JPS59226836A - 放射温度計 - Google Patents

放射温度計

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JPS59226836A
JPS59226836A JP10214083A JP10214083A JPS59226836A JP S59226836 A JPS59226836 A JP S59226836A JP 10214083 A JP10214083 A JP 10214083A JP 10214083 A JP10214083 A JP 10214083A JP S59226836 A JPS59226836 A JP S59226836A
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JP
Japan
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emissivity
measured
temperature
equation
radiation thermometer
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JP10214083A
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Masahiro Watari
正博 渡
Tadashi Nishihara
正 西原
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Yokogawa Electric Corp
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Yokogawa Hokushin Electric Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/60Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、被測定物体から放射される光に1透過率が最
大値になる波長(以下、透過波長とする)の異なる複数
種類のフィルタを透過させ、各フィル、りを透過した光
をもとにして被測定物体の温度を求める放射温度計に関
するものである。
放射温度針は、非接触で被測定物体の温度を測定するこ
とができる利点を有することから、加熱された鉄鋼の温
度測定等に用いられている。
まず、このような放射温度計の原理について説明する。
物体が放射する分光放射輝度Lλ、Tは、物体の温度T
1物体の放射光が透過させられるフィルタの透過波長λ
および物体の放射率εに依存していて、ウィーンの公式
とブランクの公式を用いて次のような式で与えられる。
Cつ ここで、C1: L19096X10−16[W、m2
]C2” 0.014388   rm−K〕物体の放
射光が透過させられたフィルタの透過波長をλ1.λ2
、透過波長λ1.λ2における物体の放射率をε1.ε
2とすると、各透過波長λ1.λ2と放射率εl、ε2
における分光放射輝度Ll、L2は、2 となる。(2)式を(!I)式で割ると、となり、この
式から温度Tを求めると、となる。この式が、分光放射
輝度IJI + ”2を測定して温度を求める式である
一般には、放射率ε1.ε2は、波長、温度によって変
化するほかに、物体の表面酸化物、付着物等によっても
変わるため、求めることはむずかしい。
このことから、放射率ε1.ε2 は透過波長λl、λ
2によって変わらず、ε1=ε2であるとみなす。この
ようにすると、(5)式は次式のようになる。
放射温度計のなかで、2種類の波長の光を用いて温度を
測定する2色温度計についての原理式が(6)式になる
次に、このような原理を応用した放射温度計の従来の構
成例を第1図に示す。ここでは、放射温度計のなかで2
色温度81の場合について示している。
第1図において、10は光取束部、20け透過波長変換
手段例えばフィルタホイール、3oは検出部、40は演
算部である。
光取束部10では、被測定物体から放射された光を対物
レンズ11で収束する。
フィルタホイール20には、異なった透過波長λ1およ
びλ2のフィルタ211および212が取り付けられて
いて、モータ22により回転させられる。フィルタホイ
ール20の回転位置により、対物レンズ11で収束され
た光は、フィルタ211と212を交互に透過させられ
る。
検出部30において、31け検出器であり、フィルタ2
1を透過した光を検出し、電気信号に変換して出力する
。32は自動利得増幅器(以下、AGC増幅器とする)
であシ、検出器31がらの電気信号を増幅する。33は
信号分離器であり、フィルタH,を透過した光に応じた
