JPS59204703A - 測距装置 - Google Patents

測距装置

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JPS59204703A
JPS59204703A JP7937283A JP7937283A JPS59204703A JP S59204703 A JPS59204703 A JP S59204703A JP 7937283 A JP7937283 A JP 7937283A JP 7937283 A JP7937283 A JP 7937283A JP S59204703 A JPS59204703 A JP S59204703A
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Yoshijiro Suzuki
鈴木 喜治郎
Takashi Tsutsumi
堤 敬
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Konica Minolta Inc
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • G01C3/02Details
    • G01C3/06Use of electric means to obtain final indication
    • G01C3/08Use of electric radiation detectors
    • G01C3/085Use of electric radiation detectors with electronic parallax measurement

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  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば自動焦点調節装置付きカメラの測距装
置として用いられる測距装置に関し、詳しくは、測距方
向の像を所定間隔を置いて配置された一対の受光素子列
で受光し、両受光素子列の出力の相関々係から測定対象
までの距離を求める測距装置に関する。
〔従来技術〕
上述のような従来の測距装置として、第1図乃至第3図
に示しだようなものは知られている。
第1図は一対の受光素子列上に測距方向の像を投影する
装置部分の構成概要平面図、第2図は一対の受光素子列
の受光素子出力の配列パターンが最も一致する位相を検
出するブロック回路図、第3図は受光素子出力の二値化
回路図である。
第1図において、測距方向工の像は、それぞれレンズ1
,2によって、一定距1111tdを隔てて並べて設け
た一対の受光素子列3,4上に投影される。
ここで一定距離dは、測距対象Tが無限遠にある場合に
、その測距対象Tの像が投影される受光素子列3,4中
の受光素子間の距離である。そして、レンズ1,2から
距離lにある測距対象Tの像を投影された受光素子と前
述の無限遠にある像を投影される受光素子との距離xが
求まると、1=dx f/xにより距離lが求められる
。fはレンズ1゜2が無限遠の像を受光素子列3,4上
に結像する焦点距離である。しかして、距離Xは、第2
図の検出回路によって求められる。
第2図において、3,4は第1図におけると同様の受光
素子列であり、5,6は受光素子列3゜4の出力を所定
の論理レベルで二値化する二値化回路列、7,8はシフ
トレジスタ、9は一致検出回路列、10はカウンタ、1
1は判断回路である。
受光素子列3,4の各受光素子のアナログ出力は、それ
ぞれ二値化回路列5,6の各二値化回路によっテ、適宜
ナスレツシュホールドレベルテ°“0”捷たは“1″に
デジタル化され、シフトレジスタ7.8に書き込1れる
。そして、シフトレジスタ7.8の各ビットの出力は一
致検出回路列9に入  ・力され比較される。一致検出
回路列9の各回路は、シフトレジスタ7.8からの二つ
の入力が同じものであったら“1“を出力し、異なれば
“0”を出力する。カウンタ10は、この一致検出回路
列9の出力の“1”をカウントして、その数を判断回路
11に出力する。判断回路11は、この数を記憶した後
、シフトレジスタ7または8を1ビツトシフトさせて、
再びシフト後のカウンタ10の出力数を記憶する。さら
に判断回路11は、このようなシフトレジスタ7,8の
シフトとカウンタ10の出力数の記憶とを所定回数繰返
しだ後、記憶されているカウンタ10の出力数の中の最
大のものを求める。この最大の出力数の得られた状態が
受光素子列3,4の受光素子出力の配列ノくターンが最
