JPS58333B2 - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
- Publication number
- JPS58333B2 JPS58333B2 JP52100241A JP10024177A JPS58333B2 JP S58333 B2 JPS58333 B2 JP S58333B2 JP 52100241 A JP52100241 A JP 52100241A JP 10024177 A JP10024177 A JP 10024177A JP S58333 B2 JPS58333 B2 JP S58333B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- elements
- transmission
- circuit
- probe
- vibration elements
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は診断距離全体について良好な分解能の画像が得
られるようにしたリニヤ電子走査の超音波診断装置に関
する。
られるようにしたリニヤ電子走査の超音波診断装置に関
する。
従来のこの種の装置は第1図に示すように直線に配列さ
れた多数の矩形振動子をm個同時に送受波している。
れた多数の矩形振動子をm個同時に送受波している。
この時の指向係数Rは各振動素子を点音源で置き換えた
場合のその系の指向係数をR1とし、実際の振動素子の
一個が単独に存在する場合の指向係数を前と同一座標軸
に関してRoとすれば。
場合のその系の指向係数をR1とし、実際の振動素子の
一個が単独に存在する場合の指向係数を前と同一座標軸
に関してRoとすれば。
R=R0×R1・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・(1)で与えら
れる。
・・・・・・・・・・・・・・・・・・(1)で与えら
れる。
今、R1として第2図のように同一特性のm個の点音源
が等しい間隔dで一直線に配列された場合の指向性を考
えるとその指向性はX軸に対して対称であるからX軸を
含む面内ならば全く同一特性でX2面内でZ軸よりθの
方向の指向係数は又、1個の振動子の指向係数R0は矩
形振動子の場合 2a:振動子幅で求められる。
が等しい間隔dで一直線に配列された場合の指向性を考
えるとその指向性はX軸に対して対称であるからX軸を
含む面内ならば全く同一特性でX2面内でZ軸よりθの
方向の指向係数は又、1個の振動子の指向係数R0は矩
形振動子の場合 2a:振動子幅で求められる。
たとえばd=1mm、オー0,5mmで2mとして5と
10の場合の群音源としての指向係数の第1零角は(2
)式のみで決まりそれぞれθ10.θ20とすると となりその指向性音場は第3図のようになる。
10の場合の群音源としての指向係数の第1零角は(2
)式のみで決まりそれぞれθ10.θ20とすると となりその指向性音場は第3図のようになる。
このように同時使用素子数を変えることによって指向性
を変えることはできるが2診断距離全体にわたって一様
に細い指向性を得ることは不可能である。
を変えることはできるが2診断距離全体にわたって一様
に細い指向性を得ることは不可能である。
そこでさらに指向性を鋭くする方法としては各振動素子
で送受波させるのに各素子に遅延時間を与えることによ
りその指向性をある距離に集束する様にする方法がある
。
で送受波させるのに各素子に遅延時間を与えることによ
りその指向性をある距離に集束する様にする方法がある
。
この時の集束の強さを表わすのに一般に円形凹面振動子
の場合 を定義し、ここでb:曲率半径、R:振動子半径とする
。
の場合 を定義し、ここでb:曲率半径、R:振動子半径とする
。
この時の曲率点における音圧は
I=πD ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(5)
となる。
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(5)
となる。
たとえばD=2の場合はI≒6となり集束しない場合の
I=2に比べて3倍の音圧になる。
I=2に比べて3倍の音圧になる。
