JPS59208415A - 測量方法 - Google Patents

測量方法

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JPS59208415A
JPS59208415A JP8246683A JP8246683A JPS59208415A JP S59208415 A JPS59208415 A JP S59208415A JP 8246683 A JP8246683 A JP 8246683A JP 8246683 A JP8246683 A JP 8246683A JP S59208415 A JPS59208415 A JP S59208415A
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reflector
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Keizo Yoshizawa
吉沢 慶蔵
Sadakatsu Sugano
菅野 貞勝
Tsutomu Nakanishi
勉 中西
Masafumi Wada
雅史 和田
Yoshio Hatsuda
初田 洋司雄
Kikuya Yamaguchi
山口 幾久也
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Kumagai Gumi Co Ltd
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NEC Corp
Kumagai Gumi Co Ltd
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • G01C15/002Active optical surveying means

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  • Remote Sensing (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、基準線からの被測量物体の変位角および基準
線から被測量物体に至る距離を測量する方法に関し、特
に、シールド掘削機、トンネルボーリングマシン等を被
測量物体としたときにそのローリング、ピッチングある
いは掘削距離を求めるのに好適な測量方法に関する。
近時のトンネルの施工においては、シールド掘削機、ト
ンネルボーリングマシン等のトンネル掘2 削機の高速化および自動運転化に伴って施工能率の向」
−が図られている。
ところで、トンネル掘削機の高速性を生かしてトンネル
の施工能率を高めかつ施工精度を高めるには、トンネル
掘削機の刻々の動きを把握してこれに早期の方向修正を
施すことによりトンネル掘削機が計画路線に沿って推進
するようにしなければならない。
従来、巻尺やトランシットを用いた測量によってシール
ド掘削機の計画路線からの変位および掘削距離を測定し
、これにより、シールド掘削機の現在位置を求めていた
しかし、前記従来の測量方法はトンネル掘削機を休止し
て側限を行わなければならず、しかも刻々に移動するト
ンネル掘削機の位置を正確に知るには測量回数を多くし
なければならない。このことから、前記従来の測量方法
によったのでは、トンネル掘削機の高速性能が減殺され
、また、現実的に測量の回数にも限度があるため、測量
を行った後1次の測量を行うまでの間、トンネル掘削機
の動きを正確に把握することができないこととなるため
、掘進速度の大きいトンネル掘削機の蛇行微を増大させ
るおそれがあった。
したがって、本発明の目的は、トンネル掘削機のような
被測量物体を常時監視するのに適する測量方法を提供す
ることにある。
また、前記従来の測量方法では、被測量物体を見通する
ことができる位置にある場合に測量が可能であって、見
通しのきかない、例えばカーブしたトンネル内における
トンネル掘削機の測量においては基準点を移設しなけれ
ばならず、その測量が煩雑であった。
したがって、本発明の他の目的は、被測量物体がこれを
測量するための装置から見通することができない位置に
゛ある場合でも連続的な測量を可能とすることにある。
さらに、本発明の他の目的は、トンネル掘削機の自動運
転に供することができる測量方法を提供することにある
本発明に係−る測量方法は1発光器および光検知器を備
える測量装置の設置位置と反射鏡が取り付けられた被測
酸物体との間に設置された、二つの軸線の回りに回転可
能の可動鏡を、前記発光器から発射された光が前記可動
鏡で反射されて前記光検知器の照準位置に入射するよう
に回転させ、このときの前記可動鏡の回転位置を基準位
