JPS59200521A - 正弦波信号の零交差点検出方法 - Google Patents
正弦波信号の零交差点検出方法Info
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- JPS59200521A JPS59200521A JP58074737A JP7473783A JPS59200521A JP S59200521 A JPS59200521 A JP S59200521A JP 58074737 A JP58074737 A JP 58074737A JP 7473783 A JP7473783 A JP 7473783A JP S59200521 A JPS59200521 A JP S59200521A
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- JP
- Japan
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- sine wave
- sampling
- zero cross
- cross point
- equation
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- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、サンプリングレートが長くてもそのサンプリ
ング値から高精度に正弦波の零交差点を求めることので
きる正弦波信号の零交差点検出方法に関する。
ング値から高精度に正弦波の零交差点を求めることので
きる正弦波信号の零交差点検出方法に関する。
最近のエレクトロニクス技術は全ディジタル化される方
向で進んでいる。
向で進んでいる。
周波数変調された連続マイクロ波の送信波と物体からの
反射波とのビート信号周期を測定することにより物体ま
での距離を求める装置が、たとえば特開昭52−273
95などに開示されているが、ビート信号が正弦波とな
り、この周期を求めるために正弦波の零交差点を検出す
る必要が生じる。したがって、ビート信号周期をディジ
タル的に測定するときだけサンプリングレートを下げて
つまり標本化周期を長くして、高精度で周期あるいは零
交差点を測定できるかどうかが鍬になる。
反射波とのビート信号周期を測定することにより物体ま
での距離を求める装置が、たとえば特開昭52−273
95などに開示されているが、ビート信号が正弦波とな
り、この周期を求めるために正弦波の零交差点を検出す
る必要が生じる。したがって、ビート信号周期をディジ
タル的に測定するときだけサンプリングレートを下げて
つまり標本化周期を長くして、高精度で周期あるいは零
交差点を測定できるかどうかが鍬になる。
従来、零交差前後の標本化値から正弦波を直線近似して
零交差点を求めることが一般的である。
零交差点を求めることが一般的である。
しかしこの方法は直線近似できる範囲が狭く、高精度な
検出を行なうためには正弦波周期に対して標本化周期を
短くとらなければならなかった。
検出を行なうためには正弦波周期に対して標本化周期を
短くとらなければならなかった。
正弦波のサンプリングデータをとった場合、データは離
散的であるから、零交差点はサンプリングの間(−なる
ことが多い。
散的であるから、零交差点はサンプリングの間(−なる
ことが多い。
従来は、@1図のように、零9u点の前後のサンプリン
グデータ(Xo +yo’)t (X++)’t)か
ら、その間が直線と近似して、かつTをサンプリング周
期とし、零交差点をXoからXTのところにあるとして
、 ’la yt であるから Vx V。
グデータ(Xo +yo’)t (X++)’t)か
ら、その間が直線と近似して、かつTをサンプリング周
期とし、零交差点をXoからXTのところにあるとして
、 ’la yt であるから Vx V。
からXを求める。この方法は計算は簡単であるが、Mi
nx#x の近似が成立する範囲が狭いので(2%精度の近似で約
0.35 rad )高精度の零交差点を求めようとす
れば、サンプリングレートを高くシナければならf、f
い。
nx#x の近似が成立する範囲が狭いので(2%精度の近似で約
