JPS5922271B2 - 座標読み取り装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、カーソルとプラテンとの間に生じる静電結合
又は磁気結合を利用してカーソル位置を決定する座標読
み取り装置に関する。

従来から知られている座標読み取り装置には種種の方式
が考えられているが、いずれの方式によつても測定精度
を上げるため、回路及びプラテンの構造が複雑なものと
なつている。

更に、直線性の良い測定を行うことが困難でもあつた。
よつて本発明の目的は、上記欠点を排し、簡略化された
構造によつて正確な測定を行い得る座標読み取り装置を
提供せんとするものである。

上記目的を達成するため、本発明の座標読み取り装置に
おいては、参照信号をプラテンに与え、この信号をプラ
テン上に進行波として送り出す。この進行波をプラテン
上に置かれたカーソルにより検出すると、参照信号と同
じ周波数成分を含み、カーソルの位置座標と進行波の出
発点との距離に応じた位相差を有する検出信号（以下、
ピツク・アツブ電圧と称する）が得られる。従つて参照
信号とピツク・アツプ電圧との位相差を得ることにより
、カーソルの位置座標を測定することができる。なお、
位相差は実際には時間差等として測定される。上述の進
行波を得るためには、たとえばプラテン内に多数の平行
導体を埋め込んでおき、クロツク毎に各導体上の信号レ
ベルを隣接する導体へシフトして良い。また、位置座標
の分解能を向上させるため、以下に示す構成をとること
ができる。

すなわち、位相差測定の分解能をａ（度）、進行波の波
長をＬ（ｍ！）とすれば、位置座標の分解能ＣはＣ＝Ａ
ＸＬ／３６０（ｍｌ） と表わされる。

位相差測定の分解能ａの向上には当然ながら限度がある
ので、位置座標の分解能を更に向上させるためには上式
の分子にあるもう一方の係数である進行波の波長Ｌを短
かくする必要がある。ところが、位相差の測定結果Ａ（
度）は０度から３６０度までの値として与えられるので
、進行波の進行方向についてのプラテン長Ｑが進行波の
波長Ｌよりも長い場合は、位置座標Ｐ（Ｍｗ！）は、Ｐ
−ＡＸＬ／３６０＋ＮＸＡ（ｍｌ！） （ただし、Ｎは、上式においてＰの値がＯ以上Ｑ以下と
なる様な整数）として表現され、唯一には定まらない。

そこで、この場合はＡよりも長い波長Ｂを有する第２の
進行波を用いて同様の測定を行なうことにより、位置座
標Ｐを唯一に定めることができる。以下、図面を用いて
本発明の座標読み取り装置を詳細に説明する。

第１図は、本発明の一実施例による座標読み取り装置１
を示す斜視図である。

座標読み取り装置１に接続された卓上型電子計算機２＆
叡読み取られた座標データを処理するコントローラであ
る。したがつて上記計算機はコントローラとしての一例
を示したにすぎず、本発明と直接な関係を有するもので
はない。本発明に係る装置を使用する場合、まず座標読
み取りを行おうとする用紙をプラテン３の上に載せ、そ
の後カーソル４を任意の点又は線に沿つて移動させる。

なおキーボード５及びデイスプレイ６は、本発明と直接
の関係をもたない。第２図は、第１図に示されたカーソ
ル４の拡大図である。

カーソル４は、ブラテン３に内挿されたトレース（後に
説明する）との間において静電容量を形成するため、透
明な電極から成る。ここで人体などによる静電容量への
影響を除去するため、真の電極（ピツク・アツプ電極２
４という）の上下左右にはシールド５４が配置されてい
る。しかし下方のシールド５４には、プラテンとの間に
静電容量を形成するため、円形の開口部２３が設けられ
ている。ビツク・アツプ電極２４及びシールド５４は、
ガラス表面にコーテイングされたインジウム・オキサイ
ド（ＩｎｄｉｕｍＯｘｉｄｅ）から成る３層の透明電極
である。またカーソル４は、その付属ケーブル内に設け
られた真空チヤネルにより、プラテン上に吸着される。
そしてカーソル４の吸着及び切り離しを制御するため、
エア・スイツチ５５がプラテン本体の外周部に設けられ
ている。また上述した円形透明電極の中心には十文字の
照準マークがしるされている。よつて本装置による読み
取り座標は、この十文字の中心点を表わすことになる。
第３図は、第１図に示されたブラテン３の構造を示した
斜視図である。

