JPS59206744A - 遠心分析装置 - Google Patents

遠心分析装置

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JPS59206744A
JPS59206744A JP6896084A JP6896084A JPS59206744A JP S59206744 A JPS59206744 A JP S59206744A JP 6896084 A JP6896084 A JP 6896084A JP 6896084 A JP6896084 A JP 6896084A JP S59206744 A JPS59206744 A JP S59206744A
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JP
Japan
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signal
blanking
sample
centrifugal
analysis
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JP6896084A
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ト−マス・ピカンコ
キ−ス・マツカミ−
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Biochem Immunosystems US Inc
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Biochem Immunosystems US Inc
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/251Colorimeters; Construction thereof
    • G01N21/253Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/04Batch operation; multisample devices
    • G01N2201/0476Keyboard controlled, e.g. for plural analysis at one sample, channel selection, coding

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
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  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は遠心測光装置又は測光装置に関し、さらに詳細
には、単一の計器において吸光測定又は螢光測定のいず
れかを実施することができる分析装置又は測光装置に関
する。
近年、医療技術は診断用機器に依存することが1すます
多くなってきておシ、医療、分析及び研究のだめの施設
の要望に応えるため、多様な計器が開発されている。一
般に使用されている計器の1つに遠心分析装置があシ、
これは、新陳代謝で生じた物質、ホルモン、酵素、ミネ
ラル、人体廃棄物質、胆汁成分、胃の内容物などに関す
る定性データ及び定量データを得るために、測光検査を
通して多数のサンプルを迅速に分析する装置である。
現在関心がもたれている9重心分析装置の種類は、あら
かじめ計量された量の漿液と試液とを混合するために多
数の試験サンプルを入れた回転自在のトレイ又は伝送円
板が高速で回転する遠心測光装置である。伝送円板と回
転体が同期回転すると、混合液は遠心力により伝送円板
から、回転体に環状に配設されるキュベツトへ移動する
。漿液と試液との混合液は測光によシ順次繰返してサン
プリングされ、複数のサンプルについて漿液と試液との
間の反応に関するデータ、さらに詳細には混合液の測光
特性の変化に関するデータが得られる。
遠心分析装置を使用する測光試験は、漿水が特定の試液
と混合されたとき、反応物質の測光特性の変化を示し、
この変化が特定の人体の化学的性質を示すという測光上
の特性に基づいている。一般には2種類の光化学分析方
法が採用されておシ、その1つは混合液の吸光特性を測
定する方法であシ、もう1つは混合液の螢光特性を測定
する方法である。
吸光度測定は、サンプルに入射する光の強さとサンプル
から射出する光の強さとの間の差を測定するものである
。特定の波長において、試液と漿液との混合液のサンプ
ル濃度を表わす吸光度を測定することによシ、特定の人
体の化学的性質が正確に示されることは知られている。
従って、多くの遠氾]1]光装置は、様々な光化学分析
に計器を利用することができるように光学的フィルタ処
理(fこよシ分析波長を変化させる手段を具備する。
螢光度は、1つのスペクトル波長で入射ビームを照射し
て試験サンプルを励起し、サンプルからの螢光を入射波
間とは異なるスペクトル波長で測定することりこより測
定される。発光は非常に弱いものであるので、通常は、
正確な測定を反復して行なえるようにするために、十分
な螢光反光を誘起する輝度の高い光源が使用される。さ
らに、適切な螢光測定を達成するため(て、通常は高感
度の光検出器が使用され、迷光の侵入を最小限に抑える
ため、螢光測定システムの設計は慎重に行なわれる。
吸光測定用計器と螢光測定用計器とでは光学的な構成が
異なる。吸光測定用計器においては、白色光又(d光学
的にろ過された光の光源からの光は、水、試液又は漿液
と特定の試液との混合物を含むサンプルを透過する。透
過光は、光電子増倍管のような光検出器に入射するよう
に導かれる。光学的ろ過は、光のビームがサンプルに入
射する前又はビームがサンプルから射出した後に、光源
とサンプルとの間又はサンプルと光検出器との間1(適
切な光学フィルタを挿入することにより行なえば良い。
従って、この測定の測定値は、ビームがサンプルを透過
して進む際に特定の光学的波長の光をサンプルが吸収す
る割合を示すものである。
サンプルの螢光度の測定は、入射励起波長とは異なる発
光波長で低い光レベルの信号を検出することを含む。励
起波長を有する第1のフィルタは光源とサンプルとの間
の光路に挿入され、励起波長とは異なる透過波長を有す
る第2の光学フィルタはサンプルと光検出器との間の光
路に挿入される。第1の波長でサンプルに入射する光は
サンプル全励起1−1第2の光学フィルタの周波数で発
光又は螢光を生じさせる。出射光は第2の光学フィルタ
を通過し、光検出器(・て入射して1発光の振幅又は強
さに対応する信号を発生する。螢光測定モードにおいて
は、螢光波員又は発光波長の光のみが光検出器1・て入
射するということがわかる。
吸光イ目]]定に便用される計器と螢光測定に使用され
る計器との間1(1d光学的特性の差1があるので、光
化学試験のいずれか一方の種類を実、@するために別個
の計器を利用しなければならなかった。ごく近年になっ
てはじめて、2つの測光試験方法を単一の計器vc、Y
+f1合わせる技術が知られるようになった。
吸光測定のみ可能な遠心分析装置の1つはCentri
fichem 600  として知られておシ、本発明
の譲受人によシ製造され、でいる。この測光装置は、複
数のサンプルを単一のランで試験することができるので
、医療用、実験室用又は研究用として特に適している。
測光装置は、30のサンプル位置を有する回転自在のサ
ンプルトレイ又は伝送円板を内蔵する。正確な量の漿液
と試液を伝送円板の内部の所望の数のサンプル位置に自
動的に且つ迅速に伝送するために、自動ピペットが使用
される。そのようなピペットは先行技術Uておいて知ら
れ、本発明の譲受人の米国特許第4,344,768号
υ゛ども記載されている。漿液と試液が伝送円板に移さ
れた後、伝送円板は、漿液と試液のそ汎ぞれのサンプル
を混合するため(C高速で回転するモータ駆動式スピン
ドルに取刊けられた環境チェンバの内部に配置さ几る。
次に、混合液は伝送円板内部のそれぞれのサンプル位置
から、回転体内に伝送円板に関して環状に配置される、
キュベツトとして知られる光学的ガラスセルへ自動的(
で移され、漿液と試液とのそれぞれの混合液の入ったキ
ュベントが分析位置においてビームを横切るように回転
する際に、各サンプルについて吸光度データが測定され
る。全ての所望のサンプル位置においてサンプル濃度を
表わす吸光度データを周期的Lサンプリングすることに
より、漿液と試液とのそれぞれの混合液の光化学的分析
に十分なデータを利用することができる。
アボット・コーポレーション(Abott Corpo
 −ration)によp製造さfている遠心測光装置
、モテル、−rc Vpは、吸光スペクトル測光装置又
は螢光測定装置として動作することができるように、ア
ボットAl3A、 −1o O吸光測定システムへ変更
することかできる。アボンド■Pは、適切なフィルタホ
イールを手操作で挿入することによυ、吸光測定計器か
ら螢光測定用計器に転用される。フィルタホイールは、
二対のイ・目対向する光学フィルタを含む。螢光測定装
置としての構成は、手操作により選択され、フィルタホ
イールを取付けることにより得られる。フィルタホイー
ルの第1の対の相帯域を有する第1のフィルタと1発光
波長に対応する光学的帯域を有する第2のフィルタとを
含む。
アボットのフィルタホイールのうち残りの対の相対向す
るフィルタはニュートラルフィルタである。
ニュートラルフィルタ及びサンプルを透過した光は、螢
光波長でサンプルからの光に対して比例対照され、それ
によりサンプルの螢光度を表わす信号が得られる。
アボンドVPをノ時定の1吸光測定又は螢光測定に適合
させるために、フィルタホイール組立体を手繰−作で変
えるのが普通である。手操作による交換は時間もかかり
、不適切なフィルタホイールを取付けてしまうなどの誤
りの原因ともなる。
遠心分析装置を利用するのは、個々に試、験結果を解釈
することにより容易に理ノ眸でさる出力を発生するよう
