JPS59197986A - 硬貨判別装置 - Google Patents
硬貨判別装置Info
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- JPS59197986A JPS59197986A JP7187083A JP7187083A JPS59197986A JP S59197986 A JPS59197986 A JP S59197986A JP 7187083 A JP7187083 A JP 7187083A JP 7187083 A JP7187083 A JP 7187083A JP S59197986 A JPS59197986 A JP S59197986A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は硬貨判別装置に関するものである。
従来、硬貨入金機等における硬貨の真偽および金種の判
別は、硬貨の径、厚さ、材質などの測定データに基づい
て行なわれているが、比較的高額の５００円硬貨の流通
にともない、精密な判定方式、例えば硬貨表面のパター
ン（図柄）を読取って判別を行なう方式の採用が望まれ
る傾向がある。
別は、硬貨の径、厚さ、材質などの測定データに基づい
て行なわれているが、比較的高額の５００円硬貨の流通
にともない、精密な判定方式、例えば硬貨表面のパター
ン（図柄）を読取って判別を行なう方式の採用が望まれ
る傾向がある。
ところで、紙幣の判別方式の一つとして紙幣がある。
パターンを光学的に読取る方式が知られているが、この
方式は、次のような理由により、硬貨に適用することが
困難である。
方式は、次のような理由により、硬貨に適用することが
困難である。
（ａ）紙幣は長方形状の組であるから、ほぼ一定の姿勢
で紙幣判別機等に投入されるが、硬貨は円板状であるか
ら、種々の姿勢で硬貨計数機等に投入されることになり
、姿勢のの相）によって異なるパターンが検出される。
で紙幣判別機等に投入されるが、硬貨は円板状であるか
ら、種々の姿勢で硬貨計数機等に投入されることになり
、姿勢のの相）によって異なるパターンが検出される。
（ｂ）紙幣のパターンは、インクの色調、濃淡によって
表現されているが、硬貨のパターンは硬貨表面の凹凸と
して表現されているため、色調、濃淡の差がほとんどな
い。
表現されているが、硬貨のパターンは硬貨表面の凹凸と
して表現されているため、色調、濃淡の差がほとんどな
い。
（ｃ）紙幣のパターンの判別装置が比較的高価格である
ため、硬貨判別装置のコストが高くなる。
ため、硬貨判別装置のコストが高くなる。
本発明は前記の事情に鑑みてなされてもので、前記（ａ
）ないし（ｃ）の問題点のうち、特に（Ｄ）の問題点を
解決して、硬貨の表面にその凹凸として表現されたパタ
ーンを光学的に読取ることが可能な硬貨判別装置を得る
ことが目的とし、その特徴とするところは、硬貨に、該
硬化の表面に対して傾斜した方向から光線を照射して硬
貨表面の凹凸に応じた陰影を生じさせる点にある。
）ないし（ｃ）の問題点のうち、特に（Ｄ）の問題点を
解決して、硬貨の表面にその凹凸として表現されたパタ
ーンを光学的に読取ることが可能な硬貨判別装置を得る
ことが目的とし、その特徴とするところは、硬貨に、該
硬化の表面に対して傾斜した方向から光線を照射して硬
貨表面の凹凸に応じた陰影を生じさせる点にある。
以下本発明を図面に示す硬貨判別装置の実施例に基づい
て説明する。
て説明する。
第１図ないし第１０図は硬貨判別装置の第１実施例を示
