JPS5926073B2 - パタ−ン情報処理装置 - Google Patents
パタ−ン情報処理装置Info
- Publication number
- JPS5926073B2 JPS5926073B2 JP52155420A JP15542077A JPS5926073B2 JP S5926073 B2 JPS5926073 B2 JP S5926073B2 JP 52155420 A JP52155420 A JP 52155420A JP 15542077 A JP15542077 A JP 15542077A JP S5926073 B2 JPS5926073 B2 JP S5926073B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image signal
- information processing
- pattern information
- clock pulse
- pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Image Input (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はパターン情報処理装置に関するものである。
従来、物品の欠陥検査等に於いて、種々のパターン情報
処理方法及び装置が提供されている。
処理方法及び装置が提供されている。
斯る従来の方法に於いては、被検査物のパターン情報を
白黒２値に変換し、被検査物の形状、面積等のデータと
し、このデータを予め設定した基準物の標準パターンの
データと比較して、被検査物の良否を判定している。然
し乍ら、実際の被検査物は、白黒の２値に明確に分かれ
ているものは少なく、或る程度の濃淡度を有するものが
多い。
白黒２値に変換し、被検査物の形状、面積等のデータと
し、このデータを予め設定した基準物の標準パターンの
データと比較して、被検査物の良否を判定している。然
し乍ら、実際の被検査物は、白黒の２値に明確に分かれ
ているものは少なく、或る程度の濃淡度を有するものが
多い。
従つて、上述した如き従来の方法は、複雑なパターンの
物品の検査に使用することは困難であると言う欠点があ
る。従来のパターン情報処理方法に於て、テレビカメラ
等を使用する場合は、通常テレビカメラの一画面を、例
えば５００×５００の画素に分割し、その各々の画素に
投影される被検査物の映像の明暗の度合を、Ａ−Ｄ（ア
ナログ−デジタル）変換器により数値化してデータとし
、このデータをコンピュータ等により処理して、被検査
物の特徴を抽出する方法が多い。
物品の検査に使用することは困難であると言う欠点があ
る。従来のパターン情報処理方法に於て、テレビカメラ
等を使用する場合は、通常テレビカメラの一画面を、例
えば５００×５００の画素に分割し、その各々の画素に
投影される被検査物の映像の明暗の度合を、Ａ−Ｄ（ア
ナログ−デジタル）変換器により数値化してデータとし
、このデータをコンピュータ等により処理して、被検査
物の特徴を抽出する方法が多い。
この場合、データの量が膨大となり、処理時間が長くな
るので、物品の欠陥検査等に於ては、テレビカメラの画
面を画素に分割せず、或る閾値を設定し、テレビカメラ
よりの被検査物の画像信号のうち、例えばこの閾値を越
える部分のみを２値に変換し、この値を計数して、被検
査物の特徴を抽出したり、傷等の欠陥を検出したりする
方法もある。この後者の方法を、第１図Ａ及びＢを参照
して説明する。
るので、物品の欠陥検査等に於ては、テレビカメラの画
面を画素に分割せず、或る閾値を設定し、テレビカメラ
よりの被検査物の画像信号のうち、例えばこの閾値を越
える部分のみを２値に変換し、この値を計数して、被検
査物の特徴を抽出したり、傷等の欠陥を検出したりする
方法もある。この後者の方法を、第１図Ａ及びＢを参照
して説明する。
第１図Ａに関連する方法は、最も簡単な方法で、この場
合、１個の或る閾値５１を設定し、テレビカメラ等より
の被検査物に対応する画像信号５２が、この閾値５１を
越えるか、否かを判別し、物品の検査を行う。この方法
は、複雑なパターンの物品の欠陥を検出するのではなく