に、値数の被験サンプルについてのデータを迅速に収集
し、処理し、分析し、総合することができるためである
。従って、この種の計器はデータ整理機能を有するが、
従来は、データ整理機能は限られていた。本発明の譲受
人により製造され−CいるCentrifichem 
600システムは、運動的反応又は終点反応の数量比デ
ータを表示する他に、サンプルの吸光度を表示用モニタ
に棒グラフで表示する。しかしながら、従来の分析装置
は、一般に、複雑な図形表示や曲線の当てほめを実行す
ることはできなかった。
このような計器に利用者側インターフェースがあれば、
余り熟練していない使用者でも容易に操作することがで
き、与えられた日に伺百何千のサンプルを分析する実験
室又は医療の分野で計器を適切なコストで利用できるこ
とは明らかである。
イヒ学的分析に使用される計器は、通常、比較的複雑な
利用者インターフェースを提供するので、時間のかかる
反復試、験紫実確するため6ては、熟練したオペレータ
が必要であり、従って人件費は高く、不利であった。
本発明(Cよれは、サンプルの吸光特性及び螢光特性を
測定することができ、迅速にデータをサンプリングし、
サンプリングされたデータをデータ整理し、利用者が容
易に操作できるように全ての表示モードにおいてメニュ
ー駆動インターフェースと利用者への指示メツセージを
提供する遠心分析装置が提供される。分析装置は、光学
系と、/ステムエレクトロニクスと、サンプル搬送機構
と、分析装置を制御するソフトウェアプログラムとを含
む。
光学系は光源と、入射フィルタホイールと、射出フィル
タホイールと、光検出器と、回転体の内部に形成される
光学的キュベツトを通り、光検出器に入射するように光
のビームを集束し、導く複数個のレンズとを含む。回転
体は、モータにより、駆動されるスピンドルにより回転
される。
光源は3つの強さモードで動作し、実質的に規準された
光のビームを光学するためK 1つのレンズの焦点に配
置される。このビーム!41 光学的キュベツトが回転
体の内部でビームを横切るように回転するときのキュベ
ントの中心に対応する分析位置の1点に集゛束される。
被験サンプルから射出される透過ビームは付加的な集束
レンズを通過し、光検出器(・′こ入射する。
射出フィルタホイールは、分析位置と光検出器との間の
光路に配設される。このホイールは光学的帯域波長の異
なる複数の光学フィルタを含み、フィルタはホイールの
周囲に沿って配置される。
特定の光学フィルタを選択し、光路内に挿入するためf
c、ホイールは回転自在である。1つの実施例において
は、射出フィルタホイールの回転は、ソフトウェア制御
の下Vこ動作するステップモータによシ行なわれる。射
出フィルタホイールの複数の光学フィルタを利用するこ
とができるため、従来の分析装置(でよっては一般に見
られたように様々な測光試験に適合するシステムを構成
するため(で、オペレータが手操作によシフイルシタホ
イールを交換する必要は実質的Qてない。本発明の好ま
しい実施例においては、射出フィルタホイール内に24
枚の光学フィルタが配設される。
入射フィルタホイールはホイールの周囲に沿って配設き
れる腹数個の開口を有し、いくつかの開口には光学フィ
ルタが設けられる。少なくとも1つの開口は光学フィル
タを有していないか、又id光学的帯域を識別できない
ニュートラルフィルタを有する。入射フィルタホイール
を自動的に位置決めするために、ホイールはソフトウェ
ア制御の下にステップモータにより回転ロエ能である。
システムエレクトロニクス(d1ランプの強さを制御す
る回路と、入射フィルタホイール及び射出フィルタホイ
ールの駆動用ステップモータを制御する回路と、比例増
11雇器と、対数増幅器と、ディスク1駆動部と、プリ
ンタと、CRTと、他のデータ処理/制御回路とを含む
システムは、使用者による試験選択に応答して吸光測定
モード又は螢光測定モードVこ自動的に切換えられる。
吸光測定用の構成は、フィルりのない開口又は光学的帯
域を識別できないニュートラルフィルタを光路に挿入す
るように入射フィルタホイールを回転させることによシ
得られる。光源からの白色光は、キュベツトが光のビー
ムを横切って順次繰返して回転する間にキュベントに入
射する。それぞれのキュベツトを透過した光は射出フィ
ルタホイールの1つの光学フィルタによυろ過され、そ
れによシ分析波長が決定される。透過光が光検出器に入
射すると、光検出器は分析波長G・こおけるサンプルの
吸光度を表わす信号を発生する。光検出器からの出力信
号は対数増幅器に印加且つスケーリングされピークが検
出され、デジタル信号に変換さ几だ後、さらに処理され
る。
1つの吸光測定モードにおいては、既知の特性を有する
標準反応物質が1群のキュベツトに入れられ、未知のも
のは別のキュベツト群(で入れられる。標準試液の入っ
たキュベツトの吸光度に対応する標準曲線又は校正曲線
が形成され、曲線の当てtはめアルゴリズムと変換を利
用して吸光度対濃度のプロットが形成さ几る。試験が完
了した後、曲線は使用者によシCR,Tに選択的に表示
される。
未知のサンプルの光学的特性は、標準反応物質を使用し
て形成される校正曲線を利用するアルゴリズムシζよっ
て決定される。
螢光測定に・関する試、験の選択は、オペレータがキー
ボード入力を介して行ない、それにより、システムの構
成は自動的に螢光測定用に変わる。システムは、励起波
長を有する光学フィルタを光源と伝送円板との間1て挿
入するように入射フィルタホイールを回転させると共に
、選択される発光波長に対応する光学的帯域を有する光
学フィルタを伝送円板と光検出器との間((挿入するよ
うに射出フィルタホイールを回転させることりこより、
螢光測定用の構成となる。動作中、光源からの光は、励
起波長の帯域を有する光学フィルタを通過した後にキュ
ベツトに入射する。サンプルは励起され。
射出フィルタホイール内の光学フィルタの光学的帯域に
対応する発光波長の光を発する。この光は射出フィルタ
ホイールの光学フィルタを通過し、光検出器に入射する
。光検出器は、サンプルの螢光度を表わす信号を発生す
る。螢光測定モードにおいては、光検出器の出力信号は
比例増幅器に印加され、デジタル信号して変換された後
、システム内部でさらに処理される。
計器には、CRTのメニュー表示を制御し、サンプルデ
ータのデジタルフィルタ処理を実行し1、それぞれのキ
ュベツト゛の内部における個々の反応が完了した時間を
検出し、データ整理機能及び曲線の当てはめ機能を実行
し、制御機能を実行し且つ通信能力を提供するためのソ
フトウェアが提供さ3する。
ソフトウェア表示ルーチンの1つid、CRTに表示さ
几るメニュー及びフォーマットを制御するものである。
CR,TK表示される特定のメニューに応答して、使用
者は様々な機能を選択し、キーボードを介してシステム
に英数字入力を提供する。
ソフトウェアのルーチンはオペレータの入力に応答して
決定を下し、機械動作及び測定機能を開始するか、又は
他のメニュー又は画面フォーマントを表示して、使用者
の入力を待つ。システムの動作モードは、オペレータが
CRTに表示されるプロンプトに応答して入力すること
によシ、自動的に吸光測定又は螢光測定に切換えられる
システムの内部に設けられるソフトウェアのテジタルフ
ィルタは、先行技術において良く知られている種類のも
のである。フィルタは、サンプル番号によシ識別される
デジタル形態のデータを受取シ、ランダムノイズを低減
するためにフィルタ処理アルゴリズムをデータに印加す
る。
もう1つのソフトウェアルーチンは、システム内部に、
特定のキュベツト内での特定の反応が完了した時間を検
出する性能を提供する。この機能は、各キュベツトにつ
いてサンプリングされるデータに対応する吸光度曲線の
イ頃きを監視することにより達成される。終点反応につ
いてのデータ収集は、吸光度曲線がほぼ水平になったと
き、すなわち曲線の傾きがあらかじめ指定された限度内
で0であるときに終了される。運動性反応についてのデ
ータ収集は、吸光度曲線の傾きがあらかじめ指定された
限度内でほぼ一定になったときに終了される。このよう
な基[相]に基づいてデータ収集を終了させれば、シス
テムの性能をそこなうような不必要なデータ収集は行な
われない。従来の分析装置は、全ての反応が完了するで
あろうということを確認するために、長時間を費やして
データをサンプリングするだけであった。
別のソフトウェアルーチンは、サンプリングされたデー
タをいくつかの有用なフォーマントで表示する図形表示
能力を提供する。ラン時間の間、システムは、通常、キ
ュベツトごとのサンプルデータを棒グラフのフォーマン
トで表示する。しかしながら、その他の図形表示モード
を選択しても良い。選択可能なモードの1つにおいては
、吸光度データが時間の関数として表示される。また、
複数の様々な波長についてキュベツトの吸光度を時間と
の関数として選択的に図形表示しても良い。
試験終了後、別のオプションを選択することにより、試
験中にそれぞれのキュベツト内に導入される複数の標準
試液を使用して形成さnる吸光度対濃度の標準曲線又は
校正曲想を表示することができる。標準曲線は、それぞ
れの標櫓薬液について測定される吸光度データに選択さ
れた曲線の当てはめアルゴリズム表変換を加えることに
よシ作成される連続的1flJである。その他の図形表
示モードも利用することができる。
測光装置は、外部コンピュータ又はピペットとの対話の
ために、R,S−232通信ポート及び通信ソフトウェ
アを提供する。本発明は、サンプル番号ごとにデータを
相関させ、記憶するため及び外部のデータ処理システム
へ要求に応じてデータを搬送するために必要なハードウ
ェア及びソフトウェアを含む。さら(C1システムは、
ピペットにより特定の伝送円板に分配される漿液と試液
とを表わすデータを通信ポートを介して受取ると共に、
そのような入力tで応答して試験を実施することができ
る。
以下、添付の図面゛2参照して本発明の詳細な説明する
第1図から第3図は、複数個のサンプルについて吸光測
定又は螢光測定を実施するのに適する本発明(でよる遠
心分析装置を示す。この装置は、回転体内のキュベツト
