JPS59197988A - 硬貨判別装置 - Google Patents
硬貨判別装置Info
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- JPS59197988A JPS59197988A JP7187283A JP7187283A JPS59197988A JP S59197988 A JPS59197988 A JP S59197988A JP 7187283 A JP7187283 A JP 7187283A JP 7187283 A JP7187283 A JP 7187283A JP S59197988 A JPS59197988 A JP S59197988A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はｆｆＪ！ Ｌ’Ｊ判別装置に関するものである
。
。
従来、硬貨入金１幾等におりる硬貨の真偽および金種の
判別は、硬貨の径、厚さ、材質などの測定データに基づ
いて行なわれているが、比較的高額の５００円硬貨の流
通にともない、精密な判別方式、例えば硬貨表面のパタ
ーンく図柄）を読取って判別を行なう方式の採用が望Ｊ
、れる傾向がある。
判別は、硬貨の径、厚さ、材質などの測定データに基づ
いて行なわれているが、比較的高額の５００円硬貨の流
通にともない、精密な判別方式、例えば硬貨表面のパタ
ーンく図柄）を読取って判別を行なう方式の採用が望Ｊ
、れる傾向がある。
ところで、紙幣の判別方式の一つとして紙幣のパターン
を光学的に読取る方式が知られているか、この方式は、
次のような理由により、硬貨に適用することが困難であ
る。
を光学的に読取る方式が知られているか、この方式は、
次のような理由により、硬貨に適用することが困難であ
る。
（ａ ＞紙幣は長方形状の紙であるから、はぽ一定の姿
勢で紙幣判別機等に投入されるが、硬貨は円板状である
から、種々の姿勢で硬貨計数機等に投入されることにな
り、姿勢の相違によって異なるパターンが検出される。
勢で紙幣判別機等に投入されるが、硬貨は円板状である
から、種々の姿勢で硬貨計数機等に投入されることにな
り、姿勢の相違によって異なるパターンが検出される。
（ｂ）紙幣のパターンは、インクの色調、濃淡によって
表現されているが、硬貨のパターンは硬貨表面の凹凸と
して表現されているため、色調、濃淡の差がほとんどな
い。
表現されているが、硬貨のパターンは硬貨表面の凹凸と
して表現されているため、色調、濃淡の差がほとんどな
い。
（Ｃ）紙幣のパターンの判別装置が比較的高価格である
ため、硬貨判別装置のコストが高くなる。
ため、硬貨判別装置のコストが高くなる。
本発明は前記の事情に鑑みてなされたもので、前記（ａ
）ないしくＣ）の問題点を解決して、硬行表面のパタ
ーンを容易に読取り１ｑる硬貨判別装置を安価に１１１
！供ザることを目的とし、その特徴とり−るところは、
投光装置によって均一な反射１ｈ性の反射面をＩＫ（身
りした際に得られた補正用データと被測□定硬貨の測定
データとを演算して、投光装置Ｊ−ｉよび受光装置の測
定特性の均一化を図った点にある。
）ないしくＣ）の問題点を解決して、硬行表面のパタ
ーンを容易に読取り１ｑる硬貨判別装置を安価に１１１
！供ザることを目的とし、その特徴とり−るところは、
投光装置によって均一な反射１ｈ性の反射面をＩＫ（身
りした際に得られた補正用データと被測□定硬貨の測定
データとを演算して、投光装置Ｊ−ｉよび受光装置の測
定特性の均一化を図った点にある。
以下本発明を図面に示す硬貨判別装置の実施例に基づい
て説明する。
て説明する。
第１図ないし第９図は硬貨判別装置の第１実施例を示−
４−もので、この硬貨判別Ｓ置は、第１図ないし第７図
に示す如く投光装置１によって被測定硬貨Ｃの表面に陰
影を生じさせるとともに、この陰影を受光装置２によっ
て読取り、ざらに、受光装置２で読取った信号を第８図
および第９図に示す判別回路３で判別するようにした基
本構成となっている。
４−もので、この硬貨判別Ｓ置は、第１図ないし第７図