も一致した状態で、この最大の出力数が得られるまでの
シフト回数が第1図で述べた距離Xに相当する。すなわ
ち、このシフト回数で測距対象T′8.での距離lを求
める場合は、一対の受光素子列3.4間の一定の距離d
の代りに、その距離dを受光素子列3,4の受光素子の
配列ピッチで割った値を用いればよい。しかし、自動焦
点調節装置の測距装置の場合は、距離lを一次水める必
要はなく、焦点調節レンズを上記シフト回数に対応して
光軸方向に移動するものとすれば、焦点調節レンズの光
軸方向位置によって距離lが求まったことになる。なお
、第2図の上述の説明からも分るように、二値化回路列
5,6のデジタル出力が書き込まれるレジスタは、両方
がシフトレジスタである必要は無く、少くとも一方がシ
フトレジスタであればよい。また、二値化回路列5,6
の各二値化回路には第3図に示しだような回路が用いら
れる。
第3図において、12は第1図、第2図の受光素子列3
,4の構成受光素子であるフォトダイオード、13.1
4はスイッチングトランジスタ、15はコンデンサ、1
6はインバータ、VDはフォトダイオード12の駆動電
圧、GおよびCはそれぞれスイッチングトランジスタ1
3.14の作動信号である。この二値化回路は、スイッ
チングトランジスタ13.14がオフしており、フォト
ダイオード12に駆動電圧が印加されて像投影が行われ
ている状態から、作動信号Cによって−Hスイツチング
トランジスタ14をオンさせてコンデンサ15の放電を
行った後、さらに作動信号Cによってスイッチングトラ
ンジスタ14をオフさせ、次いで作動信号Gによってス
イッチングトランジスタ13をオンさせることによシコ
ンデンサ15の充電を行い、それから一定時間経過後に
さらに作動信号Gによってスイッチングトランジスタ1
3をオフして、その間に、フォトダイオード12の受光
強度に略比例する電流によって行われたコンデンサ15
の充電電圧がインバータ16のスレッシュホールド電圧
以上になっていればインパーク16の出力が“1”から
“0”に反転し、充電電圧がスレッシュホールド電圧に
達していなければインバータ16の出力が“1′”のま
−であることによって、フォトダイオード12の出力を
二値化する。この場合、スイッチングトランジスタ13
をオンしてからオフするまでの時間が長過ぎると、総べ
てのコンデンサ15がスレッシュボールド電圧以上に充
電されて了うし、反対に短が過ぎると、総ヘテのコンデ
ンサ15の充電電圧がスレッシュホールド電圧に達しな
いようになって、受光素子列3,4の二値化出力の配列
パターンは総べての位相において一致することになるか
ら、距離Xの情報を得ることができなくなる。したがっ
て、スイッチングトランジスタ13をオンしてからオフ
−するまでの時間は、受光素子列3.4の受光素子全体
の受光量を考慮して設定する必要があるが、この種の制
御は一般に複雑であると云う欠点がある。
また、上述のような従来の測距装置においては、受光素
子列3または4の一方もしくは両方の出カ忙、相対的に
差のあるノイズが重畳されると、そのために誤った測距
情報が得られたり、全く測距情報を得ることができなく
なったりすることが起ると云う欠点もある。第4図はそ
のような場合の例を示している。
第4図の(4)は、受光素子列3,4の出力にノイズが
重畳されないか、あるいは重畳されても相対的に差のな
いノイズが重畳された場合の出力配列パターンを近似的
に曲線波形で示したものであり、(B)は、受光素子列
3の出力に相対的に斜線形を施したように台形にノイズ
が重畳された場合、(0)は同じく三角形にノイズが重
畳された場合を示している。図の縦軸は、構成受光素子
の出力すなわち、第3図のコンデンサ15の充電電流の
強さまたは充電電圧、一点鎖線は、スレッシュホールド
レベルである。(4)の場合は、受光素子列3,4に一
致位相を求められる略同じ受光素子出力の変換配列パタ
ーンが得られるが、(B) 、 ((3)の場合は、一
致位相が求められないか、あるいは誤った一致位相が求
められるようになる。
以上のような欠点を解消するために、本発明者らは先に
、第4図に見るような受光素子列の出力配列パターンの
代りに、その微分値を三値化して示したような変換配列
パターンを用いるようにしだ測距装置を発明した。その
発明は出願されている。その測距装置には、第3図の二
値化回路の代りに、第5図に示したような変換回路が用
いられ、そして第2図の二値化回路列5,6の代りに、
第5図の変換回路が二点鎖線で示すように並列した変換
回路列が用いられる。
第5図において、121 、122は一個の受光素子列
中の相隣る受光素子であるフォトダイオード、131.