0.35 rad )高精度の零交差点を求めようとす
れば、サンプリングレートを高くシナければならf、f
い。
すなわぢ、従来の1次近似で計算づ−る方法で高精度な
零交差点を検出する場合、サンプリングレートを高くし
なければならず、A/Df侠器でサンプリングするとき
は変換時間の高速なものを使わねばならず、非常に面側
であった。
零交差点を検出する場合、サンプリングレートを高くし
なければならず、A/Df侠器でサンプリングするとき
は変換時間の高速なものを使わねばならず、非常に面側
であった。
そこで本発明は、従来の手法の難点を克服し、正弦波を
3次式で近似し、3つの標本化値から、振幅周期、零交
差点を未知数とする連立方程式を解くことにより、近似
範囲が広く標本化周期を長くしても高精度な検出ができ
る正弦波信号の零交差点検出方法を提供することを、そ
の目的とする。
3次式で近似し、3つの標本化値から、振幅周期、零交
差点を未知数とする連立方程式を解くことにより、近似
範囲が広く標本化周期を長くしても高精度な検出ができ
る正弦波信号の零交差点検出方法を提供することを、そ
の目的とする。
本発明は、正弦波を3次式で近似し、近似精度範囲が拡
がったのでサンプリングレートを低くつまり標本化周期
を長くすることができ、低速のA/D変換器で良く経済
的である。
がったのでサンプリングレートを低くつまり標本化周期
を長くすることができ、低速のA/D変換器で良く経済
的である。
では、本発明の原理を述べる。
一般に、5inxをテーラ−展開すると、で表わされる
。いま正弦波信号y=AsinωXをテーラ−展開した
ものの3次の項までとって、とおく。精度的には次数が
高いほど良くなる。しかし、実用的には次数が高くなる
と解を求める計算が複雑になるので、サンプリングレー
トを速くしたときの経済性との兼ね合いで、現状では3
次が限度である。
。いま正弦波信号y=AsinωXをテーラ−展開した
ものの3次の項までとって、とおく。精度的には次数が
高いほど良くなる。しかし、実用的には次数が高くなる
と解を求める計算が複雑になるので、サンプリングレー
トを速くしたときの経済性との兼ね合いで、現状では3
次が限度である。
振幅A、角周波数ω、零交差点とサンプリング点間の距
離あるいは時間を未知数として3つのサンプリング値(
Xo*)’o)e (Xt e’!□)、(Xte)’
lをとって、 とする。振幅A、角周波数ωを(5式)、(6式)、(
7式)から消去すると y、 x6 x 1 (xI、”−xl” )十
yOXl X2 (x−−x、” )十y1 x
2 Xo(yc、” −y5.” ) =0・・・・・
・(7′式) 第1図のように、零交差点をxoからXTのところにと
って、そこを原点とし、xo * Xl t XIeY
o*Vswy*を次の数値で置きかえる。
離あるいは時間を未知数として3つのサンプリング値(
Xo*)’o)e (Xt e’!□)、(Xte)’
lをとって、 とする。振幅A、角周波数ωを(5式)、(6式)、(
7式)から消去すると y、 x6 x 1 (xI、”−xl” )十
yOXl X2 (x−−x、” )十y1 x
2 Xo(yc、” −y5.” ) =0・・・・・
・(7′式) 第1図のように、零交差点をxoからXTのところにと
って、そこを原点とし、xo * Xl t XIeY
o*Vswy*を次の数値で置きかえる。
x0= −XT ・・・・・・(8式)X
l:(1−X)T ・・・・・・(9式)x、=
(2−X)T ・・・・・・ (10式)’I
*−yo=△Y ・・・・・・(11式)(
y+ yo) (yt y+)””Y・・・・・
・ (12式)(8式)〜(12式)を(77式)に代
入して、X。
l:(1−X)T ・・・・・・(9式)x、=
(2−X)T ・・・・・・ (10式)’I
*−yo=△Y ・・・・・・(11式)(
y+ yo) (yt y+)””Y・・・・・
・ (12式)(8式)〜(12式)を(77式)に代
入して、X。
’Ion△Y、Δ2Yの式にすると
2△2YX”−(6ΔY+li” Y ) X 6
yo = 0・・・・・・ (13式) となる。Xを解くと ・・・・・・(14式) これから、零交差点が分るが、平方根があったりして計
算が複雑な上に、分母が(12式)から明らかなように