プラテン３には上部ガラス５１と下部ガラス５２との間
にはさまれたトレース１７，１８が存在する。これらト
レースは５１１の等間隔で配置されている。またそして
トレース１７と１８は互に直交している。なお上部ガラ
ス５１の表面はつや消し処理をほどこしてある。このこ
とにより、下部ガラス５２の下面方向から入射した光を
散乱させ、あるいは投映させる働きをする。第４Ａ図及
び第４Ｂ図は、カーソル４のピツク・アツブ電極２４（
第２図参照）と、プラテン３に内挿されたトレース１７
又は１８（第３図参照）との間に生じる静電容量を説明
した図である。

ここでピツク・アツプ電極２４は、説明の都合上、実際
よりも広く描かれている。各トレースには、後に述べる
如く、一定の電圧が逐次印加されるため、第４Ｂ図に示
される如き等価回路が得られる。するとｏキ（Ｃ１＋Ｃ
２＋−一＋Ｃｎ）Ｖ／ＣＬ・・・・・・・・・（１）な
る電圧が得られる。

第５図はプラテンの各トレースに印加される電圧と、カ
ーソルのピツク・アツプ電極２４に生じる電圧との関係
を説明したタイミング図である。

本発明に係る装置においては、図に示される如く、各ト
レースに電圧が逐次印加されていく。つまり、ここにお
いてはプラテンの端に与えられた２値信号である参照信
号（Ｉｎｔｅｒｒｌａｌｒｅｆｅｒｅｎｃｅｓｉｇｎａ
ｌ、以下、ＩＲＥＦ信号と称する）の立ち上りエツジが
進行波としてトレース間を次々に伝搬していく様子を示
しているのである。するとピツク・アツプ電極２４には
階段状のピツク・アツプ電圧が生じる（第１式参照）。
ここで各ステツプの高さは、ピツク・アツプ電極２４と
トレース１７又は１８との間に生じる結合容量に依存し
て変化する。そしてカーソルの中心点はピツク・アップ
電極の中央に位置されているため、ピツク・アツプ電圧
における全振幅の中央値、すなわち（最大電圧＋最小電
圧）／２、をとる時刻がカーソルの中心点直下を進行波
の立ち上りエツジが通過する時刻に相当する。したがつ
て前記中央値の生じる時間を測定し、その時間を長さに
変換することにより、カーソルの概略位置を検出するこ
とができる。第６図は、第５図に示した階段状ピツク・
アツプ電圧からカーソルの中心点を求める方法を説明し
た図である。

即ちピツク・アツプ電圧をまずフイルタにより正弦波電
圧に整形し、次いでこれを零交差検出器に印加する。す
ると図示されたスタート点とストツプ点との時間差△Ｔ
がカーソル位置に対応することになる（詳細は次に説明
する）。第７Ａ図は、本発明の一実施例による座標読み
取り装置全体を示した概略プロツク図、第７Ｂ図は第７
Ａ図に示された本実施例を詳細に示したプロツク図、第
７Ｃ図は第７Ｂ図に示された実施例を更に詳細に示した
プロツク図である。以下第７Ａ図ないし第７Ｃ図及びそ
の他の図面を参照して本発明における座標読み取りの動
作過程を詳細に説明する。その前に以下で行なわれる説
明の流れを概観する。まず（１）から（３）においては
本動作過程の全体の流れの概要を示す。

次いで（４）から（７）１ｔｃおいては本動作過程の１
つの段階である概略位置測定モードについての詳細な説
明が与えられる。

本モードにおいてはプラテン上に長波長の進行波を進行
させ、ピツク・アツプ電圧とＩＲＥＦ信号との位相差を
測定することにより位置測定を行なう。そのため、本モ
ードにおいては位置分解能は低いが、そのかわりカーソ
ルの位置座標は唯一のものが得られる。（８）からσ０
）においては精密位置測定モードの詳細な説明が与えら
れる。

