JPS59229825A - 半導体ペレツトのダイボンデング装置 - Google Patents

半導体ペレツトのダイボンデング装置

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JPS59229825A
JPS59229825A JP58094367A JP9436783A JPS59229825A JP S59229825 A JPS59229825 A JP S59229825A JP 58094367 A JP58094367 A JP 58094367A JP 9436783 A JP9436783 A JP 9436783A JP S59229825 A JPS59229825 A JP S59229825A
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JP
Japan
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lead frame
heater
heating
lead
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JP58094367A
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Masahiro Muraoka
村岡 正裕
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Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、発光ダイオード等の半導体部の製造人 に際して、薄金属板から打ち抜かれたリードフレームの
所定箇所に半導体ペレットを、導電性のペーストを用い
てダイボンデングする装置に関するものである。
リードフレームの所定箇所に半導体ペレットを導電性を
有するペーストを用いてダイボンデングする場合、半導
体ペレットのペーストによる接着後においてペーストの
乾燥工程を必要とする。このペーストの乾燥に際しての
温度を高(すると乾燥時間は短かくなるが、乾燥温度が
高いとペーストに泡を発生したりもろくなったりして、
ペーストによる接着強度が低下するので、従来は、半導
体ペレットをペーストによって接着したあとのリードフ
レームを、これを複数個づつマガジンに装填したのち、
オーブン式乾燥器に入れ、約150℃の温度で約30分
程度の低温乾燥を行なうようにしている。
しかし、このように半導体ペレットのペーストによる接
着後のリードフレームをオーブン式乾燥器に入れて長い
時間をかけて低温乾燥することは、ペーストによる接着
強度を損なうことがない反曲、次の工程であるワイヤポ
ンデング工程に至る一連の工程を、連続化することがで
きないことに加えて、マガジンへのリードフレームの装
填及びオーブン式乾燥器への出入れ、更にはリードフレ
ームのマガジンからの取外しに多大の手数を−するから
、生産性が低(、製造コストが著しく嵩むのであった。
本発明は、所定の位置に半導体ペレットをペーストにて
接着したリードフレームに、乾燥工程を施すにおいて、
その乾燥時間は乾燥温度を250〜300℃に高めると
1〜2分程に短縮できて連続乾燥が可能となる反面、リ
ードフレームを一挙に250〜300℃に加熱するとペ
ーストによる接着強度が著しく低ドするが、この250
〜300℃の乾燥の前に、これより低い温度の予備加熱
を行なうと、ペーストによる接着強度の低下を防止でき
るという実験結果に鑑み、リードフレームを適宜速度で
移送する搬送経路に沿って、先づリードフレームの所定
個所に半導体ペレットをペーストによって接着する手段
と、その前方にリードフレームを250〜300℃に加
熱する手段とを設けると共に、前記半導体ペレットの接
着手段と、250〜goθ℃の加熱手段との間に、リー
ドフレームをこれより低い温度に予備加熱する手段を少
なくとも1箇所設けることにより、ダイボンデングから
その後のワイヤボンデングに至る一連の工程を連続化で
きるようにしたものである。
以下本発明を発光ダイオールドに8けるダイボンデング
の場合について説明すると、図において(1)は、一つ
の発光ダイオードを形成するために対をなすアノードリ
ード(2)とカソードリード(3)とを適宜間隔(p)
で多数個連接するように薄金属板から打ち抜いたリード
フレームを示し、該リードフレーム(1)を−列状に適
宜速度で矢印(A)方向に移送する搬送経路(4)に沿
って、該リードフレーム(1)に8ける各アノードリー
ド(2)の先端に半導体ペレットを導電性ペーストを介
して接着する手段(5)と、各アノードリード(2)の
半導体ペレットとこのアノードリード(2)に対をなす
カソードリード(3)とをワイヤボンデングする手段(
6ンを、搬送方向に適宜間隔を隔てて設ける一方、前記
搬送経路(4)には、前記半導体ペレット接着手段(4
)とワイヤボンデング手段(6)との間の部分の左右両
側に、搬送中のリードフレーム(1)を加熱するための
三つのヒータ(7)(3)(9)を搬送方向に沿って列
状に配設して、該ヒータ(7)(8) (9)による加
熱温度を、半導体ペレット接着手段(5)より遠ざかる
につれて順次高くなるように、つまり、第1ヒータ(7
)の温度が最も低(、第2ヒータ(8)の温度が次いで
高く、そして最後の第3ヒータ(9)の温度が最も高く
なるように設定する。
このようにすると、リードフレーム(1)は、その搬送
中に先づ半導体ペレット接着手段(5)箇所において、
各アノードリード(2)の先端に半導体ペレットが導電
性ペーストを介して接着されたのち、第1ヒータ(7)
箇所において予備加熱され、次いで第2ヒータ(8)箇
所においてより高温度に加熱され、更に第3ヒータ(9
)箇所において最終温度に加熱されて導電性ペーストの
乾燥が行なわれ、この乾燥後に次の工程であるワイヤボ
ンデング手段(6)箇所に送られるのである。
この場合、実験によると、最終の第8ヒータ(9)番こ
よる加熱温度は250〜800℃に設定すべきであって
、300℃を越えると、その前の予備加熱を如何様に変
えてもペーストによる接着強度が低下する現象が認めら
れ、250℃に達しないときには第8ヒータ(9)で加
熱する区間を長くしないとペーストの乾燥不良を生じ、
