JPS5926072A - 高精度位相差計測装置 - Google Patents
高精度位相差計測装置Info
- Publication number
- JPS5926072A JPS5926072A JP13651482A JP13651482A JPS5926072A JP S5926072 A JPS5926072 A JP S5926072A JP 13651482 A JP13651482 A JP 13651482A JP 13651482 A JP13651482 A JP 13651482A JP S5926072 A JPS5926072 A JP S5926072A
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- Japan
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- time
- leading edge
- signal
- phase difference
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- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F02—COMBUSTION ENGINES; HOT-GAS OR COMBUSTION-PRODUCT ENGINE PLANTS
- F02B—INTERNAL-COMBUSTION PISTON ENGINES; COMBUSTION ENGINES IN GENERAL
- F02B75/00—Other engines
- F02B75/02—Engines characterised by their cycles, e.g. six-stroke
- F02B2075/022—Engines characterised by their cycles, e.g. six-stroke having less than six strokes per cycle
- F02B2075/025—Engines characterised by their cycles, e.g. six-stroke having less than six strokes per cycle two
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Phase Differences (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、位相差計測装置に関し、詳しくは、基準位相
信号と被計測信号を入力し両信号の位相差を計測する装
置において、回路の温度ドリフトあるいは遅延変動等に
影響されずに精度よく位相差の計測ができる高精度位相
差計測装置に関するものである。
信号と被計測信号を入力し両信号の位相差を計測する装
置において、回路の温度ドリフトあるいは遅延変動等に
影響されずに精度よく位相差の計測ができる高精度位相
差計測装置に関するものである。
従来、基準位相信号と被計測信号との位相差を計測する
方法としてｆＲｌｌ、ｇＪに示すような装置が用いられ
ている。第１図において、１ａｘｌ’ｂは立上υ検出器
、２はフリップフロップ、３はフィルタである。＠２図
に従来装置のタイムチャートを示す。
方法としてｆＲｌｌ、ｇＪに示すような装置が用いられ
ている。第１図において、１ａｘｌ’ｂは立上υ検出器
、２はフリップフロップ、３はフィルタである。＠２図
に従来装置のタイムチャートを示す。
７リツプ７０ツブ２は、第２図のタイムチャートのよう
に、基準位相信号の立上υでセントされ、被計測信号の
立上υでリセットされる。これによシ発生されたフリッ
プフロップ２の出力波形は、両信号の位相差によりデユ
ーティが変化する矩形波となる。フィルタ３は、この波
形を平均化し、位相差に対応した直流レベルを出力する
。
に、基準位相信号の立上υでセントされ、被計測信号の
立上υでリセットされる。これによシ発生されたフリッ
プフロップ２の出力波形は、両信号の位相差によりデユ
ーティが変化する矩形波となる。フィルタ３は、この波
形を平均化し、位相差に対応した直流レベルを出力する
。
１．２かるに、このような装置では、次のような欠点が
あった。
あった。
■、フリップフロップの出力波形のレベル変動あるいは
スイッチング時に発生する非対称なオーバーシュート等
が計測値の誤差となる。
スイッチング時に発生する非対称なオーバーシュート等
が計測値の誤差となる。
■、位相差０付近で、フリップフロップ出力波形がクリ
ティカルになるために誤差が増大する。
ティカルになるために誤差が増大する。
■、基準位相信号の周波数が低いときには、フィルタ平
滑化の影１響により計測レスポンスが非常に低くなる。
滑化の影１響により計測レスポンスが非常に低くなる。
■、数回の位相差の平均値を計測しているので計測位相
差が変化してい不場合には、計測値の時間対応が取りに
くり。
差が変化してい不場合には、計測値の時間対応が取りに
くり。
本発明はこれらの欠点を除去することをその目的とし、
矩形波のデユーティ変化を位相差に対応させる方法をと
らずに、一定傾斜波形を利用して位相差を計測すること