本モードにおいては複数周期がプラテン上に同時に存在
する様な短波長の進行波をプラテン上に進行させ、長波
長の進行波の場合と同様にして位置測定を行なう。その
ため前述の概略位置測定モードとは反対に、高い位置分
解能だが多数の位置座標の候補が得られる。概略・精密
両位置測定モードによる測定結果をつき合わせることに
より、プラテン上のカーソル位置を精密位置測定モード
の分解能をもつて唯一に特定することができる。ＱＯ以
降では測定回路内の時間遅れ等による誤差を補償する測
定誤差補償モード、Ｘ．Ｙ両座標の求めかた、カーソル
移動中の測定による誤差等について詳細に説明されてい
る。

なお、第７Ａ図には本発明の座標読み取り装置の概略の
プロツク図が示されている。

ここにおいて、Ｘシフト・レジスタ（Ｙシフト・レジス
タでも同様である）の端からＩＲＥＦ信号（ここでは２
値のデイジタル信号）が与えられ、クロツク信号により
１ビツトずつシフトされる。シフト・レジスタの各ビツ
トにはプラテン内に埋め込まれたトレースが１本ずつ結
合されているので、これらトレースに直交する方向にＩ
ＲＥＦ信号が進行波となつて進んでいくことになる。カ
ーソルからのピツク・アツプ電圧は、増幅された後、Ｉ
ＲＥＦ信号の繰り返し周波数成分だけを通すフイルタを
通過する。フィルタの出力は零交差検出器を通ることに
より、位相を保持したままデイジタル化される。この信
号とＩＲＥＦ信号との位相差を位相カウンタにて求め、
プロセツサにて処理する。（１）座標読み取り動作はＸ
方向及びＹ方向のそれぞれにつき別個に行われる。（２
） Ｘ方向に直交するトレース４６（第７Ｂ図参照）は
、それぞれｘシフト・レジスタ９の各ビツトに接続され
る。

ここでＸシフト・レジスタ９には５ＫＨｚｆ）ＩＲＥＦ
（Ｉｎｔｅｒ［１ａ１Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ）信号が入力
信号として印加されている。またｘシフト・レジスタ９
のＸ方向へのシフト・レートは１．８ＭＨｚ（又は４０
ＫＨｚ）のシフトクロツクにより制御される。換言する
と、Ｘシフト・レジスタ９に印加される入力信号（５Ｋ
Ｈｚ）は１００μ秒のハイ・レベル及び１００μ秒のロ
ー・レベルから成る周期的なパルス信号である。そして
前記パルス信号が１．８ＭＨｚ（又は４０ＫＩＩｚ）の
シフト・クロツクによりＸ方向に逐次シフトされること
になる。（３） Ｘ方向の座標位置測定は３つの測定モ
ードから成る。Ｙ方向の座標位１１定についても同様で
ある。即ちＸ方向の座標位置測定については（ａ）概略
位置測定モード（以下ＣＯａｒｓｅＭＯｄｅ又は概略モ
ードという）（ｂ）精密位置測定モード（以下Ｆｉｎｅ
ＭＯｄｅ又は（ｃ）測定誤差補償モード（以下Ｒｅｆｅ
ｒｅｎｃｅＭＯｄｅ又は補償モードという）の測定を必
要とする。

（４）概略モードのとき、ｘシフト・レジスタ９のシフ
ト・クロツクには１．８ＭＨｚが用いられる（第７Ｂ図
参照）。

即ち１．８ＭＨｚのシフト・クロツクによりＸ方向にシ
フトされる速さは、１ビツトあたり１／（１．８×１０
６）秒＝０．５５６μ秒である。

ところがＸシフト・レジスタ９に印加されている入力信
号（ＩＲＥＦ信号）は１００μ秒ごとに周期的なレベル
変動をする５ＫＨｚパルス信号であるため、シフト・レ
ジスタ上の各ビツトは１００／０．５５６＝１８０ビツ
ト ごとにハイ・レベル又はローレベルを呈することになる
。

換言すれば、Ｘシフト・レジスタ９の直列ビツト数が無
限にあると仮定した場合、１８０ビツト毎にレベル変動
を行う波（即ち一周期３６０ビツトの波）がＸ方向に進
行していくことになる。よつて、この波を進行波と呼ぶ
。第８図は、ブラテンが十分に広いと仮定した場合に、
該プラテン上に印加される電圧（進行波）を説明した図
である。ｘシフト・レジスタ９の各ビツトはプラテンの
各トレースに接続されており、本実施例において各トレ
ースの間隔は５ｍ７１ｔである。よつて概略モードによ
つて生じる進行波の一周期は図に示される如く５１１Ｂ
×３６０（ビツト）＝１．８メートルとなる。