、差分の差であり、実用的(二誤差が生じやすい。
yo = 0・・・・・・ (13式) となる。Xを解くと ・・・・・・(14式) これから、零交差点が分るが、平方根があったりして計
算が複雑な上に、分母が(12式)から明らかなように
、差分の差であり、実用的(二誤差が生じやすい。
したがって、(13式)を変形して、
・・・・・・(15式)
とおいて、(15式)の第2項は第1項に比べて充分小
さいとき第2項のXを X#X’ としても大きな誤差にならない。
さいとき第2項のXを X#X’ としても大きな誤差にならない。
したがって、
としてXを近似することができる。(17式)は直線近
似に2つの補正項〔一つは(16式)の(、&Y)/6
、もう一つは(17式)の右辺の括弧内筒2項から、演
算で誤差が入りにくい。また、計算が(14式)に比べ
て簡単化されている特長がある。
似に2つの補正項〔一つは(16式)の(、&Y)/6
、もう一つは(17式)の右辺の括弧内筒2項から、演
算で誤差が入りにくい。また、計算が(14式)に比べ
て簡単化されている特長がある。
サンプリングレートを0.8ラジアン(rad)トした
ときの直線近似(2式)と3次曲線近似(17式)で計
算した零交差点の誤差を第2図に示す。
ときの直線近似(2式)と3次曲線近似(17式)で計
算した零交差点の誤差を第2図に示す。
201は直線近似誤差曲線、202は3次曲線近似誤差
曲線であり、203はサンプリングレートな0.8ラジ
アンから0.52ラジアンに縮小したときの直線近似誤
差曲線である。
曲線であり、203はサンプリングレートな0.8ラジ
アンから0.52ラジアンに縮小したときの直線近似誤
差曲線である。
第2図(=おける誤差はたとえば以下のようにして求め
る。
る。
サンプリングレート0.8radを正規化して1.0と
し、横軸目盛をとる。たとえば横軸目盛0.25は0.
2 radとなる。3つのサンプリング値(XOtyo
)t (Xtp)’+ )# (Xte)’t )をそ
れぞれ(−0,2、−〇、19867 L (0,6,
0,56464) 。
し、横軸目盛をとる。たとえば横軸目盛0.25は0.
2 radとなる。3つのサンプリング値(XOtyo
)t (Xtp)’+ )# (Xte)’t )をそ
れぞれ(−0,2、−〇、19867 L (0,6,
0,56464) 。
(1,4、0,98545)とする。
(2式)から
ys ’t。
となり
誤差E(チ)は、
E= (0,26027−0,25) X 100チ#
1.03チ また、(17式)から X= 0.25032 となり、 誤差E(係)は E= (0,25033−0,25) X 100チ=
0.033% となる。
1.03チ また、(17式)から X= 0.25032 となり、 誤差E(係)は E= (0,25033−0,25) X 100チ=
0.033% となる。
そして、3次曲線近似曲線202とほぼ同じ(1次)直
線近似の誤差が0.52 rad (直線近似曲線20
3)になることもあわせて示している。
線近似の誤差が0.52 rad (直線近似曲線20
3)になることもあわせて示している。
第2図からも分るように、直線近似の場合で3次近似と
同じ精贋で零交差点を求めようとすると、0.8rad
に対し0.52 radと、約1.5倍標本化周期を短
くしなければならない。
同じ精贋で零交差点を求めようとすると、0.8rad
に対し0.52 radと、約1.5倍標本化周期を短
くしなければならない。
では、本発明の一実施例の構成を表わすブロック図を第
3図に示す。
3図に示す。
1.2,3,4,10は加算器で左側の入力端に付した
符号を入力(=掛けて加算し位相を反転して出力し、5
.6は係数器で内部に表示した糸数をかけ、7.8は割
算器で左側からの入力を縦からの入力で割算して右側か
ら出力し、9.11は掛算器で左側からの入力に縦乃)
らの入力を掛算し右側から出力する。
符号を入力(=掛けて加算し位相を反転して出力し、5
.6は係数器で内部に表示した糸数をかけ、7.8は割
算器で左側からの入力を縦からの入力で割算して右側か
ら出力し、9.11は掛算器で左側からの入力に縦乃)
らの入力を掛算し右側から出力する。
第1図のように、ザンプリング周期Tでサンプルした値