置としてさらに前記発光器から発射された光が前記可動
鏡を経て前記反射鏡に至り再び前記可動鏡を経て戻って
くる光が前記光検知器に照準するように前記可動鏡を回
転させ、このときの前記可動鏡の前記基準位置からの回
転角度を検出することにより、前記測量装置の設置位置
と前記可動鏡とを結ぶ線からの前記被測織物体の変位角
を求めることを基本構想とする。
また、測量装置に、発光器および光検知器の他に光波距
離計を加え、前記可動鏡の回転角度が検出される位置に
おいて、前記光波距離計から光を発射することにより、
測量装置から被測量物体に至る距離が測定される。
本発明によれば、被測量物体がトンネル掘削機5 の場合、発光器から光を連続的に発射し、掘進中のトン
ネル掘削機の反射鏡で反射された光が光検知器の受光面
の中央に入射するように口f動鐘を回転させてその反射
面の位置を調節することにより、変位角度を求め、これ
によりトンネル掘削機のピッチングおよびローリングを
間断なく知ることができる。
また、計画路線が曲線の場合であっても、0■動鏡を計
画路線の方向変位点に設置することによって、測距およ
び前記曲線からの変位の測量が可能である。さらに、ト
ンネル掘削機の変位は可動鏡の回転量によって表わされ
ることから、この隈をトンネル掘削機の推進機構に電気
的に伝送することができ、これによりトンネル掘削機の
自動運転化に資することができる。
本発明が特徴とするところは、図示の実施例についての
以下の説明により、さらに明らかとなろう。
本発明に係る測量方法においては、まず、第1図に示す
ように、発光器、光検知器および必要に 6 応じて光波距離計を備えるatlI量装置10と、互い
に直交する軸線、好ましくは水平軸線および鉛直軸線の
回りに回転可能の可動鏡12とを、被測量物体14の変
位を測量するための基準となる直線、すなわち基準線S
 lに、それぞれ設置し、また被測量物体14には反射
鏡16を設置する。
測量装置10は基準線S上の第1の基準点01に、また
可動鏡12は第1の基準点0、と被測量物体14との間
における、基準線S上の第2の基準点02に、反射鏡1
6は第2の基準点O7へ向けて、それぞれ、配置される
基準線Sは、例えば被測量物体14がシールド掘削機の
場合、該シールド掘削機の後方におけるトンネルの中心
軸線とすることが好ましい。
測量装置lO1可動鏡12および反射鏡16を設置した
後、前記発光器から発射された光が可動鏡12で反射さ
れて前記光検知器の受光面の中央に入射するように可動
鏡12を水平および鉛直の両軸線の回りに回転させ、こ
のときの可動鏡12の回転位置を回転基準位置に定める
。次いで前記発光器から発射された光がnf動鏡12で
反射されて反射鏡16に入射し、Sらに反射鏡16で反
射された光が再び可動鏡12で反射されて前記光検知器
の受光面の中央に入射するように可動鏡12を回転させ
る。その後、回転後の可動鏡12の前記回転基準位置か
らの回転角度を検出することにより、被測量物体14の
基準線Sからの水平面内および鉛直面内における変位角
度を求めることができる。また、このとき第1の基準点
OLから第2の基準点02を経て被測量物体14に至る
距離を測量する場合は、可動鏡12が前記変位角度の検
出位置にあるところで前記光波距離計から光を発射する
ことにより測距を行うことができる。
ところで、前記発光器または前記光波距離計からの発射
光および反射鏡16からの反射光は、被測酸物体14の
基準線Sからの変位が小さい程、可動鏡12の反射面に
おける入射角および反射角が大きくなり、前記光検知器
または前記光波距離計において光を確実に補促すること
が困難となるおそれがある。これを回避するために、第
2図に示すように、基準線S上以外の点03に反射板2
4を設置して、前記発光器から発射された光が反射板2
4で反射されて可動鏡12に入射するように、すなわち
設置点03を第1および第2の基準点0..02の間で
光路の中継点とすることにより可動鏡12における前記
入射角および反射角を小さくすることが望ましい。
この例の場合、測量装置lOは、第1の基準点01と反
射板24の設置点03とを結ぶ直線と基準線Sとの間の
角度を第1の基準点01を中心として回転可能に支持さ
れる。反射板24は、前記した可動鏡12のように、直
交する二軸線の回りに回転可能であっても、また非回転
のものであってもよい。第4図には、可動の反射板24
が示されており、反射板24は可動鏡12と共に合板(
図示せず)上に配置して使用することが望ましい。
第4図にその一例を示す可動鏡12は、これを構成する
鏡体12aのその両側部が水平軸27を介して、それぞ
れ、DCトルクモータ29および9 エンコーダ31に水平軸線33aの回りに回転可能に支
承され、鏡体12a、Del□ルクモータ29およびエ