、比較的無地に近い素地の物品自体又はその傷等の簡単
な欠陥の検査には、有効であるが、複雑な形状、色等の
物品の検査には、不適である。第１図Ｂに示す従来の他
の方法は、第１図Ａに関して説明した方法よりや＼複雑
なパターンの物品の検査、例えば物品の面積等の計測に
用いられる。
合、１個の或る閾値５１を設定し、テレビカメラ等より
の被検査物に対応する画像信号５２が、この閾値５１を
越えるか、否かを判別し、物品の検査を行う。この方法
は、複雑なパターンの物品の欠陥を検出するのではなく
、比較的無地に近い素地の物品自体又はその傷等の簡単
な欠陥の検査には、有効であるが、複雑な形状、色等の
物品の検査には、不適である。第１図Ｂに示す従来の他
の方法は、第１図Ａに関して説明した方法よりや＼複雑
なパターンの物品の検査、例えば物品の面積等の計測に
用いられる。
この第１図Ｂに示す方法は、第１図Ａに示すよりや＼複
雑な画像信号Ｓ３が、或る閾値Ｓ４を越える部分の長さ
（時間）がどの位あるかを計測するもので、この為、ク
ロツク信号を用い、画像信号Ｓ３の閾値Ｓ４を越える部
分とクロツク信号とのアンドをとり、計測されたクロツ
ク信号の数を以つて、画像信号Ｓ３の閾値Ｓ４を越えた
部分の量を代表させ、画像信号Ｓ３に対応する物品の面
積を算出している。上述した従来の方法は、いづれにし
ても、物品のパターンが複雑になつた場合、それ等の物
品の検査を精確に行うことができないという欠点がある
。
雑な画像信号Ｓ３が、或る閾値Ｓ４を越える部分の長さ
（時間）がどの位あるかを計測するもので、この為、ク
ロツク信号を用い、画像信号Ｓ３の閾値Ｓ４を越える部
分とクロツク信号とのアンドをとり、計測されたクロツ
ク信号の数を以つて、画像信号Ｓ３の閾値Ｓ４を越えた
部分の量を代表させ、画像信号Ｓ３に対応する物品の面
積を算出している。上述した従来の方法は、いづれにし
ても、物品のパターンが複雑になつた場合、それ等の物
品の検査を精確に行うことができないという欠点がある
。
従つて、本発明の主目的は、物品の欠陥検査、パターン
認識等に適用して好適なパターン情報処理装置を提供せ
んとするものである。
認識等に適用して好適なパターン情報処理装置を提供せ
んとするものである。
本発明によるパターン情報処理装置の特徴とするところ
は、物品の画像信号を形成するテレビカメラ等を含むパ
ターン情報処理装置に於いて、該テレビカメラよりの画
像信号の一周期分を複数のグループに分割する手段と、
該分割された一周期分の画像信号の複数のグループの各
々に対して各各異なる値の閾値を作る手段と、上記一周
期分の画像信号の複数のグループの夫々を上記対応する
各々異なる値の閾値で夫々区切る手段と、該手段よりの
区切られた複数の信号の夫々とクロツクパルス発生器よ
りのクロツクパルスとのアンドを取る手段と、該アンド
手段よりの上記複数の信号の夫々に対応するクロツクパ
ルスの数を夫々計数し上記物品のパターンを代表する数
列を作る手段とより成る点に在る。
は、物品の画像信号を形成するテレビカメラ等を含むパ
ターン情報処理装置に於いて、該テレビカメラよりの画
像信号の一周期分を複数のグループに分割する手段と、
該分割された一周期分の画像信号の複数のグループの各
々に対して各各異なる値の閾値を作る手段と、上記一周
期分の画像信号の複数のグループの夫々を上記対応する
各々異なる値の閾値で夫々区切る手段と、該手段よりの
区切られた複数の信号の夫々とクロツクパルス発生器よ
りのクロツクパルスとのアンドを取る手段と、該アンド
手段よりの上記複数の信号の夫々に対応するクロツクパ
ルスの数を夫々計数し上記物品のパターンを代表する数
列を作る手段とより成る点に在る。
以下、上述した特徴を有する本発明によるパターン情報
処理装置の画像信号処理技術の一例を、第２図を参照し
て説明しよう。
処理装置の画像信号処理技術の一例を、第２図を参照し
て説明しよう。
第２図Ａに於て、符号Ｓはテレビカメラで物品を撮像し
た場合の画像信号の波形を示すが、本発明に於ては、同
図に示す如く、一周期の画像信号Ｓを、適当な時間間隔
をもつ連続した複数個、図の例に於ては、５個のグルー
プＡ，ｂ，ｃ，ｄ及びｅに分割し、各グループ内に、夫
々閾値ＴＨａ，ＴＨｂ，ＴＨｃ，ＴＨｄ及びＴＨｅを定