すもので、この硬貨判別装置は、第１図ないし第８図に
示す如く投光装置１によって被測定硬貨Ｃの表面に陰影
を生じさせるとともに、この陰影を受光装置２によって
読取り、さらに、受光装置２で読取った信号を第９図お
よび第１０図に示す判別回路３で判別するようにした基
体構成となっている。
すもので、この硬貨判別装置は、第１図ないし第８図に
示す如く投光装置１によって被測定硬貨Ｃの表面に陰影
を生じさせるとともに、この陰影を受光装置２によって
読取り、さらに、受光装置２で読取った信号を第９図お
よび第１０図に示す判別回路３で判別するようにした基
体構成となっている。
前記投光装置１は、光源４と該光源４から発せられた光
線を被測定硬貨Ｃの表面に導く多数の投光用光ファイバ
ー５とから構成され、該光ファイバー５の基端部５ａは
光源４に対向させられ、方光ファイバー５の先端部５ｂ
は、被測定硬貨Ｃの表面に対向させられている。また、
前記投光用光ファイバー５の先端部５ｂは、被測定硬貨
Ｃの中心を通る軸線Ｌ（第８図参照）とそれぞれ等しい
角度で交差する方向に向けて配置されるとともに、被測
定硬貨Ｃの周方向に等ピッチで並べられている。
線を被測定硬貨Ｃの表面に導く多数の投光用光ファイバ
ー５とから構成され、該光ファイバー５の基端部５ａは
光源４に対向させられ、方光ファイバー５の先端部５ｂ
は、被測定硬貨Ｃの表面に対向させられている。また、
前記投光用光ファイバー５の先端部５ｂは、被測定硬貨
Ｃの中心を通る軸線Ｌ（第８図参照）とそれぞれ等しい
角度で交差する方向に向けて配置されるとともに、被測
定硬貨Ｃの周方向に等ピッチで並べられている。
一方、前記受光装置２は、受光アレーＥＺＲ（受光素子
Ｒ：〜Ｒ ｒ＋． ）と、前記硬貨Ｃの表面に現われた
陰影を受光素子Ｒ１〜Ｒｎにそれぞれ伝達る多数（ｎ本
）の受光用光ファイバー７とか構成されていれる。そし
て、受光用光ファイバー７の基端部７ａは、前記受光素
子Ｒ１〜Ｒμに対向して、第５図に示す如く直線状に配
列され、一方先端部７ｂは、第４図に示すように、被測
定硬貨Ｃ上の円弧６とそれそれ直交する如く、すなわち
、被測定硬貨Ｃの中心と直交する直線を軸とする円筒面
に沿って配列されている。そして、各受光用光ファイバ
ー７の先端部７ｂは、側定点Ｐ１〜Ｐの一部（例えばＰ
１〜ＰｎあるいはＰ３〜Ｐ、にそれぞれ対向させられて
、測定点Ｐ１〜Ｐにおける陰影を測定している。しって
、この第１実施例では、被測定硬貨Ｃの全周にわたる２
ｎ個の測定点Ｐ１〜Ｐ２ｎのうちｎ箇所、すなわち、半
周にわたって測定が行なわれることになる。
Ｒ：〜Ｒ ｒ＋． ）と、前記硬貨Ｃの表面に現われた
陰影を受光素子Ｒ１〜Ｒｎにそれぞれ伝達る多数（ｎ本
）の受光用光ファイバー７とか構成されていれる。そし
て、受光用光ファイバー７の基端部７ａは、前記受光素
子Ｒ１〜Ｒμに対向して、第５図に示す如く直線状に配
列され、一方先端部７ｂは、第４図に示すように、被測
定硬貨Ｃ上の円弧６とそれそれ直交する如く、すなわち
、被測定硬貨Ｃの中心と直交する直線を軸とする円筒面
に沿って配列されている。そして、各受光用光ファイバ
ー７の先端部７ｂは、側定点Ｐ１〜Ｐの一部（例えばＰ
１〜ＰｎあるいはＰ３〜Ｐ、にそれぞれ対向させられて
、測定点Ｐ１〜Ｐにおける陰影を測定している。しって
、この第１実施例では、被測定硬貨Ｃの全周にわたる２
ｎ個の測定点Ｐ１〜Ｐ２ｎのうちｎ箇所、すなわち、半
周にわたって測定が行なわれることになる。
前記投光装置１および受光装置２による測定の原理を一
般的に示せば、投光装置１の投光用光ファイバー５の先