ンコーダ31はこれらを鉛直軸線33bの回りに回転可
能にDCトルクモータ35およびエンコーダ37に取り
付けられている。
また、被測量物体14に設置される前記反射鏡は、図示
しないが、互いに直交する三つの反射板で構成Sれるコ
ーナキューブ(コーナリフレクタとも称される)を使用
することが望ましい。このコーナキューブによれば、該
コーナキューブに入射した光は、入射方向と平行な方向
へ反射される。コーナキューブは、可動812と被測量
物体14との間の距離が大きい場合は、コーナキューブ
単体を複数個組み合わせて使用することが望ましい。
さらに、前記発光器、前記光検知器および前記光波距離
計の配置例として第3図を参照すると、第1の基準点0
1と反射板24の設置点03とを結ぶ前記直線と平行に
、レーザ発振器から成る発光器18とレーザ光の光径を
調節するエキスパン0 ダ26とが配置されている0発光器18からその後方へ
発射されるレーザ光は一対の反射板28で反射されてエ
キスパンダ26に入射し、エキスパンダ26から射出さ
れたレーザ光はエキスパンダ26の前方に配置された反
射板30および前記直線上に配置された小径の反射板3
2で反射され、前記直線を光軸として反射板24へ向け
て進む。
光検知器20は、その受光面を反射板24に向けかつ受
光面の中心を前記直線上に置いて配置されている。光検
知器20は半導体装置検出器から成り、光検知器20の
前方に配置された集光レンズ34を透過して光検知器2
0へ向うレーザ光はその受光面の一点に集中される。前
記半導体装置検出器に入射したレーザ光は光電交換され
て、半導体装置検出器の受光面の縦および横方向におけ
る入射位置の前記中心からの距離に応じて電圧が出力さ
れる。光検知器は、前記半導体装置検出器に代えて、受
光面が四分割され、分割された各区画に光電交換素子が
配置された四分割光位置検出器を使用してもよい。
光波距離計22は、前記直線に対し直角に配置されてい
る。光波距離計22は、測距用レーザ光を発射する発信
部と前記反射鏡で反射されたレーザ光を受は入れる受信
部とを有し、発信部から発射されたレーザ光は、発光器
18からのレーザ光を遮断すべく移動可能の切換ミラー
36が前記直線上に位置したとき、切換ミラー36で反
射されて前記直線を光軸として進み、また前記反射レー
ザ光は切換ミラー36で反射されて受信部に入射する。
光波距離計22による測距は頼信部からの発射光と受信
部への入射光との位相差を測定することにより行なわれ
る。
第2図および第3図に示す例では、測量装置IOを回転
させて可動鏡12へ向け、次いで発光器18から光を発
射してこれが可動鏡12で反射されて光検知器20の受
光面の中心に戻るように可動鏡12を回転させる。次に
、測量装置10を回転させて反射板24へ向け、次いで
発光器18からの光が反射板24で反射されて可動鏡1
2に入射し、可動鏡12で反射された光が再び反射板2
4で反射されて光検知器20の受光面の中心に戻るよう
に可動鏡12を回転させる。次にこのときの可動鏡12
の前記両軸線の回りの回転角度を検出する。その後、発
光器から発射された光が反射板24および可動鏡12で
順次反射されて反射鏡16に入射し、さらに反射鏡16
で反射された光が再びrif動鏡12および反射板24
で順次反射されて光検知器20の受光面の中心に入射す
るように可動鏡を回転させる。このときの回転角度を検
出し、検出された前記両軸線の回りの回転角度と先に検
出された回転角度との和を求めれば、基準線Sからの被
測置物対14の変位角を知ることができる。
第1の基準点O1と第2の基準点o2との間の距離、第
1の基準点O1から前記地点o3を経て第2の基準点0
2に至る距離および、第1の基準点OIから前記地点0
3.第2の基準点o2を経て被測置物対14に至る距離
のそれぞれは、可動鏡12の回転動作の各終了後の位置
において、光波距離計22から光を発射することにより
求めら3 れる。
前記したところでは、測量装置lOを基準線S上に設置
した場合について説明した。しかし、前記第2の基準点
02および反射板24の設置点03をそれぞれ第1の既
知点および第2の既知点とかつこれらを結ぶ直線を基準
線S1とすれば、測量装置10は必ずしも前記基準線S
 J、に設置する必要はない。そしてこの場合、測量装
置10は前記第2の既知点へ向けて設置される。
次に、この例によって被測量物体14の81からの変位
を測量する際、発光器18から発射されたレーザ光が反
射板24で反射されて可動鏡12に入射し、さらに可動
鏡12で反射されたレーザ光が反射板24で反射されて
半導体装置検出器20の受光面の中央に入射するように
可動鏡12を回転させる。ここにおいて、第5図にブロ
ック図を示すように、検出器20に入射したレーザ光の