プラテンの大きさが１８０ｃＴｎを越えると、プラテン
上には１サイクル以上の進行波（概略モードのとき）が
存在することになる。

ところがカーソルの概略位置は、後に詳述する如く前記
進行波上の特定位置を検出し、当該位相の大きさを長さ
に換算せんとするものである。よつてプラテン上に１サ
イクル以上の進行波が存在したのでは、カーソルの概略
位置が求められないことになる。以上の理由から、プラ
テンの大きさは一定の制限を受けることになる。５）か
くして各トレースに印加される電圧は、時間の経過に伴
つて第５図及び第６図に示される如き変化をすることに
なる。

しかしＸシフト・レジスタ９の入力信号（ＩＲＥＦ信号
）は５ＫＨｚであるから、各トレースに印加される電圧
は２００μ秒ごとに同一現象を繰り返すことになる（シ
フト・クロツクの周波数に関係ない）。即ちシフト・ク
ロツク＆叡Ｘ方向への進行波速度を決定するだけである
。３）第７Ｂ図において、ピツクアツプ電極２４に生じ
る電圧は階段状の信号（周期２００μ秒）となる。

よつて５ＫＨｚのバンドパス・フイルタ７及び零交差検
出器８を通過したピツク・アツプ電圧は５ＫＨｚのカー
ソル位置パルス４３となつて現われる。前記パルス４３
は、Ｘシフト・レジスタ９の入力信号（ＩＲＥＦ）に比
べて、カーソル位置に比例した時間遅れを有する（第７
Ｂ図左上参照）。そこで前記１ＲＥＦ信号の立ち上リエ
ツジにより位相カウンタ１２をスタートさせ、その後前
記カーソル位置パルス４３の立ち上りエツジにより位相
カウンタ１２をストツプさせる。すると位相カウンタ１
２で測定された位相は、カーソル位置に相当する。（７
）概略モードにおける位相測定の分解能は次のようにし
て求めることができる。位相カウンタ１２に印加される
信号（５ＫＨｚ）の一周期は２００μ秒である。

ところが位相カウンタ１２に用いられる基準クロツク信
号の周波数は１８ＫＨｚである。よつて２００μ秒の一
周期中に、前記基準クロツクは３６００サイクル含まれ
ることになる。即ち分解能は一位相の１／３６００とな
る。概略キードにおいて一位相の長さは既述の如く１８
０ＣＴＩＬである。故に分解能はとなる。

第９図は、概略モードにおいて生じる進行波、ピツクア
ツプ電圧、フイルタ出力信号、零交差 〉検出器の出力
信号が如何なる関係にあるかを説明したタイミング図で
ある。

本図においては、これまでに説明しなかつた「フイルタ
による遅延」が示されている。このフイルタによる遅延
は、後に述べる測定誤差補償モードにおいて補 二償す
ることができるので、概略測定モードの動作原理に何ら
影響を与えるものではない。（８）次に、より正確な分
解能を得るため、精密モードによる測定を行う。

この測定モードにおいて、ｘシフト・レジスタ９のシフ
ト・クロツク ．′は４０ＫＨｚとなる（概略モードの
ときは１．８ＭＨｚ）。その他、Ｘシフト・レジスタ９
への入力信号（ＩＲＥＦ）及び位相カウンタ１２の基準
クロック信号は概略モードの場合と全く同じである（第
７Ｂ図参照）。シフト・クロツクが４０ＫＨｚであるか
ら、シフト・レジスタの進行速度は、１ビツトあたり１
／（４０×１０３）−２５μ秒 である。

ところがＸシフト・レジスタ９に印加されている入力信
号（ＲＥＦ）は１００μ秒ごとに周期的なレベル変動を
する５ＫＨｚのパルス信号であるため、シフト・レジス
タ上の各ビツトは１００／２５−４ビツト ごとにハイ・レベル又はロー・レベルを呈することにな
る（第８図参照）。

即ち一周期８ビツトの波がＸ方向に進行することになる
。既に説明した如く、シフト・レジスタの１ビツトはト
レース間隔５ｍｍに相当するから、精密モードによつて
生じる進行波の一周期は５７ｆＬｍ×８（ビツト）−４
０ｍｍ となる。