132及び141.142はスイッチングトランジスタ
、151.152はコンデンサ、161゜162はイン
バータ、■。はフォトダイオードの駆動電圧、Gおよび
Cはスイッチングトランジスタの作動信号で、こ\まで
の構成は第2図の二値化回路の場合と同じである。そし
て、インバータ161.162の出力がそれぞれ入力さ
れるノアゲ−)17.18に共に入力されるφは、一定
または変化する時間間隔で“0”のパルスが発生するス
トローフ信号、フリップフロップ22〜24のR端子に
入力されるリセット信号Rは、作動信号Cがスイッチン
グトランジスタ141.142をオンするのと同じタイ
ミングで uo”パルスによりフリップフロップ22〜
24をリセットして、それらのQ出力を°“Q nlし
たがって負出力を“1”とする信号である。
この変換回路によれば、作動信号Cによってスイッチン
グトランジスタ141.142がオンされ、同時にリセ
ット信号Rによってフリップフロップ22〜24がリセ
ットされてQ出力が0”になると、以後、ノアゲート1
7.18は、ストローブ信号φの“O”パルスを入力し
ているときに、インバータ161.162の出力が“1
″から“0”に反転している場合、出力が“Onからパ
1”に反転する。そこで、スイッチングトランジスタ1
31.132がオンされて、コンデンサ151゜152
の充電が開始され、今仮に、ストローブ信号φの一つの
“0″パルスかう次の“0゛′パルスまでの間において
、コンデンサ151の充電電圧のみがスレッシュホール
ド電圧以上となり、インバータ161の出力が1″から
(10jlに反転したとすると、ノアゲート17の出力
はストローブ信号φの次の“θ″パルス入力したときに
“0”から“1”に反転し、ノアゲート18の出方は“
0”のま\である。ノアゲート17の出力が“1″に反
転すると、ノアゲート19がフリップフロップ220セ
ツト端子Sに“OIIのセット信号を出方する。それに
よってフリップフロップ22は、Q出力が“1″となり
、ノアゲー1−17 、’18の出力を“0”に保持す
ることになる。しかし、一旦は“1”に反転したノアゲ
ート17.の出力はインバータ21を介してフリップフ
ロップ24のセット端子Sに“0”のセット信号として
入力されて、フリップフロップ24のQ出方を“o”か
ら’“1″に反転させ、夏山力を“1”から“0“に反
転させる。その結果、ノアゲート25の出力q1はフリ
ップフロップ23のQ出力に拘らず“0”を与えるr1
’1だ、フリップフロップ23のQ出力のq3ハ、ナン
トゲート2oに入力されるノアゲート18の出力が“0
″のま\であるから、リセットされた甘\の0”であシ
、このq3の“O11とフリップフロップ24の党出力
の“0”とが入力されているノアゲート26の出力q2
は“1″を与える。すなわち、フォトダイオード121
の出力がフォトダイオード122の出力よシも大であっ
て、その差がストローブ信号φの一つの“0”パルスか
う次の“°O1′パルメまでの間でインバータ161の
出力のみが反転するような大きさであるときは、出力q
1+q’2 + q3はそれぞれl Q II 、 u
 l l′、′0”を与える。
次に仮に、ストローブ信号φの一つの“0″パルスから
次の″“0″パルスまでの間において、コンデンサ15
2.152の充電電圧が共にスレッシュホールド電圧以
上となり、インバータ161゜162の出力が共に“1
″から“0″に反転したとすると、ノアゲート17.1
8はストローブ信号φの次の“O″′′パルス力したと
きに共に“0°′  。
から“1″に反転する。この反転も一時的なものである
ことは、反転によってノアゲート19からフリップフロ
ップ22のセット端子Sに“0″のセット信号が入力さ
れることから、前の場合と同様である。そして、ノアゲ
ート17の反転した出力“1”はフリップフロップ24