に示す如く投光装置１によって被測定硬貨Ｃの表面に陰
影を生じさせるとともに、この陰影を受光装置２によっ
て読取り、ざらに、受光装置２で読取った信号を第８図
および第９図に示す判別回路３で判別するようにした基
本構成となっている。
前記投光装置１は、光源４と該光源４から発せられた光
線を被測定硬貨Ｃの表面に導く投光用光ファイバー５と
から構成され、該光ファイバー５は、硬貨Ｃの中心を通
る１１１１１線と交差Ｊる方向【こ沿い・、かつ前記被
測定）か貨Ｃと同心状の円弧６に交差する方向に沿って
、ずなわち、前記１１ＮＩ＋線を１ｌｑｌ＋とする円錐
面に沿って配置さ・れている。そして、前記投光用光フ
ァイバー５は、第６図に示づように円弧６の周方向に一
部ピッチで並ふ測定点１フｉ〜Ｐ？ｎの内ｎ個（例えば
Ｐ１〜ＰｎあるいはＰ３〜Ｐｎ＋２）に光線を投光して
いる。。
線を被測定硬貨Ｃの表面に導く投光用光ファイバー５と
から構成され、該光ファイバー５は、硬貨Ｃの中心を通
る１１１１１線と交差Ｊる方向【こ沿い・、かつ前記被
測定）か貨Ｃと同心状の円弧６に交差する方向に沿って
、ずなわち、前記１１ＮＩ＋線を１ｌｑｌ＋とする円錐
面に沿って配置さ・れている。そして、前記投光用光フ
ァイバー５は、第６図に示づように円弧６の周方向に一
部ピッチで並ふ測定点１フｉ〜Ｐ？ｎの内ｎ個（例えば
Ｐ１〜ＰｎあるいはＰ３〜Ｐｎ＋２）に光線を投光して
いる。。
また、前記受光装置２ば、受光アレーΣＲ（受光素子Ｒ
＋”Ｒユ）と、前記ｆ ’！＝’Ｉ Ｃの表面に現われ
た陰影を受光素子Ｒ＋〜Ｒｎにそれぞれ伝達Ｊる多数（
０本）の受光用光ファイバー７とから４ｉ、；成されて
いる。そして、受光用光ファイバー７の基端部７ａは、
前記受光素子ＲＩ−Ｒｎにグ・１向して、第５図に示す
如く直線状に配列され、−刀先端部７ｂは、第４図に示
すように、被測定硬＋ｔＣ上の円弧６とそれぞれ直交す
る如く、ターなわら、被測定硬貨Ｃの中心と直交する直
線を軸とする円筒面に沿って配列されている。そして、
各受光用光ファイバー７の先端部７ｂは、測定点Ｐ１〜
１〕２□の一部（例えばＰｌへ−ＰｎあるいはＰ３〜Ｐ
ｎ＋２）にそれぞれ対向させられて、測定点［〕１〜Ｐ
２ｎにｄ３ける陰影を測定している。したがって、この
第１実施例−（は、被測定硬、７）２ Ｃの全周にわた
る２向個の測定点Ｐ１〜Ｐ２１１のうちｎ個所、！ｌＩ
イにわら、半周にねたっ°Ｃ測定が行なわれることにな
る。
＋”Ｒユ）と、前記ｆ ’！＝’Ｉ Ｃの表面に現われ
た陰影を受光素子Ｒ＋〜Ｒｎにそれぞれ伝達Ｊる多数（
０本）の受光用光ファイバー７とから４ｉ、；成されて
いる。そして、受光用光ファイバー７の基端部７ａは、
前記受光素子ＲＩ−Ｒｎにグ・１向して、第５図に示す
如く直線状に配列され、−刀先端部７ｂは、第４図に示
すように、被測定硬＋ｔＣ上の円弧６とそれぞれ直交す
る如く、ターなわら、被測定硬貨Ｃの中心と直交する直
線を軸とする円筒面に沿って配列されている。そして、
各受光用光ファイバー７の先端部７ｂは、測定点Ｐ１〜
１〕２□の一部（例えばＰｌへ−ＰｎあるいはＰ３〜Ｐ
ｎ＋２）にそれぞれ対向させられて、測定点［〕１〜Ｐ
２ｎにｄ３ける陰影を測定している。したがって、この
第１実施例−（は、被測定硬、７）２ Ｃの全周にわた
る２向個の測定点Ｐ１〜Ｐ２１１のうちｎ個所、！ｌＩ
イにわら、半周にねたっ°Ｃ測定が行なわれることにな
る。
そし−Ｃ１前記投光装首１の投光用光ファイバー５によ
って第７図矢印で示す如く被測定硬貨Ｃに投光Ｊるど、
被測定硬貨Ｃが？８７図（イ）に示す位置にある場合、
被測定硬貨Ｃが第７図（ロ）に示Ｊ位置にある場合のい
ずれの賜金に−ｂ、被測定硬貨Ｃの凸部８の内側に同一
形状の影９が生じ、この影９が、受光用光ファイバー７
を介して、受光アレーΣＲにｌ、取られる。
って第７図矢印で示す如く被測定硬貨Ｃに投光Ｊるど、
被測定硬貨Ｃが？８７図（イ）に示す位置にある場合、
被測定硬貨Ｃが第７図（ロ）に示Ｊ位置にある場合のい
ずれの賜金に−ｂ、被測定硬貨Ｃの凸部８の内側に同一
形状の影９が生じ、この影９が、受光用光ファイバー７