を特徴としている。又、単に基準位相信号と被計測信号
の位相差をｎ［測するのではなく、両信号の立上υの時
間差と基準位相信号の周期との比により位相差を計算す
る方法をとっている。
矩形波のデユーティ変化を位相差に対応させる方法をと
らずに、一定傾斜波形を利用して位相差を計測すること
を特徴としている。又、単に基準位相信号と被計測信号
の位相差をｎ［測するのではなく、両信号の立上υの時
間差と基準位相信号の周期との比により位相差を計算す
る方法をとっている。
即ち、本発明によれば、基準位相信号の立上りと被６１
１１定信号の２番目のパルスの立上りを検出してその時
間差を一定傾斜波形により計測保持すると共に前記基準
位相信号の立上りを検出してその１周期分の時間と２周
期分の時間をそれぞれ一定傾斜波形により計測保持する
手段と、該手段によシ引測保持された数値を用いて＠記
基準位相信号と被計測信号の６１相差を計算する手段と
、前記各手段の一連の動作を制御する手段とを含むこと
を特徴とする高精度位相差計測装置、が得られる。
１１定信号の２番目のパルスの立上りを検出してその時
間差を一定傾斜波形により計測保持すると共に前記基準
位相信号の立上りを検出してその１周期分の時間と２周
期分の時間をそれぞれ一定傾斜波形により計測保持する
手段と、該手段によシ引測保持された数値を用いて＠記
基準位相信号と被計測信号の６１相差を計算する手段と
、前記各手段の一連の動作を制御する手段とを含むこと
を特徴とする高精度位相差計測装置、が得られる。
以下、本発明をその良好な一実施例について図面を参照
しながら詳細に説明する。
しながら詳細に説明する。
第３図は本発明の一実施例を示すブロック構成図である
。図において、参照番号１ａ、ｌｂは例えば微分回路に
よって構成された立上り検出器、４は例えば積分回路に
よって構成された一定傾斜波形発生器、５はに勺コンバ
ータ、６はディジタル計算機、７は例えばフリップフロ
ップ等を含む回路により構成される計測制限器をそれぞ
れ示す。
。図において、参照番号１ａ、ｌｂは例えば微分回路に
よって構成された立上り検出器、４は例えば積分回路に
よって構成された一定傾斜波形発生器、５はに勺コンバ
ータ、６はディジタル計算機、７は例えばフリップフロ
ップ等を含む回路により構成される計測制限器をそれぞ
れ示す。
第４図は本発明の一実施例のタイムチャートである。以
下に、これらの動作について説明する。
下に、これらの動作について説明する。
位相差計測の要求が剖測制限器７に入力されると、立上
り検出器１ａで基準位相信号の立上りを検出し、この基
準位相信号の立上りを検出した時から被計測信号の一つ
置いて次の２番目のパルスの立上υを立上シ検出器１ｂ
によυ検出するまでの時間を第４図に示されたタイムチ
ャートのようにａとする。更に、基準位相信号について
、立上りから次の立上シまでの時間をｂ１立上りから一
つ誼いて次の立上りまでの時間をＣとする。この時、基
準位相信号と被計測信号との位相差グは、−ｂ ｇ（ｒａｃｐ ＝ ｘ ２ｒｒ 、−−−−−−
一−−−−−−−−−−−−−−−（１）により計算さ
れる。
り検出器１ａで基準位相信号の立上りを検出し、この基
準位相信号の立上りを検出した時から被計測信号の一つ
置いて次の２番目のパルスの立上υを立上シ検出器１ｂ
によυ検出するまでの時間を第４図に示されたタイムチ
ャートのようにａとする。更に、基準位相信号について
、立上りから次の立上シまでの時間をｂ１立上りから一
つ誼いて次の立上りまでの時間をＣとする。この時、基
準位相信号と被計測信号との位相差グは、−ｂ ｇ（ｒａｃｐ ＝ ｘ ２ｒｒ 、−−−−−−
一−−−−−−−−−−−−−−−（１）により計算さ
れる。
本発明では、時間ａｚｂＸ Ｑを一定傾斜波形の波高値
に変換することにより順次計測している。
に変換することにより順次計測している。
即ち、一定傾斜波形発生器４においてその出力が時間ａ
ｓｂ１ ｃでそれぞれＯからいくつまで上昇したかを順
次計測し、その値をＡ／Ｄコンバータ５によυディジタ
ル値に変換し、ディジタル計算機６に保持する。一定頌
斜波形の傾きをｋ （正の定数）とすると、ａｚｂＸＣ
はそれぞれｋａ 、ｋｂ 、ｋｃに変換されるはずであ
るが、一定傾斜波形発生器４の温度ドリフトや立上り検
出時の遅延による誤差とが加わり実際にはそれぞれｋａ
＋ε、ｋｂ＋ε、ｋＣ＋８として計測される。しかして
、計測された値は前記ノ如く順次Ａ／Ｄコンバータ５で
Ａ／Ｄ変換され、ディジタル計算機６にディジクル値と
して保持される。
ｓｂ１ ｃでそれぞれＯからいくつまで上昇したかを順
次計測し、その値をＡ／Ｄコンバータ５によυディジタ
ル値に変換し、ディジタル計算機６に保持する。一定頌
斜波形の傾きをｋ （正の定数）とすると、ａｚｂＸＣ
はそれぞれｋａ 、ｋｂ 、ｋｃに変換されるはずであ
るが、一定傾斜波形発生器４の温度ドリフトや立上り検
出時の遅延による誤差とが加わり実際にはそれぞれｋａ
＋ε、ｋｂ＋ε、ｋＣ＋８として計測される。しかして
、計測された値は前記ノ如く順次Ａ／Ｄコンバータ５で
Ａ／Ｄ変換され、ディジタル計算機６にディジクル値と
して保持される。
さて
であるから、（１）式、（２）式よシ、であシ、（３）
式をディジタル計算様６でｎ１算すれ（−１、温度ドリ