全光量に対応する変換電圧Σ■、受光面における中心か
らの距離に応じた変換電圧Vx、Vyはアナログ、ディ
ジタル変換器38およびコン4 ピユータ入出カニニット40を介して制御器42へ入力
される。他方。制御器42には、可動鏡12の水平およ
び鉛直の両軸線の回りの回転角のエンコーダ31.37
の読み値が出カニニット43.45および入カニニット
44を介して伝送され、前記変換電圧Vx、Vyが正ま
た負の場合に、可動鏡12が最小単位分を回転するよう
に、エンコーダ31.37の前記読み値と前記最小単位
分との差または和を指示値として制御器42から出カニ
ニット46および入カニニット48゜50を介して減算
器52.54へ伝送する。減算器52.54において前
記エンコーダの読み値と前記指示値との差を演算し、水
平方向、および鉛直方向に関する演算結果が、それぞれ
、ディジタル、アナグロ変換器56.58、プリアンプ
60.62およびパワーアンプ64.66を経てDCト
ルクモータ29.35に伝送され、DCI・ルクモータ
29.35がそれぞれ、タコジェネレータ29a 、3
5aによって回転を制御されて鏡体12aを水平、およ
び鉛直の両軸線の回りに、前記電圧Vx 、Vyが零に
なるまで回転させる。
なお、図中の符合68.70は、それぞれ、光波距離計
22に接続されかつ入出カニニット40を介してコンピ
ュータ72に接続された入出カニニットおよび直並列変
換器を示す。
前記のような操作を経たのち、またはさらに測量装置1
0から反射板24を経て可動鏡12へ至る距離を光波距
離計22により測定したのち、発光器18から発射され
たレーザ光が反射板24および可動鏡12で反射されて
反射鏡16に入射しさらに反射鏡16で反射されたレー
ザ光が再び可動鏡12および反射板24で反射されて前
記検出器20の受光面の中央に入射するように可動鏡1
2を回転させる。このときも、前記したと同様にして検
出器20における電圧Vx、Vyが零になるまで回転動
作させる。次いで、可動鏡の回転角度を検出することに
より、基準線SLからの被測置物対14の変位角を求め
ることができ、さらに、この位置で光波距離計22によ
る測距によリ、測量装置10から被測量物体14までの
光路−にの距離を求めることができる。
前記可動鏡12は、掘削されるトンネルの計画線の一部
が曲線の場合、基準線SまたはS寛と計画線の曲線部に
おける任意の接線との交叉する点すなわち方向変位点に
設置され、方向変位点が複数に亘る場合には、第6図に
示すように、被測量物体14に最も近い方向変位点C1
に設置され、他の方向変位点Cには前記したような反射
板24がそれぞれ設置される。
このように複数の方向変位点C,C,が存在する場合、
方向変位点に設置される可動鏡12または反射板24に
おける入射角および反射角を小さくするために、方向変
位点C,C,の近傍の点に前記したと同様に反射板25
を配置することが望ましい。
測量装置10は、反射板25を介在させない場合は、測
量装置10に最も近い反射板24に向けて、また反射板
25を介在させる場合は、測量装置10に最も近い反射
板25に向けて設置する。
7 この例の場合の基準線S2は、被測酸物体14に最も近
い方向変位点C1とその近傍点n1とを結ぶ直線であり
、この基準線S2からの被測酸物体14の変位角は、前
記した例に準じて行えばよい。このときt)17記反射
板24.25の設置点は、測量装置10との間で光路の
中継点となる。また、測量装置10およびこれに最も近
い方向変位点C間、他の方向変位点0問および、方向変
位点Cおよび01間の距離は前記した方法により測量可
能であるから、X1ll Ffrl装置10および被測
量物体14間の距離が求められる。
前記した方法により、第7図を参照すると、方向変位点
C1と測量物体14との間の距#L1、および基準線S
2からの被測酸物体14の水平方向における変位角α。
、鉛直方向における変位角βnを求め、さらに、方向変
位点C1と任意の点P0との間の距#L2.および基準
線s2からの前記任意の点Poの水平方向における変位
角α0、鉛直方向における変位角β。を求めること8 により、前記任意の点P0を原点として被測量物体14
の位置を三次元直角座標に表わすことができる。この場
合、任意の点にも反射鏡(図示せず)を設置して、被測
量物体14の変位角の測量および測距を行うと同様にし
て、測量を行うことにより、前記比1ti L 2およ
び角度α◇、β0を検出することができる。
第7図から、図解的に被測量物体14の位置をPn (
Xn 、Yn 、Zn)とすると、Xn=L1cosβ
n ” 511(αn−αO)  +Yn=L1sin
βn−L2sinβ。。
Zn=L1cosβn e cosca。−ao )−
