JPS5920973B2 - 欠点検出装置の動作確認装置 - Google Patents
欠点検出装置の動作確認装置Info
- Publication number
- JPS5920973B2 JPS5920973B2 JP6719877A JP6719877A JPS5920973B2 JP S5920973 B2 JPS5920973 B2 JP S5920973B2 JP 6719877 A JP6719877 A JP 6719877A JP 6719877 A JP6719877 A JP 6719877A JP S5920973 B2 JPS5920973 B2 JP S5920973B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- level
- defect
- defect detection
- signal
- operation confirmation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
- G01N21/8903—Optical details; Scanning details using a multiple detector array
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は帯状材の欠点検出装置の動作確認装置に関する
。
。
帯状材の欠点検査は帯状材を走行させ或は更に欠点検出
器を帯状材の幅方向に走査させて行う。
器を帯状材の幅方向に走査させて行う。
欠点検出の方法としては種々なものがあるが何れの方法
を用いる場合でも欠点検出動作が正常に行われているか
否かをチェックする必要がある。従来このチェックを行
うには人間が装置を停止させて一々点検をするとか、又
は疑似欠点を付した帯状材を走行させて欠点検出の信号
が出るか否かを試験する方法が用いられていた。前者の
方法は人手を多く要し時間がかゝり、しかもその間帯状
材の検査は停止させておかねばならず、後者の方法は余
り人手は要しないが、やはりチェックの間は被検査材の
検査はできない。従つて本発明は本来の検査を行つてい
る間に適時任意に欠点検出装置の動作確認ができるよう
にすることを目的としている。
を用いる場合でも欠点検出動作が正常に行われているか
否かをチェックする必要がある。従来このチェックを行
うには人間が装置を停止させて一々点検をするとか、又
は疑似欠点を付した帯状材を走行させて欠点検出の信号
が出るか否かを試験する方法が用いられていた。前者の
方法は人手を多く要し時間がかゝり、しかもその間帯状
材の検査は停止させておかねばならず、後者の方法は余
り人手は要しないが、やはりチェックの間は被検査材の
検査はできない。従つて本発明は本来の検査を行つてい
る間に適時任意に欠点検出装置の動作確認ができるよう
にすることを目的としている。
始めに述べたように帯状材の欠点検出においては被検査
材と欠点検出器との間に相対的な運動があり、欠点検出
器は被検査材に欠点がないときでも、その地合の正常な
むらによる地合検出信号を出しており、欠点はこの地合
検出信号の上に突出した又は地合信号のレベルより下に
落込んだ信号として表われる。
材と欠点検出器との間に相対的な運動があり、欠点検出
器は被検査材に欠点がないときでも、その地合の正常な
むらによる地合検出信号を出しており、欠点はこの地合
検出信号の上に突出した又は地合信号のレベルより下に
落込んだ信号として表われる。
欠点検出信号が地合信号の上に突出するか下方に落込む
かその何れの場合でも信号の直流成分をカットすれば欠
点検出器の出力信号は第１図のような信号となり、レベ
ルｌによつ・ て信号を選別することにより欠点検出信
号ｅのみを取出すことができる。本発明は欠点検出装置
の動作確認のため第１図においてレベルｌの他に地合信
号Ｂを取出すことのできるレベルｕを設けたもので、欠
点検出装置フ より地合信号が発せられゝば装置は正常
に動作していることが直ちに確認できる。
かその何れの場合でも信号の直流成分をカットすれば欠
点検出器の出力信号は第１図のような信号となり、レベ
ルｌによつ・ て信号を選別することにより欠点検出信
号ｅのみを取出すことができる。本発明は欠点検出装置
の動作確認のため第１図においてレベルｌの他に地合信
号Ｂを取出すことのできるレベルｕを設けたもので、欠
点検出装置フ より地合信号が発せられゝば装置は正常
に動作していることが直ちに確認できる。
以下実施例によつて本発明を説明する。第２図において
ｚは検査される帯状材で図の紙面に垂直の方向に走行せ
しめられており、２１〜’５２ｎは欠点検出器、３は光
源であり帯状材Ｚを背面から照明している。
ｚは検査される帯状材で図の紙面に垂直の方向に走行せ
しめられており、２１〜’５２ｎは欠点検出器、３は光
源であり帯状材Ｚを背面から照明している。
欠点検出器は帯状材ｚの像を結びその像面を幅方向に走
査して第１図に示すようなビデオ信号を得るもので、２
１〜２ｎの各各は帯状材の全幅を分割してその一つの区
画を分担して走査している。４１〜４ｎは第１のレベル
選別器で夫々対応する欠点検出器２１〜２ｎに接続され