yLの零交差点近傍の値を1111:i次y。、y、。
yLの零交差点近傍の値を1111:i次y。、y、。
y、とすると、第3図の加算器1によって前記(11式
)のΔYを、さらに加算器2,3(二よって前記(12
式)ΔYを得る。第3図ではそれらの値は負記号で表現
している。
)のΔYを、さらに加算器2,3(二よって前記(12
式)ΔYを得る。第3図ではそれらの値は負記号で表現
している。
さらに、前記(16式)の分母を得るため、加算器4で
△Y十△2Y/6 をつくる。
△Y十△2Y/6 をつくる。
これを分母として割算器7において係数器6を経たーy
。を割り、前記(16式)のX′をつくり、かつ係数器
5と割算器8によって、 2(△”Y/6 )/(△Y+△’Y/6 )をつくり
、それに掛嘗器9によりX′を掛けて前記(17式)の
括弧内組2項を得、これに加算器10で1を加算して前
記(17式)の括弧内の演算を行ない、それに掛算器1
1でX′を掛けてXを導出する。
。を割り、前記(16式)のX′をつくり、かつ係数器
5と割算器8によって、 2(△”Y/6 )/(△Y+△’Y/6 )をつくり
、それに掛嘗器9によりX′を掛けて前記(17式)の
括弧内組2項を得、これに加算器10で1を加算して前
記(17式)の括弧内の演算を行ない、それに掛算器1
1でX′を掛けてXを導出する。
しかして第3肉のy。@3’+、3’tの決め方は次の
ようにして行なわわ、る。
ようにして行なわわ、る。
ω5X3
3次式y=A (ωX−6)は近似式なので、サンプル
値のとり方によって精度(二影響する。Xの値か犬キく
するとつまり求めようとしている原点(零交差点)から
離れると、精度が悪くなる。
値のとり方によって精度(二影響する。Xの値か犬キく
するとつまり求めようとしている原点(零交差点)から
離れると、精度が悪くなる。
したがって、区間〔XopXtlの中に原点を含むよう
なサンプル点を選ぶ。
なサンプル点を選ぶ。
すなわち、正弦波が正から負にかわるときの零交差点を
求めるためには、3点のサンプル値(yの値)の符号が
サンプル順(=従って古い値カラ、正、正、9か正、負
、負となるような3点のサンプル値を選ぶ。
求めるためには、3点のサンプル値(yの値)の符号が
サンプル順(=従って古い値カラ、正、正、9か正、負
、負となるような3点のサンプル値を選ぶ。
また、正弦波か負から正にかわるときの零交差点を求め
る時は、上記と同様、サンプル値の古い方から七の符号
が寅、賀、正か負、正、正となるような3点のサンプル
値を選ぶ。
る時は、上記と同様、サンプル値の古い方から七の符号
が寅、賀、正か負、正、正となるような3点のサンプル
値を選ぶ。
上記を芙現する具体的回路例を第4図に示す。
12は抵抗、■3はサンプリンク回路、]4はサンプリ
ングレートジェネレータ、[5はアンド回路、16〜1
8はDフリップ70ツブ、19〜21はエクスクル−シ
ブノア回路、22は1ルセット信号、23はナンド回路
、24は符号検証回路、25〜27はオア回路である0 例えば抵抗12の両端で検出した正弦波電圧をサンプリ
ンク回路■3で、サンプリングレートジェネレータ[4
の発生したタイミングでサンプルし、負を2の補数で表
現するデータを得る。
ングレートジェネレータ、[5はアンド回路、16〜1
8はDフリップ70ツブ、19〜21はエクスクル−シ
ブノア回路、22は1ルセット信号、23はナンド回路
、24は符号検証回路、25〜27はオア回路である0 例えば抵抗12の両端で検出した正弦波電圧をサンプリ
ンク回路■3で、サンプリングレートジェネレータ[4
の発生したタイミングでサンプルし、負を2の補数で表
現するデータを得る。
このデータを同じタイミングをクロックするDフリツブ
フロツフ゛16(1送る。Dフリツフ゛フロツフ。
フロツフ゛16(1送る。Dフリツフ゛フロツフ。
16はクロックCPの立上りでサンプルデータな保持す
る。
る。
次のクロックCPで今までDフリップフロップ16が保
持していたデータを、Dフリップフロップの17が保持
し、Dフリップフロップ16にはサンプリング回路13
から新たなデータが保持ざnる。
持していたデータを、Dフリップフロップの17が保持
し、Dフリップフロップ16にはサンプリング回路13
から新たなデータが保持ざnる。