L7CO3β0 として求めることができる。
なお、言うまでもないが、前記任意の点P。を可動鏡1
2の鏡体12aの光の入反射点におくこともできる。
本発明によれば、被測量物体がトンネル掘削機の場合、
従来の測量方法と異なり、これを休止させることなくそ
の方向変位および掘削距離を測量することができる。し
たがって、トンネル掘削機の現在位置を常に監視するこ
とでき、計画路線から変位した場合でも、即座にその方
向修正を行うことができる。
また、トンネル掘削機によって掘削されるトンネルが見
通しのきかない曲部な有する場合でも、その方向変位点
に可動鏡を設置することにより見通しがきく場合と同様
に測量を行うことができるさらに、本発明によれば、こ
れをトンネル掘削機の推進系に連動させることが容易で
あり、これによりトンネル掘削機の自動運転を大幅に推
進することが可能である。
さらに、トンネル掘削機に発光器を設置した場合のよう
にそのテール部が上下左右に移動するとき、発光器から
発射される光が可動鏡に到達不可能となるおそれがある
。しかし、本発明によれば、発光器が被測酸物体にでは
なく、これを測量するための装置に組み込まれているこ
とから、発光器から発射された光は必ず可動鏡に到達す
るように配置することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る測量方法の概略を示す説明図、第
2図は他の例の概略を示す説明図、第3図は測量装置、
可動鏡および反射鏡の配置例を示す概略図、第4図は可
動鏡および反射板の概略図、第5図は変位を検出する動
作を示すブロック図、第6図は複数の方向変位点が存在
する場合の測量方法の概略を示す説明図、第7図は被測
量物体の三次元座標位置を求めるための説明図である。 lO:測量装置、    12:可動鏡、14:被測量
物体、  16:反射鏡、18二発光器、    20
:光検知器、22二光波距離計、  24 、25 :
反射板、S、S、、S2 :基準線、 0、.02 :第1の基準線および第2の基準線。 C,C,:方向変位点。 代理人 弁理士 松 永 宣 行 1

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基準線からの被測量物体の変位角を測量する方法
    であって、前記基準線上の第1の基準点に、該第1の基
    準点と前記被測縫物体との間における前記基準線−Fの
    第2の基準点へ向けて発光器および光検知器を備えるl
    1lIIl量装置を、前記第2の基準点に、直交する二
    つの軸線の回りに回転可能の可動鏡を、および前記被測
    酸物体に前記第2の基準点へ向けて反射鏡を、それぞれ
    、設置すること、その後、前記発光器から発射された光
    が前記可動鏡で反射されて前記光検知器の受光面の中央
    に入射するように前記可動鏡を回転させること、次いで
    前記光が前記可動鏡で反射されて前記反射鏡に入射しさ
    らに該反射鏡で反射された光が再び前記可動鏡で反射さ
    れて前記光検知器の受光面の中央に入射するように前記
    可動鏡を回転させること、このときの前記可動鏡の前記
    二つの軸線の回りの回転角度を検出することを含む、7
    11D I$1方法。
  2. (2)  基準線」−の第1の基準点から被測縫物体に
    至る距離を測量する方法であって、前記第1の基準点と
    前記被測量物体との間における前記基準線上の第2の基
    準点へ向けて発光器、光検知器および光波距離計を備え
    る測量装置を、前記第2の基準点に、直交する二つの軸
    線の■1りに回転可能の可動鏡を、および前記被Ill
    量物体に前記第2の基準点へ向けて反射鏡を、それぞれ
    、設置すること、その後、前記発光器から発射された光
    が前記可動鏡で反射されて前記反射鏡に入射しさらに該
    反射鏡で反射された光が再び前記可動鏡で反射されて前
    記光検知器の受光面の中央に入射するように前記可動鏡
    を回転させること、次いで前記光波距離計により前記第
    1の基準点から前記第2の基準点を経て前記被測縫物体
    に至る距離を検出することを含む、測量方法。
  3. (3)基準線からの被測量物体の変位度を測置する方法
    であって、前記基準線−Lの第1の基準点に、該第1の
    基準点とこれから角度的に隔てられた点とを結ぶ直線と
    、前記基準線との成す角度を回転可能の発光器および光
    検知器を備える測量装置を、前記第1の基準点と前記被
    測量物体との間における前記基準線」−の第2の基準点
    に、直交する二つに軸線の回りに回転可能の可動鏡を、