信号と、フィルタ212を透過した光に応じた信号を電
気信号v1と■2に分離する。
これらの電気信号Vl + v2は、演算部4oに送ら
れる。
34は同期信号発生器であυ、フィルタホイール2oに
近接して配置されていて、光を透過させているフィルタ
21+、21□に対応した信号を信号分離器33に送る
演算部40において、電気信号v1はゼロクランプ41
に送られる。また、電気信号v2はゼロクランプ41と
比較増幅器42に送られる。ゼロクランプ41は、一定
温度以上に対応した信号が送られてきたところで、信号
を出力する。ゼロクランプ41の出力信号は、増幅器4
3で増幅され、温度計の出力信号となる。比較増幅器4
2には、電気信号■2と基準電圧源44の出力voが与
えられている。そして、比較増幅器42の出力はAGC
増幅器32に与えられていて、これによって電気信号v
1が一定値■oになるようにAGC増幅器42がゲイン
調整されている。
このような放射温度計の電気信号Vl a v2は、次
のような式で与えられる。
v1= L (λ1 、  T ) Rvl QIJ4
       (7)v2= L (λ2.  T )
 Rvt Gl’2       (8)(7)式を(
8)式で割ると、 温度計の出力信号をVzとすると、vxは電気信号vI
K比例していることから、 Vx== K v、             alこ
こで、K:定数 となる。また、電気信号v2は常に一定値になるように
基準電圧源44の出力Voに制御されていることから、 Vo= KV2 となり、この式から となる。011式を60式に代入すると、となり、この
式に(9)式を代入すると、となる。03式で、Rvt
 /Rv21141/lJ2およびVoは温度計固有の
値で定数とみなすことができる。tた、L(λl、T)
/L(λ2.T)は(4)弐に対応している。
このような放射温度計で、出力信号VXが得られると、
(4)式のLl/L2が求められる。ところが、放射率
61.ε2は、求めることが困難である。このため、放
射率a1とε2が等しいとして、alと82が消去され
た(6)式を用いて被測定物体の測定温度を求める。以
下、測定温度を求める演算について説明する。
フィルタ211 、 212として、透過波長がλ1=
0.75 X 10−6[:m]、λ2=Q、85 x
 1o−’ 〔m)のものを用い、被測定物体の放射率
をεl=0.7 、a、、 == 0.8に設定し、被
測定物体の温度を1ooo [’K)から1600[K
]まで変えていくと、被測定物体の真の温度と放射温度
計が測定する温度との誤差は第2図のグラフに示すよう
Kなる。
第2図のグラフでは、横軸に真の温度T1縦軸に誤差温
度と誤差率をとっている。第2図のグラフにおいて、実
線は真の温度と放射温度計の測定温度の差すなわち誤差
温度であり、破線は誤差温度の真の温度に占める割合(
以下、誤差率とする)である。
第2図のグラフから明らかなように、放射率ε1と62
に0.1というわずかな差があるだけで、被測定物体の
温度が1600〔K〕で、測定温度の誤差は、約140
 [:t;] (誤差率約9%)にもなる。
このようなことから、被測定物体の放射率の変動により
、測定温度に大きな誤差が生じるという 、問題点があ
った。
本発明は上述したような問題点を除去するため罠なされ
たものであり、被測定物体の放射率が変動しても、測定
温度に生じる誤差が小さい放射温度計を提供することを
目的とする。
第3図は本発明にかかる放射温度計の一実施例の構成を
示した図であり、ここでは2色温度計の場合について示
している。第3図において、第1図と同一のものは同一
符号を付ける。
第3図において、5oは検出部、6oは演算手段である
検出器51の出力信号は、増幅器51で増幅されて信号
分離手段52に送られる。信号分離手段52は、フィル
タ211 を透過した光とフィルタ212を透過した光
について、それぞれ分光放射輝度り、とL2を求め、こ
れらの分光放射輝度L」とL2に応じた信号を分離して
出力する。同期信号発生器34は、フィルタホイール2
0に近接して配置されていて、光の透過に使用している
フィルタ2+1. 212に対応した信号を信号分離手
段521C送る。
演算手段60は、信号分離手段52から分光放射輝度L
1 + L2に応じた信号を受け、所定の演算方式に従
って被測定物体の測定温度を求める演算をする。
一般に、放射率6は、物体の物性、表面状態、温度、波
長等の関数になる。しかし、2色温度計に代表される多
色の放射温度計では、はぼ同時に同一の測定系で、複数
種類のフィルタを透過した光を用いて測定温度を求めて
いることから、物体の物性、表面状態および温度につい
ては同一条件と考えられ、放射率の透過波長への依存性
が、測定温度の大きな誤差要因になっている。