このことは集束しない時に比べて指向性が3倍鋭くなる
と考えられる。
と考えられる。
しかしさらに指向性を鋭くするためにDを大きくすると
集束点近傍では指向性は良くなるが、その前後では極端
に悪くなる。
集束点近傍では指向性は良くなるが、その前後では極端
に悪くなる。
そこで実際には診断距離全体にわたって多少とも指向性
を良くするため集束点が1つの場合はDを小さくしてい
る。
を良くするため集束点が1つの場合はDを小さくしてい
る。
その一例を第8図aに示す。この場合はλ≒0.63m
m D≒0.9 b=60mmである。
m D≒0.9 b=60mmである。
図でわかるようにこの場合は集束の効果が少く2診断範
囲全体にわたっての集束効果は期待できない。
囲全体にわたっての集束効果は期待できない。
本発明はこれらの欠点を出来るだけ容易に解決するため
、超音波を集束するのに使用する遅延時間群は一種類で
振動素子数を一個増減させることにより、集束点が2ケ
所得られ、又、ビームの中心の移動が振動子幅の半分に
なり、より密で診断距離全体にわたって分解能の良い画
像を得るようにしたもので以下図面によって詳細に説明
する。
、超音波を集束するのに使用する遅延時間群は一種類で
振動素子数を一個増減させることにより、集束点が2ケ
所得られ、又、ビームの中心の移動が振動子幅の半分に
なり、より密で診断距離全体にわたって分解能の良い画
像を得るようにしたもので以下図面によって詳細に説明
する。
第4図は本発明の実施例であって1は複数個の振動素子
を配列した探触子、2は繰返しパルス発生器、3は送受
信回路部、4は使用振動素子群位置情報発生器、5は時
間軸波形発生器、6は表示器である。
を配列した探触子、2は繰返しパルス発生器、3は送受
信回路部、4は使用振動素子群位置情報発生器、5は時
間軸波形発生器、6は表示器である。
本装置の動作を説明すると繰返しパルス発生器2で発生
したパルスに対応して複数個の振動素子を配列した探触
子中の任意の個数の素子を選択し音響的に集束するよう
に送信し、又、それぞれの振動素子で受波された信号を
何種類かの遅延時間を通して加算される。
したパルスに対応して複数個の振動素子を配列した探触
子中の任意の個数の素子を選択し音響的に集束するよう
に送信し、又、それぞれの振動素子で受波された信号を
何種類かの遅延時間を通して加算される。
この出力第5図aを表示器6の輝度変調入力端子へ接続
し、一方、繰返しパルス発生器2で発生したパルスは使
用振動素子群位置情報発生器4と時間軸波形発生器5に
接続され、使用振動素子群位置情報発生器4では多数個
の振動素子中のどの振動素子群を使用しているかをディ
ジタルアナログコンバータによって繰返しパルスごとに
変化する階段状電圧第5図すを発生し、又時間軸波形発
生器5では繰返しパルスごとに診断距離に対応した鋸歯
状波電圧第5図Cを発生するこれらの階段状電圧と鋸歯
状波電圧は表示器6に接続することにより表示器には第
5図dのような断層像が表示できる。
し、一方、繰返しパルス発生器2で発生したパルスは使
用振動素子群位置情報発生器4と時間軸波形発生器5に
接続され、使用振動素子群位置情報発生器4では多数個
の振動素子中のどの振動素子群を使用しているかをディ
ジタルアナログコンバータによって繰返しパルスごとに
変化する階段状電圧第5図すを発生し、又時間軸波形発
生器5では繰返しパルスごとに診断距離に対応した鋸歯
状波電圧第5図Cを発生するこれらの階段状電圧と鋸歯
状波電圧は表示器6に接続することにより表示器には第
5図dのような断層像が表示できる。
このうち本発明の主な部分である送受信回路部について
さらに詳細に説明するとこの部分の詳細な説明図が第6
図で7は使用振動素子選択回路8は遅延トリガー発生器
、9は送信回路、10は高周波増幅器、11は遅延回路
、12は加算回路である。
さらに詳細に説明するとこの部分の詳細な説明図が第6
図で7は使用振動素子選択回路8は遅延トリガー発生器
、9は送信回路、10は高周波増幅器、11は遅延回路
、12は加算回路である。
繰返しパルス発生器2の出力パルスごとに7の使用振動
素子選択回路によって選ばれた振動素子群中の任意の個
数の振動素子群の各振動素子に対して、ある点で集束す
るように8の遅延トリガー発生器によってその送信のタ
イミングをずらせるトリガーを作り、このトリガーによ