を介して、受光アレーΣＲにｌ、取られる。
次いで、前記判別回路３を第８図を参照して説明りれば
、この判別回路３は、受光アレーＩＲに補正回路１０を
介して接続されてｄ３す、該補正回路１０により、前記
投光用、受光用の光ファイバーの品質、加工精度の不均
一による誤差が補正されるようになっている。そして、
判別回路３ ＋１、受光アレーΣＲに△Ｄ変換器１１お
よびインターフェイス１２を介して接続されたＣ Ｉ〕
Ｕ １３と、該ＣＰＵ１３に接続された［又／＼Ｍ １
４おＪミび１＜０Ｍ１５とから４苺成されている。ｔｉ
Ｉ′ＩＦＩＬ！ ！ぐＯＭＩξ〕１こは、基準硬貨Ｏ８
の全周にわたる測定点Ｐ ＋へ・Ｐ２ｎ（第６図参照）
の基準データＴｎ ＋ ” ｍｌ ２ｏ ／Ｊ’ ｉ＋
己憶されており、これらの基準データ′…＋ −□ １
１２ｎ Ｃ；１、第１表の１−１の欄に示Ｊ如く、１で
△Ｍ１４のノ？ドレスＡ１〜Ａ ２＋１にそれぞれ対応
させて読込まれる。まｌＣ１このＲＡＭ１４の前記Ａ１
〜Ａ２，１以外のアドレスには、受光アレーΣＲの測定
データｄ１〜ｄｎか記憶される。
、この判別回路３は、受光アレーＩＲに補正回路１０を
介して接続されてｄ３す、該補正回路１０により、前記
投光用、受光用の光ファイバーの品質、加工精度の不均
一による誤差が補正されるようになっている。そして、
判別回路３ ＋１、受光アレーΣＲに△Ｄ変換器１１お
よびインターフェイス１２を介して接続されたＣ Ｉ〕
Ｕ １３と、該ＣＰＵ１３に接続された［又／＼Ｍ １
４おＪミび１＜０Ｍ１５とから４苺成されている。ｔｉ
Ｉ′ＩＦＩＬ！ ！ぐＯＭＩξ〕１こは、基準硬貨Ｏ８
の全周にわたる測定点Ｐ ＋へ・Ｐ２ｎ（第６図参照）
の基準データＴｎ ＋ ” ｍｌ ２ｏ ／Ｊ’ ｉ＋
己憶されており、これらの基準データ′…＋ −□ １
１２ｎ Ｃ；１、第１表の１−１の欄に示Ｊ如く、１で
△Ｍ１４のノ？ドレスＡ１〜Ａ ２＋１にそれぞれ対応
させて読込まれる。まｌＣ１このＲＡＭ１４の前記Ａ１
〜Ａ２，１以外のアドレスには、受光アレーΣＲの測定
データｄ１〜ｄｎか記憶される。
第１表
また、前記補止回路１０ｔＪ、？ｌｉｉ正用ＣＰＵ １
０ａど、インターフェイス１ｏｂど、ＤＡ変換器１０ｃ
ど、）ｕｊ樟蒸器１０ｄがらなり、前記補正用ＣＰＵ
１０ ａには、例えば、均一な反射面に投光装置１から
光線を照射した際に受光装置２で得られる３ｉ１１定デ
ータがデジタル信号として記憶されている。したがって
、光ファイバーに加工誤差、材質の不均一がある場合に
は、これらの原因によって不均一どなった信）シが、補
正用データとして補正用ＣＰＵ １０ａに記憶される。
０ａど、インターフェイス１ｏｂど、ＤＡ変換器１０ｃ
ど、）ｕｊ樟蒸器１０ｄがらなり、前記補正用ＣＰＵ
１０ ａには、例えば、均一な反射面に投光装置１から
光線を照射した際に受光装置２で得られる３ｉ１１定デ
ータがデジタル信号として記憶されている。したがって
、光ファイバーに加工誤差、材質の不均一がある場合に
は、これらの原因によって不均一どなった信）シが、補
正用データとして補正用ＣＰＵ １０ａに記憶される。
そして、補正用ＣＰＵ１０ａに記憶されたデータをＤＡ
変換器１０ｃによってアテログイ５．′ｌ：化し、さら
にこのデータと被Ｊ１１定ｌＩ！１！貨Ｃのδｌ定デデ
ーどを演算器１０ｄで演算Ｊ−る（例えばｉｔ’ｌｌ定
−ｉ−夕を補正データで除ず）ことにより、投光装置１
の照射光量、および受光装置２の受光（此ｊ見の不均一
が補正される。
変換器１０ｃによってアテログイ５．′ｌ：化し、さら
にこのデータと被Ｊ１１定ｌＩ！１！貨Ｃのδｌ定デデ
ーどを演算器１０ｄで演算Ｊ−る（例えばｉｔ’ｌｌ定
−ｉ−夕を補正データで除ず）ことにより、投光装置１
の照射光量、および受光装置２の受光（此ｊ見の不均一
が補正される。
次いで、前記判別回路３の動作を第９１２１を参１（り
（して説明づる１、なＪシ、以下の説明中ＳＮは、Ｎ番
目のステップを示づものとＭる、。
（して説明づる１、なＪシ、以下の説明中ＳＮは、Ｎ番
目のステップを示づものとＭる、。