める。尚、図示の例では、各閾値ＴＨａ乃至ＴＨｅは、
レベルが夫々異つているが、同一レベルに選んでも、勿
論よい。こ＼で、各グループａ乃至ｅに於て、画像信号
Ｓがその閾値ＴＨａ乃至ＴＨｅを越える部分を取り出す
と、第２図Ｃに示す如き波形の信号Ｓａ，Ｓｂ，Ｓｃ，
Ｓｄ及びＳｅのグループが夫々得られる。これ等の信号
Ｓａ乃至Ｓｅと、第２図Ｂに示す如き一定周波数のクロ
ツクパルス信号Ｐｃのアンドを取ると、第２図Ｄに示す
如く、クロツクパルスＣａ，Ｃｂ，Ｃｃ，Ｃｄ及びＣｅ
の列が得られる。図示の例では、クロツクパルスＣａ乃
至Ｃｅ内のクロツクパルスＰｃの数は夫々４，７，４，
９及び５である。これ等のクロツクパルス列を、例えば
コンピユータで処理して得られる数列｛４，７，４，９
，５｝を以つて、テレビカメラで撮像された物品の形状
又はパターンを代表せしめる。籾て、テレビカメラ等の
撮像体により撮像される物品が異なれば、テレビカメラ
よりの画像信号も対応して異なり、従つて、この画像信
号を上述の如く処理して得た数列も、”物品に応じて異
る。即ち、各物品の画像信号を上述した如く処理すれば
、各異る物品を異つた数列パターンによつて代表させ得
るものである。例えば、物品認識（パターン認識）に、
上述した本発明を適用する場合を、例に挙げ説明する。
た場合の画像信号の波形を示すが、本発明に於ては、同
図に示す如く、一周期の画像信号Ｓを、適当な時間間隔
をもつ連続した複数個、図の例に於ては、５個のグルー
プＡ，ｂ，ｃ，ｄ及びｅに分割し、各グループ内に、夫
々閾値ＴＨａ，ＴＨｂ，ＴＨｃ，ＴＨｄ及びＴＨｅを定
める。尚、図示の例では、各閾値ＴＨａ乃至ＴＨｅは、
レベルが夫々異つているが、同一レベルに選んでも、勿
論よい。こ＼で、各グループａ乃至ｅに於て、画像信号
Ｓがその閾値ＴＨａ乃至ＴＨｅを越える部分を取り出す
と、第２図Ｃに示す如き波形の信号Ｓａ，Ｓｂ，Ｓｃ，
Ｓｄ及びＳｅのグループが夫々得られる。これ等の信号
Ｓａ乃至Ｓｅと、第２図Ｂに示す如き一定周波数のクロ
ツクパルス信号Ｐｃのアンドを取ると、第２図Ｄに示す
如く、クロツクパルスＣａ，Ｃｂ，Ｃｃ，Ｃｄ及びＣｅ
の列が得られる。図示の例では、クロツクパルスＣａ乃
至Ｃｅ内のクロツクパルスＰｃの数は夫々４，７，４，
９及び５である。これ等のクロツクパルス列を、例えば
コンピユータで処理して得られる数列｛４，７，４，９
，５｝を以つて、テレビカメラで撮像された物品の形状
又はパターンを代表せしめる。籾て、テレビカメラ等の
撮像体により撮像される物品が異なれば、テレビカメラ
よりの画像信号も対応して異なり、従つて、この画像信
号を上述の如く処理して得た数列も、”物品に応じて異
る。即ち、各物品の画像信号を上述した如く処理すれば
、各異る物品を異つた数列パターンによつて代表させ得
るものである。例えば、物品認識（パターン認識）に、
上述した本発明を適用する場合を、例に挙げ説明する。
この場合、基準となる物品をテレビカメラで撮像し、そ
の画像信号を上述の如く処理して、これに対応する数列
を作り、この数列を例えばコンピユータに基準パターン
として記憶させておく。次に、認識されるべき物品を、
テレビカメラで撮映し、同様に、この物品に対応する数
列のパターンを作り、この数列パターンをコンピユータ
で、予め記憶してある基準の数列パターンと比較し、両
者が一致しているか否かを判別し、被認識物品が基準の
物品と同一か否かを判別させればよい。上述した本発明
の画像信号処理技術は、上述の例以外にも、物品の良否
の検査、形状、欠陥の有無の検査、面積の測定等に使用
し得ることは、明らかであろう。
の画像信号を上述の如く処理して、これに対応する数列
を作り、この数列を例えばコンピユータに基準パターン
として記憶させておく。次に、認識されるべき物品を、
テレビカメラで撮映し、同様に、この物品に対応する数
列のパターンを作り、この数列パターンをコンピユータ
で、予め記憶してある基準の数列パターンと比較し、両
者が一致しているか否かを判別し、被認識物品が基準の
物品と同一か否かを判別させればよい。上述した本発明
の画像信号処理技術は、上述の例以外にも、物品の良否
の検査、形状、欠陥の有無の検査、面積の測定等に使用
