JPS59220620A - 分光器のスリツト装置 - Google Patents

分光器のスリツト装置

Info

Publication number
JPS59220620A
JPS59220620A JP9478583A JP9478583A JPS59220620A JP S59220620 A JPS59220620 A JP S59220620A JP 9478583 A JP9478583 A JP 9478583A JP 9478583 A JP9478583 A JP 9478583A JP S59220620 A JPS59220620 A JP S59220620A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit
data
wavelength
spectrometer
width
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9478583A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomoyuki Kikukawa
知之 菊川
Yoji Sonobe
園部 洋治
Kenichiro Umezaki
梅崎 健一郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP9478583A priority Critical patent/JPS59220620A/ja
Publication of JPS59220620A publication Critical patent/JPS59220620A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/04Slit arrangements slit adjustment

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は分光器から出射される光をその焦兄位置に配
置したスリット機構のスリットを通A壊せて後段の受光
器に供給する分光器のスリットl置に係り、特に前記焦
点位置に集光される光の諺長に応じて前記スリソ1・の
幅を制御してその分角・能を所望の値にするようにしだ
分光器のスリット装置に関する。
分光器においては、レンズ系や光ファイバー4ーグルな
どによって導かれた被測定光をグレーライング(回折格
子)やプリズム等を有する光学jによって分光した後に
、これをスリット装置内クスリノ1・で選択することに
より前記被測定元から所望波長の光だけを取出している
ところでこの光学系により得られる光の彼長/とスリソ
HH=4のスリット幅J3との間には、f B=−.H・λ・・・(1) r−k なる1少」1,(N式か成り立つ。た/こしこの場合、
fはコリノークレンズ(集光ミラー)の焦点距離、[ハ
回コリメークレンズの有効半径、1(はグレーテイング
によって決丑る定数、1−■はスペクトル半値幅(分)
リイ能)である。したがって同一の光学系においてはf
は定数となシ、これをaと置き挨えれ1′暑く ぱ前記(1)式は、 13二a・■」・λ・・・(2) とな9、この(2)式から明らかなように、このような
光学系では測定する光の波長λを走歪させた場合におい
て所望の分解能Hを得るためには、波長λにL−6して
スリツ1・幅Bを変える必要がある。
しかしながら従来においては、機構を簡素化するために
スリソト幅Bを一定にして分解能の方を犠牲にしたシ、
寸だそのスリソト幅Bを可変し得るように構成されたも
のでも換算表々どを見ながら操作岐がその幅を手動で可
変するものであったので、各波畏において最適なスリッ
ト幅Bが得られなかったり、また得られたとしてもその
操作が煩雑になるなどの不都合があった。
この発明は上記の点に鑑み、焦点位置に集光される光の
波長を変化きせた場合においても、各波長に対応したス
リット幅データを求めるとともに、このスリット幅デー
タに基づきスリット機構のスリットを最適幅にして所望
の分解能を得ることができる分光器のスリット装置を提
供することを目的とするものである。
そしてこの発明における分光器のスリット装置において
はこの目的を達,成するために、光学系の焦点位置に集
められる光の波長値λおよび所望すl る分N枦l基づいてa−H・λ(ただし、aは前記分光
器などの光学系に一有の定数)を演算してスリット幅B
(B=a−H・λ)を求める演算手段と、この演算手段
が出力する前記スリット幅Bに応じてそのスリット幅を
変化させるスリット幅可変機構とを具備したことを特徴
としている。
以下この発明を図面に示す実施例にしたがって説明する
第1図はこの発明による分光器のスリット装置の第1実
