JPS59230145A - エックス線撮影装置 - Google Patents
エックス線撮影装置Info
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- JPS59230145A JPS59230145A JP58105592A JP10559283A JPS59230145A JP S59230145 A JPS59230145 A JP S59230145A JP 58105592 A JP58105592 A JP 58105592A JP 10559283 A JP10559283 A JP 10559283A JP S59230145 A JPS59230145 A JP S59230145A
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- rays
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 4
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、被検体に対してＸ線をスリット状に放射し、
被検体を透過したＸ線を検出器で検出する方式において
、スリットをこれと直交する方向へ走査することによっ
て二次元的なＸ線像を得るエックス線撮影装置に関する
ものである。
被検体を透過したＸ線を検出器で検出する方式において
、スリットをこれと直交する方向へ走査することによっ
て二次元的なＸ線像を得るエックス線撮影装置に関する
ものである。
被検体を透過したスリット状のＸ線を、小分割されたア
レイ状のＸ線検出器に入射させ、検出器のそれぞれのエ
レメントよりＸ線量に比例した光強度として抽出する方
式は既に知られている。つまり、スリット状にＸ線を走
査していくことにより被検体の二次元的情報を得て、こ
れをＴＶ画像或いはフィルム等の感光剤へ画像として記
録する所謂デジタル・スリットΦラジオグラフィ方式は
既に商品化もされている。
レイ状のＸ線検出器に入射させ、検出器のそれぞれのエ
レメントよりＸ線量に比例した光強度として抽出する方
式は既に知られている。つまり、スリット状にＸ線を走
査していくことにより被検体の二次元的情報を得て、こ
れをＴＶ画像或いはフィルム等の感光剤へ画像として記
録する所謂デジタル・スリットΦラジオグラフィ方式は
既に商品化もされている。
本発明の目的は、このデジタル・スリ・ント・ラジオグ
ラフィ方式において、刻々と変化して半導体検出器に入
射するＸ線に関連した情報、即ち検出器でイＪ１られる
光の強弱をＸ線管側ヘフィードパンクし、Ｘ線？１τか
らの出力を変化させることによって、より灯明で画像価
値の高い情報を摺ることのできる工ンクス線撮影装置を
提供することにあり、その要旨は、スリットを介して被
検体にＸ線をｊｊｌ（則する手段と、被検体を透過した
Ｘ線を検出し、前記スリンＩ・と平行方向に長手方向を
有するアレイ状のＸ線検出器と、前記スリット及び検出
器をスリ７１”方向と直交する方向に被検体に対し相対
的に移動する手段と、前記検出器で得られた出力を２１
（にＸ線の放射強度を逐次調整する手段とをＪＬ、 （
ｌｉｉ＋することを特徴とするものである。
ラフィ方式において、刻々と変化して半導体検出器に入
射するＸ線に関連した情報、即ち検出器でイＪ１られる
光の強弱をＸ線管側ヘフィードパンクし、Ｘ線？１τか
らの出力を変化させることによって、より灯明で画像価
値の高い情報を摺ることのできる工ンクス線撮影装置を
提供することにあり、その要旨は、スリットを介して被
検体にＸ線をｊｊｌ（則する手段と、被検体を透過した
Ｘ線を検出し、前記スリンＩ・と平行方向に長手方向を
有するアレイ状のＸ線検出器と、前記スリット及び検出
器をスリ７１”方向と直交する方向に被検体に対し相対
的に移動する手段と、前記検出器で得られた出力を２１
（にＸ線の放射強度を逐次調整する手段とをＪＬ、 （
ｌｉｉ＋することを特徴とするものである。
人体３のＸ線撮影においては、被撮影範囲内に１１１１
市器や骨格等のＸ線吸収量の大きく異なるものが介イ１
している場合か多い。例えは胸部撮影においては、左右
の１１１１畳°ζ１；とを柱部とでは、Ｘ線吸収昂の比
か１対２００にもなると云われている。
市器や骨格等のＸ線吸収量の大きく異なるものが介イ１
している場合か多い。例えは胸部撮影においては、左右
