JPS5928353A - Ｉｃ外観検査装置 - Google Patents
Ｉｃ外観検査装置Info
- Publication number
- JPS5928353A JPS5928353A JP13831082A JP13831082A JPS5928353A JP S5928353 A JPS5928353 A JP S5928353A JP 13831082 A JP13831082 A JP 13831082A JP 13831082 A JP13831082 A JP 13831082A JP S5928353 A JPS5928353 A JP S5928353A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- rail
- tray
- elements
- inspection device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＩＣ外観検査装置にかかり、とくにＤＩＰ型Ｉ
Ｃ（以下ＩＣと記す）の検査工程においてＩＣの外観を
検査する装置に関するものである。
Ｃ（以下ＩＣと記す）の検査工程においてＩＣの外観を
検査する装置に関するものである。
一般にＩＣの検査工程において機能チェックを終えた後
、出荷前の最終検査として捺印、リード曲り等の外観検
査を多くの場合抜き取りにより行なっている。
、出荷前の最終検査として捺印、リード曲り等の外観検
査を多くの場合抜き取りにより行なっている。
従来はＩＣ収納トレーより作業者が手でＩＣを取り出し
１個ずつ検査して良品のみを出荷用トレーに収納すると
いう完全な手作業であり、ＩＣの製造工程が自動化され
ているのに比較して作業効率がきわめて悪くそのため人
手がかかっていた。
１個ずつ検査して良品のみを出荷用トレーに収納すると
いう完全な手作業であり、ＩＣの製造工程が自動化され
ているのに比較して作業効率がきわめて悪くそのため人
手がかかっていた。
又、手作業であるため静電気対策を充分施す必要があっ
た。
た。
本発明は平面状に１５連程度にまとめられたＩＣ収納ト
レーよりトレー内のすべてのＩＣを各連に対応した検査
部のレール上に排出し、各レールを回転機構により同時
に回転させることによって、作業者から見えるＩＣの角
度を変化させて目視検査を行ない、その結果が良品とな
ったＩＣを出荷用トレーに収納することにより上記欠点
を解消し。
レーよりトレー内のすべてのＩＣを各連に対応した検査
部のレール上に排出し、各レールを回転機構により同時
に回転させることによって、作業者から見えるＩＣの角
度を変化させて目視検査を行ない、その結果が良品とな
ったＩＣを出荷用トレーに収納することにより上記欠点
を解消し。
作業者が直接ＩＣに触れることなく多数のＩＣを一度に
検査部へ送り、多数の被検査ＩＣを同時に目視検査し、
出荷用トレーに一度に収納することのできる装置を提供
するものである。
検査部へ送り、多数の被検査ＩＣを同時に目視検査し、
出荷用トレーに一度に収納することのできる装置を提供
するものである。
以下図面を用いて本発明の一実施例を説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す構造図、第２図は本発
明のに用いられているスィーパ−の斜視図である。
明のに用いられているスィーパ−の斜視図である。
本発明の一実施例であるＩＣ外観検査装置は供給部１．
検査部２．収納部３０３部を具備して構成される。被検
査ＩＣ４は平面状に１５連程度にまとめられた収納トレ
ー５に入れられ供給部１にセットされる。トレー上部に
はスリット９が各連設けられており、供給部１はその各
スリット９にピン８を通してトレー内のＩＣをひっかけ
て強制的にトレー外へ送り出すためのスィーパ−７を有
している。検査部には収納トレー５の６連に対応したレ
ール１４が設けられており、スィーパ−７を矢印方向へ
移動するとピン８がスリット９を通ってトレー内のすべ
てのＩＣを検査部のレール上に送り出す。各レールは連
結され、平行うランク機構をなしており、レール上に被
検査ＩＣ４をのせた状態で前後に各５０°程回転移動さ
せてＩＣの捺印及びリードの検査を目視にて行なう。検
査の結果不良品があれば作業者はそれを取出し、そのか
わりあらかじめ用意しである良品と入れかえる。
検査部２．収納部３０３部を具備して構成される。被検
査ＩＣ４は平面状に１５連程度にまとめられた収納トレ
ー５に入れられ供給部１にセットされる。トレー上部に
はスリット９が各連設けられており、供給部１はその各
スリット９にピン８を通してトレー内のＩＣをひっかけ
て強制的にトレー外へ送り出すためのスィーパ−７を有
している。検査部には収納トレー５の６連に対応したレ