Ｓ１ニスター１〜
Ｓ２：受光７１ノーΣ［でＥこより、被ａ用ンｊｌ ！
Ｉ！Ｅ’貨Ｃのｉ！Ｉ！Ｉ定点Ｐ１〜Ｐ ２＋１のうち
周方向にｊｒＰ続リ−す口個所のデータｄ１〜ｄ １１
を読取って１く△Ｍ１７′ｌに記憶させる。
Ｉ！Ｅ’貨Ｃのｉ！Ｉ！Ｉ定点Ｐ１〜Ｐ ２＋１のうち
周方向にｊｒＰ続リ−す口個所のデータｄ１〜ｄ １１
を読取って１く△Ｍ１７′ｌに記憶させる。
Ｓ３：１に１を代入づる。
Ｓ ’Ｉ−： ｄ ＋ ”−ｄ ｎとΔ１〜△ユ内（Ｄ
テ−タ（ｉ＝７に８５いて（ま、Ａ＋−′ｍ１ 、Δ２
−侑２・・・・・・ＡニーＴＴＩｎ）とをそれぞれ比較
し、両データを比較して、−成度を検出覆る。
テ−タ（ｉ＝７に８５いて（ま、Ａ＋−′ｍ１ 、Δ２
−侑２・・・・・・ＡニーＴＴＩｎ）とをそれぞれ比較
し、両データを比較して、−成度を検出覆る。
Ｓ５：所定の一致度を満足するか否が（例えば一致ｆα
９５％とは、Δ１〜Ａ ＋＋内のデータと測定）−−り
ｄ ＋ −”−ｄ ＋＋の９５％が一致していることを
いう）を１’ＪＩ断し、所定の一致度を満足する場合に
はＳ ６へ、：１ル足しない場合にはＳ７へ進む。
９５％とは、Δ１〜Ａ ＋＋内のデータと測定）−−り
ｄ ＋ −”−ｄ ＋＋の９５％が一致していることを
いう）を１’ＪＩ断し、所定の一致度を満足する場合に
はＳ ６へ、：１ル足しない場合にはＳ７へ進む。
Ｓ６：Δｃｃｅｐｔイ５号、づ′なわら、＋Ｉｌｊ ｉ
ｊ？が受入れ１可能であることを表ね−Ｊ信号を発生さ
ける。
ｊ？が受入れ１可能であることを表ね−Ｊ信号を発生さ
ける。
Ｓ７：ｉに１＋１を代入ザる。
Ｓ８°１≦２ｎか否か、ターなわら所定回数の判別動作
が行なわれたか否かを判別し、所定回数行なわれている
場合には、換言ずれば、２０回連続して一致度が所定値
を下回る場合には、Ｓ９へ進んでＮｏｎ−△ｃｃｃｐｔ
信号、すなわち、硬貨が受入れ不可能であることを表わ
覆□ （ｇ ：を発生さける。
が行なわれたか否かを判別し、所定回数行なわれている
場合には、換言ずれば、２０回連続して一致度が所定値
を下回る場合には、Ｓ９へ進んでＮｏｎ−△ｃｃｃｐｔ
信号、すなわち、硬貨が受入れ不可能であることを表わ
覆□ （ｇ ：を発生さける。
また、所定回数の判別動作が行なわれていない場合には
、Ｓ１０へ進む。
、Ｓ１０へ進む。
Ｓ １０ ：ε１′！１表に示りように、１＝：＋１に
よりｉ ｈ＜増加するに従い、アドレスＡ１内のデータ
をアドレスＡ ２ｒ＋に移ザとともに、ｊ番目のアドレ
ス（例えばアドレスＡ ２１１のデータ）をＪ−１番目
のアドレスく例えば１１ヘレスＡ ２＋１−１ ） Ｍ
！！！’Ｉ次移動させてＳ４へもどる。Ｊズ７’、Ｓ
４．Ｓ！ｌ）、８Ｇもしくば、Ｓ４．Ｓ５．Ｓ７，８８
．Ｓ９を経（Ｓ１１に到って動作が終了乃るか、あるい
（ま、Ｓ４、Ｓ５，８７，３８．Ｓ１０の動作を繰り返
り。
よりｉ ｈ＜増加するに従い、アドレスＡ１内のデータ
をアドレスＡ ２ｒ＋に移ザとともに、ｊ番目のアドレ
ス（例えばアドレスＡ ２１１のデータ）をＪ−１番目
のアドレスく例えば１１ヘレスＡ ２＋１−１ ） Ｍ
！！！’Ｉ次移動させてＳ４へもどる。Ｊズ７’、Ｓ
４．Ｓ！ｌ）、８Ｇもしくば、Ｓ４．Ｓ５．Ｓ７，８８
．Ｓ９を経（Ｓ１１に到って動作が終了乃るか、あるい
（ま、Ｓ４、Ｓ５，８７，３８．Ｓ１０の動作を繰り返
り。
Ｓ１１：動作終了。
ざらに、前記動作で受入れ不能と４ｆっｌご１易含、基
準硬貨Ｏ８の他の面についての阜ｉｆ！−’ｔゞ−り■
′１〜′１１１′２ｎと測定データ（ｊ１〜ｄ７１どを
５ｌ−３１１の動作によって比較して、１四７′：Ｉの
両面についてＮ Ｏ１’ｌ −Ａ ＣＣ（！ｐｔと判別
された硬貨のみをｉｌｌ除寸ればよい。
準硬貨Ｏ８の他の面についての阜ｉｆ！−’ｔゞ−り■
′１〜′１１１′２ｎと測定データ（ｊ１〜ｄ７１どを
５ｌ−３１１の動作によって比較して、１四７′：Ｉの
両面についてＮ Ｏ１’ｌ −Ａ ＣＣ（！ｐｔと判別
された硬貨のみをｉｌｌ除寸ればよい。
また、前記動作では真偽の判別のみが行４ｊわれるが、
各金種の硬貨の基ｉ１ＦデータについＣ前１．ピ動作を