の１１１１畳°ζ１；とを柱部とでは、Ｘ線吸収昂の比
か１対２００にもなると云われている。
従って、このような場合にＸ線管球の管電流・？ｔり゛
重圧′）を一定にして全ての画面範囲を同−Ｘ線量で撮
影すると、肺部の情報が適正になるようにすればを柱部
近辺の縦隔部はＸ線吸収が多いために充分な情報が外部
に取り出せず、情報量の多い画像をｆＪノることは難し
い。このような場合にデジタル・スリット・ラジオグラ
フィ方式を用いながら、検出器側に入ってくる情報を取
り出し、これをＸ線管球側にフィードパンクすることに
よってＸ線吸収の多い部位の撮影、つまりＸ線管電流を
増加したり管電圧を上昇させたり、或いはこれらを組合
わせて変化させるような方式を採ることにヨ４Ｊ、過度
のＸ線を被検者に浴びせることもなくなる。また、Ｘ、
線吸収の多いところを撮影するときはＸ線の透過量を不
足ないものにし、診断に当ってより情報量の多い画像を
得ることが可能となる。
重圧′）を一定にして全ての画面範囲を同−Ｘ線量で撮
影すると、肺部の情報が適正になるようにすればを柱部
近辺の縦隔部はＸ線吸収が多いために充分な情報が外部
に取り出せず、情報量の多い画像をｆＪノることは難し
い。このような場合にデジタル・スリット・ラジオグラ
フィ方式を用いながら、検出器側に入ってくる情報を取
り出し、これをＸ線管球側にフィードパンクすることに
よってＸ線吸収の多い部位の撮影、つまりＸ線管電流を
増加したり管電圧を上昇させたり、或いはこれらを組合
わせて変化させるような方式を採ることにヨ４Ｊ、過度
のＸ線を被検者に浴びせることもなくなる。また、Ｘ、
線吸収の多いところを撮影するときはＸ線の透過量を不
足ないものにし、診断に当ってより情報量の多い画像を
得ることが可能となる。
また、スリントの走査を連続的な移動てなく、１個又は
複数個の検出素子の走査方向の大きさに合わせて、スリ
ット走査を一定部ごとに間欠的に移動させ、制止したと
ころでＸ線をパルス状に放射するような方式を採る場合
には、パルスＸ線の成用時間を可変とすることも可能で
ある。更にこのとき、■−述したように管電流、或いは
管電圧等を絹合わせて変化させてもよいことは勿論であ
る。
複数個の検出素子の走査方向の大きさに合わせて、スリ
ット走査を一定部ごとに間欠的に移動させ、制止したと
ころでＸ線をパルス状に放射するような方式を採る場合
には、パルスＸ線の成用時間を可変とすることも可能で
ある。更にこのとき、■−述したように管電流、或いは
管電圧等を絹合わせて変化させてもよいことは勿論であ
る。
次に本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
第１図はブロンク回路構成図であり、電源１に接続され
た高電圧発生用トランス２から第１、第２の整流器３ａ
、３ｂ及びＸ線管球４のフィラメント５に出力か供給さ
れている。第１の整流器３ａの出力は、第１の高電圧制
御真空管６ａを介してＸ線？ｉ十球４のターゲット７に
印加されており、更にこの真空管６ａの出力は第１のレ
ギュレータ８ａ、分圧器９ａにより調整されるようにな
っている。フィラメント５に対する電圧は、第２の整流
器３ｂの出力を第２の高電圧制御真空管６ｂ及びその制
御回路である第２のレギュレータ８１）、分圧器９ｂに
より供与されている。Ｘ線管球４から放射されるＸ線の
照射位置には被検体Ｓか配置され、その前後にはスリッ
ト１０を有しＸ線を遮蔽する遮蔽部材１１ａ、ｌｌｂが
、スリット１０と直交する方向に移動自在に設けられて
いる。そして、遮蔽部材１１ｂのスリットｌＯの後部に
は、遮蔽部材１１ａ、ｆｌｂと共に動くアレイ状検出素
子１２が配置されている。この検出素子１２の出力は、
読出・調整回路１３に送信され、調整範囲設定回路１４
からの出力に従って、フィラメント制御回路１５を介し
てフィラメント電流を、またレギュレータ８ａ、８ｂに
設定人力して管電圧を調整するようにされている。
た高電圧発生用トランス２から第１、第２の整流器３ａ
、３ｂ及びＸ線管球４のフィラメント５に出力か供給さ
れている。第１の整流器３ａの出力は、第１の高電圧制
御真空管６ａを介してＸ線？ｉ十球４のターゲット７に
印加されており、更にこの真空管６ａの出力は第１のレ
ギュレータ８ａ、分圧器９ａにより調整されるようにな
っている。フィラメント５に対する電圧は、第２の整流
器３ｂの出力を第２の高電圧制御真空管６ｂ及びその制