端部５ｂは、第８図に示すように、被測定硬貨Ｃの中心
を通る軸線Ｌを軸とする仮想円錐面Ａの周面に沿って配
置されて、矢印（イ）で示す如く被測定硬貨Ｃに斜方向
から光線を照射し、一方、受光用光ファイバー７の先端
部７ｂは、前記軸線Ｌを軸とする仮想円筒面Ｂの周面に
沿って配置されて、矢印（ロ）で示す如く被測定硬貨Ｃ
で反射した光線を読取っている。
般的に示せば、投光装置１の投光用光ファイバー５の先
端部５ｂは、第８図に示すように、被測定硬貨Ｃの中心
を通る軸線Ｌを軸とする仮想円錐面Ａの周面に沿って配
置されて、矢印（イ）で示す如く被測定硬貨Ｃに斜方向
から光線を照射し、一方、受光用光ファイバー７の先端
部７ｂは、前記軸線Ｌを軸とする仮想円筒面Ｂの周面に
沿って配置されて、矢印（ロ）で示す如く被測定硬貨Ｃ
で反射した光線を読取っている。
そして、前記投光装置１の投光用光ファイバー５によっ
て第７図矢印で示す如く被測定硬貨Ｃに投光すると、孤
測定硬貨Ｃが第７図（イ）に示す位置にある場合、被測
定硬貨Ｃが第７図（ロ）に示す位置にある場合のいずれ
の場合にも、被測定硬貨Ｃの凹部８の内側に同一形状の
影９が生じ、この影９が、受光用光ファイバー７を介し
て、受光アレーΣＲに読取られる。
て第７図矢印で示す如く被測定硬貨Ｃに投光すると、孤
測定硬貨Ｃが第７図（イ）に示す位置にある場合、被測
定硬貨Ｃが第７図（ロ）に示す位置にある場合のいずれ
の場合にも、被測定硬貨Ｃの凹部８の内側に同一形状の
影９が生じ、この影９が、受光用光ファイバー７を介し
て、受光アレーΣＲに読取られる。
次いで、前記判別回路３を第９図を参照して説明すれば
、この判別回路３は、受光アレーΣＲに補正回路１０を
介して接続されており、該補正回路１０により、前記投
光用、受光用の光ファイバーの品質、加工精度の付近一
による誤差が補正されるようになっている。そして、判
別回路３は、受光アレーΣＲにＡＤ変換器１１およびイ
ンターフェイス１２を介して接続されたＣＰＵ１３と、
該ＣＰＵ１３に接続されたＲＡＭ１４およびＲＯＭ１５
とから構成されている。前記ＲＯＭ１５には、基準硬貨
ＣＳの全周にわたる測定点Ｐ１〜Ｐ ２ｎ（第６図参照
）の基準データｍ１〜ｍｎが記憶されており、これらの
基準データｍ１〜ｍ２は、第１表の１−１の欄に示す如
く、ＲＡＭ１４のアドレスＡ１〜Ａ２２にそれぞれ対応
させて読込まる。また、このＲＡＭ１４の前記Ａ１〜Ａ
２ｎ以外のアドレスには、受光アレーΣＲの測定データ
ｄ１〜ｄｎが記憶される。
、この判別回路３は、受光アレーΣＲに補正回路１０を
介して接続されており、該補正回路１０により、前記投
光用、受光用の光ファイバーの品質、加工精度の付近一
による誤差が補正されるようになっている。そして、判
別回路３は、受光アレーΣＲにＡＤ変換器１１およびイ
ンターフェイス１２を介して接続されたＣＰＵ１３と、
該ＣＰＵ１３に接続されたＲＡＭ１４およびＲＯＭ１５
とから構成されている。前記ＲＯＭ１５には、基準硬貨
ＣＳの全周にわたる測定点Ｐ１〜Ｐ ２ｎ（第６図参照
）の基準データｍ１〜ｍｎが記憶されており、これらの
基準データｍ１〜ｍ２は、第１表の１−１の欄に示す如
く、ＲＡＭ１４のアドレスＡ１〜Ａ２２にそれぞれ対応
させて読込まる。また、このＲＡＭ１４の前記Ａ１〜Ａ
２ｎ以外のアドレスには、受光アレーΣＲの測定データ
ｄ１〜ｄｎが記憶される。
次いで、前記判別回路３の動作を第１０図を参照して説
明する。なお、以下の説明中ＳＮは、Ｎ番目のステップ
を示すものとする。
明する。なお、以下の説明中ＳＮは、Ｎ番目のステップ