って9の送信回路を駆動させる。
素子選択回路によって選ばれた振動素子群中の任意の個
数の振動素子群の各振動素子に対して、ある点で集束す
るように8の遅延トリガー発生器によってその送信のタ
イミングをずらせるトリガーを作り、このトリガーによ
って9の送信回路を駆動させる。
この時の個々の遅延時間は第7図を参照し幾何学的に求
められる音路長から割り出した時間でたとえばτ1につ
いて求めると。
められる音路長から割り出した時間でたとえばτ1につ
いて求めると。
となる。
以上のようにして個々の遅延時間を求める。
送信の場合には、同時使用振動素子中の両サイドの振動
素子を一番光に送信し2次に両サイドのそれぞれ端から
2番目の2個の振動素子をτ3の時間おくらせて送信す
る。
素子を一番光に送信し2次に両サイドのそれぞれ端から
2番目の2個の振動素子をτ3の時間おくらせて送信す
る。
このように送信のタイミングを順次遅らせていき、中心
部の振動素子は端に比べてτ1の時間おくらせて送信さ
せる。
部の振動素子は端に比べてτ1の時間おくらせて送信さ
せる。
このように送信すると送信波の波面は凹面振動子のそれ
と等しくなる。
と等しくなる。
すなわち同時使用振動素子数が8個で
振動素子間隔d=2mm、波長λ=0.6mm、b1=
75mm時 △l=0.328mm △12=0.167mm△1
3=0.060mm r1=215μSτ2=109.
5μS τ3=39.3μSとなり、この場合は両サイ
ドの1番目と8番目の振動素子を最初に同時に送信し2
次に2番目と7番目の振動素子を1番目と8番目が送信
されてから約39μs後に送信しさらに3番目と6番目
を110μs遅らせて送信し、最後に4番目と5番目の
振動素子は215μs遅れて送信してやる。
75mm時 △l=0.328mm △12=0.167mm△1
3=0.060mm r1=215μSτ2=109.
5μS τ3=39.3μSとなり、この場合は両サイ
ドの1番目と8番目の振動素子を最初に同時に送信し2
次に2番目と7番目の振動素子を1番目と8番目が送信
されてから約39μs後に送信しさらに3番目と6番目
を110μs遅らせて送信し、最後に4番目と5番目の
振動素子は215μs遅れて送信してやる。
これらの遅延トリガーを発生するのが8−1,8−2.
・・・、8−8である。
・・・、8−8である。
本発明の場合、送信に使用する振動素子板を一個増減さ
せるようにしているが、これは振動素子間隔が2mmと
大きい場合には、電子集束させたとしても走査線間隔が
2mmとあらい画像になる。
せるようにしているが、これは振動素子間隔が2mmと
大きい場合には、電子集束させたとしても走査線間隔が
2mmとあらい画像になる。
又。たとえ走査線数を増やしても超音波ビームそのもの
が鋭い場合には鋭いビーム中のエコーが2mmの幅で表
示されるので2画像としてはモザイク状になってしまう
。
が鋭い場合には鋭いビーム中のエコーが2mmの幅で表
示されるので2画像としてはモザイク状になってしまう
。
これを解決するには振動素子間隔を小さくすれば良いが
、探触子の長さを大きくした時には振動素子数が多くな
るため探触子のケーブル及び送信回路、受信回路の数が
多くなり装置として大型になる。
、探触子の長さを大きくした時には振動素子数が多くな
るため探触子のケーブル及び送信回路、受信回路の数が
多くなり装置として大型になる。
又、集束点が1ケ所の場合はその集束点の近傍でのみ集
束効果がでるが、それより外れた所では分解能が悪くな
る。
束効果がでるが、それより外れた所では分解能が悪くな
る。
以上のような欠点を解決する方法が本発明で例えば使用
振動素子数を7個にすると8個の場合に比べてその超音
波ビーム中心は振動素子間隔の半分移動し、又、この場
合に送信のタイミングのずれを8個の場合の遅延時間で
実施させる。
振動素子数を7個にすると8個の場合に比べてその超音
波ビーム中心は振動素子間隔の半分移動し、又、この場
合に送信のタイミングのずれを8個の場合の遅延時間で
実施させる。
すなわち、1番目と7番目の振動素子を同時に送信し。
2番目と6番目の振動素子を8個の場合の時間差と同じ
ように39μs遅らせて送信し3番目と5番目の振動素
子を110μS遅らせて送信し、最後に4番目のみを2
15μS遅らせて送信させる。