御回路である第２のレギュレータ８１）、分圧器９ｂに
より供与されている。Ｘ線管球４から放射されるＸ線の
照射位置には被検体Ｓか配置され、その前後にはスリッ
ト１０を有しＸ線を遮蔽する遮蔽部材１１ａ、ｌｌｂが
、スリット１０と直交する方向に移動自在に設けられて
いる。そして、遮蔽部材１１ｂのスリットｌＯの後部に
は、遮蔽部材１１ａ、ｆｌｂと共に動くアレイ状検出素
子１２が配置されている。この検出素子１２の出力は、
読出・調整回路１３に送信され、調整範囲設定回路１４
からの出力に従って、フィラメント制御回路１５を介し
てフィラメント電流を、またレギュレータ８ａ、８ｂに
設定人力して管電圧を調整するようにされている。
従って、トランス２を基に高電圧制御真空管６ａ、６ｂ
を介して、Ｘ線管球４には高電圧が印加され、フィラメ
ント６に電流が供給され、Ｘ線管球４から被検体Ｓに向
けてＸ線が照射される。
を介して、Ｘ線管球４には高電圧が印加され、フィラメ
ント６に電流が供給され、Ｘ線管球４から被検体Ｓに向
けてＸ線が照射される。
このとき、スリット１０を有する遮蔽部材１１ａ、ｌｌ
ｂ、アレイ状検出素子１２はＸ線の進行方向と直交する
矢印方向に移動しながらスリット状に画像を得て、読出
・調整回路１３において合成することにより１枚のＸ線
透過像を作成することになる。
ｂ、アレイ状検出素子１２はＸ線の進行方向と直交する
矢印方向に移動しながらスリット状に画像を得て、読出
・調整回路１３において合成することにより１枚のＸ線
透過像を作成することになる。
このｊ５ Ｊｌ、Ｉにおいて、検出素子１２の出力は読
出・１Ｊｌｌｌ ；ｌ”回路１３によりほぼ同一の濃度
信号が得られるように、Ｘ線？乙工４り４に印加される
電圧を調整するレギュレータ８ａ、８ｂに制御信号を送
信して’ｉ’ｉ”ｌｔｊ：圧を調整するか、或いはフィ
ラメント制御回路１５を介して省電流を調整して、Ｘ線
管球４の成用Ｘ線強度を逐次制御する。
出・１Ｊｌｌｌ ；ｌ”回路１３によりほぼ同一の濃度
信号が得られるように、Ｘ線？乙工４り４に印加される
電圧を調整するレギュレータ８ａ、８ｂに制御信号を送
信して’ｉ’ｉ”ｌｔｊ：圧を調整するか、或いはフィ
ラメント制御回路１５を介して省電流を調整して、Ｘ線
管球４の成用Ｘ線強度を逐次制御する。
この場合に木実施例では、第２図に示すように検出素子
１２の任意の範囲Ｗｌ、及び全撮影範囲Ｗの任、幌の範
囲Ｗ２に対し、イ１１電圧、管電流の何れを１１動調整
するかを設定し、更には管電圧、管電流の１１動調整範
囲を調整範囲設定回路１４により予め段重゛することに
より各部位を良好に撮影することができる。なお、これ
らの設定範囲Ｗ１、Ｗ２ハ、Ｘ ｆ４ａフォ］・タイマ
の窓に相当するものと云える。
１２の任意の範囲Ｗｌ、及び全撮影範囲Ｗの任、幌の範
囲Ｗ２に対し、イ１１電圧、管電流の何れを１１動調整
するかを設定し、更には管電圧、管電流の１１動調整範
囲を調整範囲設定回路１４により予め段重゛することに
より各部位を良好に撮影することができる。なお、これ
らの設定範囲Ｗ１、Ｗ２ハ、Ｘ ｆ４ａフォ］・タイマ
の窓に相当するものと云える。
ｉ′５３図はδゾ、出・；）ル１整回路１３のブロック
回路構成図を小しており、アレイ状検出素子１２から読
出された画像信号は、入力回路１７を経てＡ／Ｄ変換回
路１８によりデジタル化される。この出力は信号処理回
路１９に送信され画像メモリ２０に蓄積される。撮影位
置が検出素子１２の検出範囲Ｗｌに入ったときカウンタ
回路２１の動作が開始され、フィラメント制御回路１４
のプリセラトイ１ＧがＮ−Ｍの範囲であったとすれは、
検出素子１２の１〜（Ｎ−１）の画素はそのまま信号処
理回路１９に入るが、Ｎ〜（Ｎ＋Ｍ）の画素の出力はゲ
ート回路２２がカウンタ回路２１により開かれるため平
均化回路２３に入力する。この平均化回路２３では、Ｎ
〜（Ｎ十Ｍ）の画素信号の平均値が計算され、その出力
は調整量計算回路２４に導かれれる。調整量計算回路２
４には、第４図（ａ） 、 （ｂ）に示すように平均化
回路２３を経て検出された信号のレベルに応して、管電
圧Ｖ或いは省電流■の最適調整ギ−がプログラム化され
ている。この調整量はＤ／Ａ変換回路２５ａ、２５ｂに
よりアナログ信号に変換され、それぞれレギュレータ８
ａ、８ｂ又はフィラメンｔ・１ｌｉｌｒｆｉｌ１回路１
５にフィードパンクされ、適切な電圧・電流レベルに調
整される。また、検出調整範囲Ｗｌから外れるとゲート