施例を適用した光学機器の一例を示すプロック図であり
、第2図はこの実施例に用いられるスリット機構の一例
を示す斜視図である。第1図において、■はこのスリッ
ト装置が設けられている分光器の操作部であり、この操
作部1にある各種ヌイソチのうちの波長データ設定スイ
ソテが操作されて波長データλが入力されるとこの波長
データλがスリット幅制御回路2内のスリット幅一演算
回路(演算手段)3に供給IA給され、またf5+j iII記波長データ設定スイソチに対応しで前記各種l
しスイッチのうちの分解能設定スイッチが操作されてス
《クトル半値幅データ(分チ』イ能データ)Hが入力さ
れると、このスKクトル半値幅データHが前記スリット
幅演算回路3に供給される。スリット幅演算回路3はマ
イクロプロセッサ、フ0ログラムおよび各種の定数が予
め記憶されている110八・I(リードオンリーメモリ
)、作業エリアとなるtwv+(ランダムアクセスメモ
リ)、各独のインターンエースなどから梅成されるもの
であシ、前記操作都1から供給されるAiJ記波長デー
タλ、スKクトル半値幅データJ■およびAfJ記1{
,OMに記憶されている分光器4の各定数(すなわちコ
リメ−タンンズ5の焦点距離データf、同コリメータレ
ンズ5の有効半径rおよびグレーテイング6によって決
まる定数データk)に基づいて前記(1)式に示す演f 算・8−〒]゜1゜1′を行fxQ11(7)波長2゛
一′゜λおよびスイクトル半値幅デ−タHに対L6する
最適スリット幅データBを示す電気信号を求め、これを
モータ制御回路7に供給する。モータ制御回路7は前記
スリット幅演算回路3が出力する最適スリット幅データ
Bに基づいてそれに比例したパルス信号を出力する。す
なわち、スリット幅可変’i!Ht!38のスリット9
(第2図参照)をスリット幅Bにするために基準信号と
スリット幅Bとを比較して最適スリット幅に必要なパル
ス数および前記スリツ1・9を形成している扉10a,
]Obの駆動方向を求めるものであり、この・やルス数
および駆動方向に応じたパルスをパルスモーター]に供
給してこれを回転させ、前記スリット幅可変機構8を駆
動させる。ここで第2図を参照しながらこのスリッ1・
幅可変機構8をさらに説明する。まず図に示すようにこ
のスリット幅可変機構8は、その前面および後面に光を
通過させるための窓12a,12bを有する外筐13と
、この外筐13内の前記窓12a,12b側に収納され
るスリットボックス14とを有するものであり、外筐1
3の一側面13aには前記パルスモータl1が設けられ
るとともにこのパルスモータ11の軸15はジョイント
17を介して前記スリットボックス14の駆動軸16に
接続されている。そしてこの場合,このスリツ]・幅可
変機構8の前面側には分光器4が配置され、さらに同ス
リット幅可変機構8の後面側には受光器18が配置され
ている。ここで、・ぐルスモータ11を正転させれば、
このパルスモータ11の駆動力が軸15、ノヨイント1
7、駆動軸16を介してスリノ1・ボックスl4に伝達
され、このスリットボノクス14内のギヤ機構(図示略
)によって前記窓12a部分にあるスリットボックス1
4の一万のJjB10aが矢印八方向に、他方の扉10
bが矢印お方向に各々動かされてスリット9の幅が広が
シ、また逆に前記パルスモータ11を逆転させれば同様
に一方の扉10aが矢印B方向に、他方の1110bが
矢印A方向に各々移動してスリット9の幅が狭まる。
一方、第1図に示すように前記操作部1から出力される
前記波長データλおよび他の各種操作データD,は分光
器駆動回路19に供給される。分光器駆動回路19は前
記波長データλおよび各錘操作データD,に応じて分光
器4内の各部を動作させるために必要な制御データおよ
びグレーテイング6の角度を制御して分光器4から波長
λの光を出射させるために必要な角度指定データSを求
めるものであり、この制御データおよび角度指定デーク
Sに基づいて前記分光器4内の各部に設けられたモータ
などを駆動して分光器4から波長λの光を出射させるの
に必要な制御を行う。それとともに、前記グレーテイン
グ60角度を検出す角度検出器20の出力に基づいて前
記駆動回路19に信号を出力している。なお分光器4か
らの波長λの光は前記スリット幅可変機構8のスリット
9に集光される。
丑た、前記操作部1から出力される操作データD2は受
光装置l8に供給され、この操作データD2に応じてこ
の受光装置18内の受光素子が選択制御されるから、上
紀データに応じた最適感度が得られるようにされる。
次に以上のように構成きれるこの実施例の動作を説明す
る。
まず、操作部1の各スイッチを操作してこの操作部Iか
ら波長データλ、スKク1・ル半値幅データHおよび操
作データI),,1)2を出力させれば、この信号を受