繰り返づ−ことにより、金種の判別を行なうことも角化
である。
各金種の硬貨の基ｉ１ＦデータについＣ前１．ピ動作を
繰り返づ−ことにより、金種の判別を行なうことも角化
である。
次いで、第１０図に従って、硬７ｙ−、判別装置の第２
実施例に係る判別回路の動作を説明りる。なａｊ、この
判別回路のＲＯＭは、基準となるフ−りＴｎ ＋〜″Ｉ
Ｔ′１２ｎに対して（３ｎ−１＞（ＵのアドレスＡ１〜
Ａ、 ｗｔ、 −＋を有し、これらのアドレスＡｔ−Ａ
３ｎニー＋・ニＩｔ３、第２表に示、す如＜、Ｔｒ１１
〜′ｒｒＩ７ｎオよびＴｎ＋〜ｍｈ−＋のデータが記憶
されている。
実施例に係る判別回路の動作を説明りる。なａｊ、この
判別回路のＲＯＭは、基準となるフ−りＴｎ ＋〜″Ｉ
Ｔ′１２ｎに対して（３ｎ−１＞（ＵのアドレスＡ１〜
Ａ、 ｗｔ、 −＋を有し、これらのアドレスＡｔ−Ａ
３ｎニー＋・ニＩｔ３、第２表に示、す如＜、Ｔｒ１１
〜′ｒｒＩ７ｎオよびＴｎ＋〜ｍｈ−＋のデータが記憶
されている。
また、ＲＡＭには、測（定データｄ１〜ｔｉｎが記憶さ
れる。
れる。
第２表
Ｓ２１ニスタート
Ｓ２２：受光アレーΣＲにより、硬貨Ｃの測定点Ｐ１〜
Ｐ ２７１のうち、周方向に連続するｎ個所のデータｄ
１〜ｄｎ読取ってＲＡＭ１４に記憶させる。
Ｐ ２７１のうち、周方向に連続するｎ個所のデータｄ
１〜ｄｎ読取ってＲＡＭ１４に記憶させる。
Ｓ２３：ｉ＝ｏを代入する。
Ｓ２４：測定データｄ１〜ｄ４と アドレスＡ＋
十−〜Ａｎ→−の基準データ（例えば’ｍ＋〜Ｔｎ２ｎ
）との一致度を判別する。
十−〜Ａｎ→−の基準データ（例えば’ｍ＋〜Ｔｎ２ｎ
）との一致度を判別する。
Ｓ２５：所定の一致度（例えば９５％）を満足するか否
かを判断し、満足する場合にはＳ２６へ、満足しない場
合には８２７へ進む。
かを判断し、満足する場合にはＳ２６へ、満足しない場
合には８２７へ進む。
Ｓ ２６ ： Ａｃｃｅｐｔ信号を発生ずる。
３２７：ｉにｉ＋１を代入する。
Ｓ２８：：ｉ＜２ｎか否か、すなわち所定回数の判別動
作が行なわれたか否かを判断し、ＮＯの場合には３．２
９へ進んでＮ Ｏｎ −Ａ ｃｃｅｐｔ信号を発生させ
、ＹＥＳの場合には、３２４へもどる。
作が行なわれたか否かを判断し、ＮＯの場合には３．２
９へ進んでＮ Ｏｎ −Ａ ｃｃｅｐｔ信号を発生させ
、ＹＥＳの場合には、３２４へもどる。
そして、１を一つずつ加算しながら、アドレスＡ＋＋ｔ
〜Ａｎ＋ｉ内のＭ準データと測定データとの比較を繰り
返す。
〜Ａｎ＋ｉ内のＭ準データと測定データとの比較を繰り
返す。
Ｓ２９二所定の一致度が満たされないまま２１１回の判
別動作が行なわれると、Ｎ ｏｎ −Ａ ｃｃｅｐｔ信
号を発生させる。
別動作が行なわれると、Ｎ ｏｎ −Ａ ｃｃｅｐｔ信
号を発生させる。
Ｓ３０：動作終了。
さらに、前述の動作で受入れ不能となった場合、前述の
第１実施例で説明したＪ：うに、基準硬貨Ｏ８の他の面
の基準データと測定データとを比較して、硬貨の両面に
ついてＮ ｏｎ −Ａ ｃｃｅｐｔと判別されたものを
排除すればよい。
第１実施例で説明したＪ：うに、基準硬貨Ｏ８の他の面
の基準データと測定データとを比較して、硬貨の両面に
ついてＮ ｏｎ −Ａ ｃｃｅｐｔと判別されたものを
排除すればよい。
次いで、第１１図に従って、硬貨判別装置の第３実施例
に係る判別回路の動作を説明、する。なお、この判別回
路のＲＯＭは、第３表に示すように２ｎ個のメモリＭ＋
〜Ｍ ２ｎを有し、これらのメモリＭ！〜Ｍ ２ｎには
、第３表に示すように、Ｔｎ＋〜Ｔｎ ２ｎからそれぞ
れ始まる基準データ群が記憶されている。また、ＲＡＭ
には、測定データｄ１〜ｄｎが記憶される。
に係る判別回路の動作を説明、する。なお、この判別回
路のＲＯＭは、第３表に示すように２ｎ個のメモリＭ＋
〜Ｍ ２ｎを有し、これらのメモリＭ！〜Ｍ ２ｎには
、第３表に示すように、Ｔｎ＋〜Ｔｎ ２ｎからそれぞ
れ始まる基準データ群が記憶されている。また、ＲＡＭ
には、測定データｄ１〜ｄｎが記憶される。
第３表
Ｍ２ｎ’ｍ１２ｎ Ｔｎ＋ Ｔｎｚ 二ｍ石