l)ングの内部に形成されるキュヘットにそれぞれ導入
さ几るブランク、標準液、対照液又は漿液サンプルにつ
いてサンプルの吸光度又は螢光度を正確に測定する。サ
ンプルの吸光度又は螢光度に対応する徂J定値は一定の
光路に沿つた分析位置を通る共通の中心点((関して回
転するキュベツトの内部に配設される反応物質又は対照
物貰として得られる。
遠心公訴装置は、環境チェンバ12を含むコンソール又
はハウジング10と、キュベツトリング14を含み、伝
送円板16を受入れる回転体3゜と、CRT表示部18
と、キーボード2oと、ディスク駆動部22と、プリン
タ24と、付加的な制御・処理用電子回路とから構成さ
れる。通常、CRT表示部18は12インチの表示用ス
クリーンであり、ディスク駆動部22は5−1/4イン
チのフロッピーディスク駆動装置であシ、プリンタ24
け40行のサーマルプリンタである。
光学系は、回転体の周囲に配設されるキュベツトがビー
ムの中に挿入されるように、ビームを発生1−1一定の
光路1/′C沿って集束する。キュベントに入射する光
と、キュベツトを透過する光の双方をろ光するだめの手
段が設けられている。透過光が光検出器に入射すると、
光検出器は入射光の強さに比例する信号を発生する。
以下、光学系、電子回路、データ収集方法及びシステム
動作の他の面についてざらに詳細ひて説明する。
基本動作 装置の動作は第1図から第8図(c)を参照することに
よシ明瞭に理解されるであろう。米国特許第4.344
,768号に記載されるようなピペットは、100万分
の1リットル単位で厳密に計測された量のブランク、標
準液、対照液、漿液サンプル及び試液を回転自在のトレ
イ又は伝送円板16の内部の仕切だめに注入する。伝送
円板16は、円板16が静止状態にある間に漿液と試液
とを分離するために、仕切を有する液だめを含む30個
の区画室を有する。試液は通常は試液だめ26に入り、
希釈液はサンプルだめ28に入る。分析装置のハウジン
グ14の内部にある環境チェンバ12は、伝送円板16
を受入れる回転体ろ0を含む。伝送円板16は、環境チ
ェンバ12の内部に配置さnると、システムの電子回路
の制御の下にモータ32により駆動される回転体30と
係合する。伝送円板16及び回転体30の回転位置は、
回転体30の主軸68の周囲に配設される光学円板36
と、回転検出器(図示せず)と、伝送円板16及び回転
体300回転位置を表わす信号を発生する光学クロック
論理回路69と共動するセンサ34によシ測定さnる。
環境チェンバ12は測定領域内の温度を安定した値に維
持する。光検出器40の遮蔽及び緩衝のため、並びに散
乱光が光検出機構の内部へ侵入するという望ましくない
事態を避けるだめに刷部のカバーが設けられている。回
転体30及び伝送円板16は良く知られておシ、米国特
許第3.555,284号Qて記載さnている装置と同
様のものである。使用者が測定モードに入るよう指令を
出すと、モータ32は回転体30を約毎分960回転の
回転速度まで加速する。サンプルだめ28内のサンプル
と試液だめ26内の試液に遠心力が加わると、反応物質
は液だめの仕切からあふれ、混合される。この反応物質
の混合は加えられる真空によって助けられ、その結果、
反応物質は気泡を生じる。遠心力によシブランク、対照
−液又は反応物質は液だめから、伝送円板16内部の流
路42を経て、キュベツト44として知られる3 0 
個の光学的空胴に移動する。キュベツトは、伝送円板1
6のそれぞれのサンプルだめ28及び試液だめ26に対
して環状に配設される。キュベツト44は回転体30の
構造の内部に形成され、伝送円板16から外方に環状に
設けられる。回転体30は、通常は水晶のような光学的
に透明な材料から製造される回転体基板46を含む。キ
ュベノ) IJソング8は、回転体基板46と光学的に
透明な上方ウィンドウリング50との間υて配設される
。上方ウィンドウリング50は水晶製であるのが普通で
ある。
キュベツトリング48は、リング48の内周に沿って、
キュベツト44として知られる30個の光学的空胴を形
成する30個の僕形のくぼみ52を有する。ウィンドウ
保持リング5ろは、位置に関してキュベツトリング48
のくぼみ52に対応する複数の開口を有し、上方ウィン
ドウリング5゜を保持するためにウィンドウリング50
の上方に配設される。光学的に透明である上方ウィンド
ゥリング50と回転体基板46は、キュベラ)・リング
48の内部のキュベツト44を形成するくぼみ52を通
して光を透過させるので、それぞれのキュベツト44の
中に入っているサンプルを光学的に分析することができ
る。回転体60が回転すると、キュベツト44は分析位
置にお匹て順次、周期的にビームを受ける。様々に異な
る波長を有する複数枚の光学フィルタを受入れる回転自
在の射出フィルタホイール54は、光検出器40と分析
位置との間の光路内(で配設され、光学フィルタは射出
フィルタホイール54の周囲に配設される。
射出フィルタホイール54は、特定の光学フィルタを選
択し、光路に挿入することにより、光検出器40に入射
する透過光の分析波長を決定するためGて、ソフトウェ
ア制御の下にステップモータ56を介して回転自在に配
置することができる。光検出器40は光電子増倍管(P
MT)又は他の適切な感光装置であって、光路内(・て
配置され、各キュベツト44が項次回転してビームを受
けるごとに、サンプルの吸光度又(d発光を表わす信号
を発生する。入射フィルタホイール58は、光源60と
伝送円板16との間の光路に沿って配設される。入射フ
ィルタホイール58は、螢光測定モードで動作する際に
採用される励起波長に対応して、ホイールの周囲に配置
される光学フィルタを含む。入射フィルタホイール58
 Kは、吸光測定モードで使用される全透過フィルタ又
は開口も設けられる。
入射フィルタホイール58も、 ソフトウェア制御の下
にステップモータ62により回転させることができる。
第4図において、各キュベツト44の吸光度又は発光に
対応する光検出器の信号(4繰返してサンプリングされ
、動作モードに応じて、すなわち螢光測定モードである
か又は吸光測定モードであるかに応じて、比例増幅器6
4又は対数増幅器66に印加さ汎る。増幅された出力信
号はパネル電位差計94 Kよりスケーリングされ、ピ
ーク検出器68に印加され、アナログ/デジタル変換器
70によりデジタル信号に変換され、分析ボード72の
マイクロプロセッサに転送されて、その後のデータ処理
、データ整理及び/又はデータ表示に使用される。油圧
空気圧式駆動装置74  と油圧空気圧組立体76とを
含む油圧空気圧機構は、次の動作シーケンスにそなえて
伝送円板16及び回転体30を空にし、洗浄し、乾燥さ
せる。
光学系 光路は、単一の計−器で吸光測定と螢光測定の双方を実
施できるように設定される。光路は、強さを選択するこ
とができる光源60と、通常は光学的波長の異なる24
枚のフィルタを含む射出フィルタホイール54と、光学
的波長の異なる光学フィルタ金受入れる開1コをゼする
入射フィルタホイール58とを含む。
光源60は通常はヨウ化石英のランプであり、集束ビー
ムを発生するだめに第1のレンズ78の焦点に配置され
る。ミラー80は通常は球形の断面を有し、ビームをさ
ら((強めるために光源60をはさんで第1のレンズ7
8と対向するように配設される。第1のレンズ78から
射出されるほぼ集束されたビームは、この好ましい実施
例においては水平であり、所定の焦点距離を有する第2
のレンズ82 に入射する。すなわち、はぼ集束された
ビームは第2のランプ82の焦点の1点に集束される。
ミラー又は直角プリズム84ば、第2のレンズ82から
射出されるビームを葦つすぐ下方Vこ向けるだめに光路
内に配設される。回転体30は、キュベツトリング48
の内部に設けられる光学的キュベツト44が、第2のレ
ンズ82により規定され、ミラー又は直角プリズム84
により下方に向けられる焦点を通って回転するような回
転軸86を有する。光は回転する光学的キュベツト44
を透過し、第3のレンズ88に入射し、続♂て第4のレ
ンズ90.に入射する。第4のレンズは、透過光を全て
集束し、第4のレンズ90の下方に配設される光検出器
40に入射させる。
射出フィルタホイール54は複数枚の光学フィルタを含
み、射出フィルタホイール54内のフィルタの1つを第
4のレンズ90と光検出器40との間の光路に挿入する
ように回転することができる。一実施例においては、射
出フィルタホイール54 は帯域波長の異なる24枚の
光学フィルタを含む。射出フィルタホイール54は、特
定の光学フィルタを光路に挿入するようにソフトウェア
制御の下[ステップモータ56により回転させることも
できる。
入射フィルタホイール58は、複数枚の光学フィルタを
受入れる開口を有し、第1のレンズ78と第2のレンズ
82との間の光路に配設される。
入射フィルタホイール58は、開口と開口内にはめ込ま
れる光学フィルタとが第1のレンズ7Bと第2のレンズ
82との間の集束ビームの中に挿入されるように回転軸
に沿って回転することができる。入射フイ′ルタホイー
ル58の開口の少なくとも1つ(dフィルタを含まない
か、又は帯域を識別できないニュートラルフィルタを含
む。入射フィルタホイール58のあいたままの開(コ又
はニュートラルフィルタは、通常は、計器が吸光測定モ
ードにあるときに光路内に挿入される。
システムの光路は、螢光測定に関しては、サンプルの励
起波長に対応する波長を有する光学フィルタを光路に挿
入するように入射フィルタホイール58を回転させるこ
とによシ形成される。励起波長でろ光された光はキュベ
ツト44内のサンプルに入射し、そこで、サンプルは特
定の発光波長の螢光を発する。射出フィルタホイール5
4は、発光波長の帯域を有する光学フィルタを光路IC
挿入し、発光波長の光のみが光検出器40に達するよう
に回転される。発光波長以外の波長の光は、選択された
フィルタを透過)−ない。従って、上述のように螢光測
定用にシステムをセットアンプした場合に光検出器40
により発生される信号は、選択された励起波長を有する