をセットして、Q出力を“0″から“1”に反転させ、
Q出力を“1nから“0”に反転させるから、ノアゲー
ト25の出力q1は前の場合と同様“0”を与える。オ
た、ノアゲート17.18の反転した出力“1″は、ノ
アゲート20を介してセット信号の“0”をフリップフ
ロップ23のセット端子Sに入力し、Q出力のq5をリ
セットの“0”から“1′′に反転させ、同時にこの出
力q3の“1”はノアゲート26の出力q2をフリップ
フロップ24の夏山力に拘りなく“0”にさせる。すな
わち、フォトダイオ−)−121,122の出力がスト
ローブ信号φの−っの“0″パルスから次の“0”パル
スまでの間で共にそれぞれインバータ161.162の
出力を反転させるような差の小さい範囲にあるときは、
出力q4 r q2 z q5はそれぞれ“0” MO
”、′1”を与える。
最後に仮に、ストローブ信号φの一つの“0”パルスか
ら次の“O”パルスまでの間において、コンデンサ15
2の充電電圧のみがスレッシュホールド電圧以上となり
、インバータ162の出力が“1”から“0″に反転し
たとすると、ノアゲート18の出力はストローブ信号φ
の次の“°0”パルスを入力したときに“0”から“1
”に反転し、ノアゲート17の出力は“′0”′のまく
である。この場合も、反転したノアゲート18の出力“
1”がノアゲート19を介してフリップフロップ22の
セット端子Sにセット信号の“0″′を入力するから、
ノアゲート18の“0”から“1″への反転は一時的な
ものである。そして、ノアゲート18の出力が“1”に
反転してもノアゲート17の出力が“0”であるから、
フリップフロップ23はセットされず、またフリップフ
ロップ24もセットされない。したがって、フリップフ
ロップ23゜24のQ出力は共に“0”、Q出力は“1
”のま\であるから、ノアゲート25の出力q、は“1
”、ノアゲート26の出力q2は“0”、出力q3は0
″′のま−である。すなわち、フォトダイオード121
の出力よりもフォトダイオード122の出力が大であっ
て、その差がストローブ信号φの一つの“O”パルスか
ら次の“0”パルス壕での間でインバータ162の出力
のみが反転するような大きさであるときは、出力q1 
s qz * qsはそれぞれ“l”、00″、′0”
を与える。
以上のように、第5図の変換回路は、受光素子列中の隣
り合う受光素子の出力差がストローブ信号φのパルス間
隔で与えられる所定値を起える減捷たは増あるいは所定
値以内であるかによってそれぞれ異なる信号出力を与え
る。したがって、このような変換回路の次々に一部を重
複させたような並列から成る変換回路列は、第4図に示
したような受光素子列の受光素子の出力配列パターンを
微分して、微分値を三値化したような変換パターンを与
えることになる。すなわち、第5図の変換回路は出力差
三値化回路と称し得るし、また、このような変換回路の
並列から成る変換回路列は差分三値化回路列と称し得る
。なお、受光素子間の出力差を変換する第5図のような
変換回路においてけ、スイッチングトランジスタ131
.132は省略することができ、したがって作動信号G
も省略できる。
第2図の二値化回路列5,6の代りに、上述の差分三値
化回路列を用いることによって、(この場合、シフトレ
ジスタも出力q1 * qz + q5を入力されるも
のとなる、)先に述べた従来の測距装置における、作動
信号Gによるスイッチングトランジスタ131.132
等のオンからオフまでの時間設定制御の複雑さおよび、
受光素子列間に差のあるノイズが重畳された場合に測距
情報が得られなくなったり、誤った測距情報が得られた
りすると云う欠点は解消される。
しかし、このような差分三値化回路列を用いた測距装置
においても、−回の受光素子列出方の変換が行われると
きのストローブ信号φの“0″′′パルスが長過ぎると
、その間にインバータ161゜162等の出力が総べて