Dフリップフロップ18も同様に次のクロックCPでD
フリップフロップドアの値が保持さ几、Dフリップフロ
ップ■7にDフリップフロップ16のデータが、Dフリ
ップフロップ16にサンプリング回路13のデータが保
持さnる。
フリップフロップドアの値が保持さ几、Dフリップフロ
ップ■7にDフリップフロップ16のデータが、Dフリ
ップフロップ16にサンプリング回路13のデータが保
持さnる。
零交差点演算をする条件が整うまで、この動作が続く。
零交差点演算する条件はデータの最上位ビット(符号ビ
ット)を符号検証回路24に入れて判断する。零交差点
の演算は等間隔の任意の3点でよいが、3次近似で解を
求めているので、できるだけ零に近い3点のサンプル値
で計算すると精、説が上がる。
ット)を符号検証回路24に入れて判断する。零交差点
の演算は等間隔の任意の3点でよいが、3次近似で解を
求めているので、できるだけ零に近い3点のサンプル値
で計算すると精、説が上がる。
つまり、マイナスからプラスにクロスrる点のトキ、D
フリップ70ツブ16 、17 、 +sを符号が(0
、1、1)か(0,0,1)になったとき、そ几らDフ
リップフロップ16〜18の転送を止めて、Dフリップ
フロップ36 、17 、18のデータをそれぞれ’I
t e V1e’toに対応させ計算する。このVte
’It v yoに対応するXがおのおのX2 t x
l t XOである。なお、エクスクル−シブノア回路
19〜21とナンド回路23で構成する符号検証回路2
4で、第4図ではDフリップフロップ16 、17 、
18の出力Din e I)2n + D3n にそ
れぞ、n、0 、1 、1とエクスクル−シブノアをと
っているが、符号(0,0,1)のときクロックCPを
とめるには、それぞれ0,0.1とエクスクル−シブノ
アをとればよいO このように、Dフリップフロップ16 、17 、18
の出力D1n、D2n、D3nカ’(otitl) に
なると、エクスクル−シブノア回路19 、20 、2
1の出力がすべて1になるから、ナンド回路23の出力
は0(二なる。これでDフリップフロップ16〜18へ
のクロックCPをアンド回路■5でストップするので、
以降サンプルしてもDフリップフロップ(レジスタ)1
6〜18の値は更新されない。Dフリップフロップ16
の出力をy、、Dフリップフロップ17の出力ヲy t
e Dフリップフロップ18の出力をyoとして計算
する。
フリップ70ツブ16 、17 、 +sを符号が(0
、1、1)か(0,0,1)になったとき、そ几らDフ
リップフロップ16〜18の転送を止めて、Dフリップ
フロップ36 、17 、18のデータをそれぞれ’I
t e V1e’toに対応させ計算する。このVte
’It v yoに対応するXがおのおのX2 t x
l t XOである。なお、エクスクル−シブノア回路
19〜21とナンド回路23で構成する符号検証回路2
4で、第4図ではDフリップフロップ16 、17 、
18の出力Din e I)2n + D3n にそ
れぞ、n、0 、1 、1とエクスクル−シブノアをと
っているが、符号(0,0,1)のときクロックCPを
とめるには、それぞれ0,0.1とエクスクル−シブノ
アをとればよいO このように、Dフリップフロップ16 、17 、18
の出力D1n、D2n、D3nカ’(otitl) に
なると、エクスクル−シブノア回路19 、20 、2
1の出力がすべて1になるから、ナンド回路23の出力
は0(二なる。これでDフリップフロップ16〜18へ
のクロックCPをアンド回路■5でストップするので、
以降サンプルしてもDフリップフロップ(レジスタ)1
6〜18の値は更新されない。Dフリップフロップ16
の出力をy、、Dフリップフロップ17の出力ヲy t
e Dフリップフロップ18の出力をyoとして計算
する。
次に、本発明(二よる位相差測定ができる。
第5図のようにY 、と72間の位相差は、Ylのマイ
ナスからプラスに変る前のマイナスのサンプリンク゛ポ
イントをOとし、順次サンプリングポイントをカウント
し、Y、がプラスにかわる前のザンプリングポイントま
で計数する。その数を■とし、(17式)から1算され
るYl 、Y、の零交差点なXsT =XtTとすると