光の入射1てよるサンプルの励起に応答するサンプルの
発光を表わす。
螢光測定モード及び吸光測定モードにおける動作は、共
にソフトウェア制御の下に選択することができる3つの
強さモードをゼする光源60によりさらに容易になる。
螢光測定の場合、サンプルの発光を正確に測定するため
Ic十分なサンプルの励起を達成するためには強い光源
が必要である。
一実施例においては、強い光源60ば、ヨウ化石英のラ
ンプに高′覗圧を印加することにより得られる。強モー
ドは、螢光測定の他にも特定の吸光度試験に利用でゝき
る。しかしながら、吸光測定については、通常、光源6
0は通常の強さモードで動作されるので、信号のレベル
は十分に犬きく、光源ランプの寿命は長い。計器が測定
を行なっていないときのための光源待機モードも設けら
れている。光源待、機モードでは、フィラメントが予備
加熱され、通常の強さモード又は強モードを選択した後
のランプ整定時間ができる限り短くなるようにする。
光検出器、110 (ri、管シて入射する光の強さに
比例する信号を発生する。この信号は後述するように増
幅きれ、処理される。実際には、複数のキュベツト44
を含むj回転体30が高速で回転し、それぞれのキュベ
ツト44を順次光路に挿入するにつ九で、サンプルの螢
光度又は吸光度に対応する複数の信号が発生される。
システムの電子回路 光検出器40は高圧電源/調整器92から給電され、入
射光に応答してそれに比例する出力信号を発生する。吸
光測定モードで動作しているとき、光検出器の出力信号
は対数増幅器66に印加され、パネル電位差計94を介
してスフ−リングされ、特定のキュベツト44が一定の
光路を横切って回転する間に観察される信号の最大振幅
全検出するためにピーク検出器68に印加される。螢光
測定モードで動作しているとき、光検出器(光電子増倍
管)40の出力信号は比例増幅Rp 64に印加され、
パネル電位差計94によりスフ−リングされ、ピーク検
出器68に印加される。ピーク検出器68の出力は、ピ
ーク検出器68の出力信号4て応答して、それを表わす
2通信号を発生するアナログ/デジタル変換器70 に
印加される。分析ボード72のマイクロプロセッサは、
所定の間隔をおいてアナログ/デジタル変換器70から
データを受入れる。分析ボード72は、サンプリングさ
れたデータを処理し、使用者が選択する様々なアルコ゛
リズムを実行し且つシステム制御機能を提供するだめに
、分析ボード72の16キロノくイトのランダムアクセ
ス記憶装置(R,AM)又はディスク制御ボード98の
48キロバイトのR,AM96に記憶されているプログ
ラムを実行する。
CRT制両制置装置100ステムバス102とインター
フェースし、コンソール10に配置されるCRTビテオ
表示部18を制御するために使用される。操作者に指示
を与えるためにメニュー及び所定の表示フォーマントが
(1%T表示部18に提示され、CRT表示部18は操
作者がキーボード20を介して入力するごとに自動的に
更新される。
CI1%T制御装置100は、マイクロプロセッサを含
む分析ボード72 からシステムバス102ヲ介して指
令及びデータを受取る。分析ボード72もシステムバス
102と直接インターフェースする。
入出力拡張ボード104は、第6図に示されるタッチキ
ーボード20と、温度側〔卸装置106のだめの入力ポ
ートを提供する。温度制御装置106は、キュベツト位
置「ゼロ」にあるときにのみキュベント1,1ング48
内に配設される単一の温度センサ108から温度を表わ
す電気信号を受取る。入出力拡張ポート104はプリン
タ24、油圧空気圧式駆動装置74及び温度制御装置i
osのための出力ボートを提供し、ホストコンピュータ
、ピペット又は他の適切な装置と通信するだめの[(8
−232通信ポート110をさら(C提供する。一実施
例においては、ピペットとホストコンピュータの双方と
の通信を可能にする2つの両方向通信ポートが設けられ
る。入出力拡張ボード104は、分析ボード72からシ
ステムバス102を介して指令やデータを受取る。
入射フィルタホイールを駆動するステンプモータ62及
び射出フィルタホイールを1駆動すルステップモータ5
6は、分析ボード72から指令を受取るフィルタホイー
ル駆動/論理回路112により供給される5駆動部号に
応答して動作する。
システムのソフトウェアは、分析ボード72の113 
キ0 /<イトのRAM 96又はティスフ制;1卸回
路114を含むディスク制御ボード98 K共存する4
8 キC1/<イトのR,AM96がら実行する。ディ
スク制御回路114は、プログラム及びデータの記憶に
使用されるディスク駆動部22とインターフェースする
。ディスク制御ボード98も、分析ボード72との間の
指令及びデータ清水の通信のためのシステムバス102
への両方向インターフェースを有する。−冥施例におい
ては、ディスク制御ボード98は日本電気株式会社によ
シモデル/f6BP2190として製造されているもの
であるが、同等の僚能を実行する任意の電気回路デバイ
スを代用することができる。
データ収集方法 キュベツト反応データは回転体のスピンサイクルの1間
に全ての光学的キュベツト44について、葦た選択され
たそ八ぞ几の波長について2秒おきに1回ずつサンプリ
ングさnる。吸光測定では、通常は水の吸光度である基
準レベルを選択しなければならない。基準となる水又は
ブランクはキュベツトOに入れられるのが普通である。
試液サンプル又はブランクは通常はキュベツト1に入れ
られ、このブランクはl′品度による試液の吸光度の変
動を補正するために使用される。吸光測定モードにおい
ては、水ブランクの入ったキュベツト0が最初にサンプ
リングされ、このキュベツトの吸光値は他の全゛てのキ
ュベツトについて測定さnる吸光値から減算される。試
液ブランクの入ったキュベツト1ばその次にサンプリン
グされ、試液ブランクの吸光値は後続する全てのキュベ
ツトの測定吸光値から減算される。キュベツト13の吸
光度を示すデジタル信号はソフトウェアデジタルフィル
タに印加され、このフィルタはランダムノイズを低減し
、平滑化された吸光度曲線を発生する。
さらに、各サンプルの反応を表わす吸光度データから吸
光度の変化率、すなわち傾きが計算される。
傾きは、新しい吸光値から先の吸光値を減算し、それを
サンプル間の時間間隔Twで割った直として定義される
システムは6つのブランキングモードを有し、サンプル
の吸光度は分析波長に加えて最高3つのブランキング波
長で測定される。ブランキングデータは基準線として使
用さ几るか又は吸光測定を妨害する物質を修正するため
に使用される。ブランキングデータは、選択されたブラ
ンキングモートに従って所定の時点で測定データから減
じられる。妹々なブランキングモードに従った動作は第
8図&u 、 e+及びC)から明らかであろう。
連続ブランキングモード116 Kおける分析装置の動
作が第8図Nに示されている。吸光測定はステップ11
8vc示される回転体の回転開始の後に、ステップ12
0に示される分析波長と、最高で6つのブランキング波
長(ステップ126 、128 、130)とにおいて
キュベノトザンプル0〜29 について実施される。ス
テップ122によれば、水ブランクが入ったキュベツト
0の、分析波長で測定された吸光値(は、分析波長で測
定されるキュベツト1〜29の吸光値から減算される。
ステップ124によれ(/f、試液ブランクが入ったキ
ュベント1の吸光1直は、次に、キュベツト2〜29の
吸光値から減算され、それによシ、分析波長LL変ける
キュベツト、水及び試液の吸光度Vこついて修正さnた
キュベツト2〜29の中間吸光値が得られる。次に、水
ブランクと試液ブランクとに対応するキュベツト0及び
1の内部のサンプルの吸光値を減算した後にステップ1
26 、128及び16Oに示されるように使用者が指
定したスケーリング定数によシ3つのブランキング波長
のそルそれについて吸光値をスケーリングすることによ
シ、各キュベツト44について「ブランク」と呼ばれる
値を求める。次に、ステップ1ろ2に従ってスケーリン
グされた吸光値を合計し、「ブランク」を形成する。す
なわち、各キュベツト44についてのブランクは次のよ
うに計算される。
Bi = K1A+ i −4−K2A2 i +に5
A3 i式中、 Bi  ニサンプル番号1(ただし、1−2〜29)に
ついてのブランク に1 −第1のブランキング波長におけるスケーリング
定数 に2  =第2のブランキング波長におけるスケーリン
グ定数 に6 −第3のブランキング波長におけるスケーリング
定数 A月=サンプル査号■について第1のブランキング波長
[b−ける測定吸光値からキュベツト0及び1の吸光値
全減算した値 A21=サンプル甫号Iについて第2のブランキング波
長(Cおける測定吸光値からキュベツト0及び1の吸光
値を減算した値 As1−サンプル査号lについて第3のブランキング波
長における測定吸光値からキュベント0及び1の吸光値
を減算した値 ステップ164に示されるように、このようにしてキュ
ベツト2〜29について計算されたブランク13iは、
ステップ124に従って求められた中間吸光値から=X
され、そこで特定のサンプルについての最終的な吸光値
Apiが得られる。下記の式に従って計算される吸光度
データはステップ136に示されるように、テジタルフ
ィルタr印加され、処理される。
AFi = [AAi−A1−Ao、:l −〔K+A
1i+に2A2i+KzA3il= Afi −Bi 式中、 AFi−2秒ごとにテシタルフィルタVC印加されるサ
ンプルlについての最終的に修正された1直 Al1−分析波長における水、試液及びキュベツトの吸
光度について修正されたサンプルlの中間吸光値 B1 −サンプルlについて計算されたブランク+ 7
 フル2〜29についての最終的に修正された吸光度デ
ータ点AFiは、特定のサンプルについてのデータ収集
が決定ステップ140において終了するまで、ステップ
138vc従って2秒に1回ずつ発生される。全てのデ
ータ収集が完了すると、計器はステップ142に示され
るように連続ブランキングモードから出る。