反転して測距情報が得られなくなったり、また逆に1ス
トロ一ブ信号φの“0”パルス間隔が短か過ぎると、受
光素子の出力配列パターンの微分値が二値化されたよう
な変換配列パターンとなって、受光素子の出力が周期的
に変化するような場合に、誤った測距情報が得られたり
することが起ると云う問題がある。
第6図は受光素子列の出力配列パターンを莢分三値化回
路列で変換したときのストローブ信号φの“0″パルス
隔の長、短と変換パターンの関係を示し、(4)は変換
前の出力配列パターン、(B)はストローブ信号φの“
0′パルス間隔が長過ぎたときの変換出力配列パターン
、(G)は短か過ぎたときの変換出力配列パターン、(
D)は間隔が適当なときの変換用カバターンをそれぞれ
示している。なj?、変換出力の1.0.−1は、それ
ぞれ第5図の出力q1 + qz + q4の組合せが
(0,1,0)。
(0,0,1)、(1,0,0)になったときである。
(4)の出力配列パターンが(B)のように変換されだ
のでは、測距情報が得られないし、(0)のように変換
されたのでは、多くの一致位相が検出されて、誤った測
距が行われることになる。そして、(D)のように変換
されれば、−個の一致位相が検出されて、正確な測距が
行われる。
〔発明の目的〕
本発明は、一対の各受光素子列の出力配列パターンを隣
り合う受光素子の出力差が所定値以上の増減であるか否
かの相対差配列パターンに変換して、変換した一対のパ
ターンの一致する位相を検出するようにした上述のよう
な測距装置における問題をさらに解消するためになされ
たものであシ、受光素子列の出力配列パターンが自動的
に第6図の(D)に示したようなパターンに変換されて
、正確な測距が行われる測距装置を提供するものである
〔発明の構成〕
本発明は、所定間隔を置いて配置され、それぞれが受光
素子群からなる2個の受光手段と、前記群内の素子間の
出力を、比較して素子出力間の相対的関係を判別する判
別手段と、前記受光手段の1つについての前記判別手段
の出力と前記受光手段の他の1つについての前記判別手
段の出力とを比較し、その一致を検出する一致検出手段
とからカリ、前記2つの受光手段の出力の相関々係から
測距対象1での距離を求める測距装置において、前記判
別手段の判別レベルを可変にしたことを特徴とする測距
装置、にある。
〔実施例〕
以下、本発明を第7図乃至第10図に示した実施例によ
って説明する。
第7図は本発明測距装置の検出回路の一例を示すブロッ
ク回路図、第8図はストローブ信号の変化例を示すタイ
ムチャート、第9図は判断制御回路の動作フローチャー
ト、第10図は受光素子列の出力配列パターンと変換出
力の配列パターンの関係を示すグラフである。
第7図において、3,4は第2図と同じ受光素子列、5
’、6’は第5図に示したような出力差三値化回路の並
列から成る差分三値化回路列、7aおよび8aは第5図
の出力q、またはq2のシフトレジスタ、7bおよび8
bは出力q3のシフトレジスタ、9a 、 9bは一致
検出回路列、10’、10〃はカウンタ、11′は判断
制御回路、27はアンド回路列、28は比較回路、29
はストローブ信号発生回路である。なお、この検出回路
では、第5図の出力q、 I q2のうちのいずれか一
方だけを利用するようにしているが、受光素子列3.4
のそれぞれについてもう一つシフトレジスタを増加して
、変換出力q4.q2.q3の全部の情報を利用するよ
うにしてもよいことは勿論である。この検出回路におい
ては、受光素子列3.4の出力配列パターンは、差分三
値化回路列5’ 、 6’によって、第5図について述
べたように、出力q、l (121q5の配列パターン
に変換されて、出力(1,4たはq2はシフトレジスタ
7a 、 8aに入力され、出力q5はシフトレジスタ
7b 、 8bに入力される。そして、受光素子列3.