、位相差φはφ=(I Xt + Xt ) T
・・・・・・(18式)さらに、本発明による周期測定
は、下記のようになされる。
ナスからプラスに変る前のマイナスのサンプリンク゛ポ
イントをOとし、順次サンプリングポイントをカウント
し、Y、がプラスにかわる前のザンプリングポイントま
で計数する。その数を■とし、(17式)から1算され
るYl 、Y、の零交差点なXsT =XtTとすると
、位相差φはφ=(I Xt + Xt ) T
・・・・・・(18式)さらに、本発明による周期測定
は、下記のようになされる。
第6図のY3の周期を測定するのは位相差と同じく、Y
sb’プラスにかわる前のサンプリング点から次のプラ
スにかイつる前のサンプリング点までのサンプリング点
数をカウントしくNとする)、そnぞれの(17式)か
ら得られる零交差点をX8T、Xi+T とすれば、
周期Pは、 P=(N−X8+Xエ )T ・・・・・・ (1
9式)かくして本発明によれば、たとえばマイクロ波で
の物体までの距離測定でのビート信号の周期の導出ある
いはサイリスタ点弧角の決足もしくはシンクロレゾルバ
での位相測定等、標本化された正弦波から零交差点を求
めることが、簡単な手段により経済的に高精度(−なさ
れ、この分野に益するところが大きい。
sb’プラスにかわる前のサンプリング点から次のプラ
スにかイつる前のサンプリング点までのサンプリング点
数をカウントしくNとする)、そnぞれの(17式)か
ら得られる零交差点をX8T、Xi+T とすれば、
周期Pは、 P=(N−X8+Xエ )T ・・・・・・ (1
9式)かくして本発明によれば、たとえばマイクロ波で
の物体までの距離測定でのビート信号の周期の導出ある
いはサイリスタ点弧角の決足もしくはシンクロレゾルバ
での位相測定等、標本化された正弦波から零交差点を求
めることが、簡単な手段により経済的に高精度(−なさ
れ、この分野に益するところが大きい。
第1図は正弦波を標本化する説明図、第2図は直線近似
と3次曲線近似の正規化サンプリングレートにおける誤
差曲線図、第3図は本発明の一実施例における回路構成
を示すブロック図、第4図はその一部回路の詳細ブロッ
ク図、第5図は本発明による位相差測定の弱明図、第6
図は本発明による周期測定の説明図である。 1 、2 、3 、4 、10・・・加算器、5,6・
・・係数器、7.8・・・割算器、9.11・・・掛算
器、12・・・抵抗、13・・・サンプリング回路、
14・・・サンプリングレートジェネレータ、 15・
・・アンド回M、16,17,18・・・Dフリップフ
ロラフ、19,20,21・・・エクスクル−シブノア
回1賂、22・・・リセット信号、23・・・ナンド回
路、24・・・符号検証回路、25 、26 、27・
・・オア回路。 出願人代理人 猪 股 清
と3次曲線近似の正規化サンプリングレートにおける誤
差曲線図、第3図は本発明の一実施例における回路構成
を示すブロック図、第4図はその一部回路の詳細ブロッ
ク図、第5図は本発明による位相差測定の弱明図、第6
図は本発明による周期測定の説明図である。 1 、2 、3 、4 、10・・・加算器、5,6・
・・係数器、7.8・・・割算器、9.11・・・掛算
器、12・・・抵抗、13・・・サンプリング回路、
14・・・サンプリングレートジェネレータ、 15・
・・アンド回M、16,17,18・・・Dフリップフ
ロラフ、19,20,21・・・エクスクル−シブノア
回1賂、22・・・リセット信号、23・・・ナンド回
路、24・・・符号検証回路、25 、26 、27・
・・オア回路。 出願人代理人 猪 股 清
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 yおよびXを直角座標における縦および横の座標
、Aは振幅、ωは角周波数としたとき零交差点検出対象
となる正弦波信号y=AsinωXの連続した3つのサ
ンプリング値y。、y、。 y、のうち、yoまたはy、が他の2つのサンプリング
値と異なる符号をもつようなサンプリング点の座標(X
opyo)t (X+*yt )y(X2 e yt
)をそれぞれ前記正弦波信号の近似3次式y=A (ω
X−□)に代入して得られる3つの近似式から零交差点
と前記サンプリング点のX座標X0との距離または時間