第8図(B)に示さnる別のブランキングモードは時限
ブランキングモードとして知られている。この場合、ブ
ランクは、TO[おいて回転体のスピンサイクルが開始
された後、使用者が指定するブランク時間TB VCお
いて各キュベント44についてステップ144 、14
6 、148 、150 、152 、154及び15
6に従って計算される。最終的な吸光値AFvi[キュ
ベツトO内の水ブランク及ヒキュベソト1内の試液ブラ
ンクの測定吸光値をステップ158 、160及び16
2に示されるよって反応終了点におけるサンプル測定吸
光値から減算することによQ求められる。次に、ステッ
プ164に従ってデータ収集が完了した後、ステップ1
66に示されるように特定のサンプルについての最終的
な吸光値AF v’ iからブランクB1を減算するこ
とにより、各キュベツト44についての余終的な吸光値
の結果ApRiが計算される。
時限ブランキングモードVζおいて、時間TB (C測
定されるブランクはサンプルごとの単一の基準値でアシ
、ブランク時間TBと各サンプルの反応終了点′fF 
 との間の吸光度の変化を表わす最終的な吸光度の結果
r発生するために最終的な吸光値から減算きれる。サイ
クルが完了すると、計器はステップ168に示されるよ
うに時限ブランキングモードから出る。
第8図C)に示される第6のブランキングモードは保持
ブランキングモードとして知られ、時限ブランキングモ
ードに似ているが、ブランクBiは第2のサンプル測定
ランに先立って第1のブランク計算ランにおいて求めら
れる。分析装置はステップ170に示さ汎るように保持
ブランクモードに入シ、ステップ172に従って第1の
ブランク計算ランにおいて計算されたブランクは記憶装
置に記憶される。第2のランにおいてデータ収集が終了
すると、ブランクは各サンプルについて測定された終了
点吸光値から減算され、ステップ174に示されるよう
に最終的な吸光度値と第1のランの間に測定されたブラ
ンクとの間の差を表わ、す最終的な吸光度の結果が得ら
れる。第2のランにおいてデータ収集が完了し、全ての
キュベツトについて最終的な吸光度の結果Aruiが計
算さnると、 システムはステップ176に示されるよ
うに保持ブランキングモードから出る。
データ収集方法は反応の種類によって異なる。
多くの反応は運動反応又は終末(終了点)反応・とじて
特徴づけられる。
運動反応の間、デジタルフィルタの出力に対応する曲線
の傾きは各キュベツト44について監視される。傾きは
時間TOから始まって、時間間隔Twの間、監視される
。ある点で瞬時的な傾きの変化が閾値TLを越えると、
プロセスは新しい時間間隔Tw Kついて再開される。
あるキュベツトについての傾きの変化が閾値TL内にあ
れば、その特定のキュベツトに関するデータ収集は終了
し、ランの終了−までキュベツトのデータは記憶される
全てのキュベツト44が閾値基準を満足したとき又は試
、候の終了点TF に達したとき、ランは終了する。最
終時間TFに閾瞳TLを越えたキュベント44ば、非勝
形であるというフラグを与えられる。谷キュベツトにつ
いて報告される吸光度データは、時間間隔Twの間の平
均吸光度である。
運動反応の終了時に各キュベツト44について計算され
る傾きは直接に吸光度の単位で報告されるか、又は所定
のスケーリング定数を掛けた上でrA度の単位で報告さ
れる。
終了点(終末)試験の間、デジタルフィルタの出力によ
υ示されるサンプルの吸MS肢は各キュベツト44につ
いて監視される。時間Toにおいて、ブランキング波長
があらかじめ指定されている場合(この場合は、ブラン
キングデータも収集される)を除いて、データは分析波
長で収集される。
各キュベツトの吸光度は時間間隔TwO間、監視される
。ある点で吸光度の変化が試験の閾値を越えると、試、
験は新しい時間間隔Tw Kついて再開される。吸光度
の変化が閾値TL内にあれば、ランの終了丑で指定のキ
ュベツトのザンプルデータは記憶される。全てのキュベ
ツト44が閾値基準を満足したとき又は最終時間TFに
達したとき、ランは終了する。使用者が時限ブランキン
グモード又は保持ブランキングモードを選択した場合、
ブランキング測定値はラン終了時に分析測定値から減じ
られる。報告される吸光rs2データは時間間隔Twの
間の平均吸光値である。
使用者がキーボード20を介して、標準薬液がキュベツ
ト44の特定のものの中に入っていることを指示すると
、測光装置は、使用者によシ与えられる指令に応答j〜
で、標準液の濃度の関数として吸光度の標準曲線又は校
正曲線を発生する。この111]=i=は、使用者の指
示に応じてCR7表示部18に表示することができる。
使用者が選択した1つの動作モードにおいて、測光装置
は、それぞれの未知のサンプルに対応する測定吸光度デ
ータをサンプルの濃度を計算するアルゴリズムに入力す
ることによシ、特定のキュベツト44の内部に入ってい
る未知のサンプルのa度を求める。次に、未知のサンプ
ルの濃度はCRT表示部18又はプリンタ24を介して
使用者に報告される。
サンプルの濃度又は吸光度を表わすデータは、通常、谷
ランの終了時にCR7表示部18 に表示さ汎る。
マルチケミストリー測定動作 本発明によnば、高いデータ速度でデータサンプリング
を実行することができ、射出フィルタホイール54のス
テップモータ56をソフトウェア制御の下に回転させる
ことにより、分析装置を変化させることができる。この
計器に含まれ惹高速データ整理能力により、同じ動作ラ
ンの中で異なる分析波長で複数群のサンプルを試1験す
ることかできる。この分析技術はマルチケミストリー測
定動作として知られている。吸光測光装置としての多重
化学測定モー ドの動作は次のように実施される。ソフ
トウェアの制御の下に、射出フィルタホイール54は分
析波長を限定する光学フィルタを選択するようにステッ
プモータ56にょシ回転される。回転体30Vc配設さ
れる光学的キュベント44はビームを横切るように回転
し、使用者にょシ指定される所定のサンプル群は指定の
分析波長におけるサンプルの吸光度に対応して収集され
るデータサンプルをMする。ノフトウェアの制御の下に
、射出フィルタホイール用ステンプモータ56は、第2
の分析波長を有する所定の第2の光学フィルタを選択す
るように射出フィルタホイール54を回転させる。回転
体3oはビームを繰返し横切るように回転し、先にキー
ボード20  i介して指定された第2群の光学的キュ
ベツト44Q第2の分析波長でサンプリングされ、対応
する吸光度データは分析及び処理のために記録される。
すなわち、6棟類のあらかじめ選択される試験に対応し
て6つまで分析波長を選択することができる。この動作
モードは、好ましい実施例においては射出フィルタホイ
ール54の内部に配設瓶れ、ソフトウェア制御卸の下に
選択される24種類の光学フィルタにより容易になる。
測光装置の分析波長及びブランキング波長は、使用者が
指定することができる。試験回数及び波長の数の制限は
任意でめシ、本発明による測光装置を使用してさらに多
くの試験を実施し、式らに多くの測定波長を選択するこ
とは可能である。従来のシステムにおいては、光学フィ
ルタ要素を手操作で選択して取付けなければならないの
で、マルチケミストリー測定動作は妨げられる。
使用者側インターフェース 本発明に従って設けられる使用者側インターフェースに
より、余シ熟練していない使用者でも操作することがで
きると共に、計器の用途や試験手順にかなりの融通性が
生まれる。
分析装置をオンした後、プログラムチイスケラトをディ
スク駆動部22に挿入する。ディスク駆動部22のイン
ジケータが点灯し、C,RT表示部18にメツセージ「
プログラムロード中」が現われる。ディスク駆動部22
がソフトウェアプログラムを分析ボード72及びティス
フ制御ボード98のそれぞれのRAIMにロードし終わ
ると、インジケータの光は消え、第5図に示されるメニ
ューがCR7表示部18に表示される。特定のメニュー
カテゴリーを選択するために、キーボード20の中で、
メニューカテゴリーと関連する文字に対応するキーを押
すたけ、で良い。操作者がカテゴリーを選択するのに応
答して、CR’]”表示部18には別の画面が表示され
る。画面のフォーマット及び適切な操作手順の詳細は、
アンコール・アナライザ・オペレーターズ・マニュアル
に記載されている。
図形表示 以上説明したシステムは、従来の遠心測定装置に比べて
図形表示性能の点で改良されている。本発明の測光装置
の前身ともいうべき装置は、キュベツトごとの吸光度を
ビデオ表示モニタに棒グラフで表示する。本発明のシス
テムは俸グラフ表示のみならず、実際に測定された吸光
度及び/又は螢光度のデータを時間の関数として図形表
示することができる。1つの表示方法として、システム
のノントクエアライブラリから取出されるデータ整理ル
ーチンに適合するいくつかの曲線の中から1つを選択し
、それを介して生データサンプルを処理することによシ
、なめらかな吸光度曲線を時間の関数として得る方法が
ある。第7図(A) 、 (B)及び(C)は棒グラフ
表示、標準曲線表示及び平滑曲線表示の例をそれぞれ示
す。通常、吸光度データは、棒グラフフォーマットの試
験では全てのキュベツト44についてリアルタイムで表
示されるが、3つ以下のキュベツトについて反応曲線の
表示を選択するか、又は1つのキュベツトについて複数
の波長におけるキュベント吸光度を表わす曲線の表示を
選択することもできる。選択された曲線は試験シーケン
スの間、CRT表示部18に現われる。さらに、ランが
完了した後、標準曲線の表示を選択することができる。
以上の説明と図示した実施例は本発明を実施するための
計器の単なる一例であシ、本発明の範囲は特許請求の範
囲のみによシ限定される。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による遠心分析装置の全体を示す斜視
図、 第2図(A)は、伝送円板の一部の切欠き平面図、第2
図(B)は、伝送円板及び回転体の斬酊図、第2図(C
)は、キュベントリングの一部の切欠き斜視図、 第3図は、本発明による光学系及び光路の概略説明図、 ゛ 第4図は、本発明のシステムのブロック線図、第5