4についての配列順に対応する出力q、またはq2およ
び出力q、が一致検出回路列9aおよび9bで比較され
て、一致検出回路列9a 、 9bは一致しているとき
は“1パを出力し、一致してないときは“0″を出力す
る。この一致検出回路列9a 。
9bの配列順に対応する出力はさらにアンド回路列27
で比較されて、アンド回路列27は両方の一致検出回路
列9a 、 9bの出力が共に“°1″であるものにつ
いて1″を出力し、その出力“1′′の数がカウンタ1
0′でカウントされて、判断制御回路11′がカウンタ
10′のカウント数を記憶する。
続いて判断制御回路11′は、シフトレジスタ7a。
7bまたは8a 、 8bを1ビツトシフトさせて、再
びシフト後のカウンタ10′のカウント数を記憶する動
作を繰返し、最後に記憶されたカウント数の最大なもの
を求めて、その最大カウント数が得られたときのシフト
回数を測距対象の把えられたときとするが、この点は第
2図の検出回路の判断回路11、あるいは先に発明した
第5図の変換回路を用いる測距装置におけるものと同様
である。しかし、この判断制御回路11′は、上述の動
作を比較回路28から変換出力の配列パターンが有効な
一致検出のなされる状態にあると云う情報を人力してか
ら行うようにしている点が、第2図の判断回路11や先
に発明した測距装置におけるものと異なる。すなわち、
判断制御回路11′は、第5図のコンデンサ151 、
152等の充電を開始して、インバ〜り161 、16
2等のいずれかの出力が反転すると、それによってAト
ロープ信号発生回路29を駆動して、先ず例えば第8図
のδ= 4EVで示すよ’5な“O”′パルス時間間隔
のストローブ信号を第5図のφとして出力する。なお、
第7図の例では、上述のストローブ信号発生回路29の
駆動をトリガーするためのインバータ161 、162
等は、受光素子列3に関するものだけでよい。ストロー
ブ信号の“0”パルスが出力されると、その時点で受光
素子列3,4の出力配列パターンは変換出力Q1 rq
2 + q3の変換パターンとして、先に述べたように
シフトレジスタ7a 、 7bおよび8a 、 8bに
入力される。このときの受光素子列3の変換出力q5は
、相隣る受光素子の出力差が受光強度差で4EV以下の
ときは、全部“1”になる。カウンタ10〃は変換出力
q、の“1″をカウントして、比較回路28は、カウン
タ10〃のカウント数がシフトレジスタ7bのビット数
に等しいときは、判断制御回路11′に有効な一致検出
ができない状態である旨の信号を出力し、ビット数以下
であるときは、有効な一致検出が行われる状態である旨
の信号を出力する。
そこで、判断制御回路11′は、有効な一致検出が行わ
れる旨の信号を入力したときには前述の動作を行い、有
効な一致検出が行われない旨の信号を人力したときには
、改めて再びコンデンサ151゜152等の充電を開始
して、今度はδ=2EVのストローブ信号による変換を
行ない、それでも比較回路28から有効な一致検出が行
われない旨の信号を入力したときは、更にδ= I E
Vのストローブ信号による変換を行う等の動作を繰返す
。そして例えば、δ=、4Evのストローブ信号による
変換を行っても相隣る受光素子の出力差が/BE■以下
であって、なお比較回路28から有効な一致検出が行わ
れ々い旨の信号を入力したときには、判断制御回路11
′は測距不能である旨の信号を出力して表示を行う。
第9図は判断制御回路11′によって行われる上14−
の動作のうちの主要動作を示している。なお、変換出力
配列パターンフラットは、比較回路28から有効々−一
致検出行われない旨の信号が出力されたときであり、−
数位相検出はカウンタ10′のカウント数を記憶して最
大カウント数が得られたシフト数を求める動作である。
判断制御回路11′が以上のように動作するととによっ
て、第10図の(A)に示しだような受光素子列の出力
配列パターンは殆んどの場合(B)乃至■)に示したよ
うな変換比カバターンに変換され、このような(B)乃
至(D)の変換比カバターンによって正確な測距情報が
得られることになる。なお、(B)は、受光素子列3,
4についてそれぞれシフトレジスタ1個追加して、変換
出力q1 r q2 + q5を全部利用するようにし
た場合、(C)は、第7図のシフトレジスタ7a 、 
8aに変換出力q2を入力した場合、(D)は、シフト
レジスタ7a 、 8aに変換出力q1を入力した場合
である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、一対の受光素子列の出力の間に相対差
のあるノイズが重畳されても、それによって測距不能に
なったり、誤っだ測距情報が得られたりすることがなく
なるばかりでなく、受光素子列の出力配列パターンが周
期的であっても受光素子の出力の山または谷の高さが異