ール１４が設けられており、スィーパ−７を矢印方向へ
移動するとピン８がスリット９を通ってトレー内のすべ
てのＩＣを検査部のレール上に送り出す。各レールは連
結され、平行うランク機構をなしており、レール上に被
検査ＩＣ４をのせた状態で前後に各５０°程回転移動さ
せてＩＣの捺印及びリードの検査を目視にて行なう。検
査の結果不良品があれば作業者はそれを取出し、そのか
わりあらかじめ用意しである良品と入れかえる。
そして検査部レール上のすべてのＩＣの検査が終わると
各レールを定位置にもどし供給部と同様にスィーパ−７
によってレール上のすべてのＩＣを収納部３にセットさ
れた出荷用トレー６に入れ外観検査を完了する。
各レールを定位置にもどし供給部と同様にスィーパ−７
によってレール上のすべてのＩＣを収納部３にセットさ
れた出荷用トレー６に入れ外観検査を完了する。
ここで検査部のレールの回転機構について詳しく説明す
る。第３図は本発明に用いられている検査部のレールの
側面図であるが、各レール１４はそれぞれ１枚の板状の
もので装置本体に固定されている連結板１０と駆動可能
な連結板１１によって両側面共結合されている。レール
板と連結板との結合部は結合ピン１２によってピンの中
心を中心としてレール板は回転できる様になっており、
各レール１４と連結板１０．１１によって平行うランク
機構が構成される。連結板１１を矢印方向に駆動させる
と各レール板は連結板１０の各レール板の結合ピン１２
を中心として同時に回転を行なう。従って装置前面より
見て前後方向に各レールをそれぞれ約５０回転させるこ
とにより、手前に傾いた位置では捺印及び裏側のリード
を、奥に傾いた位置では手前のリードを目視検査するこ
とが可能となる。尚、第４図はレール板上部の側面図で
あるが図に示す様にレール１４の両側に永久磁石１３を
取付け、レールを傾けた際には被検査ＩＣのリード１５
をひきつけることによりＩＣが落下することはない。
る。第３図は本発明に用いられている検査部のレールの
側面図であるが、各レール１４はそれぞれ１枚の板状の
もので装置本体に固定されている連結板１０と駆動可能
な連結板１１によって両側面共結合されている。レール
板と連結板との結合部は結合ピン１２によってピンの中
心を中心としてレール板は回転できる様になっており、
各レール１４と連結板１０．１１によって平行うランク
機構が構成される。連結板１１を矢印方向に駆動させる
と各レール板は連結板１０の各レール板の結合ピン１２
を中心として同時に回転を行なう。従って装置前面より
見て前後方向に各レールをそれぞれ約５０回転させるこ
とにより、手前に傾いた位置では捺印及び裏側のリード
を、奥に傾いた位置では手前のリードを目視検査するこ
とが可能となる。尚、第４図はレール板上部の側面図で
あるが図に示す様にレール１４の両側に永久磁石１３を
取付け、レールを傾けた際には被検査ＩＣのリード１５
をひきつけることによりＩＣが落下することはない。
以上述べた様に本発明ではＩＣ外観検査装置を供給部、
検査部、収納部の３部によって構成し、検査部に多数の
レールを設けて回転機構を構成することにより、作業者
が直接被検査ＩＣに触れることなく多数のＩＣを検査項
目別に一度に比較対照しながら目視検査することが可能
となり、又供給並びに収納における自動化、大量処理が
可能となり、作業者に対する静電気対策も軽減できるた
め、従来方法に比べて作業効率の大幅向上が実現でき、
ＩＣの検査工程において大きな効果が得られる。
検査部、収納部の３部によって構成し、検査部に多数の
レールを設けて回転機構を構成することにより、作業者
が直接被検査ＩＣに触れることなく多数のＩＣを検査項
目別に一度に比較対照しながら目視検査することが可能
となり、又供給並びに収納における自動化、大量処理が
可能となり、作業者に対する静電気対策も軽減できるた
め、従来方法に比べて作業効率の大幅向上が実現でき、
ＩＣの検査工程において大きな効果が得られる。
尚、本発明の一実施例として検査部レールの回転機構に
平行うランク機構を用いたが、他にラックとピンオンを
用いた機構によっても同等の効果が得られる。
平行うランク機構を用いたが、他にラックとピンオンを
用いた機構によっても同等の効果が得られる。
第１図は本発明の一実施例であるＩＣ外観検査装置の構
造及びＩＣの流れを示した概略図、第２図はその供給部
のスィーパ−の斜視図、第３図は本発明の一実施例であ
る検査部のレールによる平行うランク機構の側面図、第
４図はそのレール上部の側面図である。 尚、図において、１・・・・・・供給部、２・・・・・
・検査部、３・・・・・・収納部、４・・・・・・被検
査ＩＣｌ３・・・・・・ＩＣ収納トレー、６・・・・・
・出荷用トレー、７・・・・・・スィーパ、−１８・・
