JPS59201416A - 荷電粒子線ブランキング装置 - Google Patents

荷電粒子線ブランキング装置

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Publication number
JPS59201416A
JPS59201416A JP7541983A JP7541983A JPS59201416A JP S59201416 A JPS59201416 A JP S59201416A JP 7541983 A JP7541983 A JP 7541983A JP 7541983 A JP7541983 A JP 7541983A JP S59201416 A JPS59201416 A JP S59201416A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
particle beam
charged particle
blanking
shielding plate
deflection
Prior art date
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Pending
Application number
JP7541983A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Konno
今野 茂生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Nihon Denshi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd, Nihon Denshi KK filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP7541983A priority Critical patent/JPS59201416A/ja
Publication of JPS59201416A publication Critical patent/JPS59201416A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/045Beam blanking or chopping, i.e. arrangements for momentarily interrupting exposure to the discharge

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は荷電粒子線描画装置に使用して最適な荷電粒子
線ブランキング装置に関する。
第1図は従来の荷電粒子線ブランキング装置を示してお
り、1a、1bは一対の静電偏向板であり、2は該偏向
板1の下方に配置され、荷電粒子線通過111口3を有
した荷電粒子線遮蔽板である。
このような構成において、一方の偏向板1aに+■、他
方の偏向板に一■の電F1−を印加りれば、イ、う電粒
子線4は該偏向板によって偏向され、光軸7から離れて
遮蔽板2の位置△に照射されるため、該荷電粒子線は開
口3を通過できなくなり、従って該荷電粒子線のブラン
キングが行われる。しかしながら、このような荷電粒子
線ブランキング装置においては、ブランキング時に常に
荷電粒子線が遮蔽板2の点△に照射されるため、該貞A
にJ5いてコンタミネーションが発生する。該コンタミ
ネーションが発生すると、その部分に荷電粒子線が帯電
し、ブランキング動作停止復、該遮蔽板の開口3を通過
する荷電粒子線は該コンタミネーション部分の帯電によ
って偏向され、該荷電粒子線を用いて超LSI等の材料
に対する高精度の描画を行おうとしても、所望の精度で
その1111画を行うことができなりtする。又、該遮
蔽板20点への部分が荷電粒子線の照射によっ−C箸し
く加熱されるため、該遮蔽板の篇1度分布は軸対称とな
らず、このため該遮蔽板は変形してしまう。該遮蔽板は
通常磁性1本で形成されており、幾分磁気を右している
ため、該遮蔽板が変形すると、その影響で該荷電粒子線
は僅かぐあるが偏向きれてしまう。
本発明は上)ホした点に鑑みてなされたもので、その目
的はブタンキング動作を停止した際に荷電粒子線の不要
な偏向を防止し得る荷電粒子線ブランキング装置を提供
することである。
本発明に基づく荷電粒子線ブランキング装置は、荷電粒
子線偏向手段と、該荷電粒子線の光軸に治って該荷電粒
子線偏向手段の後方に配置され、該荷電粒子線の通過量
1」を有した荷電粒子線遮蔽板とをl11Mえ、該f1
−1向手段に供給されるブランキング信号に応じ−(該
荷電粒子線を該遮蔽板で遮蔽するようにした荷電粒子線
ブランキング装置において、該偏向手段を複数極の偏向
素子によって構成し、該各偏向素子に該荷電粒子線が該
遮蔽板上で回転移動づるにうなブランキング信号を供給
するブランキング信号発生手段とを備えたことを特徴ど
している。
以下本発明の一実施例を添イ=3図面に星づ2S’ i
+T述する。
第2図において、118.’+111.〜,1111は
静電偏向器11を構成する電極であり、餓(E1向器1
1の光り1117にそっ〕c下方には荷電粒子線通過開
口13を右した荷電粒子IIi遮蔽板12が配置されて
いる。該各電極には例えば、二T1ンビー2−夕の如ぎ
ブランキング信号発生手段1’/IがらD−△弯換器1
5.増幅器1Gを介して′ブランキング摺し〕が供給さ
れる。
上i!liシl=如き構成において、荷電粒′f−わj
jのブランキング時には該静電偏向器11を+M成する
各電極にブランキング信号発生回路1/lがらブラン4
ング信号が供給される。該各電極)こは人々異った電圧
信号が供給され、その結果、7□S■電粉子線はじ初の
状態では第3図に示ず如く光+1’l11から外側に渦
巻状に回転しながら偏向され、特定の半径1゛の位tq
にまで偏向されると、その後は該遮蔽板12Fで該半径
1゛の円を描くように回転移動させられる。
従って、ブランキング時に荷電粒子線が照射される遮蔽
板12の位置は一定とならず、コンタミネーションの発
生を極端に少くフることができると共に、仮にコンタミ
ネーションが発生しても、その形状は光軸Zを中心とし
1c軸対称となるため、ブランキングオフ時に光軸に沿
って通過する荷電粒子線は特定の方向への偏向を受tプ
ることはない。
又、ブランキング時に荷電粒子線は遮蔽板上を光軸を中
心としたリング状に回転移動さぼられるため、該遮蔽板
は加熱されてもその湿度分布(よ軸対称どなる。この結
果、遮蔽板の変形は軸対称となり、該遮蔽板の変形によ
る荷電粒子線の不要な偏向も防止することができる。尚
、この実施例ではブランキング停止時にも、荷電粒子線
は渦巻状に偏向されて光軸に戻される。
以上詳述した如く、本発明は荷電粒子線の不要な偏向を
防止し1qる荷電粒子線ブランキング装置を提供するこ
とかできる。尚、本発明は上述した実施例に限定される
ことなく幾多の変形が可能である。例えば、偏向手段と
して静電偏向器を用いたが、電磁コイルを用いても良い
。又、偏向手段を8極の偏向素子によって構成したが、
荷電粒子線を回転偏向させるためには、電極あるいは磁
極の数は最低3極で良い。更に、ブランキングの開始時
と停止時に荷電粒子線を渦巻状に偏向しtcが、このブ
ランキングの開始時と停止時には、直線的に荷電粒子線
を特定の半径の位置にまで、あるいは該特定の半径の位
置から光軸にまで偏向しでも良い。
【図面の簡単な説明】 第1図は従来の荷電粒子線ブランキング装置を示ず図、
第2図は本発明に基づく6;I重粒子線ブタンキング動
作を示す図、第3図はブランキング時の荷電粒子線の軌
跡を示す図である。。 11・・・静電偏向器 12・・・荷電粒子線遮蔽板 13・・・荷電粒子線通過17f1口 14・・・ブランキング信号発生回路 15・・・D−A変換器 16・・・増幅器 1JJ八′へ出願人 []1本電子株式会礼 代表者 伊藤 −夫

