JPS5925736A - セクタ電子走査形超音波診断装置 - Google Patents

セクタ電子走査形超音波診断装置

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JPS5925736A
JPS5925736A JP57133992A JP13399282A JPS5925736A JP S5925736 A JPS5925736 A JP S5925736A JP 57133992 A JP57133992 A JP 57133992A JP 13399282 A JP13399282 A JP 13399282A JP S5925736 A JPS5925736 A JP S5925736A
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JP
Japan
Prior art keywords
deflection angle
electronic scanning
ultrasonic diagnostic
sector
diagnostic apparatus
Prior art date
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Granted
Application number
JP57133992A
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English (en)
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JPH0333331B2 (ja
Inventor
敏行 松中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
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Publication of JPS5925736A publication Critical patent/JPS5925736A/ja
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はセクタ電子走査形超音波診断装置に関する。
従来のセクタ電子走査形超音波診断装置で使用されるア
レイ・トランスジューサの指向性は、偏向角が大きくな
るに従って劣化する。すなわち、超音波ビーム幅の増大
と共に、超音波ビームの振幅も減少する。ビーム幅の増
大は分解能の低下をきたし、ビーム振幅の減少は画像の
S/Nを劣化させる、という2つの問題をかかえていた
本発明の目的は、偏向角が大きくなっても、分解能及び
S/Nの劣化が防止できる、セクタ電子走査形超音波診
断装置を提供することである。この目的は、セクタ用ア
レイ・トランスジューサ(フェイズト・アレイ・トラン
スジューサ)を構成している一素子の指向性特性より、
各エレメントを励振する電圧あるいは各エレメントのプ
リアンプ増幅度を計算により決定し、この計算値を重み
付け量として記憶される記憶装置を具有して、該重み付
け量が、超音波ビームの送受波の切換と同時に読み出さ
れることにより達成される。ここで得られる重み付けは
非対称分布である。
次に、図面について、本発明の性質及び実施例を説明す
る。
第1図は、従来のセクタ形電子査形超音波診断装置にお
けるフェイズト・アレイ・トランスジューサの指向性特
性の一例を示す。この図から明らかなように、偏向角が
増大すると、超音波ビームの半値幅(振幅が1/2にな
るときのビ−ム幅)は広くなると共に、ビーム振幅も減
少している。これは、アレイ・トランスジューサを構成
している素子の指向性が充分幅広(Broad)でない
ことによるもので、これは同一支持台上に配列されてい
る素子間の電気的及び機械的結合に起因している。第2
図は、フェイズト・アレイ・トランスジューサの一素子
の指向性を示す。なお、点線は素子の中心周波数と素子
幅のみによって決まる理想状態の理論値である。第2図
に示すように、一素子の指向性は、充分幅広でない。こ
のために偏向角が増大すると、総合の指向特性か劣化す
ることになる。
本発明は、この一素子の指向特性の各角度に対応する振
幅に基いて求められた非対称重み付け量によって、アレ
イ・トランスジューサの各素子の励振電圧を変化させる
か、あるいは各素子のプリアンプ増幅度を同様に制御し
、又は両者全同様な方法により制御することからなる。
勿論、この重み付け量には、ビーム振幅の減少の補償量
も含まれている。従来の技術として、受信系において各
素子の出力を合成した後で、偏向角増大による振幅の低
下を補償する方法が使われている。この方法は、振幅の
補償はできても、ビーム特性の改善はなされない。また
、従来行なわれていた重み付け法は、ドルクチェビシエ
フ分布なとのように、全て重み付け量が対称分布であっ
た。なお、前述したように、アレイ・トランスジューサ
の素子の指向性を第2図に点線により示す理想状態にす
ることは不可能である。同一の支持台に素子を隣接して
配置しなければならないので、電気的及び機械的結合を
完全にとり除くことはできないためである。
本発明による各エレメントに対するパルサ励振電圧及ぶ
プリアンプ増幅度の各重み付け制御における重み付けは
、第4図について説明される。Nはアレイ・トランスジ
ューサのエレメント総数、Aはその中点であって、超音
波ビームの中心である。長さAOの焦点距離Rf(電子
集束を行なうため)、またθ0は超音波ビームの偏向角