    前記被測量物体に前記第2の基準点へ向けて反射鏡を、
    および前記直線」−の点に故点が前記第1の基準点と第
    2の基準点との間で光路の中継点となるように反射板を
    、それぞれ、設置すること、その後、前記発光器および
    前記光検知器を前記可動鏡へ向け、前記発光器から発射
    された光が前記可動鏡で反射されて前記光検知器の受光
    面の中央に入射するように前記可動鏡を回転させること
    、次いで前記発光器および前記光検知器を前記反射板へ
    向け、前記発光器から発射された光が前記反射板で反射
    されて1(1記可動鏡に入射しさらに反射された光が再
    び前記反射板で反射されて前記光検知器の受光面の中央
    に入射するように前記可動鏡を回転させること、このと
    きの可動鏡の前記二つの軸線の回りの回転角度を検出す
    ること、次いで前記発光器から発射された光が前記反射
    板および前記可動鏡で反射されて前記反射鏡に入射しさ
    らに該反射鏡で反射された光が再び前記可動鏡および前
    記反射板で反射されて前記光検知器の受光面の中央に入
    射するように前記可動鏡を回転させること、このときの
    前記可動鏡の前記一つの軸線の回りの回転角度を検出す
    ることを含む、測量方法。
  4. (4)基準線1−の第1の基準点から被測量物体に至る
    距離をl11111 亀する方法であって、前記第1の
    基準点に、該第1の基準点とこれから角度的に隔てられ
    た点とを結ぶ直線と、niJ記基記録準線成す角度を回
    転可能の発光器、光検知器および光波距離計を備える測
    量装置を、前記第1の基準点と前記被測吊物体との間に
    おける前記基準線上の第2の基準点に、直交する二つの
    軸線の回りに回転可能の可動鏡を、前記被測品−物体に
    前記第2の基準点へ向けて反射鏡を、および前記直線上
    の点に故点が前記第1の基準点と前記第2の基準点との
    間で光路の中継点となるように反射板を、それぞれ、設
    置すること、その後、前記発光器、前記光検知器および
    前記光波距離計を前記反射板へ向けること、次いで前記
    発光器から発射された光が前記反射板および前記可動鏡
    で反射されて前記反射鏡に入射しさらに該反射鏡で反射
    された光が再び前記可動鏡および前記反射板で反射され
    て前記光検知器の受光面の中央に入射するように前記可
    動鏡を回転させること、次いで光波距離計により前記第
    1の基準点から前記直線」二の点および前記第2の基準
    点を経て前記被測量物体に至る距離を検出することを含
    む、測量方法。
  5. (5)第1の既知点および該第1の既知点から隔てられ
    た第2の既知点を有する直線からの被測量物体の変位角
    を測量する方法であって、前記直線」二の点以外の地点
    に前記第2の既知点へ向けて発光器および光検知器を備
    える測量装置を、前記第1の既知点に、二つの軸線の回
    りに回転可能の可動鏡を、前記被測量物体に前記第1の
    既知点へ向けて反射鏡を、および前記第2の既知点に該
    第2の既知点が前記地点と前記第1の既知点との間で光
    路の中継点となるように反射板を、それぞれ、設置する
    こと、その後、前記発光器から発射された光が前記反射
    板および前記可動鏡で反射されて前記反射鏡に入射しさ
    らに該反射鏡で反射された光が再び前記可動鏡および前
    記反射板で反射されて前記光検知器の受光面の中央に入
    射するように前記可動鏡を回転させること、このときの
    前記可動鏡の回転角度を検出することを含む、測量一方
    ン去。
  6. (6)  第1の既知点および該第1の既知点から隔て
    られた第2の既知点を有する直線上の点以外の地点から
    被測量物体に至る距離を7111 硅する方法であって
    、前記地点に前記第2の既知点へ向けて発光器、光検知
    器および光波距離計を備える測量装置を、前記第1の既
    知点に、二つの軸線の回りに回転可能に可動鏡を、前記
    被測量物体に前記第1の既知点へ向けて反射鏡を、およ
    び前記第2の既知点に該第2の既知点が前記地点と前記
    第1の既知点との間で光路の中継点となるように反射板
    を、それぞれ、設置すること、その後、前記発光器から
    発射された光が前記反射板および前記可動鏡で反射され
    て前記反射鏡に入射しさらに該反射鏡で反射された光が
    再び前記可動鏡および前記反射板で反射されて前記光検
    知器の受光面の中央に入射するように前記可動鏡を回転