を示すものとする。
Ｓ１：スタート
Ｓ２：受光アレーΣＦにより、被測定硬貨Ｃの測定点Ｐ
１〜Ｐ２ｎのうち周方向に連続するｎ個所のデータｄＩ
〜ｄｎを読取ってＲＡｉＶ１４に記憶させる。
１〜Ｐ２ｎのうち周方向に連続するｎ個所のデータｄＩ
〜ｄｎを読取ってＲＡｉＶ１４に記憶させる。
Ｓ３：ｉに１を代入する。
Ｓ４：ｄ１〜ｄｎとＡ１〜Ａｎ内のデータ（１＝１にお
いては、Ａ１＝ｍ１、Ａ２＝ｍ２・・・Ａｎ＝ｍｎ）と
をそれぞれ比較し、両データを比較して、一致度を検出
する。
いては、Ａ１＝ｍ１、Ａ２＝ｍ２・・・Ａｎ＝ｍｎ）と
をそれぞれ比較し、両データを比較して、一致度を検出
する。
Ｓ５：所定の一致度を満足するか否か（例えば一致度９
５％とは、Ａ１〜Ａｎ内のデータと測定データｄ１〜ｄ
ｎの９５％が一致していることをいう）を判断し、所定
の一致度を満足する場合にはＳ６へ、満足しない場合に
はＳ７へ進む。
５％とは、Ａ１〜Ａｎ内のデータと測定データｄ１〜ｄ
ｎの９５％が一致していることをいう）を判断し、所定
の一致度を満足する場合にはＳ６へ、満足しない場合に
はＳ７へ進む。
Ｓ６：Ａｃｃｅｐｔ信号、すなわち、硬貨が受入れ可能
であることを表わす信号を発生させる。
であることを表わす信号を発生させる。
Ｓ７：ｉにｉ＋１を代入する。
Ｓ８：１て２ｎか否か、すなわち所定回数の判別動作が
行なわれたか否かを判別し、所定回数行なわれている場
合には、換言すれば、２ｎ回連続して一致度が所定値を
下回る場合には、Ｓ９へ進んでＱＮ０１＋−ＡＣＯｆ！
Ｉｌｌ｛信号、すなわち、硬貨が受入れ不可能であるこ
とを表わす信号を発生させる。
行なわれたか否かを判別し、所定回数行なわれている場
合には、換言すれば、２ｎ回連続して一致度が所定値を
下回る場合には、Ｓ９へ進んでＱＮ０１＋−ＡＣＯｆ！
Ｉｌｌ｛信号、すなわち、硬貨が受入れ不可能であるこ
とを表わす信号を発生させる。
また、所定回数の判別動作が行なわれていない場合には
、Ｓ１０へ進む。
、Ｓ１０へ進む。
Ｓ１０：第１表に示すように、ｉ＝ｉ＋１によりｉが増
加するに従い、アドレスＡ１内のデータをアドレスＡ２
ｎに移すとともに、ｊ番目のアドレス（例えばアドレス
Ａ２ｍのデータ）をＪ−１番目のアドレス（例えばアド
レスΔ２＋ｌ−ｉ）に順次移動させてＳ４へもどる。以
下、Ｓ４、Ｓ５、Ｓ６もしくは、Ｓ４、ＳＳ５．Ｓ７．
Ｓ８．Ｓ９を経てＳ１１に到って動作が終了するか、あ
るいは、Ｓ／１，Ｓ５、Ｓ７、Ｓ８、Ｓ１０の動作を繰
り返すＳ１１：動作終了。
加するに従い、アドレスＡ１内のデータをアドレスＡ２
ｎに移すとともに、ｊ番目のアドレス（例えばアドレス
Ａ２ｍのデータ）をＪ−１番目のアドレス（例えばアド
レスΔ２＋ｌ−ｉ）に順次移動させてＳ４へもどる。以
下、Ｓ４、Ｓ５、Ｓ６もしくは、Ｓ４、ＳＳ５．Ｓ７．
Ｓ８．Ｓ９を経てＳ１１に到って動作が終了するか、あ
るいは、Ｓ／１，Ｓ５、Ｓ７、Ｓ８、Ｓ１０の動作を繰
り返すＳ１１：動作終了。
さらに、前記動作で受入れ不能となった場合、基準硬貨
ＣＳの他の面についての基準データｍ１〜ｍ２ｎと測定
データＤ１〜ｄｎとをＳ１へ、Ｓ１’Ｉの動作によって
比較して、硬貨の両面についてＮζ）１），′＼Ｇ Ｃ
Ｃ！ｐ Ｉど判別された硬貨の力を排除すればよい。
ＣＳの他の面についての基準データｍ１〜ｍ２ｎと測定
データＤ１〜ｄｎとをＳ１へ、Ｓ１’Ｉの動作によって
比較して、硬貨の両面についてＮζ）１），′＼Ｇ Ｃ
Ｃ！ｐ Ｉど判別された硬貨の力を排除すればよい。
また、前記動作では真偽の判別のみが行なわれるが、各