ロＳ４１ニスタート。
ロＳ４１ニスタート。
Ｓ４２：ｄ１〜ｄｎ （これらのデータ群をＤとする）
を検出、記憶する。
を検出、記憶する。
Ｓ ４３． ： ｒに１を代入
Ｓ４４：ＤとＭｔ （ｉ番目のメモリに記憶されたデ
ータ群）との一致度を判別 Ｓ４５二所定の一致度を満足するか否かを判断し、満足
する場合には５．４６へ、満足しない場合にはＳ４７へ
進む。
ータ群）との一致度を判別 Ｓ４５二所定の一致度を満足するか否かを判断し、満足
する場合には５．４６へ、満足しない場合にはＳ４７へ
進む。
Ｓ ４６ ： Ａｃｃｅｐｔ信号を発生サセル。
Ｓ４７：ｉにｉ＋１を代入する。
Ｓ４８：ｉ≦２０か否か、すなわち、所定回数判別動作
が行なわれたか否かを判断し、Ｎｏ（７）場合にはＳ４
９へ進ｌυでＮ Ｏ１２−Ａ ｃｃｅｐｔ信号を発生さ
せ、ＹＥＳの場合には、Ｓ４４へもどる。
が行なわれたか否かを判断し、Ｎｏ（７）場合にはＳ４
９へ進ｌυでＮ Ｏ１２−Ａ ｃｃｅｐｔ信号を発生さ
せ、ＹＥＳの場合には、Ｓ４４へもどる。
そして、！を一つずつ加算しながら、ＤとＭｉとの比較
を繰り返ず。
を繰り返ず。
Ｓ４９：所定の一致度が満足されないまま２ｎ回の判別
動作が行なわれると、Ｎ Ｏｎ−Ａ ｃｃｅｐｔ信号を
発生させる。
動作が行なわれると、Ｎ Ｏｎ−Ａ ｃｃｅｐｔ信号を
発生させる。
Ｓ５０：動作終了。
さらに、前述の動作で受入れ不能となった場合、第１実
施例で説明したように、基準硬貨Ｃ８の他の面の講１い
（（データと８ｉ１１定データとを比較して、硬しの両
面についてＮ ｏｎ−Ａ ｃｃｅｐｔと判別されたもの
を排除Ｊればよい。
施例で説明したように、基準硬貨Ｃ８の他の面の講１い
（（データと８ｉ１１定データとを比較して、硬しの両
面についてＮ ｏｎ−Ａ ｃｃｅｐｔと判別されたもの
を排除Ｊればよい。
イｃＪ５、本発明に係る硬【う判別方法は前記各実施例
に限定されるしのて・はなく、例えば、下記のごどさ態
様にＪζる実施も可能である、。
に限定されるしのて・はなく、例えば、下記のごどさ態
様にＪζる実施も可能である、。
（ｉ） 前記各実施例では、被測定硬貨の円弧に治っ
てほぼ半周にわたって測定を行なったが＜ツ°なわち、
２１１個の基！Ｍデータとｎ個の測定テ゛−夕とを比較
したか）前記円弧の全周にわたって被測定硬Ｌ１ｊを測
定し、あるいは全周の１／ｋにわたって測定を（１”、
＜う。引なわち、２０個の基準データと２１１個の測定
データとを比較し、あるいは、ｋ×１１個の４３いｊｆ
データと１１個の測定データとを比較する。
てほぼ半周にわたって測定を行なったが＜ツ°なわち、
２１１個の基！Ｍデータとｎ個の測定テ゛−夕とを比較
したか）前記円弧の全周にわたって被測定硬Ｌ１ｊを測
定し、あるいは全周の１／ｋにわたって測定を（１”、
＜う。引なわち、２０個の基準データと２１１個の測定
データとを比較し、あるいは、ｋ×１１個の４３いｊｆ
データと１１個の測定データとを比較する。
（ｊ） 被）ｌｕｌｌ定硬（ぜの姿勢を検出して、こ
の検出信号によって基４（データと８１）ｊ定データと
のいずれかを修正した後に両データを比較し、データを
円弧の周方向にずらす動作を省略りる。
の検出信号によって基４（データと８１）ｊ定データと
のいずれかを修正した後に両データを比較し、データを
円弧の周方向にずらす動作を省略りる。
以上の説明で明らかなように、本発明は、投光装置で均
一な反射面を照用τることに」：って受光装置に検出さ
れた補正データと被測定１１ｉ１！Ｇ’ｚのｉｔ！ｉ定
デー少データ篇して測定データを補正覆ることを特徴ど
するもので、投光装置および受光を装置の光ファイバー
の材質、あるいは加工粘度の不均一による各測定点ごと
の測定データの不均一を補（Ｌ′１リ−ることができる
という効果を５Ａ−＝Ｊる。
一な反射面を照用τることに」：って受光装置に検出さ
れた補正データと被測定１１ｉ１！Ｇ’ｚのｉｔ！ｉ定
デー少データ篇して測定データを補正覆ることを特徴ど
するもので、投光装置および受光を装置の光ファイバー
の材質、あるいは加工粘度の不均一による各測定点ごと