    させること、次いで前記光波距離計により前記地点から
    前記第2の既知点および前記第1の既知点を経て前記被
    測贋物体に至る距離を計測することを含む、測量方法。
  7. (7)  ノb準点から複数の方向変位点を介在して隔
    てられた被測量物体の該測綴物体に最も近い方向変位点
    と次の方向変位点とを結ぶ基準線からの前記被測量物体
    の変位角を測量する方法であって、前記基準点に、前記
    方向変位点のうち前記基準点に最も近い方向変位点へ向
    けて発光器および光検知器を備える制酸装置を、前記被
    測量物体に最も近い前記方向変位点に、直交する二つの
    軸線の回りに回転可能の可動鏡を、前記被測量物体に、
    これに最も近い前記方向変位点へ向けて反射鏡を、前記
    被測量−物体に最も近い前記方向変位点以外の他の方向
    変位点に故地の方向変位点が前記基準点と前記被測量物
    体に最も近い前記方向変位点との間で光路の中継点とな
    るように反射板を、それぞれ設置すること、その後、前
    記発光器から発射された光が前記各反射板で反射されて
    前記可動鏡に入射しさらに該可動鏡で反射された光が再
    び前記各反射板で反射されて前記光検知器の受光面の中
    央に入射するように前記可動鏡を回転させること、次い
    で前記発光器から発射された光が前記各反射板および前
    記可動鏡で反射されて前記反射鏡に入射しさらに該反射
    鏡で反射された光が再び前記可動鏡および前記各反射板
    で反射されて前記光検知器の受光面の中央に入射するよ
    うに前記可動鏡を回転させること、このときの前記可動
    鏡の回転角度を検出することを含む、測量方法。
  8. (8)基準点から複数の方向変位点を介在して隔てられ
    た被測量物体へ至る距離を測量する方法であって、前記
    基準点に、前記方向変位点のうち前記基準点に最も近い
    方向変位点へ向けて発光器、光検知器および光波距離計
    を備える制酸装置を、前記方向位点のうち前記被測量物
    体に最も近い方向変位点に、直交する二つの軸線の回り
    に回転可能の可動鏡を、前記被測量物体に、これに最も
    近い前記方向変位点へ向けて反射鏡を、前記被測量物体
    に最も近い前記方向変位点以外の方向変位点に、故地の
    方向変位点が前記基準点と前記被測量物体に最も近い前
    記方向変位点との間で光路の中継点となるように反射板
    を、それぞれ、設置すること、その後、前記発光器から
    発射された光が前記各反射板および前記可動鏡で反射さ
    れて前記反射鏡に入射しさらに該反射鏡で反射された光
    が再び前記可動鏡および前記反射板で反射されて前記光
    検知器の受光面の中央に入射するように前記可動鏡を回
    転Sせること、次いで前記光波距離計により前記基準点
    から前記方向変位点を経て前記被測量物体に至る距離を
    検出することを含む、測量方法。 (8)基準点から複数の方向変位点およびこれらの近傍
    点を介在して隔てられた被m硅物体の該被測量物体に最
    も近い方向変位点と該方向変位点の近傍点とを結ぶ基準
    線からの変位角を測量する方法であって、前記基準点に
    、前記方向変位点のうち前記基準点に最も近い方向変位
    点の近傍点へ向けて発光器および光検知器を備える測置
    装置を。 前記被測量物体に最も近い前記方向変位点に、直交する
    二つの軸線の回りに回転可能の可動鏡を、前記被測縫物
    体に、これに最も近い前記方向変位点へ向けて反射鏡を
    、および前記被測量物体に最も近い前記方向変位点を除
    く他の方向変位点と前記各近傍点とに、前記他の方向変
    位点および前記近傍点が前記基準点と前記被測量物体に
    最も近い前記方向変位点との間で光路の中継点となるよ
    うに反射板を、それぞれ設置すること、その後、前記発
    光器から発射された光が前記反射板で反射されて前記可
    動鏡に入射しさらに該可動鏡で反射された光が再び前記
    反射板で反射されて前記光検知器の受光面の中央に入射
    するように前記可動鏡を回転させること、次いで前記発
    光器から発射された光が前記反射板および前記可動鏡で
    反射されて前記反射鏡に入射しさらに該反射鏡で反射さ
    れた光が再び前記可動鏡および前記各反射板で反射され
    て前記光検知器の受光面の中央に入射するように前記可
    動鏡を回転させること、このときの可動鏡の前記二つの
    軸線の回りの回転角度を検出することを含む、測量方法