金種の硬貨の基準データについて前記動作を繰り返すこ
とにより、金種の判別を行なうことも可能である。
金種の硬貨の基準データについて前記動作を繰り返すこ
とにより、金種の判別を行なうことも可能である。
次いで、第１１図に従って、硬貨判別装置の第２実施例
に係る判別回路の動作を説明する。なお、この判別回路
のＲ Ｏ Ｍは、基準となるデータｍ１〜ｍ２ｎに対し
て（３ｎ−１）個のアドレス△１’−’ Ａ ３７１−
１を有し、これらのアドレスΔ１〜Ａ ３＋１−ｉに（
Ｊ．第２表に示す如く、ｍ１〜ｍ２ｎおよびｍ１〜ｍｎ
−ｉのデータが記憶されている。
に係る判別回路の動作を説明する。なお、この判別回路
のＲ Ｏ Ｍは、基準となるデータｍ１〜ｍ２ｎに対し
て（３ｎ−１）個のアドレス△１’−’ Ａ ３７１−
１を有し、これらのアドレスΔ１〜Ａ ３＋１−ｉに（
Ｊ．第２表に示す如く、ｍ１〜ｍ２ｎおよびｍ１〜ｍｎ
−ｉのデータが記憶されている。
一方、ＲＡＭには、側定データｄｉ〜ｄｎが記憶される
。
。
Ｓ２１：スタート
Ｓ２２：受光アレーΣＲにより，硬貨Ｃの測定点Ｐ〜Ｐ
２ｎのうち、周方向に連続するｍ個所のデータｄ１〜ｄ
ｎ読取ってＲＡＭ１４に記憶させる。
２ｎのうち、周方向に連続するｍ個所のデータｄ１〜ｄ
ｎ読取ってＲＡＭ１４に記憶させる。
Ｓ２ Ｊ：ｉ＝０を代入する。
Ｓ２４：測定データｄ１〜ｄｎと アドレスΔ１，１−
・７へ，１，）の基準データ（例えばｍ１〜ｍ２ｎ）と
の一致度を判別する。
・７へ，１，）の基準データ（例えばｍ１〜ｍ２ｎ）と
の一致度を判別する。
Ｓ２５：所定の一致度（例えば９５ ％ ）を満足する
か否かを判断じ、満足する場合にはＳ２６へ、満足しな
い場合にはＳ２７へ進む。
か否かを判断じ、満足する場合にはＳ２６へ、満足しな
い場合にはＳ２７へ進む。
Ｓ２６：ＤＬＬ’信号を発生する。
Ｓ２７：ｉにｉ−１を代入する。
Ｓ２８；ｉ＜２ｎか否か、すなりも所定回数の判別動作
が行なわれたか否かを判断し、ＮＯの場合にはＳ２９へ
進んでＮＯ＋１−八ｃｃｅｐｔ｛＝号を発生させ．Ｙ［
Ｅｓｔ７）ｊｎ会に１．１、Ｓ２４へもどる。１そして
、ｉを一つずつ加算しながら、アドレスΔｌ１！−ＡＩ
＋？，内のち基準データと測定データとの比較を繰り返
す。
が行なわれたか否かを判断し、ＮＯの場合にはＳ２９へ
進んでＮＯ＋１−八ｃｃｅｐｔ｛＝号を発生させ．Ｙ［
Ｅｓｔ７）ｊｎ会に１．１、Ｓ２４へもどる。１そして
、ｉを一つずつ加算しながら、アドレスΔｌ１！−ＡＩ
＋？，内のち基準データと測定データとの比較を繰り返
す。
Ｓ２９：所定の一致度が満たされてないまま２ｎ回の判
別動作が行なわれると、Ｎ（ｌｌ１−ＡＣ （； ｅｌ
ｌ Ｉ信号を発生させる。
別動作が行なわれると、Ｎ（ｌｌ１−ＡＣ （； ｅｌ
ｌ Ｉ信号を発生させる。
Ｓ３０：動作終了。
さらに、前述の動作で受入れ不能となった場合、前述の
第１実施例で説明したように、基準硬貨ＣＳの他の面の
基準データと測定データとを比較して、硬貨の両面につ
いてＮ ｏｎ −Ａ ｃｃＢｔど゛判別されたものを排
除すればよい。
第１実施例で説明したように、基準硬貨ＣＳの他の面の
基準データと測定データとを比較して、硬貨の両面につ
いてＮ ｏｎ −Ａ ｃｃＢｔど゛判別されたものを排
除すればよい。
次いで、第１２図に従って、硬貨判別装置の第３実施例
に係る判別回路の動作を説明する。なお、この判別回路
のＲＯＭは、第３表に示すように２ｎ個のメモリＭ１〜
Ｍ２ｎを有し、これらのメモリＭ１〜Ｍ２ｎには、第３
表に示すように、ｍｉ〜ｍ２ｎからそれぞれ始まる基準