の測定データの不均一を補（Ｌ′１リ−ることができる
という効果を５Ａ−＝Ｊる。
第１図ないし第９図は本発明を適用した硬くう判別装置
の第１実施例を示すしので、第１（シ１は投光装置およ
び受光装置の側面図、第２図は第１図の■−■線に冶う
矢ネ５１図、第３図は投光用ｄ５よび受光用の光ファイ
バーの配置を承り斜視図、第４図は第１図のｆＶ −ｆ
Ｖ線に沿う矢視図、り〕ｂ図は第１図のｖ−ｖ線に沿う
矢視図、第６図はｉｌ［！ｌ定点のＩＪ２明図、第７図
（イ）、（ロ）はそれぞれ投光装置の作用説明図、第８
図は判別回路のブロック図、第９図は判別回路の動作を
示す流れ図、第１０図は硬てうｆｌＪ別装置の第２実施
例に係る判別回路の動１′１：を承り流れ図、り′５１
１ ＋、！Ｊｆ、ｉ硬貨判別装置の第３実施例に係る’
Ｉ’ｌｌ別回路の動作を示づ゛流れ図である。 １・・・・・・ｊジ光装置、２・・・・・・受光装置、
３・・・・・・判別回路、４・・・・・・光源、５・・
・・・・投光用光ファイバー、６・・・・・・円弧、７
・・・・・・受光用光ファイバー、８・・・・・・凸β
１（，９・・・・・・影、１０・・・・・？＋ｌｉ正回
路、１０ａ・・・・・・補正用ｃ ｐ ｖ、１０ｂ・・
・・・・インターフェイス、１゜Ｃ・・・・・・ＤΔ変
換２；、１０ｄ・・・・・・）【１１算器、１３・・・
・・・Ｃｌ） Ｕ、１ ／ｌ ・−・−ＲＡＭ、１５−
・−−−−ＲＯＭ、Ｃ−・・・被、ｌ！’Ｉ定硬貨、Ｃ
８・・・・・・基準硬貨、Ａ１〜Ａ ｚｔｒ・・・・・
・アドレス、ｄｌ−・ｄ７．・・・・・・測定データ、
Ｔｎ＋〜［１１・ｉｌ・・・・・・洛、冒（１データ、
Ｐ１〜Ｐ ２ｎ・・・・・・３ｉ１１定点、ΣＩＲ・・
・・・・受光アレー、Ｒ１〜Ｒユ・・・・・・受光素子
。 出ｌ〆１人 ］」〜レルハンクマシン株式会社代１！Ｉ
！人 弁理士 志賀正武 第１図 第２図 第４図 第７ （イ） 第６図 Ｃ口ン 第９図
の第１実施例を示すしので、第１（シ１は投光装置およ
び受光装置の側面図、第２図は第１図の■−■線に冶う
矢ネ５１図、第３図は投光用ｄ５よび受光用の光ファイ
バーの配置を承り斜視図、第４図は第１図のｆＶ −ｆ
Ｖ線に沿う矢視図、り〕ｂ図は第１図のｖ−ｖ線に沿う
矢視図、第６図はｉｌ［！ｌ定点のＩＪ２明図、第７図
（イ）、（ロ）はそれぞれ投光装置の作用説明図、第８
図は判別回路のブロック図、第９図は判別回路の動作を
示す流れ図、第１０図は硬てうｆｌＪ別装置の第２実施
例に係る判別回路の動１′１：を承り流れ図、り′５１
１ ＋、！Ｊｆ、ｉ硬貨判別装置の第３実施例に係る’
Ｉ’ｌｌ別回路の動作を示づ゛流れ図である。 １・・・・・・ｊジ光装置、２・・・・・・受光装置、
３・・・・・・判別回路、４・・・・・・光源、５・・
・・・・投光用光ファイバー、６・・・・・・円弧、７
・・・・・・受光用光ファイバー、８・・・・・・凸β
１（，９・・・・・・影、１０・・・・・？＋ｌｉ正回
路、１０ａ・・・・・・補正用ｃ ｐ ｖ、１０ｂ・・
・・・・インターフェイス、１゜Ｃ・・・・・・ＤΔ変
換２；、１０ｄ・・・・・・）【１１算器、１３・・・
・・・Ｃｌ） Ｕ、１ ／ｌ ・−・−ＲＡＭ、１５−
・−−−−ＲＯＭ、Ｃ−・・・被、ｌ！’Ｉ定硬貨、Ｃ
８・・・・・・基準硬貨、Ａ１〜Ａ ｚｔｒ・・・・・
・アドレス、ｄｌ−・ｄ７．・・・・・・測定データ、
Ｔｎ＋〜［１１・ｉｌ・・・・・・洛、冒（１データ、
Ｐ１〜Ｐ ２ｎ・・・・・・３ｉ１１定点、ΣＩＲ・・
・・・・受光アレー、Ｒ１〜Ｒユ・・・・・・受光素子
。 出ｌ〆１人 ］」〜レルハンクマシン株式会社代１！Ｉ
！人 弁理士 志賀正武 第１図 第２図 第４図 第７ （イ） 第６図 Ｃ口ン 第９図
Claims (1)
- 被測定硬貨表面の複数個所の測定点に光線を照射する投
光装置と、該投光装置から被測定硬貨に照射されて反射
した光線を前記各測定点ごとに検出して電気信号に変換
する受光装置とを備えた硬貨判別装置において、前記投
光装置で均一な反射面に光線を照射づ”ることによって
受光装置に検出された補正データと前記被測定硬貨の測