ように39μs遅らせて送信し3番目と5番目の振動素
子を110μS遅らせて送信し、最後に4番目のみを2
15μS遅らせて送信させる。
このようにして送信させるとこの時の集束点は(7)式
より求められて約55mmとなる。
より求められて約55mmとなる。
このように送信の個数を8個と7個という風に1個ずつ
増減させて遅延時間を一定にすることによりその集束点
も75mmと55mmという風に変化し、走査線線間隔
も振動素子間隔の半分の1mmにすることができる。
増減させて遅延時間を一定にすることによりその集束点
も75mmと55mmという風に変化し、走査線線間隔
も振動素子間隔の半分の1mmにすることができる。
この時の集束の強さは第8図すに示す如く。D1≒1.
1.D2≒1.1となり集束しない場合に比べて約1.
7倍指向性を良くすることができる。
1.D2≒1.1となり集束しない場合に比べて約1.
7倍指向性を良くすることができる。
1受信についても又、同様の考え方が適用でき各振動素
子で受波された超音波エコーは10の高周波増幅器で増
幅され11の遅延回路に接続される。
子で受波された超音波エコーは10の高周波増幅器で増
幅され11の遅延回路に接続される。
4番目と5番目の振動素子で受波されたエコーは215
μSの遅延回路を通り、3番目と6番目の振動素子で受
波されたエコーは約110μSの遅延回路を通り、2番
目と7番目の振動素子で受波されたエコーは約39μS
の遅延回路を通り、1番目と8番目の振動素子で受波さ
れたエコーは遅延時間なしでそれぞれ加算回路12に接
続される。
μSの遅延回路を通り、3番目と6番目の振動素子で受
波されたエコーは約110μSの遅延回路を通り、2番
目と7番目の振動素子で受波されたエコーは約39μS
の遅延回路を通り、1番目と8番目の振動素子で受波さ
れたエコーは遅延時間なしでそれぞれ加算回路12に接
続される。
このようにすると受波の指向性も凹面振動子で受波した
場合と等価になり鋭くなる。
場合と等価になり鋭くなる。
この時の集束の強さも送信の場合と同じようにD1=1
.1゜D2=1.1となる。
.1゜D2=1.1となる。
このようにして得られた加算回路12の出力は検波増幅
され表示器6に接続され、第5図dのような画像表示を
する。
され表示器6に接続され、第5図dのような画像表示を
する。
この説明では同時使用振動素子数を1個増減した場合に
ついて説明したが、それ以上の奇数個の増減も可能でそ
の場合には集束点がもつとはなれた2点になるが、近く
の方の集束効果が多少悪くなる欠点が1ある。
ついて説明したが、それ以上の奇数個の増減も可能でそ
の場合には集束点がもつとはなれた2点になるが、近く
の方の集束効果が多少悪くなる欠点が1ある。
以上説明したように本発明によると広範囲のリニア電子
走査超音波診断装置においてその探触子の振動素子数を
増やさす、走査線密度の良い、又。
走査超音波診断装置においてその探触子の振動素子数を
増やさす、走査線密度の良い、又。
電子集束についても簡単な回路で2ケ所の集束点で集束
させることが可能なので装置を小型とするにもかかわら
ず診断距離全体に良好な分解能の画像を得ることができ
る。
させることが可能なので装置を小型とするにもかかわら
ず診断距離全体に良好な分解能の画像を得ることができ
る。
第1図は従来の装置の動作説明図、第2図は直線配列群
音源の例、第3図は指向性音場説明図。 第4図は本発明装置のブロック図、第5図は本発明装置
の各部波形図、第6図は本発明装置の送受信回路部詳細
ブロック図、第7図は本発明の説明図、第8図は電子集
束による音圧説明図。 1・・・・・・探触子、2・・・・・・繰返しパルス発
生器、3・・・・・・送受信回路部、4・・・・・・使
用振動素子群位置情報発生器、5・・・・・・時間軸波
形発生器、6・・・・・・表示器。 (5) (6) (7)
音源の例、第3図は指向性音場説明図。 第4図は本発明装置のブロック図、第5図は本発明装置
の各部波形図、第6図は本発明装置の送受信回路部詳細
ブロック図、第7図は本発明の説明図、第8図は電子集
束による音圧説明図。 1・・・・・・探触子、2・・・・・・繰返しパルス発
生器、3・・・・・・送受信回路部、4・・・・・・使
用振動素子群位置情報発生器、5・・・・・・時間軸波
形発生器、6・・・・・・表示器。 (5) (6) (7)