し得ることは、明らかであろう。
これ等の場合、必要ならば、検査されるべき対称に応じ
て、画像信号Ｓのグループ数を変更し、各グループ内の
閾値の大きさを変更し、必要な数列パターンを形成して
、所望の目的を達成する。上述した本発明によれば、分
割する画像信号の数等を変更して、認識又は検査される
べき物品のパターンに応じた数列を作つているので、複
雑なパターンの物品を、正確に認識又は検査することが
できるものである。
て、画像信号Ｓのグループ数を変更し、各グループ内の
閾値の大きさを変更し、必要な数列パターンを形成して
、所望の目的を達成する。上述した本発明によれば、分
割する画像信号の数等を変更して、認識又は検査される
べき物品のパターンに応じた数列を作つているので、複
雑なパターンの物品を、正確に認識又は検査することが
できるものである。
更に、例えば、第２図Ａに於て、点線ｓ′で示す如く画
像信号が画像信号Ｓと相異している場合、即ち、閾値Ｔ
Ｈａを横切る画像信号の期間は、立上り部分では、画像
信号Ｓ′はＳよりＴ１早く、立下り部分でも、同様にＴ
１早い。
像信号が画像信号Ｓと相異している場合、即ち、閾値Ｔ
Ｈａを横切る画像信号の期間は、立上り部分では、画像
信号Ｓ′はＳよりＴ１早く、立下り部分でも、同様にＴ
１早い。
従つて第２図Ｃの波形Ｓａに於て点線で示す如く、全体
として波形の立上り部分の長さ（時間）に変化はなく、
この結果、第２図のＤの波形Ｃａに於て点線で示す如く
、クロツクパルスの数に変化が生ぜず、数列としては、
画像信号Ｓ及びｓ′は共に同一となり、異る物品に対応
する画像信号Ｓ及びＳ′が、同一と判断される恐れ、即
ち異る物品でも、同一と判断される恐れが生ずる。斯る
場合は、例えば第２図Ｂに示す一定周波数のクロツクパ
ルスＰｃを使用せず、周波数変調したクロツクパルスを
用いる。そうすれば、クロツクパルスの数は、単位時間
内で一定ではなく、時間と共に変化したものとなるので
、上述の始めと終りとの同一時間内Ｔ１でも、クロツク
パルス数は異るので、当然、画像信号Ｓ及びｓ′の数列
は異なる。従つて、上述した如き誤判定の恐れを回避し
得る。尚、この様に、周波数変調したクロツクパルスを
使用すれば、他の画像グループに関しての同様の恐れも
回避し得る効果があることは、明らかであろう。
として波形の立上り部分の長さ（時間）に変化はなく、
この結果、第２図のＤの波形Ｃａに於て点線で示す如く
、クロツクパルスの数に変化が生ぜず、数列としては、
画像信号Ｓ及びｓ′は共に同一となり、異る物品に対応
する画像信号Ｓ及びＳ′が、同一と判断される恐れ、即
ち異る物品でも、同一と判断される恐れが生ずる。斯る
場合は、例えば第２図Ｂに示す一定周波数のクロツクパ
ルスＰｃを使用せず、周波数変調したクロツクパルスを
用いる。そうすれば、クロツクパルスの数は、単位時間
内で一定ではなく、時間と共に変化したものとなるので
、上述の始めと終りとの同一時間内Ｔ１でも、クロツク
パルス数は異るので、当然、画像信号Ｓ及びｓ′の数列
は異なる。従つて、上述した如き誤判定の恐れを回避し
得る。尚、この様に、周波数変調したクロツクパルスを
使用すれば、他の画像グループに関しての同様の恐れも
回避し得る効果があることは、明らかであろう。
次に、第３図を参照して、上述した本発明によるパター
ン情報処理装置の一例を説明しよう。
ン情報処理装置の一例を説明しよう。
同図に於て、Ｔは例えばテレビカメラの如き撮像体で、
これにより例えば基準物としての物品（図示せず）を撮
像すると、第２図Ａに示した如き画像信号Ｓが得られる
。この画像信号Ｓを、演算増巾器の如き増巾器１を介し
てローパスフイルタ２に供給し、画像信号Ｓより不要な
雑音成分を除去した信号ｓ／″を得る。この信号ｓ′″
を、レベルコンパレータ３の一方の入力端子に供給する
と共に、その他方の入力端子に、閾値設定回路ＴＨより
の設定閾値信号を供給し、閾値を越えた画像信号の部分
のみをこのレベルコンパレータ３より取り出す。この場
合、閾値設定回路ＴＨを後述の如く構成し、動作させ、
それよりの設定閾値が画像信号Ｓの一周期内で、例えば
第２図Ａに示す如く、時間に応じて、ＴＨａ・・・・・
・ＴＨｅと変化する如くなし、レベルコンパレータ３よ