完全乾燥のためには第8ヒータ(9)での加熱区間を長
くなって設備が大型化するのである。
また、予備加熱として第1ヒータ(7)と第2ヒータ(
8)を用いた場合には、第1ヒータ(7)による加熱温
度を約150℃に、第2ヒータ(8)による加熱温度を
約210℃に設定するのが最適であり、3つのヒータ(
7) (8) (9)のうち第1ヒータ(7)及び第2
ヒータ(8)を共に150〜210℃とし、第3ヒータ
(9)のみを250〜300℃に設定したり、(この場
合は、ml及びM2ヒータが予備加熱に、第3ヒークが
乾燥加熱になる)第1ヒータ(7)のみを150〜21
0℃とし、第2ヒータ(8)及び第3ヒータ(9)を共
に250〜800℃に設定したり(この場合は、第1ヒ
ータが予備加熱に、第2及び第8ヒータが乾燥加熱にな
る)、或いはヒータを第1ヒータ(7ンと第2ヒータ(
8)との2つにし、第1ヒータ(7)を150〜210
℃とし、第2ヒータ(8)を250〜300℃に設定し
たりしても同様の結果が得られたのである。
そして、これら結果からみて、ヒータは4個以上の複数
個にしても良いことは容易に推測できることであり、ま
た、リードフレーム(1)を最終的に250〜300℃
に加熱することは、リードフレーム(1)表面の酸化を
庄することが考えられるが、これを防止するには、前記
の加熱を窒素ガス又はアルゴンガス等の不活性ガスの雰
囲気中で行なうようにすれば良く、更に本発明は、前記
実施例の発光ダイオードに限らず、他の半導体部品につ
いても同様に適用できることはいうまでもない。
以上要するに本発明は、半導体ペレットを導電性ペース
トにて接着したリードフレームを適宜速度で移送する搬
送経路は、搬送中のリードフレームを250〜300℃
に加熱する乾燥加熱手段を設けると共に、この乾燥加熱
手段の搬送方向手前側の部位に、リードフレームを前記
乾燥加熱温度より適宜低い温度に予備加熱する手段を設
けたことを特徴するもので、これにより、半導体ペレッ
トをペーストにて接着したリードフレームの搬送中にお
いて、そのペーストを当該ペーストによる接着強度を低
トすることなく乾燥できるから、従来のようにペースト
にて半導体を接着したリードフレームを、オーブン式乾
燥器に入れて乾燥を行なう工程が不安になって、次の工
程であるワイヤボンデングに連続することができ、換言
すればボンデングからワイヤボンデングに至る工程を連
続工程とすることができるから、生産性を著しく向上で
きるのであり、しかも、本発明によれは加熱乾燥のため
の搬送区間が短かくて設備を小型1bできる効果を有す
る。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例を示し、第1図は発光ダイオード
用のリードフレームの図、第2図は装置の概略平面図で
ある。 (1)・・・リードフレーム、(4)・・・搬送経路、
(5)・・・半導体ペレット接着手段、(7) (8)
 (9)・・・ヒータ、(6)パ°ワイヤボンデング手
段。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、半導体ペレットを導電性ペーストにて接着した
    リードフレームを適宜速度で移送する搬送経路に、搬送
    中のリードフレームを250〜300℃に加熱する乾燥
    加熱手段を設けると共に、この乾燥加熱手段の搬送方向
    手前側の部位に、リードフレームを前記乾燥加熱温度よ
    り適宜低い温度に予備加熱する手段を設けたことを特徴
    とする半導体ペレットのダイボンデング装置。
JP58094367A 1983-05-27 1983-05-27 半導体ペレツトのダイボンデング装置 Pending JPS59229825A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6016430A (ja) * 1983-07-08 1985-01-28 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法
JPS6065541A (ja) * 1983-09-20 1985-04-15 Shinkawa Ltd 半導体部品の製造方法
JPS6231129A (ja) * 1985-08-02 1987-02-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置組立てボンダ−用ワ−ク加熱装置
CN108817180A (zh) * 2018-07-11 2018-11-16 无锡雷德环保设备有限公司 一种新型直插式led支架成型架构

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5834933A (ja) * 1981-08-26 1983-03-01 Nec Corp ダイボンデイング装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5834933A (ja) * 1981-08-26 1983-03-01 Nec Corp ダイボンデイング装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6016430A (ja) * 1983-07-08 1985-01-28 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法
JPS6065541A (ja) * 1983-09-20 1985-04-15 Shinkawa Ltd 半導体部品の製造方法
JPS6231129A (ja) * 1985-08-02 1987-02-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置組立てボンダ−用ワ−ク加熱装置
CN108817180A (zh) * 2018-07-11 2018-11-16 无锡雷德环保设备有限公司 一种新型直插式led支架成型架构
CN108817180B (zh) * 2018-07-11 2024-04-23 无锡雷德环保设备有限公司 一种直插式led支架成型架构

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