このようなことから、2種類の異なった透過波長のフィ
ルタを用いて温度測定を行なった場合における被測定物
体の放射率を、1個の未知数を有する波長の関数で近似
する。計算のしやすさを考慮して、放射率6を次のよう
な関数で近似する。
−αf(λ) ε−60 ここで、α:未知数 以下、放射率の近似式の具体的な決定について説明する
放射温度計の測定温度をTm七すると、分光放射輝度り
、、L2は、03式とウィーンの公式を用いて、αとT
mを未知数として、1式と(19式の連立方程式を解く
と、 ここで、(1[i)式を用いて真の温度Tと測定(fA
 lff1 Trnとの誤差を求める。
被測定物体の真の放射率を61.ε2とすると、(2)
式と(3)式をfIQ式に代入して、 ここで、誤差率は、 山、−Tm二                任qT ただし、ΔT、:Tm−T となる。a1式にQlO式を代入すると、となる。ここ
で、 とすると、■式は、 となる。Q方式とに)式において、Aはε1.ε2の関
数であり、測定電圧の誤差の要因となる。したがって、
B>Aとなれば、誤差が小さくなることになる。このよ
うなことから、A/Hについて検討をする。
となる。(ハ)式で、f(λ)を次のような関数におい
てみる。
f(λ)=λn               (ハ)
ここで n:整数 (ホ)式をや4式に代入すると、 となる。ここで、λ2=λ1+Δλとして、この式をに
)式に代入し、1次近似をして整理すると、となる。
ここで、λl:o、75 X 10″″’ [m〕、λ
2 = 0.85 X 10−’〔m〕、T = 16
ooCK:] 、C2= o、o14saa[m−K]
として、放射率について、al二0.4.ε2−0.9
5.6I:=1]、95゜ε2=0.4およびεl=ε
2=0.4の3つの場合について検討する。
上記したような値を(ロ)式に代行し、グラフにすると
、第4図に示すようになる。
第4図のグラフでは、縦軸ICA/Bをとシ、横軸K(
ハ)式における整数nをとっている。第4図のグラフに
おいて、曲IJa、bおよびCは、放射率が、εl =
 0.4と62=0.95、εl:0.95とε2:0
.4および61=ε2=[1,4の場合のグラフである
第4図のグラフから、nが犬きくなるにつれて、グラフ
aとグラフCが近づくため、A/’Bは放射率の比ε1
/ε2の変動から受ける影響が小さくなる。
一方、グラフbでは、nが大きくなると、A/Bが大き
くなって測定温度の誤差が大きくなる。グラフbすなわ
ち放射率がεに62の場合の測定温度の誤差が大きくな
ると、放射温度計の長所が失なわれることKなる。この
ようなことから、放射率が8に62の場合の測定信号の
誤差が小さく、シかもA/Bが放射率の比ε1/ε2の
変動により受ける影響が小さくなるように、n−2に設
定する。
以下、放射率8の近似式を用いで求めた測定温度の誤差
について説明する。
透過波長がλl、λ2のフィルタを透過した光について
の黒体放射輝度をLλ、rLλ2 とすると、ウィーン
の公式から、 Ll =  aIL2.              
  elJL2=l12Lλ、           
   (コ)となる。
ここで、αj式と(イ)式およびn = 2から、放射
率εは次のような関数で近似される。
分光放射輝度L1+L2と測定温度Trrlとの関係は
、次のようになる。
(33)式と(34)式の連立方和式を測定温度Tmに
ついて解くと、 となる。(35)式に(3o)式と(31)式を代入す
ると、となる。(36)式に(28)式と(29)式を
代入して、となる。ここで、誤差率ΔT/’rは、a!
1式を用いて、となる。ここで、ε!=γε2とおきか
えると、(418)式は、 となる。
ここで、フィルタの透過波長λI=[]、75 x+o
  (:+n+)、λ2=o、as x 1o−6[:
m] 、一方の放射率ε2::0.4 として、被測定
物体の温度Tを1000 、1500および1600〔
IOの5通りに設定する。このような条件のもとで、(
39〕式の誤差率ΔT/Tと放射率の比γの関係をグラ
フにすると、第5図に示すようになる。
第5図のグラフでは、縦軸に誤差率ΔT/T f、とり
、横軸に放射率の比γをとっている。また、曲用d。
eおよびfは、温度Tを1600 、110および10
00〔IOに設定したときのグラフである 従来の測定温度を求める演算づなわち放射率がε1=6
2であるとして(6)式を用いて測定温度を求める演算
では、誤差率ΔγTと放射率の比γの関係をグラフに示
すと第6図のようになる。
第6図のクラ7では、縦軸と横軸、透過波長λ1゜λ2
については、第5図のグラフと同一である。また、曲線
g、h、におよびlは、温度Tを+6QO。
1400、1200および1000[IC]に設定した