データ群が記憶されている。また、Ｒ Ａ Ｍには、測
定データｄ１〜ｄｎが記憶される。
に係る判別回路の動作を説明する。なお、この判別回路
のＲＯＭは、第３表に示すように２ｎ個のメモリＭ１〜
Ｍ２ｎを有し、これらのメモリＭ１〜Ｍ２ｎには、第３
表に示すように、ｍｉ〜ｍ２ｎからそれぞれ始まる基準
データ群が記憶されている。また、Ｒ Ａ Ｍには、測
定データｄ１〜ｄｎが記憶される。
Ｓ４１：スタート
Ｓ４２：ｄ１〜ｄｎ（これらのデータ群をＤとする）を
検出、記憶する。
検出、記憶する。
Ｓ４３：ｉに１を代入
Ｓ４４：ＤとＭｉ（ｉ番目のメモリに記憶されたデータ
群）との一致度を判別 Ｓ４５：所定の一致度を満足するが否かを判断し、満足
する場合にはＳ４６へ、満足しない場合にはＳ ４７へ
進む。
群）との一致度を判別 Ｓ４５：所定の一致度を満足するが否かを判断し、満足
する場合にはＳ４６へ、満足しない場合にはＳ ４７へ
進む。
’８４６：ｊ〜ｃｃｅｐｔ信号を発生させる。
Ｓ４７：ｉにｉ＋１を代入する。
Ｓ４８：ｉ≦２ｎか否か、すなわち、所定回数判別動作
が行われたか否かを判断し，ＮＯの場合にはＳ４９へ進
んでＮＯ「レ△ｃｃｃｐｔイ信号を発生させ、ＹＥＳの
場合には、Ｓ４４へもどる。
が行われたか否かを判断し，ＮＯの場合にはＳ４９へ進
んでＮＯ「レ△ｃｃｃｐｔイ信号を発生させ、ＹＥＳの
場合には、Ｓ４４へもどる。
そして、ｉを一つづつ加算しながら、ＤとＭｉとの比較
を繰り返す。
を繰り返す。
Ｓ４９：所定の一致度が満足されないまま２ｎ回の判別
動作が行なわれると、ｉ’Ｑｆｉｌｌ−△Ｃ Ｃ Ｃ
［Ｉ Ｉ｛信号を発生させる。
動作が行なわれると、ｉ’Ｑｆｉｌｌ−△Ｃ Ｃ Ｃ
［Ｉ Ｉ｛信号を発生させる。
Ｓ５０：動作終了。
さらに、前述の動作で受入れ不能となった場合、第１実
施例で説明したように、基準硬貨ＣＳの他の面の基準デ
ータと測定データとを比較して、硬貨の両面についてＮ
Ｏｌｌ− Ａ ｃｃｃｐｔと判別いれたしのを排除す
ればよい。
施例で説明したように、基準硬貨ＣＳの他の面の基準デ
ータと測定データとを比較して、硬貨の両面についてＮ
Ｏｌｌ− Ａ ｃｃｃｐｔと判別いれたしのを排除す
ればよい。
なお、本発明に係る硬貨判別方法は前記各実施例に限定
されるものではなく、例えば、下記のごとき態様による
実施も可能である。
されるものではなく、例えば、下記のごとき態様による
実施も可能である。
（ｉ）前記各実施例では、被測定硬貨の半周にわたって
測定を行なったが、被測定硬貨の全周にわたって、もし
くは、１／ｋ周わたって測定を行なって、測定データと
基準データとの比較を行なう。
測定を行なったが、被測定硬貨の全周にわたって、もし
くは、１／ｋ周わたって測定を行なって、測定データと
基準データとの比較を行なう。
（ｉｉ）前記各実施例では、投光用光ファイバーの先端
部をそれぞれ測定点に対向させたが、一つの投光用光フ
ァイバーで複数個ずつの測定点に光線を照射する。
部をそれぞれ測定点に対向させたが、一つの投光用光フ
ァイバーで複数個ずつの測定点に光線を照射する。
（ｉｉｉ）前記各実施例では、被測定硬貨上の円弧の外
方から内方に向けて光線を照射して、硬貨表面の凸部の
内側に影を発生させたが、前記円弧の内方から外方に向
けて光線を照射して、前記凸部の外側に影を発生させる
。
方から内方に向けて光線を照射して、硬貨表面の凸部の
内側に影を発生させたが、前記円弧の内方から外方に向
けて光線を照射して、前記凸部の外側に影を発生させる
。
（ｉｖ）前記（ｉｉｉ） において、例えば、点光源か
