JPS5923325Y2 - リ−ドスイツチ - Google Patents

リ−ドスイツチ

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Publication number
JPS5923325Y2
JPS5923325Y2 JP11728678U JP11728678U JPS5923325Y2 JP S5923325 Y2 JPS5923325 Y2 JP S5923325Y2 JP 11728678 U JP11728678 U JP 11728678U JP 11728678 U JP11728678 U JP 11728678U JP S5923325 Y2 JPS5923325 Y2 JP S5923325Y2
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JP
Japan
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piece
alloy
reed switch
contact
alloys
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Expired
Application number
JP11728678U
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English (en)
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JPS5534315U (ja
Inventor
周作 八百
賢治 原
孝三 床並
Original Assignee
株式会社安川電機
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 ノードスイッチは、例えば第1図に示すように、ガラス
、セラミック等の非磁性材よりなる封入容器1内にチッ
素などの不活性ガスを封入すると共に、封入部片2 a
、3 aを容器にのぞませた第1及び第2の固定端子
片2,3を設け、前記第2の固定端子片3の封入部片3
aにバネ力の弱い導電性の可動片4(支持片)を連結し
、その可動片4の先端に気性片5を固定し、その一端の
磁極面5aを第1の固定端子片2の封入部片2aの磁極
面2bに磁気間隔をもって対向させ、他端のL字状端部
5bを第2の固定端子片3の封入部片3aの折り曲げ部
3bに対向させ、磁極片5の先端に銀酸化カドミニウム
合金などの銀糸合金より成る可動接点6を設けると共に
、それと対向する支持片4のバネ力よりも大きいバネ力
を有するAg−Mg−Ni等の導電性バネ材よりなる接
触片7(支持片)が封入部片2aに設けられている。
このように構成されたリードスイッチのバネ性支持片、
つまり可動片4及び接触片7は、導電性であることと、
バネ力を有することが必要であるが、封入容器内に密封
するに際して、ガラス管を金属材料の耐熱温度ぎりぎり
の600〜800℃に加熱し、封着後更に400℃程度
焼鈍するため、常温使用時にバネがへたり、バネ特性が
低下してリードスイッチの開閉力が低下するという問題
があった。
また価格も高い。
そのため、耐熱性の優れた、モリブチ゛ンを支持片に使
用したリードスイッチもあるが、出産性、導電性に難点
がある。
そこでこの考案は、熱応力緩和による製品特性のバラツ
キも少なく、シかも安価に製作し得るものを提供しよう
とするものである。
即ち、種々実験研究の結果、使用場所が不活性なガス雰
囲気にあることに着目し、内部酸化型Cu合金を接点バ
ネ(支持片)に使用することで、これらの問題を解消す
ると共に耐久性の向上に成功したものである。
こ・で言う内部酸化型Cu合金とは、Cu中に微小酸化
物を均一に分散させた合金で、CuにBe、 Ti、A
l、Si等の酸化物生成エネルギーの大きな材料を添加
し、且つ結晶粒大化を防ぐジルコン(Zr)を添加した
ものを指称し、具体的には次のような組成のものである
CuにBe0.01〜0.1%、Mg 0.05〜0.
4%、Ti0905〜0.8%、A l 0.05〜0
.8%、Si0.05〜0.8%のうち少なくとも1種
とZrO,01〜0.15%を配合した合金で、リード
スイッチ加工時の封着あるいは焼鈍などの熱処理に十分
に耐え、且つ導電率も90〜98%と、従来接点バネに
使用しているAgMg−Niの60%より優れたもので
ある。
第2図は内部酸化型Cu合金の(加熱)温度に対する引
張強さ特性を、また第3図は導電率特性を示す図である
之等の内部酸化型Cu合金は伸びがAg−Mg−Ni合
金より若干低いものの、リードスイッチ生産上付等支障
を来すものでないと同時に、耐アーク性についてもAg
−Mg−Ni合金より優れており、試験結果では従来品
より寿命が長くなっている。
そして衆知の如く、CuはAgより価格が安く、合金に
おいてもその優劣は変わらず、同一特性のリードスイッ
チを生産する場合大きなコストダウンを招くものである
この様に種々優れた上記内部酸化型Cu合金を使用出来
るのは、不活性ガス雰囲気中で使用するからで、酸化雰
囲気中では酸化による悪影響のため、使用出来ない。
次に実施例を示す。
CuにBeを0.02%、Zrを0.02%配合したC
u−0,02Be−0,02Zr合金製のQ、15mm
厚の板で0゜15tX2.5WX19 lの支持片4と
、0.15 t X2.5WX11.51の支持片7と
を切断、成形し、接点及びピンをカシメたが従来品と全
く同様の仕切りのものが得られ、製作には全く問題がな
い。
若い材料に十分な伸びがない場合は、成形及びカシメ時
に割れを生じるが、この材料は10%以上の伸びを有す
るので問題がない。
製作したリードスイッチを電気耐久試験し、従来品より
耐久性の良い結果を得た。
その結果を次に示す。
交流誘導負荷電気耐久試験 (10A投入、1Aシヤ断) 従来品(Ag−Mg−Ni/Ag−cdo接点)寿命
60万回 本案実施品(Cu−Be−Zr/Ag−C60接点)寿
命 100万回 上記試験に使用した材料の材料特性は次表の通りである
こ・では実施例としてCu−Be−Zr合金を支持片と
して使用したリードスイッチの結果のみを示したが、こ
れは他(7) Mg、 Ti、 A I 、Si等を含
むCu合金に比べ特に優れている為でも、逆にそれらが
劣る為でもない。
即ち、前記第2図及び第3図かられかるように、他のC
u合金は何れもリードスイッチの接点、<ネとして十分
な耐熱性、導電率を有しており、Cu−Be−Zr合金
材を使用した例を例示すれば、他組成材を使用したリー
ドスイッチの優れていることも類推できるので、こ・で
は代表して示した。
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の実施例の断面図、第2図は内部酸化
型Cu合金の温度に対する引張強さ特性図第3図は同導
電率特性図である。 4・・・・・・可動片(支持片)、7・・・・・・接触
片(支持片)。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 Be O,01〜0.1%、MgO805〜0.4%、
    TiQ。 05〜0.8%、A l 0.05〜0.8%、Si0
    .05〜0.8%のうち1種類以上とZr0.01〜0
    .15%、残部をCuからなる内部酸化型Cu合金でバ
    ネ性の支持片を構成したことを特徴とする不活性ガス封
    入リードスイッチ。
JP11728678U 1978-08-29 1978-08-29 リ−ドスイツチ Expired JPS5923325Y2 (ja)

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JPS5534315U JPS5534315U (ja) 1980-03-05
JPS5923325Y2 true JPS5923325Y2 (ja) 1984-07-11

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