けた受光器18はこの操作データD2に基づいて同受光
器18内の各モータおよびソレノイドを制徊jして,前
記モータ等によシ光センサ(図示略)などの各部を受光
および測定可能な状態にするとともに、分光器駆動回路
19が前記波長データλ、操作データDIおよび角度検
出器20の出力に基づいて分光器4の各ノレノイド、モ
ータなどを駆動して同分光器4から波長λの光を出射さ
せる。寸だこの動作と並行して、ヌリット幅演算回路3
は、前記波長デ一タλ,、スペクトル半値幅データ■{
および予め記憶している各定数データf,r,f kに基づいてB=r=k・H−λを演算して最適スリッ
ト幅データBを求めた後に、これをモータ制御回路7に
供給して現在の・ぐルスモーター1のステップ数と前記
最適スリット幅データBに対応するステップ数との差を
基準信号をもとに比較演算するとともに、この演算結果
に対応する必要パルス数およびその駆動方向を求めてパ
ルスモーター1を駆動させ、スリット幅可変機構8のス
リット9を前記最適スリット幅データBに対応するスリ
ット幅にセットする。
このようにこの実施例においては、操作部1から波長デ
ータλ、スペクトル半値幅データ■{を入力すれば、ス
リット幅制御回路2がスリット幅可変機構8のスリット
9をこれらのデータλ,Hに対応するスリット幅にセッ
トするように制御するので、分光器4から連続的に変化
する波長値の光を受けた場合においても、常に所望する
分解能を確保することができる。すなわち、操作・ぐネ
ルから入力される分解能データと分光器よv?4られる
彼長デ−タから前記演算回路3ぱただちにスリノー・幅
■3をii−l算し電気信号として出力するようにされ
ている。
1た上述した実施例においては、スリット幅演算回路3
に各定数データf,r,kを記・臆させるf ようにしているが、1■一aを予め演算して定数データ
aを記憶さぜるようにしても良く、苔たグレーテイング
6代えてプリズムなどを用いる分光器ではこの分光器の
特性にr5して対応する演算式お』二びシ宝故データを
変えるようにしても良い。丑だ、これ丑での説明におい
ては、・ヤノレスモーク11を用いてスリット幅町変機
構8を,駆動するようにしているか,D/AコンノZ一
タ(デソタノレ/アナログ変換器)などを用いて前記最
適スリノト幅デ゛−タJ3を1つ/A変換してサーボモ
ークなどを使用しイ4Jるようにしても良く、捷たこの
最適スリット幅デ−ク13そのものをアナログ演算によ
って求めるようにしても良い。
さらに上述したスリノト幅制御回路2は分光器駆動回工
既に設けられているマイクロプロセツザなどの演算回路
を用いて構成しても良く、丑だハードなとで禍成しその
処理速度を速めるようにしても良い。
次にこの発明によるスリツl・装置の躬2実施例につい
て説明する。
この実施例はグンーテイングの回転角度から波長データ
λを求めてスリット機構を制御するものであるため、寸
ずグレーテイングの回転角度ととのグンーテイングによ
って選択される光の波長とのWJ係を説明する。
第3図はグレーテイングとこのグ,レーテイングによっ
て回折される光との関係を説明するための図であシ、こ
の図に示すようにグレーテイング6の回折面6aにこの
回折面6aの法flJI21に対して角度αで九を入射
させれば波長λの光は法線21に対して角度βの方向に
出射される。そしてこの場合、グレーテイング6の格子
定数をdとすれば、これら入射角α、出射角βおよびこ
の時出射される光の波長λの間には1次光のみの場合に
限ると、λ=d(sinα十S石β)・・・(3)が成
り立つ。ここでこの(3)式の七辺を変形すれば、λ−
2(1−sin(’ニヒj→一cos(エニニL),,
,,,,(4)22 が得られ、γ一β−αとおいてこの(4)式をさらに変
形すれば、 λ−2(1・sin(a+L)・co.q(’)−・(
5)22 が得られる。そしてこの場合、(5)式に示す角度γぱ
第3図に示すようにグレー゛テイング6に光を供給する
ミラ−22と、このグレーテイング6からの出射光を受
けるミラー(コリメータレンズ)5とのなす角を示すも
のであり、光学系の谷ミラーの配置位1角に応じた定数
であるから、グレーテイング6の回転角度αの値がIQ
イれぱ、(5)式からこの時出射される光の波長λを知
ることができる。
以下このような波長算出原理を用いたこの発明の第2実
〃ゐ例を弟71図に示すブロノク図にしたが゛つて具体
的に説明する。
nずこの図に示す回1裕が弟1図に示す回路と異なる点
は、角度検出器20によって得られるグレ−テイング6
0回転角度αを角度/彼長変換回路(以下、これをα/
λ俊換回路と略称する)23にも供給するようにして、
このα/λ変換回路23でこの回転角度αに対応する波