ら放射状に照射される光線を利用する。
ら放射状に照射される光線を利用する。
（ｖ）投光装置として、被測定硬貨に斜から平行光線を
照射する装置を使用する。この場合、硬貨の姿勢によっ
て異なるパターンの陰影が発生するから、硬貨の姿勢ご
とに異なる多数種のパターンをあらかじめ記憶しておき
、硬貨の姿勢を別途に検出して、検出された姿勢におけ
る基本データとの比較を行なう。
照射する装置を使用する。この場合、硬貨の姿勢によっ
て異なるパターンの陰影が発生するから、硬貨の姿勢ご
とに異なる多数種のパターンをあらかじめ記憶しておき
、硬貨の姿勢を別途に検出して、検出された姿勢におけ
る基本データとの比較を行なう。
以上説明したように、本発明は、被測定硬貨に該硬貨の
表面に対して傾斜した方向から光線を照射することを特
徴とするもので、被測定硬貨の表面の凹凸として表現さ
れたパターンに応じた陰影を被測定硬貨の表面に発生さ
せて、光学的手段を介して容易に硬貨の判別を行なうこ
とができるという効果を奏する。
表面に対して傾斜した方向から光線を照射することを特
徴とするもので、被測定硬貨の表面の凹凸として表現さ
れたパターンに応じた陰影を被測定硬貨の表面に発生さ
せて、光学的手段を介して容易に硬貨の判別を行なうこ
とができるという効果を奏する。
第１図ないし第１０図は本発明を適用した硬貨判別装置
の第１実施例を示すもので、第１図は投光装置および受
光装置の側面図、第２図は第１図の■−■線に沿う失視
図、第３図は投光用および受光用の光ファイバーの配置
を示す斜視図、第４図は第１図のＩＶ−ＩＶ線に沿う矢
視図、第５図は第１図のＶ−ｖ線に沿う矢視図、第６図
は測定点の説明図、第７図（イ）、（ロ）はそれぞれ投
光装置の作用説明図、第８図は投光方向および受光方向
の説明図、第９図は判別回路のブロック図、第１０図は
判別回路の動作を示す流れ図、第１１図は硬貨判別装置
の第２実施例に係る判別回路の動作を示す流れ図、第１
２図は硬貨判別装置の第３実施例に係る判別回路の動作
を示す流れ図である。 １・・・・・投光装置、２・・・・・・受光装置、３・
・・・・・判別回路、４・・・・・・光源、５・・・・
・投光用光ファイバー、５ａ・・・・・・基端部、５
ｂ・・・・・・先端部、６・・・・・円弧、７・・・・
・・受光用光ファイバー、８・・・・・・凸部、９・・
・・・・影、１３ − − Ｃ Ｐ Ｕ，、１４−・・
−Ｒ Ａ ｔｖｉ、１５・・・・・ＲＯＭ，Ｃ・・・・
・・被測定硬貨、ＯＳ・・・・・・基準硬貨、Ｌ・・・
・・・中心軸線、Ａ１〜Ａ ３Ｔｒ・・・・・・アドレ
ス、ｄ１〜ｄｎ・・・・・・測定データ、ＴＩｌ＋・へ
・Ｔｎ ２．・・・・・・基準データ、Ｐ１〜Ｐ２，？
・・・・測定点、ΣＲ・・・・・・受光アレー、Ｒ１−
・川テ，，・・・・・・受光素子。 出Ｂ／ｉ人口−レルバンク、νシン株式会社代理人ブ？
３甲七；占１“ｌｉ ｉＴ：． Ｄ′（Ｑ鵠冷）・ぐ竺
光ノ
の第１実施例を示すもので、第１図は投光装置および受
光装置の側面図、第２図は第１図の■−■線に沿う失視
図、第３図は投光用および受光用の光ファイバーの配置
を示す斜視図、第４図は第１図のＩＶ−ＩＶ線に沿う矢
視図、第５図は第１図のＶ−ｖ線に沿う矢視図、第６図
は測定点の説明図、第７図（イ）、（ロ）はそれぞれ投
光装置の作用説明図、第８図は投光方向および受光方向
の説明図、第９図は判別回路のブロック図、第１０図は
判別回路の動作を示す流れ図、第１１図は硬貨判別装置
の第２実施例に係る判別回路の動作を示す流れ図、第１
２図は硬貨判別装置の第３実施例に係る判別回路の動作