Claims (1)
- 1 複数個の振動素子を配列した探触子と繰返しパルス
を発生する回路とこの繰返しパルスによって探触子中の
任意の個数の素子を使用して一体に送受波する回路と、
その使用している素子群に対応した位置情報発生器と、
診断距離に対応した時間軸波形発生器と反射エコーの強
弱を輝度変調情報として表示する表示器とを備え、一体
に使用する振動素子数を繰返しパルスごとにまたは任意
の一定周期ごとに一個交互に増減させるとともに振動素
子数の異なる両送受波に対してあらかじめ定められた一
種類の遅延時間群の送受波タイミングを設定することに
より高密度な送受超音波指向特性を前記振動素子数の増
減に応じてそのビームの中心を振動子幅の半分移動させ
ながら音響的に集束せしめ、近距離より遠距離まで方位
分解能のよい断層像を走査線密度のよい画像として得ら
れるようにしたことを特徴とする超音波診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52100241A JPS58333B2 (ja) | 1977-08-22 | 1977-08-22 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52100241A JPS58333B2 (ja) | 1977-08-22 | 1977-08-22 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5434580A JPS5434580A (en) | 1979-03-14 |
| JPS58333B2 true JPS58333B2 (ja) | 1983-01-06 |
Family
ID=14268745
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52100241A Expired JPS58333B2 (ja) | 1977-08-22 | 1977-08-22 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58333B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5613935A (en) * | 1979-07-13 | 1981-02-10 | Tokyo Shibaura Electric Co | Ultrasonic diagnosing device |
| JPS56121541A (en) * | 1980-02-28 | 1981-09-24 | Tokyo Shibaura Electric Co | Ultrasonic imaging apparatus |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS565536B2 (ja) * | 1973-05-21 | 1981-02-05 | ||
| CA1201197A (en) * | 1975-09-15 | 1986-02-25 | Commonwealth Of Australia (The) | Variable focus transducer |
| CH608103A5 (ja) * | 1975-12-01 | 1978-12-15 | Hoffmann La Roche | |
| JPS5273587A (en) * | 1975-12-15 | 1977-06-20 | Aloka Co Ltd | Ultrasonic diagnostic device |
| JPS52151277A (en) * | 1976-06-11 | 1977-12-15 | Hitachi Medical Corp | Variable focus ultrasonic camera system |
-
1977
- 1977-08-22 JP JP52100241A patent/JPS58333B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5434580A (en) | 1979-03-14 |
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