図は、本発明の分析装置の始動時にCR’I’表示部に
表示されるメニューを示す説明図、第6図は、キーボー
ドのキーの配置図、第7図(A)は、吸光測定の間[C
RT表示部に表示される棒グラフ表示フォーマットを示
す説明図、 第7図(B)は、標準薬液の吸光度をその濃度との関数
として標準曲線の表示フォーマットオプションを示す説
明図、 第7図(C)(は、平滑な曲線データを時間の関数とし
て表示フォーマットオプションを示す説明図、第8図(
A)は、連続ブランキングモード動作を示す説明図、 第8図(E)は1時限ブランキングモード動作を示す説
明図、及び g B (7(C) (ri、 、保持プランキンーク
′モード動作を示す説明図である。 10・・・コノノールC)蔦つシンク)、  12・・
環境チェンバ 、14・キュベントリンク。 161.伝送円板 、  1s、、CRT表示部 。 20・キーボード 、22・・ディスク駆動部 。 24・・プリンタ 、30  ・回4e体 、32・・
モータ 、36・・・光検出器 、44・・キュベツト
。 54・射出フィルタホイール 、  56.62・・・
ステップモータ 、 58・・入射フィルタホイール。 60・・・光源 、 64・・・比例増1扁器 、66
・・・対数増幅器 、70.・アナログ/デジタル変換
器。 72・・・分析ボード 、78・・・第1のレンズ 。 80・・ミラー 、82.・・第2のレンズ 。 84・・・ミラー又は直角プリズム 、 88・・・第
3のレンズ 、 90・・第4のレンズ 、92・・高
圧電源調整器 、96・・II、AM  、  98・
・ディスク制御ボード 、  100.、、CRT制御
装置 。 102・・・システムバス 、104  入出力拡張ボ
ード 、110・・通信ポート 。 ほか1名 Fig、 2C Fig、 3 Hダ6 Fig、5         Frす7AFig 78
       Ftり7CFig、 8A Fig、θ8  ”o。 Ftり8C 手続補正書動式) 昭和59年5月4日 特許庁長官殿 (特許庁審査官        殿) 1、事件の表示 昭和59年特許願 第68960  号2 発明の名称 遠心分析装置 3、 補正をする者 事件との関係 出願人 4、代理人 住所 東京都港区南青山−丁目1番1−号5 補正命令
の日+1(自発)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)  周囲に値数個の光学的キュベントが配設され
    ている回転自在の回転体で、各キュベツトは、回転体の
    回転中、分析位置に配置されるものと;複数のサンプル
    位置を有する伝送円板と前記回転体が回転するとき、分
    析すべきサンプル・を伝送円板から回転体の対応するキ
    ュベツトへ伝送する伝送手段と;光のビームを分析位置
    にあるキュベツトの内部に向ける光源手段と;光源手段
    と分析位置との間1(配設され、各フィルタ位置に複数
    枚の光学フィルタを含み、各光学フィルタはそれぞれ異
    なるスペクトル特性を有し、少なくとも1つのフィルタ
    位置にはスペクトル識別が成立しない第1の回転自在の
    フィルタホイールと;フィルタ位Rのうち1つを選択的
    にビーム内に向けるために第1のフィルタホイールを回
    転させる第1の回転手段と;複数枚の光学フィルタを有
    する第2の回転自在のフィルタホイールと;分析位置に
    あるキュベツトから光を受取るようにフィルタのう”も
    選択されたものを配置するために第2のフィルタホイー
    ルを回転させる第2の回転手段と;光が第2のフィルタ
    ホイールを通過した後に分析位置(Cあるキュベツトか
    らの光を受取シ、受取った光の強さに比例する電気信号
    を発生するように動作する検出器手段と;検出器手段の
    電気信号1.て応答して、選択されたサンプル特性を表
    わす出力を提供する処理手段とを具備する遠心分析装置
    。 (2)  前記第2の回転手段は、第2のフィルタホイ
    ールを選択された位置まで駆動するための第1のモータ
    制御信号に応答して動作する電動機手段を含み、前記第
    1のモータ制御信号を提供する手段を含む特許請求の範
    囲第1項記載の遠心分析装置。 (6)  前記電動機はステップモータである特許請求
    の範囲第2項記載の遠心分析装置。 (4)  前記第1の回転手段は、第2のモータ制御は
    号に応答して第1のフィルタホイールを選択された位置
    まで駆動する電動機を含み;前記分析装置は前記第2の
    モータ制御信号を提供する手段をさらに含む特許請求の
    範囲第2項記載の遠心分析装置。 (5)  前記第1の回転手段はステップモータであシ
    、前記第2の回転手段はステップモータである特許請求
    の範囲第4項記載の遠心分析装置。 (6)前記処理手段は、そルぞれのキュベツトの内部の
    それぞれのサンプルについてのデータのサンプリングを
    終了させるべき時間を決定する決定手段をさら(て具備
    する特許請求の範囲第1項記載の遠心分析装置。 (7)前記光源手段はランプと;ランプの強さを変化さ
    せる手段とを含む特許請求の範囲第1項記載の遠心分析
    装置。 (8)  前記ランプはヨウ化石英ランプである特許請
    求の範囲第7項記載の遠心分析装置。 (9)  前記検出器手段により提供される電気信号は
    アナログ信号である特許請求の範囲第1項記載の遠心分
    析装置。 (10)前記検出器手段は光検出器である特許請求の範
    囲第1項記載の遠心分析装置。 (11)前記光検出器は光電子増倍管である特許請求の
    範囲第10項記載の遠心分析装置。 (12)前記アナログ信号を選択されたサンプル特性を
    表わすデジタル信号に変換する変換器手段をさらに具備
    する特許請求の範囲第9項記載の遠心分析装置。 (13)サンプルデータのノイズを低減するためにサン
    プルデータに対応する前記デジタル信号をデジタルフィ
    ルタ処理するデジタルフィルタ手段をさらに含む特許請
    求の範囲第12項記載の遠心分析装置。 (14)比例増幅器手段と、対数増幅器手段と、使用者
    によシ選択される測定モードに従って前記増幅器手段の
    一方を信号処理手段に選択的に接続する接続手段とを有
    し、前記検出手段からの電気信号に応答して動作する信
    号処理手段をさらに含む特許請求の範囲第1項記載の遠
    心分析装置。 (15)前記分析装置は螢光測定モード又は吸光測定モ
    ードで動作する特許請求の範囲第14項記載の遠心分析
    装置。 (16〕入力手段をさらに含み、前記入力手段は使用者
    がこれを操作するのに応答して信号を発生し、前記モー
    ドd′うち一方を選択するように動作する特許請求の範
    囲第15項記載の遠心分析装置。 (17)前記入力手段はキーボードである特許請求の範
    囲第16項記載の遠心分析装置。 (18)前記第1の回転自在のフィルタホイールは、前
    記分析装置が吸光測定モードにあるときは、スペクトル
    識別を示さない光学フィルタをビーム内に挿入するよう
    に向きを定められ、前記対数増幅器手段が回路接続され
    る特許請求の範囲第16項記載の遠心分析装置。 (19)吸光測定の連続ブランキングモードで動作する
    ものであって、分析位置と、複数のブランキング位置の
    各位置における全てのキュベツトの内部のサンプルの吸
    光度を表わす分析信号及びブランキング信号を検出器手
    段から提供するために前記第2のフィルタホイールを分
    析位置とブランキング位置とに順次配置する手段と;分
    析信号及びブランキング信号に応答して各キュベツトに
    ついての特定の物体の化学的特性を表わす出力値を提供
    する連続ブランキング処理手段とを含む特許請求の範囲
    第18項記載の遠心分析装置。 (20)第2のフィルタホイールは、前記分析位置にあ
    るとき、分析位置にあるキュベツトから光を受取るため
    に分析波長に対応する帯域を有する光学フィルタを挿入
    するように向きを定められ、前記第2のフィルタホイー
    ルは、各ブランキング位置にあるとき、分析位置にある
    キュベントから光を受取るために所定のブランキング波
    しに対応する帯域を有する光学フィルタを挿入するよう
    に向きを定められる特許請求の範囲第19項記載の遠心
    分析装置。 (21)前記連続ブランキング処理手段は、各キュベツ
    トについて各ブランキング位置において提供される信号
    に対応するスケーリングされたブランキング信号を発生
    するために前記ブランキング信号をそれぞれスケーリン
    グする手段を含む特許請求の範囲第2D項記載の遠心分
    析装置。 (22)前記連続ブランキング処理手段は、各キュベツ
    トについてのスケーリングされたブランキング信号の合
    計を表わすブランク信号を提供する手段を含む特許請求
    の範囲第21項記載の遠心分析装置。 (23)前記連続ブランキング処理手段は、各キュベツ
    トについて分析信号とブランク信号との差を表わす連続
    ブランキング出力信号を提供する手段を含む特許請求の
    範囲第22項記載の遠心分析装置。 (24)吸光測定の時限ブランキングモードにおいて動
    作するものであって、回転体の回転開始後、所定の遅延
    時間をおいて遅延信号を発生する遅延処理手段と;複数
    のブランキング位置の各位置における全てのキュベツト
    のサンプル吸光度を表わすブランキング信号を提供する
    ために、前記遅延信号(C応答して前記第2のフィルタ
    ホイールを各ブランキング位置に順次配置する手段と;
    各サンプルについて前記ブランキング信号に応答してブ
    ランク信号を提供する時限ブランク処理手段と;各キュ