り、第２図Ｃに示す信号Ｓａ・・・・・・Ｓｅを得る。
尚、これ等の信号Ｓａ・・・・・・Ｓｅの立上り及び立
下り特性を改善するため、レベルコンパレータ３の出力
を、シユミツトトリガ４に供給する。このシユミツトト
リガ４よりの第２図Ｃに示す信号Ｓａ・・・・・・Ｓｅ
と、クロツクパルス発生器５よりのクロツクパルスＰｃ
とを、アンド回路６に供給し、これより第２図Ｄに示す
如きクロツクパルスのグループＣａ・・・・・・Ｃｅを
得、これ等をカウンタ７に供給して計数する。一方、ク
ロツクパルス発生器５よりのクロツクパルスＰｃを、カ
ウンタ８にも供給する。このカウンタ８は、例えば第２
図Ａに示すグループａ−ｅの時間間隔に対応したクロツ
クパルスＰｃを計数する毎に、出力８ａ，８ｂ，８ｃ，
８ｄ及び８ｅを発生し、これ等の出力８ａ・・・・・・
８ｅを、順次アナログスイツチ９１，９２，９３，９４
及び９５に夫々供給する。すると、これ等のアナログス
イツチ９１〜９５は、順次、電圧源Ｂよりの電圧よりポ
テンシヨメータＰｌ，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４及びＰ，を介し
て、夫々、第２図Ａに示す如き閾値ＴＨａ・・・・・・
ＴＨｅを発生し、これが順次レベルコンパレータ３に供
給され、これより上述した第２図Ｃに示す如き信号が得
られる。カウンタ７の第２図Ｄに示す如き計数結果Ｃａ
・・・・・・Ｃｅを、データ保持用のνジスタ１０１，
１０２，１０３，１０４及び１０５に供給する。この場
合、カウンタ８の出力８ａ・・・・・・８ｅを、レジス
タ１０１・・・・・・１０５に夫々供給し、区分又はグ
ループａ・・・・・・ｅに対応するカウンタ７の計数結
果Ｃａ・・・・・・Ｃｅが、対応するレジスタ１０１・
・・・・・１０５に夫々保持されるようになす。尚、共
通のカウンタ７による計数を、第２図Ａに示したグルー
プ毎に行うため、カウンタ８の出力８ａ・・・・・・８
ｅをオア回路１１に供給し、その出力をカウンタ７に供
給し、カウンタ７を各グループａ−ｅ毎にクリアし、り
セツトする。籾て、上述の如くカウンタ７により計数さ
れ、その結果がレジスタ１０１・・・・・・１０，に保
持されているが、この各レジスタ１０１・・・・・１０
５に保持された内容（数列）・を、通常の如く、コンピ
ユータ１２で、周知の如く処理して上述の本発明による
画像信号処理技術を実施する。
これにより例えば基準物としての物品（図示せず）を撮
像すると、第２図Ａに示した如き画像信号Ｓが得られる
。この画像信号Ｓを、演算増巾器の如き増巾器１を介し
てローパスフイルタ２に供給し、画像信号Ｓより不要な
雑音成分を除去した信号ｓ／″を得る。この信号ｓ′″
を、レベルコンパレータ３の一方の入力端子に供給する
と共に、その他方の入力端子に、閾値設定回路ＴＨより
の設定閾値信号を供給し、閾値を越えた画像信号の部分
のみをこのレベルコンパレータ３より取り出す。この場
合、閾値設定回路ＴＨを後述の如く構成し、動作させ、
それよりの設定閾値が画像信号Ｓの一周期内で、例えば
第２図Ａに示す如く、時間に応じて、ＴＨａ・・・・・
・ＴＨｅと変化する如くなし、レベルコンパレータ３よ
り、第２図Ｃに示す信号Ｓａ・・・・・・Ｓｅを得る。
尚、これ等の信号Ｓａ・・・・・・Ｓｅの立上り及び立
下り特性を改善するため、レベルコンパレータ３の出力
を、シユミツトトリガ４に供給する。このシユミツトト
リガ４よりの第２図Ｃに示す信号Ｓａ・・・・・・Ｓｅ
と、クロツクパルス発生器５よりのクロツクパルスＰｃ
とを、アンド回路６に供給し、これより第２図Ｄに示す
如きクロツクパルスのグループＣａ・・・・・・Ｃｅを
得、これ等をカウンタ７に供給して計数する。一方、ク
ロツクパルス発生器５よりのクロツクパルスＰｃを、カ
ウンタ８にも供給する。このカウンタ８は、例えば第２
図Ａに示すグループａ−ｅの時間間隔に対応したクロツ
クパルスＰｃを計数する毎に、出力８ａ，８ｂ，８ｃ，
８ｄ及び８ｅを発生し、これ等の出力８ａ・・・・・・
８ｅを、順次アナログスイツチ９１，９２，９３，９４
及び９５に夫々供給する。すると、これ等のアナログス
イツチ９１〜９５は、順次、電圧源Ｂよりの電圧よりポ