を求め、前記零交差点の位置を演算導出するようにした
ことを特徴とする正弦波信号の零交差点検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58074737A JPH0630439B2 (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 正弦波信号の零交差点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58074737A JPH0630439B2 (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 正弦波信号の零交差点検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59200521A true JPS59200521A (ja) | 1984-11-13 |
JPH0630439B2 JPH0630439B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=13555844
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58074737A Expired - Lifetime JPH0630439B2 (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 正弦波信号の零交差点検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0630439B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004078154A (ja) * | 2002-06-19 | 2004-03-11 | Ricoh Co Ltd | 情報導出装置、電気機器、画像形成装置、情報導出方法およびプログラム |
JP2006524923A (ja) * | 2003-04-30 | 2006-11-02 | 徳群 梁 | 多重変調伝送方法 |
JP2012167971A (ja) * | 2011-02-14 | 2012-09-06 | Synthesize Ltd | 受信時間の検出方法 |
WO2018146767A1 (ja) * | 2017-02-09 | 2018-08-16 | 理化工業株式会社 | ゼロクロス検出装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53172A (en) * | 1976-06-23 | 1978-01-05 | Hitachi Ltd | Frequency detection method |
JPS55143454A (en) * | 1978-07-26 | 1980-11-08 | Mitsubishi Electric Corp | Level detector |
-
1983
- 1983-04-27 JP JP58074737A patent/JPH0630439B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS53172A (en) * | 1976-06-23 | 1978-01-05 | Hitachi Ltd | Frequency detection method |
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WO2018146767A1 (ja) * | 2017-02-09 | 2018-08-16 | 理化工業株式会社 | ゼロクロス検出装置 |
WO2018146844A1 (ja) * | 2017-02-09 | 2018-08-16 | 理化工業株式会社 | ゼロクロス検出装置及びゼロクロス検出方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0630439B2 (ja) | 1994-04-20 |
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