をそのままの状態に保ちながら、被調
整回路ＩＣの測定信号電圧ＸＯｔを再度同じ経路で処理
装置１に取り込み、前述と同様の処理を行う。
整回路ＩＣの測定信号電圧ＸＯｔを再度同じ経路で処理
装置１に取り込み、前述と同様の処理を行う。
このようにして、調整を複数回繰り返し、被調整回路１
． Ｃの対象部分の測定信号電圧ＸＯ＋が調整目標範囲
Ｓ。−１Ｔｏとなるように調整する。公差Ｔ Ｏ＋ Ｔ
１間の関係は、’ｒｏ／β＝ＴＩである。
． Ｃの対象部分の測定信号電圧ＸＯ＋が調整目標範囲
Ｓ。−１Ｔｏとなるように調整する。公差Ｔ Ｏ＋ Ｔ
１間の関係は、’ｒｏ／β＝ＴＩである。
ここで、調整量Ｄ１は、回路定数が調整目標範囲に近付
くに従って減少するが、目標値近傍で公差を逸脱しない
ように、あらかじめ実験等によって調整定数Ｒを求めて
おく。
くに従って減少するが、目標値近傍で公差を逸脱しない
ように、あらかじめ実験等によって調整定数Ｒを求めて
おく。
このようにして調整を繰り返すことにより、目標値との
差が大きいときは大きな調整量で、目標に近付くに従っ
て小さな調整量で調整を行い、高精度で高速に目標電圧
に調整しようとするものである。
差が大きいときは大きな調整量で、目標に近付くに従っ
て小さな調整量で調整を行い、高精度で高速に目標電圧
に調整しようとするものである。
このように本実施例によれば、電圧を測定するＡ／Ｄ変
換回路７に非直線性、ドリフトによる誤差があっても、
精度の良い調整目標電圧を前もって同一の測定系を通し
て処理装置１に記憶しておき、被調整回路ＩＣの特性測
定時に誤差分を相殺することにより、比較的精度の良く
ない測定系の特性を救済して高い調整精度を得ることが
できる。
換回路７に非直線性、ドリフトによる誤差があっても、
精度の良い調整目標電圧を前もって同一の測定系を通し
て処理装置１に記憶しておき、被調整回路ＩＣの特性測
定時に誤差分を相殺することにより、比較的精度の良く
ない測定系の特性を救済して高い調整精度を得ることが
できる。
以上、詳細に説明したように、本発明によれば、被調整
回路の調整を一般の電圧測定回路を用いて高精度で高速
に行うことができるので、この種の機能トリミング装置
または同調整工程の信頼性向上、効率向上、経済化に顕
著な効果が得られる。
回路の調整を一般の電圧測定回路を用いて高精度で高速
に行うことができるので、この種の機能トリミング装置
または同調整工程の信頼性向上、効率向上、経済化に顕
著な効果が得られる。
第１図は、本発明に係る調整目標電圧設定方式の一実施
例の方式構成図、第２図は、その処理フローチャートで
ある。 １・・・処理装置、２・・・調整駆動ユニット、３・・
・Ｄ／Ａ変換回路、４・・・増幅回路、５・・・切替回
路、６・・・減衰回路、７・・・Ａ／Ｄ変換回路。 代理人 弁理士 福田幸作 （ほか１名） 茅Ｉ 目 了ｒ ＄２ 目 ）８〇−
例の方式構成図、第２図は、その処理フローチャートで
ある。 １・・・処理装置、２・・・調整駆動ユニット、３・・
・Ｄ／Ａ変換回路、４・・・増幅回路、５・・・切替回
路、６・・・減衰回路、７・・・Ａ／Ｄ変換回路。 代理人 弁理士 福田幸作 （ほか１名） 茅Ｉ 目 了ｒ ＄２ 目 ）８〇−
Claims (1)
- １、被調整回路の対象部分の電圧を測定し、そのディジ
タル値と当該調整目標電圧のディジタル値との差に応じ
て所要調整量を算出し、その調整量に応じて被調整回路
の当該対象部分の回路定数を変化させるように制御・処
理をする機能を有する機能トリミング装置において、調
整目標電圧の設定を被調整回路の各対象部分に対応して
所望のディジタル値で行いうるようにするとともに、そ
のビット数を上記対象部分の電圧測定結果のＡ／Ｄ変換
のビット数よりも充分に多くするようにすることを特徴
とする調整目標電圧設定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57137307A JPH0228913B2 (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Choseimokuhyodenatsusetsuteihoho |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57137307A JPH0228913B2 (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Choseimokuhyodenatsusetsuteihoho |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5928367A true JPS5928367A (ja) | 1984-02-15 |
| JPH0228913B2 JPH0228913B2 (ja) | 1990-06-27 |
Family
ID=15195619
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57137307A Expired - Lifetime JPH0228913B2 (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Choseimokuhyodenatsusetsuteihoho |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0228913B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02216062A (ja) * | 1989-02-16 | 1990-08-28 | Fujitsu Ltd | 基準電圧発生回路 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102303812B1 (ko) * | 2019-11-12 | 2021-09-23 | 현대위아 주식회사 | 공작기계의 주축 열변위 측정 및 보정방법과 시스템 |
-
1982
- 1982-08-09 JP JP57137307A patent/JPH0228913B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02216062A (ja) * | 1989-02-16 | 1990-08-28 | Fujitsu Ltd | 基準電圧発生回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0228913B2 (ja) | 1990-06-27 |
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