フトあるいは遅延によるＢ１差に影響されることなく位
相〆を求めることができる。
式をディジタル計算様６でｎ１算すれ（−１、温度ドリ
フトあるいは遅延によるＢ１差に影響されることなく位
相〆を求めることができる。
以上説明したように、本発明に係る装置は一定傾斜波形
により計測した数値によってイ、γ’ａ ’ＣＪＪＳ’
＋ＪｌＩＪ言４算している為に、回路の温度ドリフトあ
るいは遅延による誤差がキャンセルされる。更（て、）
ｒ上り検出器に高速のロジックを用いれば、高才冑度の
位相差計測が可能でちる。
により計測した数値によってイ、γ’ａ ’ＣＪＪＳ’
＋ＪｌＩＪ言４算している為に、回路の温度ドリフトあ
るいは遅延による誤差がキャンセルされる。更（て、）
ｒ上り検出器に高速のロジックを用いれば、高才冑度の
位相差計測が可能でちる。
本発明においては、従来における如く、フリップフロッ
プの出力波形をそのまオフイルタで平？ｂ化する必要が
ないので従来装置の前記欠点Ｑ）、■の誤差は関係なく
なる。
プの出力波形をそのまオフイルタで平？ｂ化する必要が
ないので従来装置の前記欠点Ｑ）、■の誤差は関係なく
なる。
位相０付近においても、第４図において時ｊｉ４１ ａ
の値が時間すの値に近ずくだけで、従来装置の前記欠点
■のようにクリティカルになることはない。
の値が時間すの値に近ずくだけで、従来装置の前記欠点
■のようにクリティカルになることはない。
計測要求があった時点における位相差を計測しているた
めに、任意のタイミングにおいて位相差を計測すること
ができ、従来装置のｆｃＪ記欠点■も解決される。
めに、任意のタイミングにおいて位相差を計測すること
ができ、従来装置のｆｃＪ記欠点■も解決される。
第１図は従来装置のブロック図、第２図は従来装置のタ
イムチャート、第３図は本発明に係る装置の一実施例を
示すブロンク構成図、第４図は本発明に係る装置の一実
施例のタイムチャートである。 ｌａ Ｎ １ｂ＊、ｓ立上り検出器、２０６．スリップ
フロップ、３００．フィルタ、４．、、一定傾斜波形発
生器、５．、、Ａ／Ｄコンバータ、６１０．ディジタル
！を算機、７００．計辿］制御器 特許出願人 日本電気株式会社
イムチャート、第３図は本発明に係る装置の一実施例を
示すブロンク構成図、第４図は本発明に係る装置の一実
施例のタイムチャートである。 ｌａ Ｎ １ｂ＊、ｓ立上り検出器、２０６．スリップ
フロップ、３００．フィルタ、４．、、一定傾斜波形発
生器、５．、、Ａ／Ｄコンバータ、６１０．ディジタル
！を算機、７００．計辿］制御器 特許出願人 日本電気株式会社
Claims (1)
- 基準位相信号の立上υど、被測定信号の２番目のパルス
の立上υを検、出してその時間差を一定傾斜波形によυ
計測保持すると共に前記基準位相信号の立上υを検出し
てその１周期分の時間と２周期分の時間をそれぞれ一定
傾斜波形によシ計測保持する手段と、該手段によシ計測
保持された数値を用いて前記基準位相信号と被計測信号
の位相差を計算する」段と、前記各手段の一連の動作を
制御する手段とを含むことを特徴とする高精度位相差計
測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13651482A JPS5926072A (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | 高精度位相差計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13651482A JPS5926072A (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | 高精度位相差計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5926072A true JPS5926072A (ja) | 1984-02-10 |
Family
ID=15176948
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13651482A Pending JPS5926072A (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | 高精度位相差計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5926072A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102439465A (zh) * | 2011-08-19 | 2012-05-02 | 华为技术有限公司 | 一种信号时序的测试方法及装置 |
-
1982
- 1982-08-04 JP JP13651482A patent/JPS5926072A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102439465A (zh) * | 2011-08-19 | 2012-05-02 | 华为技术有限公司 | 一种信号时序的测试方法及装置 |
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