｝）位相カウンタ１２における分解能は、既述の如く一
位相の１／３６００である。

よつて精密位置測定モードにおける分解能は、となる。

０）精密モードでは上述の如く正確な分解能を得られる
が、プラテン上には複数周期分の進行波が存在している
ため、位相情報だけからでは第何番目の進行波であるか
（第何番目の周期であるか）を識別することができない
。

そのため、概略モードによる測定を前もつて行う必要が
ある。第１０図は、第９図と同様、精密モードにおいて
生じる複数の進行波、ピツクアツプ電圧、フイルタ出力
信号、零交差検出器の出力信号が如何なる関係にあるか
を説明したタイミング図である。

１０以上の説明においては、５ＫＨｚフイルタ７（第７
Ｂ図参照）の遅延時間及び各増幅器の時間遅れを無視し
ていた。

しかし現実に、これら時間遅れは測定値に重大な影響を
与えるため、何らかの手段により補償をしなければなら
ない。そのため、補償モードによる測定が必要となる。
第１１図は、補償モードの動作原理を説明した図である
。いまＸ方向の位置測定について考えているため、Ｙシ
フト・レジスタに接続されているトレースは全て接地さ
れる。そしてＸシフト・レジスタ９に接続されているト
レースの印加電圧を全て同時に変化させる（５ＫＨｚ）
。既ち概略モード又は精密モードのときと異なり、シフ
ト・レジスタとしての機能を働かせないことになる。こ
のようにして得られたピツクアツブ電圧はフイルタ７、
零交差検出器８を介して位相カウンタ・コントローラ１
１に印加される。概略モード及び精密モードのときと同
様に、位相カウンタ１２はＩＲＥＦ信号（５ＫＨｚ）の
立ち上りエツジにより計数を開始しているため、零交差
検出器８の立ち上りエツジにより位相カウンタの計数が
停止される。かくして得られた値がフイルタ等による現
実の時間遅れであり、別のマイクロプロセツサ（図示さ
れていない）により概略モード及び精密モードの測定値
に修正を加える。Ｕ２）カーソルの座標を求めるため、
実際には次に示す順序により６種の測定を行う必要があ
る。

これら測定はマイクロプロセツサにより制御される。（
１） Ｘ方向概略モード （６）Ｘ方向補償モード （ＩｉＯＸ方向精密モード （１Ｖ）Ｙ方向精密モード （Ｖ） Ｙ方向補償モード （Ｖ｝Ｙ方向概略モード （自）カーソルを動かしながら座標測定を行うと、現実
の座標との間に測定誤差が生じる。

第１２図は、カーソルの移動に伴つて生じる測定誤差を
説明した図である。

図示される如く、まずＸ座標の測定（上述した３種の測
定モードを必要とする）を行うが、この間にカーソルは
移動してしまい、Ｙ座標を測定する時刻には当初の位置
から相当はなれてしまう。よつて現実に測定される座標
は、カーソル上にない別の座標を表わすことになる。第
１３図は、カーソルの移動距離と測定される座標との関
係を説明した図である。

図において、ｔ１はカーソルがＸ１座標からＸ２座標へ
移動するのに要する時間、Ｔ２はＸ２座標からＹ１座標
へ移動するのに要する時間を表わす。するとＫ＝（Ｘ２
−Ｘ１）・（Ｔ２／ｔ１） であるから Ｐ２＝｛（Ｘ２＋Ｘ′）、Ｙ２｝ となる。

ａカーソル（ピツク・アツプ電極）がプラテンの中心部
付近にあるとき、プラテンのトレースとビツク・アツプ
電極との結合容量は均一な値を示す。

しかしブラテンの両端付近にカーソルが位置されるとき
、以下に述べる不都合が生じる。即ち第１４図に示す如
く、ピツク・アツプ電極２４に生じる結合容量はブラテ
ン両端に近づくほど減少してくることになる。第１４図
は、カーソルがプラテンの端部に位置されたときに生じ
るピツク・アツプ電圧及びフイルタの出力電圧を説明し
た図である。

図示される如く、ピツク・アツプ電極２４から得られる
電圧は第９図又は第１０図に示されたような階段状波形
とならないため、フイルタの出力電圧はある位相シフト
を受ける。そのためカーソルの位置測定に誤差が生じる
ことになる。この誤差を除去するため、第１５図又は第
１６図に示す方法が採られる。第１５図は、カーソルが
プラテン端部に位置されたときに生じる測定誤差を除去
するため、プラテンを実質上拡張することの必要性を示
した図である。