テンシヨメータＰｌ，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４及びＰ，を介し
て、夫々、第２図Ａに示す如き閾値ＴＨａ・・・・・・
ＴＨｅを発生し、これが順次レベルコンパレータ３に供
給され、これより上述した第２図Ｃに示す如き信号が得
られる。カウンタ７の第２図Ｄに示す如き計数結果Ｃａ
・・・・・・Ｃｅを、データ保持用のνジスタ１０１，
１０２，１０３，１０４及び１０５に供給する。この場
合、カウンタ８の出力８ａ・・・・・・８ｅを、レジス
タ１０１・・・・・・１０５に夫々供給し、区分又はグ
ループａ・・・・・・ｅに対応するカウンタ７の計数結
果Ｃａ・・・・・・Ｃｅが、対応するレジスタ１０１・
・・・・・１０５に夫々保持されるようになす。尚、共
通のカウンタ７による計数を、第２図Ａに示したグルー
プ毎に行うため、カウンタ８の出力８ａ・・・・・・８
ｅをオア回路１１に供給し、その出力をカウンタ７に供
給し、カウンタ７を各グループａ−ｅ毎にクリアし、り
セツトする。籾て、上述の如くカウンタ７により計数さ
れ、その結果がレジスタ１０１・・・・・・１０，に保
持されているが、この各レジスタ１０１・・・・・１０
５に保持された内容（数列）・を、通常の如く、コンピ
ユータ１２で、周知の如く処理して上述の本発明による
画像信号処理技術を実施する。
例えば、本発明の上述した装置を、物品の認識（パター
ン認識）に適用する場合に就き、説明する。
ン認識）に適用する場合に就き、説明する。
先づ基準占なる物体をテレビカメラＴで撮像し、その画
像信号を上述の如く処理して数列パターンを、レジスタ
１０，・・・・・・１０５より、コンピユータ１２に、
基準の数列パターンとして記憶させる。次に、被認識物
品をテレビカメラＴで撮像し、それよりの画像信号を同
様に処理して数列パターンを作り、この数列パターンを
コンピユータ１２に送り、そこで基準の数列パターンと
比較すれば、被認識物品が基準物体と同一か、否かを判
定し得るものである。尚、上述した数列パターンをコン
ピユータで処理する技術は、斯る検査装置では周知の技
術であるので、その詳細説明は、これを省略する。
像信号を上述の如く処理して数列パターンを、レジスタ
１０，・・・・・・１０５より、コンピユータ１２に、
基準の数列パターンとして記憶させる。次に、被認識物
品をテレビカメラＴで撮像し、それよりの画像信号を同
様に処理して数列パターンを作り、この数列パターンを
コンピユータ１２に送り、そこで基準の数列パターンと
比較すれば、被認識物品が基準物体と同一か、否かを判
定し得るものである。尚、上述した数列パターンをコン
ピユータで処理する技術は、斯る検査装置では周知の技
術であるので、その詳細説明は、これを省略する。
尚、第３図に於て、１３は変調器で、これによりクロツ
クパルス発生器５を制御し、上述した周波数変調したク
ロツクパルスを得て、後者の方法を実施するものである
。第３図に示す例は、画像信号を５個のグループに分割
した場合に対応して、閾値を５個設定し、レジスタを５
個設け、カウンタ８の出力を５個としたが、これ等の数
は、画像信号の分割グループの数の増減に応じ、任意に
増減し得ることは、明らかであろう。
クパルス発生器５を制御し、上述した周波数変調したク
ロツクパルスを得て、後者の方法を実施するものである
。第３図に示す例は、画像信号を５個のグループに分割
した場合に対応して、閾値を５個設定し、レジスタを５
個設け、カウンタ８の出力を５個としたが、これ等の数
は、画像信号の分割グループの数の増減に応じ、任意に
増減し得ることは、明らかであろう。
上述した本発明の実施例に基づき、多くの変化変更が当
該業者により達成され得ることは明らかであろう。
該業者により達成され得ることは明らかであろう。
第１図Ａ及びＢは夫々従来の情報処理方法の説明に供す
る波形図、第２図Ａ乃至Ｄは本発明のパターン情報処理
方法の一例の説明に供する波形図、第３図は本発明のパ
ターン情報処理装置の一例を示す系統図である。 図に於て、Ｓ及びＳ′は画像信号、Ｐｃはクロツクパル
ス、ａ乃至ｅは分割した画像のグループ、Ｔはテレビカ
メラ、１は増巾器、２はローパスフイルタ、３はレベル