ており、６は比較用レベル設定器であり、前述した第１
図１のレベルに相当する設定電圧が設定されていて、比
較規準のレベルとして比較器４１〜４ｎに印加できるよ
うになつている。
査して第１図に示すようなビデオ信号を得るもので、２
１〜２ｎの各各は帯状材の全幅を分割してその一つの区
画を分担して走査している。４１〜４ｎは第１のレベル
選別器で夫々対応する欠点検出器２１〜２ｎに接続され
ており、６は比較用レベル設定器であり、前述した第１
図１のレベルに相当する設定電圧が設定されていて、比
較規準のレベルとして比較器４１〜４ｎに印加できるよ
うになつている。
比較器４１〜４ｎは対応する欠点検出器の出力信号が設
定レベルを超過したとき欠点検出信号を出し、この信号
は対応する表示装置５１〜５ｎに送られて欠点表示をす
ると共に記録装置Ｒに送られて帯状材ｚの走行長を表わ
す距離マークと共に記録される。比較器４１〜４ｎから
出される欠点検出信号は瞬間的なものであるから、その
ま＼では例えば表示灯を点灯させても人にはよく見取る
ことができない。従つて表示装置５１〜５ｎはワンシヨ
ツト回路を用い欠点検出信号によつてこれをトリガして
一定時間表示灯が点灯しているようにしてある。７１〜
７ｎは第２のレベル比較器で比較レベル設定器８により
第１図にｕで示したレベルに相当する規準電圧が印加さ
れており、欠点検出器２１〜２ｎの出力信号が比較され
、欠点検出器２１〜２ｎが帯状材ｚの地合を検出し、地
合信号を出すとレベル比較器７１〜７ｎのうち対応する
ものから信号が出て、表示装置９１〜９ｎのうち対応す
るものを点灯させる。
定レベルを超過したとき欠点検出信号を出し、この信号
は対応する表示装置５１〜５ｎに送られて欠点表示をす
ると共に記録装置Ｒに送られて帯状材ｚの走行長を表わ
す距離マークと共に記録される。比較器４１〜４ｎから
出される欠点検出信号は瞬間的なものであるから、その
ま＼では例えば表示灯を点灯させても人にはよく見取る
ことができない。従つて表示装置５１〜５ｎはワンシヨ
ツト回路を用い欠点検出信号によつてこれをトリガして
一定時間表示灯が点灯しているようにしてある。７１〜
７ｎは第２のレベル比較器で比較レベル設定器８により
第１図にｕで示したレベルに相当する規準電圧が印加さ
れており、欠点検出器２１〜２ｎの出力信号が比較され
、欠点検出器２１〜２ｎが帯状材ｚの地合を検出し、地
合信号を出すとレベル比較器７１〜７ｎのうち対応する
ものから信号が出て、表示装置９１〜９ｎのうち対応す
るものを点灯させる。
このようにして欠点検出器２１〜２ｎが正常に動作して
いるときは表示装置９１〜９ｎが点灯するから、９１〜
９ｎが全部点灯しているか否かにより欠点検出装置全体
が正常か否か更に正常でなければどの欠点検出器が悪い
かが帯状材の検査を行つている際にチエツクできる。本
発明は上述したような構成で帯状材の検査を行つている
こと自体が欠点検査装置のチエツク動作であり、欠点検
出器が多数あつても一斉に動作確認ができ、別に疑似欠
点を付した帯状材を流す必要もないから検査工程を乱す
こともない。
いるときは表示装置９１〜９ｎが点灯するから、９１〜
９ｎが全部点灯しているか否かにより欠点検出装置全体
が正常か否か更に正常でなければどの欠点検出器が悪い
かが帯状材の検査を行つている際にチエツクできる。本
発明は上述したような構成で帯状材の検査を行つている
こと自体が欠点検査装置のチエツク動作であり、欠点検
出器が多数あつても一斉に動作確認ができ、別に疑似欠
点を付した帯状材を流す必要もないから検査工程を乱す
こともない。
第１図は欠点検出器の出力信号の波形図、第２図は本発
明の一実施例を示すプロツク図である。 ２１〜２ｎ・・・・・・欠点検出器、４１〜４ｎ・・・
・・・第１の比較器、５１〜５ｎ・・・・・・表示装置
、６・・・・・・レベル設定回路、７１〜７ｎ・・・・
・・第２の比較器、９１〜９ｎ・・・・・・表示装置。
明の一実施例を示すプロツク図である。 ２１〜２ｎ・・・・・・欠点検出器、４１〜４ｎ・・・
・・・第１の比較器、５１〜５ｎ・・・・・・表示装置
、６・・・・・・レベル設定回路、７１〜７ｎ・・・・
・・第２の比較器、９１〜９ｎ・・・・・・表示装置。
Claims (1)
- １ 被検査材に対し相対的に移動して欠点検出を行う構
成で、欠点検出器の出力をレベル選別する第１、第２の
比較器を用い、第１の比較器に設定する比較規準レベル
を欠点検出信号のみを取出すレベルとし、第２の比較器
に設定する比較規準レベルを被検査材の地合検出信号を
も取出せるレベルとし、この第２の比較器の出力信号に
よつて装置動作確認用の表示手段を作動させるようにし
たことを特徴とする欠点検出装置の動作確認装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6719877A JPS5920973B2 (ja) | 1977-06-06 | 1977-06-06 | 欠点検出装置の動作確認装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6719877A JPS5920973B2 (ja) | 1977-06-06 | 1977-06-06 | 欠点検出装置の動作確認装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS541684A JPS541684A (en) | 1979-01-08 |