、θ1,θ2θi,θN−1,θNは偏向角θ0の場合
、各エレメントが、該エレメントの中心軸と該エレメン
トの中心とから焦点Oを結ぶ直線となす中心角である。
これらの中心角は、偏向角θ0、エレメント総数N、エ
レメント・ピッチP及び焦点距離Rfが決まると、計算
によって求められ、θi=f(θ0,N,P,Rf)と
なる。従って、任意の偏向角θ0に対して、N個のθi
が求められ、このθiに対して、第2図よりピーク値に
対する比が決定される。この比とあらかじめ定めた分布
関数より重み付け量が得られる。
第3図は本発明の一実施例を示したブロック線図である
。10はアレイ・トランスジューザ、12はパルサーP
.S.、14はプリアンプP.A.、16は切換えスイ
ッチSW、18は遅延回路、20は合成回路、22は超
音波ビームの送受波制御回路、24は重み付け量の記憶
装置である。この図示例により、プリアンプ(P.A.
)14の増幅度を重み付け量に従って変化させればよい
。増幅度と共にパルサー12(P.S.)の電圧を変化
させてもよい。または、パルサー電圧のみを変化させて
もよい。実施の際に、偏向角の数、すなわち走査線数の
数(左半分だけでよい)に対応して、中心角θiを求め
、それに対応する重み付け量を第2図より決定しなけれ
ばならないことになり、装置の構成が極めて複雑になる
。そこで、ある角度θω以上の偏向角θ0に限定し、最
大偏向角θmaxとすると、θω<θ0<θmaxであ
るから、この偏向角θ0の領域を5〜4等分し、その中
心角θiに対応する各エレメントの重み付け量を第2図
により決定する。それぞれの領域の中心角に対して各エ
レメントの重み付け量を記憶装置24、例えばROMメ
モリに記憶させておいて、超音波ビームの送受波制御の
際に、パルサー電圧あるいはプリアンプ増幅度を制御す
るように構成する。
【図面の簡単な説明】
第1図はフェイズト・アレイ・トランスジュサの指向性
特性図、第2図は一素子の指向性特性図、第3図は本発
明の一実施例を示した概略ブロック図、第4図は中心角
の説明図である。 10はアレイ・トランスジューサ、12はパルサー、1
4はプリアンプ、16は切換えスイッチ、22は送受波
制御回路、24は記憶装置である。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)非対称重み付け法を行なった、セクタ電子走査形
    超音波診断装置。
  2. (2)超音波ビーム偏向角θ0に従って、各エレメント
    の偏向角θiがビーム偏向角θ0、エレメント総数N、
    エレメント・ピッチP及び焦点距離Rfを関数として求
    められ、この偏向角θiに対して、セクタ用アレイ・ト
    ランスジューサを構成している一素子の指向性特性によ
    りそのピーク値に対する比が決定され、この比とあらか
    じめ定めた分布関数より各エレメントに対するパルサー
    励振電圧又は/及びプリアンプ増幅度のそれぞれの重み
    付け量として記憶される記憶装置を具有し、超音彼ビー
    ムの送受波の切換えと同時に該重み付け量が読出され、
    各エレメントに対するパルサー電圧又は/及びプリアン
    プ増幅度が制御されることを特徴とする、セクタ電子走
    査形超音波診断装置。
JP57133992A 1982-07-31 1982-07-31 セクタ電子走査形超音波診断装置 Granted JPS5925736A (ja)

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JP57133992A JPS5925736A (ja) 1982-07-31 1982-07-31 セクタ電子走査形超音波診断装置

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JPS5925736A true JPS5925736A (ja) 1984-02-09
JPH0333331B2 JPH0333331B2 (ja) 1991-05-16

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9129589B2 (en) 2012-05-30 2015-09-08 Seiko Epson Corporation Drive apparatus, ultrasonic probe, and ultrasonic diagnostic apparatus

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5692482A (en) * 1979-12-26 1981-07-27 Toshiba Corp Ultrasonic wave video apparatus

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US9129589B2 (en) 2012-05-30 2015-09-08 Seiko Epson Corporation Drive apparatus, ultrasonic probe, and ultrasonic diagnostic apparatus

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JPH0333331B2 (ja) 1991-05-16

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