コンパレータ、４はシユミツトトリガ、５はクロツクパ
ルス発生器、６はアンド回路、７及び８はカウンタ、Ｔ
Ｈは閾値設定回路、９１・・・・・・９５はアナログス
イツチ、Ｐ１・・・・・・Ｐ５はポテンシヨメータ、１
０１・・・・・・１０５はレジスタ、１１はオア回路、
１２はコンピユータ、１３は変調器、Ｂは電圧源を夫々
示す。
る波形図、第２図Ａ乃至Ｄは本発明のパターン情報処理
方法の一例の説明に供する波形図、第３図は本発明のパ
ターン情報処理装置の一例を示す系統図である。 図に於て、Ｓ及びＳ′は画像信号、Ｐｃはクロツクパル
ス、ａ乃至ｅは分割した画像のグループ、Ｔはテレビカ
メラ、１は増巾器、２はローパスフイルタ、３はレベル
コンパレータ、４はシユミツトトリガ、５はクロツクパ
ルス発生器、６はアンド回路、７及び８はカウンタ、Ｔ
Ｈは閾値設定回路、９１・・・・・・９５はアナログス
イツチ、Ｐ１・・・・・・Ｐ５はポテンシヨメータ、１
０１・・・・・・１０５はレジスタ、１１はオア回路、
１２はコンピユータ、１３は変調器、Ｂは電圧源を夫々
示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 物品の画像信号を形成するテレビカメラ等を含むパ
ターン情報処理装置に於いて、該テレビカメラよりの画
像信号の一周期分を複数のグループに分割する手段と、
該分割された一周期分の画像信号の複数のグループの各
々に対して各々異なる値の閾値を作る手段と、上記一周
期分の画像信号の複数のグループの夫々を上記対応する
各々異なる値の閾値で夫々区切る手段と、該手段よりの
区切られた複数の信号の夫々とクロックパルス発生器よ
りのクロックパルスとのアンドを取る手段と、該アンド
手段よりの上記複数の信号の夫々に対応するクロックパ
ルスの数を夫々計数し上記物品のパターンを代表する数
列を作る手段とより成ることを特徴とするパターン情報
処理装置。 ２ 上記特許請求の範囲第１項記載の装置に於いて、上
記クロックパルス発生手段は周波数変調手段を具備し、
上記クロックパルスを周波数変調することを特徴とする
パターン情報処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52155420A JPS5926073B2 (ja) | 1977-12-23 | 1977-12-23 | パタ−ン情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52155420A JPS5926073B2 (ja) | 1977-12-23 | 1977-12-23 | パタ−ン情報処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5487435A JPS5487435A (en) | 1979-07-11 |
| JPS5926073B2 true JPS5926073B2 (ja) | 1984-06-23 |
Family
ID=15605600
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52155420A Expired JPS5926073B2 (ja) | 1977-12-23 | 1977-12-23 | パタ−ン情報処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5926073B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0314431Y2 (ja) * | 1983-11-21 | 1991-03-29 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5814705B2 (ja) * | 1978-12-07 | 1983-03-22 | 株式会社東芝 | 印刷物検査装置 |
| JPS6231490A (ja) * | 1985-08-02 | 1987-02-10 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | パタ−ン認識方式 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS509653A (ja) * | 1973-05-28 | 1975-01-31 | ||