    。 (lO)基準点から複数の方向変位点およびこれらの近
    傍点を介在して隔てられた被測量物体に至る距離を測量
    する方法であって、前記基準点に、前記方向変位点のう
    ち前記基準点に最も近い方向変位点の近傍点へ向けて発
    光器、光検知器および光波距離計を備える測量装置を、
    前記方向変位点のうち前記被測量物体に最も近い方向変
    位点に、直交する二つの軸線の回りに回転可能の可動鏡
    を、前記被測量物体に、これに最も近い前記方向変位点
    へ向けて反射鏡を、および前記被測量物体に最も近い前
    記方向変位点を除く他の方向変位点と前記各近傍点とに
    、前記他の方向変位点および前記近傍点との間で光路の
    中継点となるように反射板をそれぞれ、設置すること、
    その後、前記発光器から発射された光が前記反射板で反
    射されて前記可動鏡に入射しさらに該可動鏡で反射され
    た光が再1 び前記反射板で反射されて前記光検知器の受光面の中央
    に入射するように前記可動鏡を回転させること、次いで
    前記発光器から発射された光が前記反射板および前記可
    動鏡で反射されて前記反射鏡に入射しさらに該反射鏡で
    反射された光が再び前記可動鏡および前記反射板で反射
    されて前記光検知器の受光面の中央に入射するように前
    記可動鏡を回転させること、次いで前記光波距離計によ
    り前記基準点から前記方向変位点および前記近傍点を経
    て前記被測量物体に至る距離を検出することを含む、A
    11l量方法。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62165114A (ja) * 1986-01-16 1987-07-21 Nippon Supiide Shiyoa Kk 掘削機の位置検出装置
JPS63159710A (ja) * 1986-12-23 1988-07-02 Fujita Corp 隧道等における自動測量システム
JPS63214613A (ja) * 1987-03-03 1988-09-07 Sotsukishiya:Kk 曲りトンネル掘進の際の測量装置
JPH05172516A (ja) * 1991-12-24 1993-07-09 Hitachi Zosen Corp 移動体の位置・姿勢自動計測装置および自動計測方法
JP2014126468A (ja) * 2012-12-26 2014-07-07 Kawasaki Heavy Ind Ltd 中継機を用いたレーザ照射システム
JP2017223443A (ja) * 2016-06-13 2017-12-21 東日本旅客鉄道株式会社 3次元レーザー測定装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5912964A (ja) * 1982-07-15 1984-01-23 Otsuka Chem Co Ltd ポリオルガノシロキサン組成物

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5912964A (ja) * 1982-07-15 1984-01-23 Otsuka Chem Co Ltd ポリオルガノシロキサン組成物

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62165114A (ja) * 1986-01-16 1987-07-21 Nippon Supiide Shiyoa Kk 掘削機の位置検出装置
JPS63159710A (ja) * 1986-12-23 1988-07-02 Fujita Corp 隧道等における自動測量システム
JPH0377444B2 (ja) * 1986-12-23 1991-12-10 Fujita Kk
JPS63214613A (ja) * 1987-03-03 1988-09-07 Sotsukishiya:Kk 曲りトンネル掘進の際の測量装置
JPH05172516A (ja) * 1991-12-24 1993-07-09 Hitachi Zosen Corp 移動体の位置・姿勢自動計測装置および自動計測方法
JP2014126468A (ja) * 2012-12-26 2014-07-07 Kawasaki Heavy Ind Ltd 中継機を用いたレーザ照射システム
JP2017223443A (ja) * 2016-06-13 2017-12-21 東日本旅客鉄道株式会社 3次元レーザー測定装置

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