を示す流れ図である。 １・・・・・投光装置、２・・・・・・受光装置、３・
・・・・・判別回路、４・・・・・・光源、５・・・・
・投光用光ファイバー、５ａ・・・・・・基端部、５
ｂ・・・・・・先端部、６・・・・・円弧、７・・・・
・・受光用光ファイバー、８・・・・・・凸部、９・・
・・・・影、１３ − − Ｃ Ｐ Ｕ，、１４−・・
−Ｒ Ａ ｔｖｉ、１５・・・・・ＲＯＭ，Ｃ・・・・
・・被測定硬貨、ＯＳ・・・・・・基準硬貨、Ｌ・・・
・・・中心軸線、Ａ１〜Ａ ３Ｔｒ・・・・・・アドレ
ス、ｄ１〜ｄｎ・・・・・・測定データ、ＴＩｌ＋・へ
・Ｔｎ ２．・・・・・・基準データ、Ｐ１〜Ｐ２，？
・・・・測定点、ΣＲ・・・・・・受光アレー、Ｒ１−
・川テ，，・・・・・・受光素子。 出Ｂ／ｉ人口−レルバンク、νシン株式会社代理人ブ？
３甲七；占１“ｌｉ ｉＴ：． Ｄ′（Ｑ鵠冷）・ぐ竺
光ノ
Claims (1)
- １．被測定硬貨表面の凹凸に該硬化表面に対して傾斜し
た方向から光線を照射して硬貨表面に陰影を生じさせる
投光装置と、該投光装置によって生じさせた陰影を読取
る受光装置とを備えたことを特徴とする硬貨判別装置。 ２、前記投光装置が、光源と、該光源から被測定硬貨の
表面に光線を導く多数の光ファイバーとからなり、各光
ファイバーの基端部がそれぞれ前記光源に対向させられ
、各光ファイバーの先端部が、前記被測定硬貨の中心を
通る軸線にそれぞれ等しい角度で交差する直線上に設け
られるとともに前記被測定硬貨の周方向に等ピッチで配
置されたことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
硬貨判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7187083A JPS59197986A (ja) | 1983-04-23 | 1983-04-23 | 硬貨判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7187083A JPS59197986A (ja) | 1983-04-23 | 1983-04-23 | 硬貨判別装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59197986A true JPS59197986A (ja) | 1984-11-09 |
Family
ID=13472979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7187083A Pending JPS59197986A (ja) | 1983-04-23 | 1983-04-23 | 硬貨判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59197986A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5197496A (ja) * | 1975-02-22 | 1976-08-27 |
-
1983
- 1983-04-23 JP JP7187083A patent/JPS59197986A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5197496A (ja) * | 1975-02-22 | 1976-08-27 |
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