| JPS50114932A (ja) * | 1974-02-19 | 1975-09-09 | ||
| JPS50125642A (ja) * | 1974-03-20 | 1975-10-02 | ||
| JPS516597A (en) * | 1974-07-05 | 1976-01-20 | Laurel Bank Machine Co | Shiheiruino hanbetsusochi |
-
1977
- 1977-12-23 JP JP52155420A patent/JPS5926073B2/ja not_active Expired
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS509653A (ja) * | 1973-05-28 | 1975-01-31 | ||
| JPS50114932A (ja) * | 1974-02-19 | 1975-09-09 | ||
| JPS50125642A (ja) * | 1974-03-20 | 1975-10-02 | ||
| JPS516597A (en) * | 1974-07-05 | 1976-01-20 | Laurel Bank Machine Co | Shiheiruino hanbetsusochi |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0314431Y2 (ja) * | 1983-11-21 | 1991-03-29 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5487435A (en) | 1979-07-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0135295B2 (ja) | ||
| JP2811909B2 (ja) | 画像処理装置 | |
| JPS5926073B2 (ja) | パタ−ン情報処理装置 | |
| US4240107A (en) | Apparatus and method for pattern information processing | |
| JP2710527B2 (ja) | 周期性パターンの検査装置 | |
| JPH0620054A (ja) | パターンデータ決定方法及び装置 | |
| JP2635758B2 (ja) | 欠陥判別装置 | |
| JPS5926074B2 (ja) | パタ−ン情報の処理装置 | |
| JP2638121B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JPS6126189A (ja) | エツジ抽出方法 | |
| JP2715897B2 (ja) | Ｉｃの異物検査装置及び方法 | |
| JPH0687264B2 (ja) | 画像の２値化方式 | |
| JPH0318727A (ja) | 振動モード計測分析装置とその分析方法 | |
| JPS6055474A (ja) | 画像間差異検出装置 | |
| JP2634064B2 (ja) | ２値化装置 | |
| JPH0645845Y2 (ja) | 表面平滑度自動検査装置 | |
| JPS58153328A (ja) | イメ−ジセンサの受光感度不均一補正方式 | |
| JPH0543265B2 (ja) | ||
| JP2557887B2 (ja) | 車両の速度測定装置 | |
| JPH03128412A (ja) | 自動選別装置 | |
| JPS63181521A (ja) | 画像処理のための浮動２値化方法 | |
| JP2721199B2 (ja) | 傷検知装置 | |
| JP2687588B2 (ja) | 光学的検出方法およびその装置 | |
| JP2848070B2 (ja) | 画像表示管のリンギング検査方法および装置 | |
| JPH0376406B2 (ja) |