定データとを演算して該測定データの光学的不均一を補
償づる補正回路を設（プたことを特徴とづる硬貨判別装
置こ１．。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7187283A JPS59197988A (ja) | 1983-04-23 | 1983-04-23 | 硬貨判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7187283A JPS59197988A (ja) | 1983-04-23 | 1983-04-23 | 硬貨判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59197988A true JPS59197988A (ja) | 1984-11-09 |
| JPH0330911B2 JPH0330911B2 (ja) | 1991-05-01 |
Family
ID=13473036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7187283A Granted JPS59197988A (ja) | 1983-04-23 | 1983-04-23 | 硬貨判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59197988A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6120190A (ja) * | 1984-07-06 | 1986-01-28 | グローリー工業株式会社 | 硬貨等円形物体の検知装置 |
| JPH0373091A (ja) * | 1989-05-24 | 1991-03-28 | Laurel Bank Mach Co Ltd | 硬貨判別計数装置 |
| JPH0570970U (ja) * | 1992-03-02 | 1993-09-24 | 小林記録紙株式会社 | 複写帳票 |
| JPH0718868U (ja) * | 1993-09-20 | 1995-04-04 | 株式会社アオキーズ・コーポレーション | 伝 票 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5368294U (ja) * | 1976-11-11 | 1978-06-08 |
-
1983
- 1983-04-23 JP JP7187283A patent/JPS59197988A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5368294U (ja) * | 1976-11-11 | 1978-06-08 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6120190A (ja) * | 1984-07-06 | 1986-01-28 | グローリー工業株式会社 | 硬貨等円形物体の検知装置 |
| JPH0319992B2 (ja) * | 1984-07-06 | 1991-03-18 | Glory Kogyo Kk | |
| JPH0373091A (ja) * | 1989-05-24 | 1991-03-28 | Laurel Bank Mach Co Ltd | 硬貨判別計数装置 |
| JPH0570970U (ja) * | 1992-03-02 | 1993-09-24 | 小林記録紙株式会社 | 複写帳票 |
| JPH0718868U (ja) * | 1993-09-20 | 1995-04-04 | 株式会社アオキーズ・コーポレーション | 伝 票 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0330911B2 (ja) | 1991-05-01 |
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