回路２２は閉じられ、管電圧・管電流とも設′）Ｊｌ値
に復帰する。
回路構成図を小しており、アレイ状検出素子１２から読
出された画像信号は、入力回路１７を経てＡ／Ｄ変換回
路１８によりデジタル化される。この出力は信号処理回
路１９に送信され画像メモリ２０に蓄積される。撮影位
置が検出素子１２の検出範囲Ｗｌに入ったときカウンタ
回路２１の動作が開始され、フィラメント制御回路１４
のプリセラトイ１ＧがＮ−Ｍの範囲であったとすれは、
検出素子１２の１〜（Ｎ−１）の画素はそのまま信号処
理回路１９に入るが、Ｎ〜（Ｎ＋Ｍ）の画素の出力はゲ
ート回路２２がカウンタ回路２１により開かれるため平
均化回路２３に入力する。この平均化回路２３では、Ｎ
〜（Ｎ十Ｍ）の画素信号の平均値が計算され、その出力
は調整量計算回路２４に導かれれる。調整量計算回路２
４には、第４図（ａ） 、 （ｂ）に示すように平均化
回路２３を経て検出された信号のレベルに応して、管電
圧Ｖ或いは省電流■の最適調整ギ−がプログラム化され
ている。この調整量はＤ／Ａ変換回路２５ａ、２５ｂに
よりアナログ信号に変換され、それぞれレギュレータ８
ａ、８ｂ又はフィラメンｔ・１ｌｉｌｒｆｉｌ１回路１
５にフィードパンクされ、適切な電圧・電流レベルに調
整される。また、検出調整範囲Ｗｌから外れるとゲート
回路２２は閉じられ、管電圧・管電流とも設′）Ｊｌ値
に復帰する。
このようにして、設定範囲Ｗ１．Ｗ２にわたり良好な画
像がイＪ１られることになる。また、」−述の説明では
横力向の自動調整範囲Ｗ１、Ｗ２を限定して説明したか
、全範囲Ｗにわたって調整しても勿論支障はない。
像がイＪ１られることになる。また、」−述の説明では
横力向の自動調整範囲Ｗ１、Ｗ２を限定して説明したか
、全範囲Ｗにわたって調整しても勿論支障はない。
実施例においては、Ｘ線管球４の管電圧、管電流の何れ
かを単独に変化させるようにしたが、管電圧、省電流を
回１１１ｔに変化させることもできる。
かを単独に変化させるようにしたが、管電圧、省電流を
回１１１ｔに変化させることもできる。
火には、′１ぜｉＬ圧、？１１電流を変化させる代りに
、前進したようにＸ線のパルス照射時間を変化させたり
、スリントｌＯの走査速度を部位により変化さセるよう
にしてもよい。
、前進したようにＸ線のパルス照射時間を変化させたり
、スリントｌＯの走査速度を部位により変化さセるよう
にしてもよい。
以１．説明したように本発明に係るエックス線撮影装ン
１は、部分的にイ［）・られた画像信号ごとに、Ｘ線の
照射ｉＮを調整して各部位ごとに適切な濃度がＰｊられ
るようにしたので、画面全体或いは主要部の帽明な画像
が得られ、的確な情報を求め得る利点をイＪする。
１は、部分的にイ［）・られた画像信号ごとに、Ｘ線の
照射ｉＮを調整して各部位ごとに適切な濃度がＰｊられ
るようにしたので、画面全体或いは主要部の帽明な画像
が得られ、的確な情報を求め得る利点をイＪする。
図面は本発明に係るエックス線＋ｊＬ影装置の一実施例
を示し、第１図はそのソロ・ンク回路構成図、第２図は
画面の調整範囲の説明図、第３図は読出・調整回路のプ
ロ・ンク回路構成図、第４図（ａ）、（ｂ）は検出信号
に対する調整すべき老電圧、省電流量のグラフ図である
。 符号ｌは電源、２は高電圧発生用Ｉ・ランス、３ａ、３
ｂは整流器、４はＸ線管球、６ａ、６ｂは高電圧制御真
空管、８ａ、８ｂはレギュレータ、１０はスリット、ｌ
ｌａ、ｌｌｂは遮蔽部材、１２は検出素子、１３は読出
・調整回路、１４は調整範囲設定回路、１５はフィラメ
ント制御回路、Ｓは被検体である。 特許用１頭人 キャノン株式会社
を示し、第１図はそのソロ・ンク回路構成図、第２図は
画面の調整範囲の説明図、第３図は読出・調整回路のプ
ロ・ンク回路構成図、第４図（ａ）、（ｂ）は検出信号
に対する調整すべき老電圧、省電流量のグラフ図である
。 符号ｌは電源、２は高電圧発生用Ｉ・ランス、３ａ、３
ｂは整流器、４はＸ線管球、６ａ、６ｂは高電圧制御真
空管、８ａ、８ｂはレギュレータ、１０はスリット、ｌ
ｌａ、ｌｌｂは遮蔽部材、１２は検出素子、１３は読出
・調整回路、１４は調整範囲設定回路、１５はフィラメ
ント制御回路、Ｓは被検体である。 特許用１頭人 キャノン株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 スリフトを介して被検体にＸ線を照射する手段と