なれば正確な測距が行われると云う優れた効果が得られ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は一対の受光素子列上に測距方向の像を投影する
装置部分の構成概要平面図、第2図は一対の受光素子列
の受光素子出力の配列パターンが・でも一致する位相を
検出するブロック回路図、第3図は受光素子出力の二値
化回路図、第4図は受光素子列の出力にノイズが重畳さ
れた例を示す出力グラフ、第5図は出力差三値化回路、
第6図は受光素子列の出力配列パターンと差分三値化回
路列による変換比カバターンの関係を示すグラフ、第7
図は本発明測距装置の検出回路の一例を示すブロック回
路図ミ第8図はストローブ信号の変化例を示すタイムチ
ャート、第9図は判断制御回路の動作フローチャート、
第10図は受光素子列の出力配列パターンと変換出力の
配列パターンの関係を示すグラフである。 1.2・・・レンズ、    3,4・・・受光素子列
、5.6・・・二値化回路列、 5’、6’・・・差分三値化回路列1 7.7a、7b、8,8a、8b−z7トレジスタ、9
.9a、9b・・・−量検出回路列、10 、10’ 
、 10#・・・カウンタ、11・・・判断回路、  
  11′・・・判断制御回路、12 、121 、1
22・・・フォトダイオード、13 、131 、13
2 、14 、141 、142・・・スイッチングト
ランジスタ、 15 、151 、152・・・コンデンサ、16 、
161 、162・・・インバータ、17〜19 、2
5 、26・・・ノアゲート、20・・・ナントゲート
、21・・・インバータ、22〜24・・・フリップフ
ロップ、 27・・・アンド回路列、28・・・比較回路、29・
・・ストローブ信号発生回路。 特許出願人  小西六写真工業株式会社第1図 I 第2図 3

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 所定間隔を置いて配置され、それぞれが受光素子群
    からなる2個の受光手段と、前記群内の素子間の出力を
    比較して素子出力間の相対的関係を判別する判別手段と
    、前記受光手段の1つについての前記判別手段の出力と
    前記受光手段の他の1つについての前記判別手段の出力
    とを比較し、その一致を検出する一致検出手段とからな
    シ、前記2つの受光手段の出力の相関々係から測距対象
    までの距離を求める測距装置において、前記判別手段の
    判別レベルを可変にしたことを特徴とする測距装置。 2、 前記判別手段の出力のうち、特定の判別レベルに
    属すると判別したことを示す出力の数をカウントするカ
    ウント手段と判別レベルを変える判別レベル設定手段と
    を有・し、異る判別レベル毎に前記数のカウントを行う
    ようにした特許請求の範囲第1項記載の測距装置。
JP7937283A 1983-05-09 1983-05-09 測距装置 Granted JPS59204703A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7937283A JPS59204703A (ja) 1983-05-09 1983-05-09 測距装置
GB08411225A GB2142496B (en) 1983-05-09 1984-05-02 Range finder
DE19843417193 DE3417193A1 (de) 1983-05-09 1984-05-09 Entfernungsmesser

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JP7937283A JPS59204703A (ja) 1983-05-09 1983-05-09 測距装置

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Publication Number Publication Date
JPS59204703A true JPS59204703A (ja) 1984-11-20
JPH0326768B2 JPH0326768B2 (ja) 1991-04-11

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6316216A (ja) * 1986-07-08 1988-01-23 Mitsubishi Electric Corp 距離計

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6316216A (ja) * 1986-07-08 1988-01-23 Mitsubishi Electric Corp 距離計

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