| JPS5920973B2 true JPS5920973B2 (ja) | 1984-05-16 |
Family
ID=13337958
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6719877A Expired JPS5920973B2 (ja) | 1977-06-06 | 1977-06-06 | 欠点検出装置の動作確認装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5920973B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0791246B2 (ja) * | 1990-07-10 | 1995-10-04 | 日本ゼオン株式会社 | ジメチルホルムアミドの精製法 |
-
1977
- 1977-06-06 JP JP6719877A patent/JPS5920973B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS541684A (en) | 1979-01-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8365580B2 (en) | System and method for automatically judging the sealing effectiveness of a sealed compartment | |
| US4429991A (en) | Method for detecting physical anomalies of U.S. currency | |
| US4097158A (en) | Half-maximum threshold circuit for optical micrometer | |
| DE202006021270U1 (de) | Detektor | |
| DE60002518D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum adaptiven Lernen von Testfehlern zur Verminderung der Gesamtzahl von Testmessungen erforderlich in Echtzeit | |
| JPS5920973B2 (ja) | 欠点検出装置の動作確認装置 | |
| CA1139425A (en) | Object inspection system | |
| GB1579437A (en) | Method and apparatusfor the automatic recognition and evaluation of optical crack indications | |
| KR910004412B1 (ko) | 봉합선 검사 및 칫수 측정장치와 방법 | |
| US6628807B1 (en) | Method and equipment for testing the color and reflectivity of high-visibility garments | |
| JPS5920971B2 (ja) | 欠点検出装置の動作確認装置 | |
| KR100484812B1 (ko) | 이미지 센서를 이용한 표면 검사방법 및 검사장치 | |
| ES2121418T3 (es) | Instalacion automatica de deteccion de errores para la comprobacion de grietas. | |
| US4268791A (en) | Dual trace automatic eddy current detection system for multilayer structures | |
| JPS63169542A (ja) | コンクリ−ト構造物に於ける表面異常の検査方法 | |
| US4257264A (en) | Tire checking apparatus | |
| JPS62249005A (ja) | 物体の形状異常検査装置 | |
| JP2002090306A (ja) | 表面検査装置の自己診断方法 | |
| JPH03190253A (ja) | イメージセンサー測定用検査装置 | |
| JPH03150859A (ja) | 半導体ウエハ検査装置 | |
| JPS58744A (ja) | 瓶類の検査方法 | |
| JPH01121200A (ja) | 打ち抜き不良検査装置 | |
| JPH04270592A (ja) | 固体撮像素子の評価方法 | |
| JPH0273142A (ja) | 表面欠陥検査方法 | |
| JPH0358644B2 (ja) |