長データλを求めさせるとともに、ここで得られる波長
ヂータλをスリット幅演算回路3に供給してスリット幅
可変機構8を制御させるようにしたことである。さらに
詳述すれば、ここで用いられるα/λ変換回路23はボ
テンションメータなどの回転変位検出器によって構成さ
れる角度検出器20から角度データαを供冶された時に
、同α/λ変換回路23内の1尤○j■に記憶してある
角度データγ、格子定数デークdを読出すとともに、こ
れらの各データα,γ,dに基づいて前記(5)式に示
すλ−2d・sin(α十一)・cos(L)を演算し
て波長データλ22 を求めるものである。そしてこの冥施例においては、操
作部1の分解能設定スイッチを1度操作すれば、分解能
設定スイッチは48ha的に固定され、信号を保持する
ようにされてい,丸なおこの場合、この分解能設定スイ
ソチそのものを依械的に保持しないで、このスイッチの
出力を電気的に保持するようにしても良い。
しかしてこの実施例においてはグレ−テインダ6の角度
を変化させてスリノト9部分に集められる光の波長を変
えた時にも、これに対応させてそのスリソト幅を最適幅
にして所望の分ル]イ能を得ることができる。なお、操
作部1には波長データ設定スイッチが設けられているか
ら、この波長を任意に設定丑たけ変更することができる
寸たこの実施例においては、グレーテイング6の回転角
度を角度検出器20によって検出して角度データαを得
るようにしているが、これをグレーテイング6の回転を
制イ卸する分ブC器1(氾動回路1つの出力である角j
廷指定デ゛一夕S(グレーテイング6はこの角度指定デ
ータSで示される角度になる丑で回転ずる)を角度/波
長変侯回路23に供紬するようにしても良い。才たこの
場合、この角度/波長変1突回路23、スリット幅演算
回路3および分光器駆動回路19をマイクロプロセノサ
によって構成するようにしても良い。
さらに]=述した各実施例にふ・いては、操作部1から
波長デ〜タλおよび分解能データHを入力するようにし
ているが、これを例えばこの装置とは別に設けられるコ
ンピュータなどから入力するようにしても良く、捷だ波
長データλを連続的に自動スキャンさせるようにし、こ
のスキャン幅に応じて予め設定された分解能、例えば広
いスキャン幅に対しては低い分解能が自動設定され、壕
だ狭いスキャン幅に対しては高い分解能が自動設定され
るようにしても良い。なお第4図に示す如く、波長値の
信号は角度検出器20と角度/波長変換回路23から構
成される波長値検出手段から出力される。そして分解能
値とともに、スリット幅演算回路3に入力される。
以上説明したようにこの発明による分光器のスリット装
置は、演算回路によって光学系の焦点位置に集光される
光の波長および所望する分解能に対応した最適スリット
幅データを求め、この最適スリット幅データでモータ1
駆動回路を制御してyのモータ1駆動回路によって駆動
されるモータの出力でスリット機構のスリット幅を変化
させるようにしたので、焦点位置に集光される光の波長
を変化させたり、分10イ能の所望値を変えれば、これ
に応じてスリット機構のスリット幅をこの波長および分
解能に応じた最適幅にすることができ、所望の分1剪能
を確保することかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発リJによる分光器のスリノト装置の第1
実/I山例を適用した元学{・幾器の一例を示すブロッ
ク図、!’72図はこのスリット装置で用いられるスリ
ノ1・桟構の一例を示す斜視図、第3図はグレーテイン
グの回転角度に対する入射9゛Cの角度と、出射元の角
度と1この出射元の波長との間の関係を説明するだめの
平曲図、第4図はこの発明による分元器のスリット装置
の第2実施例を適用した元学機器の一例を示すブロノク
図である,7 1・操作f:’il+、:3・−スリノト幅演算回路(
演算手段)、・1・・分元器(元学系)、6・グレ=デ
イング(分元手段)、7モータ制i′i+11回路、8
・スリット幅可変機構、9・スリット、4]・pルスモ
ーク(モータラ、18・・受元器、19・・分ツ(:器
駆動回路、20・・・角度検出器(波長検出手段)、2
3・・・角度/波長変換回路。 −140− −141−

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)分光器の出射光をこの出射光の焦点位置に’Ea
    tliされるスリソト機構のスリツ1・を通過さぜた後
    、受′)IC器に供給する分光器のスリット装置におい
    て:=iJ記出射光の波長値λおよび所望ずる分解能値
    月に基ついて計11・λ(たたし、aぱi)iJ記分光
    器に固有の定数)を演算してスリソ1・幅It(J3二