・・・・ピン、９・・・・・・スリット、１０・・・・
・・装置本体に固定された連結板、１１・・・・・・駆
動可能な連結板、１２・・・・・・結合ピン、１３・・
・・・・永久磁石、１４・・・・・・レール板、１５・
・・・・・ＩＣのリードである。
造及びＩＣの流れを示した概略図、第２図はその供給部
のスィーパ−の斜視図、第３図は本発明の一実施例であ
る検査部のレールによる平行うランク機構の側面図、第
４図はそのレール上部の側面図である。 尚、図において、１・・・・・・供給部、２・・・・・
・検査部、３・・・・・・収納部、４・・・・・・被検
査ＩＣｌ３・・・・・・ＩＣ収納トレー、６・・・・・
・出荷用トレー、７・・・・・・スィーパ、−１８・・
・・・・ピン、９・・・・・・スリット、１０・・・・
・・装置本体に固定された連結板、１１・・・・・・駆
動可能な連結板、１２・・・・・・結合ピン、１３・・
・・・・永久磁石、１４・・・・・・レール板、１５・
・・・・・ＩＣのリードである。
Claims (1)
- 供給部、検査部、収納部の３部を具備し、該検査部に多
数のレールを有し、一度に多数のＩＣを検査するために
各レールを同時に回転させる機構を備えたことを特徴と
するＩＣ外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13831082A JPS5928353A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Ｉｃ外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13831082A JPS5928353A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Ｉｃ外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5928353A true JPS5928353A (ja) | 1984-02-15 |
Family
ID=15218888
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13831082A Pending JPS5928353A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Ｉｃ外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5928353A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03199281A (ja) * | 1989-12-27 | 1991-08-30 | Sekisui Chem Co Ltd | 粘着剤組成物 |
| KR100318770B1 (ko) * | 2000-02-24 | 2001-12-28 | 장 흥 순 | 반도체 메모리 모듈 검사장치용 메모리 모듈 픽킹장치 |
| US6823752B2 (en) * | 2000-12-28 | 2004-11-30 | Lintec Corporation | Polyhedron inspection feeder and polyhedron inspection apparatus |
-
1982
- 1982-08-09 JP JP13831082A patent/JPS5928353A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03199281A (ja) * | 1989-12-27 | 1991-08-30 | Sekisui Chem Co Ltd | 粘着剤組成物 |
| KR100318770B1 (ko) * | 2000-02-24 | 2001-12-28 | 장 흥 순 | 반도체 메모리 모듈 검사장치용 메모리 모듈 픽킹장치 |
| US6823752B2 (en) * | 2000-12-28 | 2004-11-30 | Lintec Corporation | Polyhedron inspection feeder and polyhedron inspection apparatus |
| US6892593B2 (en) | 2000-12-28 | 2005-05-17 | Lintec Corporation | Polyhedron inspection feeder and polyhedron inspection apparatus |
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