ときのグラフである。
前述したように検出部5oで求めた分光放射輝度Ll 
、 t、2をもとにして、(35)式を用いて測定温度
Tmを求める演算は、演算手段6oが行なう。
このような構成の放射温度計によれば、放射率εを透過
波長2の適切な関数洗近似して被測定物体の測定温度を
求めている。このため、第5図のグラフと第6図のグラ
フの比較に示すように、被測定物体の放射率が変動して
も、測定温度に生じる誤差を小さくすることができる。
なお、実施例では透過波長の異なる2種類のフィルタを
用い、放射率εfc1個の未知数含有する関数で近似し
た場合について説明したが、これに限らず透過波長の異
なるN種類(Nは3以上の整数)のフィルタを用い、放
射率aをN−j個の未知数を有する関数で近似してもよ
い。
また、実施例では透過波長変換手段20としてフィルタ
ホイールを用いた場合について説明したが、透過波長変
換手段20としてはこれ以外のもの例えば透過波長が異
なるフィルタを固定配値しておき、変位可能なプリズム
によって光の進行方向を変え、各フィルタに交互に光を
入射させるようにしたもの等であってもよい。
また、実施例では検出器31が1個設けられている場合
について説明したが、検出器31はこれ以外の複数個だ
け設けられていてもよい。
また、実施例では放射温度計が2色温度計である場合に
ついて説明したが、放射温度計としてはこれ以外の複数
が類の波長の光を用いた多色温度計であってもよい。
以上説明したように本発明によれば、被測定物体の放射
率が変動しても、測定温度に生じる誤差が小さい放射温
度計を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は放射温度計の従来の構成例を示した図、第2図
は第1図の放射温度計の誤差の温度特性を示したグラフ
、第3図は本発明にががる放射温度計の一実施例の構成
を示した図、第4図は放射率の近似式を求めるために用
いるグラフ、第5図は第3図の放射温度側により求めた
測定温度の誤差率と放射率の比の関係を示したグラフ、
第6図は従来の放射温度計により求めた測定温度の誤差
率と放射率の比の関係を示したグラフである。 21、21. 、212 ・・・フィルタ、6o・・・
演算手段。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  被測定物体から放射された光に透過波長の異
    なるN個(Nは2以上の整数)のフィルタを透過させ、
    各フィルタを透過した光をもとKして前記被測定物体の
    温度を求める放射温度計において、 前記各フィルタの透過波長に対応した前記被測定物体の
    放射率を、N−1個の未知数を有する透過波長の関数で
    それぞれ近似し、これらの近似した放射率を用いて、所
    定の演算式から被測定物体の温度を求める演算手段を具
    備したことを特徴とする放射温度計。
  2. (2)  前記演算式にウィーンの公式およびブランク
    の公式を用いたことを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の放射温度計。
JP10214083A 1983-06-08 1983-06-08 放射温度計 Granted JPS59226836A (ja)

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JP10214083A JPS59226836A (ja) 1983-06-08 1983-06-08 放射温度計

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JP10214083A JPS59226836A (ja) 1983-06-08 1983-06-08 放射温度計

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JPH0257253B2 JPH0257253B2 (ja) 1990-12-04

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02306130A (ja) * 1989-04-17 1990-12-19 Mitsubishi Materials Corp 焼成炉温度測定方法及びその装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02306130A (ja) * 1989-04-17 1990-12-19 Mitsubishi Materials Corp 焼成炉温度測定方法及びその装置

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