    a・]1・λ)を求める演初−手段と;前記スリツ1・
    憬構を6亥演算手段が出力ずる前記スリノ(lp77B
    に応じて前記スリソ1・機構のスリット幅を変化さぜる
    スリソ1・幅可変様構とを具備したことを特徴とする分
    光器のスリソ1・装置。
  2. (2)i?’l’Bピ波長値λは外部から入力きれるこ
    とを特徴とする特δ′「請求の範囲弟1項記載の分光器
    のスリット装置。
  3. (3)前F1α波長値λは前記分光器の波長検出手段か
    ら供給されることを特徴とする特許請求C範囲第1項記
    載の分光器のスリン1・装置。
JP9478583A 1983-05-31 1983-05-31 分光器のスリツト装置 Pending JPS59220620A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9478583A JPS59220620A (ja) 1983-05-31 1983-05-31 分光器のスリツト装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9478583A JPS59220620A (ja) 1983-05-31 1983-05-31 分光器のスリツト装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59220620A true JPS59220620A (ja) 1984-12-12

Family

ID=14119727

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9478583A Pending JPS59220620A (ja) 1983-05-31 1983-05-31 分光器のスリツト装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59220620A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02201126A (ja) * 1989-01-30 1990-08-09 Shimadzu Corp 偏光解消光学系
JP2015102465A (ja) * 2013-11-26 2015-06-04 日本電気株式会社 スリット幅変更装置及び方法並びにスペクトル出力装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02201126A (ja) * 1989-01-30 1990-08-09 Shimadzu Corp 偏光解消光学系
JP2015102465A (ja) * 2013-11-26 2015-06-04 日本電気株式会社 スリット幅変更装置及び方法並びにスペクトル出力装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7483134B2 (en) Scanning monochromator with direct drive grating
JPS59108945A (ja) X線回析装置
JPS59220620A (ja) 分光器のスリツト装置
JPS6033019A (ja) グレ−テイングの駆動回路
JPS6245489B2 (ja)
JPS63311151A (ja) 無機物元素濃度測定装置
US2813451A (en) Spectral scanning apparatus
JP2922758B2 (ja) X線分光器
JPH0475458B2 (ja)
JPS62170231A (ja) X−線スキヤナ
JPS5985918A (ja) 直接比率式の分光光度計
Hirschfeld Optimum Diameter of Fourier Transform Infrared Microsampling Cell
JPH06229828A (ja) 分光器
JP3142817B2 (ja) 波長選択用受光器及び光スペクトラム分析装置
JP2951687B2 (ja) エキザフス装置
US4647202A (en) Spectrophosphorimetry
JP2560880B2 (ja) ステッピングモータ駆動装置
JP2892670B2 (ja) 光スペクトラムアナライザ
JPS6316704B2 (ja)
US3361027A (en) Spectrophotometer
JP2664632B2 (ja) 全反射蛍光x線分析装置
JP2950959B2 (ja) X線分析装置
JP2602209B2 (ja) X線分析装置
JPH0634438A (ja) 高分解能分光装置
JP2917475B2 (ja) X線分析装置