    ベツトが分析位置に配置されるときに各キュベントのサ
    ンプル吸光度を表わす分析信号を提供するために、前記
    第2のフィルタホイールを分析位置に配置する手段と;
    前記分析信号を記憶する記憶手段と;最終反応値に達し
    たという決定に応答して選択されたサンプルについての
    分析信号の記憶を停止する手段とを含み;前記時限ブラ
    ンク処理手段は、各キュベツトについて最終反応値とブ
    ランク信号との間の差を表わす出力信号を提供する手段
    を含む特許請求の範囲第18項記載の遠心分析装置。 〔25〕前記第2のフィルタホイールは、前記ブランキ
    ング位置の各位置において、分析位置にあるキュベント
    からの光を受取るためにブランキング波長を有する光学
    フィルタを挿入するように向きを定められ、前記第2の
    フィルタホイールは、前記分析位置においては、分析位
    置にあるキュベツトからの光を受取るため(C分析波長
    に対応する帯域を有する光学フィルタを挿入するように
    向きを定められている特許請求の範囲第24項記載の遠
    心分析装置。 (26)″それぞれのブランキング信号をスケーリング
    して、対応するスケーリングされたブランキング信号を
    発生する手段を含む特許請求の範囲第25項記載の遠心
    分析装置。 (27)前記時限ブランク処理手段は、各キュベツトに
    ついてスケーリングされたブランキング信号の合計を表
    わすスケーリングされたブランク信号を提供する手段と
    、最終反応値とスケーリングされ、たブランク信号との
    差を表わす出力信号を提供する手段とを含む特許請求の
    範囲第26項記載の遠心分析装置。 (28)吸光測定の保持ブランキングモードで動作する
    ものであって、第1群のサンプルがそれぞれのキュベン
    トの内部に入れられる第1のランにおいて伝送円板及び
    回転体の回転開始後、所定の遅延時間をおいて遅延信号
    を発生する遅延手段と;前記第2のフィルタホイールが
    複数のブランキング位置の各位置に配置されるとき、キ
    ュベント内部の全てのサンプルの吸光度を表わすブラン
    キング信号を提供するために、前記遅延信号I(応答し
    てそれ壬!Lのブランキング位置に第2のフィルタホイ
    ールを配置する手段と;前記第1のランにおいて提供さ
    れるブランキング信号に応答して各サンプルについて保
    持ブランク信号を提供する保持ブランク処理手段と;前
    記保持ブランク信号を記憶するブランク信号記憶手段と
    :キュベットが分析位置に順次配置される一方、それぞ
    れのキュベツトの中に入れられたサンプルの吸光度を表
    わす分析信号を提供するために、第2群のサンプルと共
    に第2のランにおいて第2のフィルタホイールを分析位
    置に配置する手段と;前記分析信号を記憶する記憶手段
    と;最終反応値に達したという決定に対応して特定のサ
    ンプルについて分析信号の記憶を停止させる手段とを含
    み′、前記保持ブランク処理手段は、各サンプルについ
    て前記第2のランで得られる最終反応値と前記第1のラ
    ンで得られる前記保持ブランク信号との差を表わす出力
    信号を提供する手段を含む特許請求の範囲第18項記載
    の遠心分析装置。 (29)前記第2のフィルタホイールは、前記ブランキ
    ング位置の各位置において、分析位置にあるキュベツト
    からの光を受取るためにフ]、ランキング波しを有する
    光学フィルタを挿入するように向きを定められ、前記第
    2のフィルタホイールは、前記分析位置においては、分
    析位置にあるキュベツトからの光を受取るため(で分析
    波長に対応する帯域金有する光学フィルタを挿入するよ
    うに向きを定められている特許請求の範囲第28項記載
    の遠心分析装置。 (30)第2のフィルタホイールが各ブランキング位置
    にあるとき、各キュベツトについて提供される信号に対
    応するスケーリングされ′たブランキング信号を発生す
    るために、それぞれのブランキング信号をスケーリング
    する手段を含む特許請求の範囲第27項記載の遠心分析
    装置。 (31)前記保持ブランク処理手段は、各キュベツトに
    ついてスケーリングされたブランキング信号の合計を表
    わすスケーリングされたブランク信号を提供する手段と
    、最終反応値とスケーリングされたブランク信号との差
    を表わす出力信号を提供する手段とを含む特許請求の範
    囲第30項記載の遠心分析装置。 (32〕螢光測定モードで動作するものであって、前記
    第1の回転自在のフィルタホイールは、サンプル励起波
    長に対応する光学的帯域を有する光学フィルタをビーム
    内に挿入するように向きを定められ、前記第2の回転自
    在のフィルタホイールは、前記サンプル励起波長とは異
    なるサンプル発光波長に対応する光学的帯域を有する光
    学フィルタをビーム内に挿入するように向きを定められ
    、前記比例増幅器手段が回路接続される特許請求の範囲
    第16項記載の遠心分析装置。 〔33〕選択されたサンプル特性を表わす出力を可視表
    示する表示手段を含む特許請求の範囲第1項記載の遠心
    分析装置。 (34)前記前足手段は陰極線管と、陰極線管に提示さ
    れる可視表示を制御する陰極線管制御手段とを含む特許
    請求の範囲第ろろ項記載の遠心分析装置。 (35)全てのキュベツトについて吸光度データを同時
    に棒グラフ表示する表示処理手段を含む特許請求の範囲
    第33項記載の遠心分析装置。 (36)使用者によシ指定されるキュベツトの内部に入
    れられるサンプルについて吸光度データを時間の関数と
    して図形髪示する表示処理手段を含む特許請求の範囲第
    63項記載の遠心分析装置。 (37)使用者によシ指定されるキュベツトの内部に入
    れられるサンプルについて平滑化された反応データを時
    間の関数として図形表示する表示処理手段を含む特許請
    求の範囲第33項記載の遠心分離装置。 (38)複数9標準薬液がそれぞれのキュベツトの中に
    入れられ、それぞれの標準薬液の吸光度と濃度に対応す
    る吸光度対濃度の校正曲線を発生する信号処理手段を含
    む特許請求の範囲第33項記載の遠心分離装置。 (39)前記表示処理手段は、使用者によシ選択される
    アルゴリズムに適合する複数の曲線の中の1つを使用し
    て前記標準曲線を発生する手段と;使用者により与えら
    れる入力指令に応答して前記表示手段に前記曲線に表示
    する手段とを含む特許請求の範囲第38項記載の遠心分
    析装置。 (40)前記標準曲線を使用し、前記曲線を補間して未
    知のサンプルの特性を求めることによシ未知のサンプル
    の吸光度を決定する処理手段を含む特許請求の範囲第6
    8項記載の遠心分析装置。 (41)分析装置の動作モードの制御のために使用者に
    より選択される指令フォーマントのメニュー表示を行な
    う表示処理手段を含む特許請求の範囲第36項記載の遠
    心分析装置。 (42)選択されたサンプル特性を表わすプリント出力
    を提供するプリンタ手段を含む特許請求の範囲第33項
    記載の遠心分析装置。 (46)光源と;光源を光路に沿って光のビームに集束
    する集束手段と;光路に沿って配設され、入射光の強さ
    に比例するアナログ信号を発生する検出器手段と;前記
    光源と検出器手段との間に配設され、分析すべき複数の
    サンプルを含む伝送円板を受入れる回転体と;前記回転
    円板及び前記回転体の同期回転に際して前記サンプルを
    前記伝送円板から前記回転体の内部のそれぞれのキュベ
    ントへ伝送する伝送手段で、前記回転体の回転中、各キ
    ュベツトは分析位置に配置されるものと;回転体が回転
    すると、それぞれのキュベツトが光路に挿入されるよう
    に回転体の周囲に配設され、分析すべきデジタルが入れ
    られる複数の光学的キュベツトと;前記光源と回転体と
    の間に光路に沿って配設される第1の回転自在のフィル
    タホイールと;第1のフィルタホイールが回転すると、
    それぞれのフィルタが光路内に挿入されるように第1の
    フィルタホイールの周囲に配設される複数枚の光学フィ
    ルタと;回転体と検出器手段との間(C光路に沿って配
    設される第2の回転自在のフィルタホイールと;第2の
    フィルタホイールが回転すると、それぞれの光学フィル
    タが光路内に挿入されるように第2のフィルタホイール
    の周囲((配設される複数枚の光学フィルタと;検出器
    手段にょ力発生されるアナログ信号を前記アナログ信号
    を表わすデジタル信号番で変換する変換器手段と:前記
    デジタル信号を処理し1分析装置制御機能を提供する表
    わすデジタル信号に対応するサンプルデータを記憶する
    記憶手段と;そ八ぞれのサンプルの光学的特性を表わす
    情報を表示する表示手段とを具備する遠心分析装置。 (44)第1のモータ制御信号に応答して第2のフィル
    タホイールを選択された位置まで駆動するために前記第
    2の回転自在のフィルタホイールを回転させる手段をさ
    ら((具備する特許請求の範囲第43項記載の遠心分析
    装置。 (45〕第2のモータ制御信号に応答して前記第1のフ
    ィルタホイールを選択された位置まで駆動するために前
    記第1のフィルタホイールを回転させる手段をさら(て
    具備する特許請求の範囲第44項記載の遠心分析装置。 (46)前記処理手段は、それぞれのキュベツトの内部
    のサンプルについてのデータのサンプリングを終了させ