、被検体を透過したＸ線を検出し、前記スリフトとｉｌ
Ｚ行方向に長手方向を有するアーレイ状のＸ線検出器と
、ｒｉｉ＋記スリット及び検出器をスリット方向と的交
する方向に被検体に対し相対的に移動する手段と、前記
検出器で（（（られた出力を基にＸ線の放射強度を逐次
調整する手段とを具備することを４４徴とするエックス
線撮影装置。 ２、前記Ｘ線強度の調整は、管電圧、管電流の少なくと
も一方を調整することにより行うようにした勃許請求の
範囲第１項に記載のエックス線撮影装置。 ３、前記Ｘ線強度の調整は、パルスＸ線の敷用１１＋、
間を変化することにより行うようにした特許請求のＫｌ
・Ｉｇ囲第１ザ１に記載のエックス線撮影装置。 ４、 前記Ｘ線強度の調整は、画面内の任意の部分につ
いて行うようにした特許３ｊ’４求の範囲第１項に記載
のエックス線撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58105592A JPS59230145A (ja) | 1983-06-13 | 1983-06-13 | エックス線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58105592A JPS59230145A (ja) | 1983-06-13 | 1983-06-13 | エックス線撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59230145A true JPS59230145A (ja) | 1984-12-24 |
| JPH049530B2 JPH049530B2 (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=14411765
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58105592A Granted JPS59230145A (ja) | 1983-06-13 | 1983-06-13 | エックス線撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59230145A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5099489A (ja) * | 1973-12-28 | 1975-08-07 | ||
| JPS53110495A (en) * | 1977-03-09 | 1978-09-27 | Toshiba Corp | Radiation tomograph ic device |
| JPS5675142A (en) * | 1979-11-26 | 1981-06-22 | Katsuhiko Shinohara | Xxray simple picture treating method and its device |
| JPS5822036A (ja) * | 1981-07-30 | 1983-02-09 | 株式会社東芝 | 放射線診断装置 |
-
1983
- 1983-06-13 JP JP58105592A patent/JPS59230145A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5099489A (ja) * | 1973-12-28 | 1975-08-07 | ||
| JPS53110495A (en) * | 1977-03-09 | 1978-09-27 | Toshiba Corp | Radiation tomograph ic device |
| JPS5675142A (en) * | 1979-11-26 | 1981-06-22 | Katsuhiko Shinohara | Xxray simple picture treating method and its device |
| JPS5822036A (ja) * | 1981-07-30 | 1983-02-09 | 株式会社東芝 | 放射線診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH049530B2 (ja) | 1992-02-20 |
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