本図に示した方法によれば、フイルタ出力信号における
不要な位相シフトを取り除くことができるが、余分な回
路を必要とする。即ち余分に付け加えられたトレース全
てに対し、シフト・レジスタを接続しなければならない
からである。なお余分なシフト・レジスタ数を減少させ
るため、次の方法を用いることも可能である。第１６図
は、必要なシフト・レジスタの数を減少させるために付
加された補助トレース１９の働きを説明した図である。

図示される如く補助トレース（４ｍＴＬ間隔）を設ける
ことにより、その本数分だけシフト・レジスタの数を減
少させることが可能となる。Ｑ第１７図は、磁気ピツク
アツブ・コイルを用いた本発明の他実施例を説明した図
である。

本実施例においては、各トレースとシフト・レジスタと
の間に定電流源７３が接続されている。また磁気ピツク
アツプ・コイル７４の直径は、精密モードにおける進行
波波長の約半分が望ましい。その他の動作は、既に述べ
てきた動作とほぼ同様である。以上述べた如く、本発明
によれば概略モード、精密モード、補償モードの各測定
モードにより、分解能を上げた正確な位置読み取り装置
が実現される。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例による座標読み取り装置１及
びそのコントローラ２を示した斜視図、第２図は第１図
に示したカーソル４の拡大図、第３図は第１図に示した
プラテン３の構造を示した斜視図、第４Ａ図及び第４Ｂ
図はカーソル４のピツク・アツプ電極２４（第２図参照
）とプラテンに内挿されたトレース１７，１８（第３図
参照）との間に生じる静電容量を説明した図、第５図は
プラテンの各トレースに印加される電圧とカーソルのピ
ツク・アツプ電極２４に生じる電圧との関係を説明した
タイミング図、第６図は第５図に示した階段状ピツク・
アツプ電圧からカーソルの中心点を求める方法を説明し
た図、第７Ａ図ないし第７Ｃ図は本発明の一実施例によ
る座標読み取り装置全体を示したプロツク図、第８図は
プラテンが十分に広いと仮定した場合に該プラテン上に
印加される電圧（進行波）を説明した図、第９図及び第
１０図は、概略位置測定モード及び精密位置測定モード
において生じる進行波、ピツクアツプ電圧、フイルタ出
力信号、零交差検出器の出力信号が如何なる関係にある
かを説明したタイミング図、第１１図は測定誤差補償モ
ードの動作原理を説明した図、第１２図及び第１３図は
カーソルの移動に伴つて生じる測定誤差を説明した図、
第１４図はカーソルがブラテンの端部に位置されたとき
に生じる測定誤差を説明した図、第１５図及び第１６図
はカーソルがプラテン端部に位置されたときに生じる測
定誤差を除去するための方法を説明した図、第１７図は
磁気ピツクアツプ・コイルを用いた本発明の他実施例を
説明した図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 周期的に変化する参照信号を発生する参照信号発生
   手段と、前記参照信号に基いた進行波をプラテン上に進
   行させる進行手段と、前記プラテン上の任意の位置に置
   かれ前記進行波を検出して検出信号を発生するカーソル
   手段と、前記参照信号と前記検出信号との位相差に基い
   て前記カーソル手段の位置座標を測定する測定手段とを
   設けた座標読み取り装置。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の座標読み取り装置にお
   いて、前記プラテンに複数本の平行導体を設け、前記進
   行手段はクロック信号に同期して前記参照信号を順次シ
   フトするシフトレジスタ手段を有し、前記シフトレジス
   タ手段中の各記憶位置を前記平行導体の夫々に結合する
   ことにより、前記進行波を前記平行導体に直交する方向
   に進行させることを特徴とする座標読み取り装置。 ３ 特許請求の範囲第１項記載の座標読み取り装置にお
   いて、前記プラテン上を進行する前記進行波は、前記プ
   ラテンの前記進行波の進行方向の長さ未満の波長を有す
   る第１の進行波と前記第１の進行波よりも長い波長を有
   する第２の進行波のうちから選択的に発生され、前記測
   定手段は前記第１及び第２の進行波についての前記検出
   信号と前記参照信号との位相差に基いて前記座標位置を
   測定することを特徴とする座標位置読み取り装置。