    るべき時間を決定する決定手段をさら1て具備する特許
    請求の範囲第43項記載の遠心分析装置。 (47)サンプルデータのノイズを低減するだめに、そ
    れぞ庇のキュベツトの内部に入れられるサンプルの光学
    的特性を表わすデータをデジタルフィルタ処理するデジ
    タルフィルタ手段をさらに含む特許請求の範囲第43項
    記載の遠心分析装置。 (48)前記光源手段はランプと前記ランプの強さを変
    化させる手段とをさらに含む特許請求の範囲第43項記
    載の遠心分析装置。 (49)比例増幅器手段と、対数増幅器手段と、使用者
    によジ選択される測定モードに従って信号処理手段と前
    記増幅器手段の一方を選択的VC接続する手段とを有し
    、前記検出手段からのアナログ信号に応答して動作する
    信号処理手段をさら(C含む特許請求の範囲第43項記
    載の遠心分析装置。 (50)前記分析装置は螢光測定モード又は吸光測定モ
    ードで動作し;前記モードのうち一方を選択するために
    使用者の操作に応答して信号を発生する入力手段を含む
    特許請求の範囲第49項記載の遠心分析装置。 (51)前記入力手段はキーボードを含む特許請求の範
    囲第50項記載の遠心分析装置。 (52〕 前記第1の回転自在のフィルタホイールはス
    ペクトル識別を示さない光学フィルタを光路に挿入する
    ように向きを定められ、前記対数増幅器手段は、前記分
    析装置が吸光測定モードで動作する場合に回路(で接続
    される特許請求の範囲第50項記載の遠心分析装置。 (53)吸光測定の連続ブランキングモードで動作し;
    分析位置と、各ブランキング位置にある全てのキュベツ
    トの内部にあるサンプルの吸光度を表わす分析信号及び
    ブランキング信号を検出器手段から提供する、ために前
    記第2のフィルタホイールを分析位置と複数のブランキ
    ング位置とに順次配置する手段と、分析信号及びブラン
    キング信号Oで応答して各キュベソトニついて特定の物
    質の化学的特性を表わす出力値を発生する連続ブランキ
    ング処理手段とを含む特許請求の範囲第52項記載の遠
    心分析装置。 (54)吸光測定の時限ブランキングモードで動作する
    ものであって、回転体及び嵌送円板の回転開始後、所定
    の遅延時間をおいて遅延信号を発生する遅延処理手段と
    ;各ブランキング位置における全てのキュベツトのサン
    プル吸光度を表わすブランキング信号を提供するだめに
    前記遅延信号に応答して前記第2のフィルタホイールを
    複数のブランキング位置に順次配置する手段と;各サン
    プルについて前記ブランキング信号に応答してブランク
    信号を提供する時限ブランク処理手段と;各キュベント
    が順次光路に挿入される一方、各キュベツトのサンプル
    吸光度を表わす分析信号を提供するために前記第2のフ
    ィルタホイールを分析位置に配置する手段と;前記分析
    信号を記憶する記憶手段と;最終反応値に達したという
    決定に応答して選択されたサンプルについての分析信号
    の記憶を終了きせる手段とを含み、前記時限ブランク処
    理手段が各キュベントについて最終反応値と前記ブラン
    ク信号との差を表わす出力信号を提供する手段を含む秀
    許請求の範囲第52項記載の遠心分析装置。 (55)吸光測定の保持ブランキングモードで動作する
    ものであって、第1群のサンプルがそれぞれのキュベツ
    トに入れられる第10ランにおいて、回転体及び伝送円
    板の回転開始後、所定の遅延時間をおいて遅延信号を発
    生する遅延手段と;各ブランキング位置における全ての
    キュベツトのサンプル吸光度を表わすブランキング信号
    を提供するために前記遅延信号に応答して前記第2のフ
    ィルタホイールを複数のブランキング位置に順次配置す
    る手段と;前記第1のランにおいて提供されるブランキ
    ング信号に応答して各サンプルについて保持ブランク信
    号を提供する保持ブランク処理手段と;前記保持ブラン
    ク信号を記憶するブランク信号記憶手段と、キュベツト
    が順次、分析位置に配置される一方、それぞれのキュベ
    ツトに入っているサンプルの吸光度を表わす分析信号を
    提供するために第2群のサンプルを伴なう第2のランに
    おいて前記第2のフィルタホイールを分析位置に配置す
    る手段と;前記分析信号を記憶する記憶手段と;最終値
    に達したという決定に応答して特定のサンプルについて
    の分析信号の記憶を終了させる手段とを含み、前記保持
    ブランク処理手段が各サンプルについて前記第2のラン
    において得られる最終反応値と前記第1のランにおいて
    得られる前記保持ブランク信号との差を表わす出力信号
    を提供する手段を含む特許請求の範囲第52項記載の遠
    心分析装置。 (56)螢光測定モードで動作するものであって、前記
    第1の回転自在のフィルタホイールは、サンプル励起波
    長に対応する光学的帯域を有する光学フィルタを光路に
    挿入するように向きを定められ、前記第2の回転自在の
    フィルタホイールは、前記サンプル励起波隅とは異なる
    サンプル発光波長に対応する光学的帯域を有する光学フ
    ィルタを光路に挿入するように向きを定められ;前記比
    例増幅器手段が回路接続される特許請求の範囲第16項
    記載の遠心分析装置。 (57〕入射ビームを提供する光源と;周囲に複数の光
    学的キュベツトが配設され、分析すべき複数のサンプル
    を含む伝送円板を受入れる回転自体の回転体と;伝送円
    板及び回転体が回転するとき、伝送円板内の前記サンプ
    ルを回転体の内部のそれぞれのキュベツトへ伝送する手
    段で、各キュベツトは、回転体の回転中キュベントを照
    明するビームの中の分析位置に配置され、各キュベント
    に分析すべきサンプルが入れられるものと;照明された
    キュベツトからの光を受取り、受取った光の強さに比例
    する電気信号を提供する検出器とを含む遠心分析装置に
    おいて、キュベツト内に入nられるサンプルについて吸
    光測定及び螢光測定を実施するため(C1光源と分析位
    置との間1で配設され、各フィルタ位置にそれぞれ異な
    るスペクトル特性を有する複数の光学フィルタを含み、
    少なくとも1つのフィルタ位置はスペクトル識別を示さ
    ない第1の回転自在のフィルタホイールと;フィルり位
    置の中の1つを光路内へ選択的に向けるために第1のフ
    ィルタホイールを回転させる第1の回転手段と;そルぞ
    れが異なるスペクトル特性を有する複数の光学フィルタ
    を有する第2の回転自在のフィルタホイールと;照明さ
    れたキュベントから光を受取るために、フィルタのうち
    選択されたものを配置するように第2のフィルタホイー
    ルを回転させる第2の回転手段とを具備して成る改良。 (5B)前記第2の回転手段は、第1のモータ制御信号
    Qて応答して動作する第1の電動機であシ;前記分析装
    置(d前記第1のモータ制御信号を提供する手段をさら
    に具備する特許請求の範囲第57項記載の改良。 (59)前記第1の回転手段は、第2のモータ制御信号
    に応答して動作する第2の電動機であり;前記分析装置
    は前記第2のモータ制御信号を提供する手段をさらに具
    備するl特許請求の範囲第58項記載の改良。 C60)キュベント内部のそれぞれのサンプルについて
    のデータのサンプリングを終了させるべき時間を決定し
    、前記サンプリングを終了させる決定手段をさらに具備
    する特許請求の範囲第57項記載の改良。 (61)比IPIJ増幅器手段と、対数増幅器手段と、
    使用者により選択される測定モードに従つ−て前記増幅
    器手段の一方を信号処理手段と選択的に回路接続する手
    段とを有し、検出器からの信号に応答して動作する信号
    処理手段をさらに含む特許請求の範囲第57項記載の改
    良。 (62)検出器の信号はアナログ信号であシ、前記アナ
    ログ信号を選択されたサンプル特性を表わすデジタル信
    号に変換する変換器手段をさらに含む特許請求の範囲第
    61項記載の改良。 (63)選択されたサンプル特性を表わす測定データの
    ノイズを低減するために前記デジタル信号をデジタルフ
    ィルタ処理するデジタルフィルタ手段をさらに含む特許
    請求の範囲第62項記敏の改良。 (64)前記分析装置は螢光測定モード又は吸光測定モ
    ードで動作し;入力手段をさらに含み、前記入力手段は
    、使用者がこれを操作するのに応答してモード選択信号
    を発生し;前記モードの一方を選択するように動作する
    特許請求の範囲第62項記載の改良。 (65)前記分析装置が吸光測定モードで動作するとき
    、前記第1の回転自在のフィルタホイールは識別しえな
    い帯域を有する光学フィルタをビーム内に挿入するよう
    に向きを定められ、前記対数増幅器手段が回路接続され
    る特許請求の範囲第62項記載の改良。 (66)螢光測定モードで動作するものであって、前記
    第1の回転自在のフィルタホイールは、サンプル励起波
    長に対応する光学的帯域を有する光学フィルタをビーム
    内に挿入するように向きを定められ;前記第2の回転自
    在のフィルタホイールは、前記サンプル励起波長とは異
    なるサンプル発光波長に対応する光学的帯域を有する光
    学フィルタをビーム内に挿入するように向きを定められ
    ;前記比例増Ii@器手段が回路接続される特許請求の
    範囲第64項記載の改良。
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