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. をI重粒子線偏向手段と、該荷電粒子線の光軸に治つC
    該荷電粒子線偏向手段の後方に配置され、該荷電粒子線
    の通過量1]を有した荷電粒子線遮蔽板とを備え、該偏
    向手段に供給されるブランキング信号に応じて該荷電粒
    子線を該遮蔽板で遮蔽するようにしlζ荷電粒子線ブラ
    ンキング装置にJ3いC,該偏向手段を複数極の偏向素
    子にJ、って構成し、該各偏向素子に該荷電粒子線が該
    遮蔽板上で回転移動するようなブランキング信号を供給
    するブランキング信号発生手段とを備えた荷電粒子線ブ
    ランキング装置。
JP7541983A 1983-04-28 1983-04-28 荷電粒子線ブランキング装置 Pending JPS59201416A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01186741A (ja) * 1988-01-18 1989-07-26 Mitsubishi Electric Corp 電子ビーム装置用ブランキング装置
JP2021193682A (ja) * 2016-01-09 2021-12-23 ケーエルエー コーポレイション 電子ビーム装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01186741A (ja) * 1988-01-18 1989-07-26 Mitsubishi Electric Corp 電子ビーム装置用ブランキング装置
JP2021193682A (ja) * 2016-01-09 2021-12-23 ケーエルエー コーポレイション 電子ビーム装置
CN113990728A (zh) * 2016-01-09 2022-01-28 科磊股份有限公司 用于高通量电子束设备的散热消隐系统
CN113990728B (zh) * 2016-01-09 2024-03-26 科磊股份有限公司 用于高通量电子束设备的散热消隐系统

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