JPS5919327A - イオンボンバ−ドによる表面処理方法 - Google Patents

イオンボンバ−ドによる表面処理方法

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Publication number
JPS5919327A
JPS5919327A JP12756282A JP12756282A JPS5919327A JP S5919327 A JPS5919327 A JP S5919327A JP 12756282 A JP12756282 A JP 12756282A JP 12756282 A JP12756282 A JP 12756282A JP S5919327 A JPS5919327 A JP S5919327A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
voltage
ion
ion bombardment
negative
Prior art date
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Pending
Application number
JP12756282A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsugi Enomoto
榎本 貢
Yoji Yoshikawa
吉川 洋治
Masao Koshi
越 雅夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Citizen Holdings Co Ltd
Citizen Watch Co Ltd
Original Assignee
Citizen Holdings Co Ltd
Citizen Watch Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Citizen Holdings Co Ltd, Citizen Watch Co Ltd filed Critical Citizen Holdings Co Ltd
Priority to JP12756282A priority Critical patent/JPS5919327A/ja
Publication of JPS5919327A publication Critical patent/JPS5919327A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、イオンブレーティングや蒸着の際の表面清
浄化と加熱昇温のための基板表面処理。
及び一種の表面加工であるエツチングを含むイオンボン
バードによる表面処理方法に関する。
蒸着やイオンブレーティングは、基板(薄膜を形成すべ
き部材を総称する)に薄膜を形成する手段として多用さ
れている。
この蒸着やイオンブレーティングを行なう際には、予め
基板の表面を清浄化(クリーニング)して加熱昇温する
ために1通常イオンボンバードによる表面処理が行なわ
れている。
第1図は、電子ビーム蒸発源を使用するイオンブレーテ
ィング装置の一例を示す構成図であり、真空容器である
ベルジャ1内に、電子ビーム蒸発源2と基板3とを対向
配置し、その中間にプローブ4を配置すると共に、この
プローブと対向する側部にフィラメント5を設けている
なお、6は蒸発用電源、7はプローブ用直流電源、8は
基板用直流電源、9はフィラメント用交流電源である。
このようなイオンブレーティング装置によって、基板3
の表面に薄膜を形成するには、先ず、蒸発用電源7はオ
フにしたままで、交流電源9によってフィラメント5を
加熱して電子を放出させ、直流電源7によってプローブ
4に20〜50Vの正電圧を印加し、フィラメント5ら
放出された電子を加速してベルジャ1内の雰囲気ガス(
例えばアルゴン)分子に衝突させてイオン化する。
このイオンを、直流電源8によって100〜200v程
度の負電圧を印加した基板3に引付けてその表面に衝突
させることによってイオンボンバードを行ない、基板3
の表面を清浄化し加熱昇温する。
次に、フィラメント用交流電源9をオフにして、蒸発用
電源6をオンにし、蒸発源2のフイラメン1〜を加熱す
ると共に5〜10 KVの負の高電圧によって電子ビー
ムを放出させ、マグネツ1へによって偏向させて水冷し
たるつぼ上の蒸発材(例えばチタン)10を照射して加
熱し、蒸発させる。
同時に、アースされたるつぼから電子を放出させ、プロ
ーブ4に引付けて蒸発物質に衝突させ、プラズマ状態を
つくる。 そして、負電圧を印加した基板3の表面に、
このイオン化した蒸発物質又はそれと雰囲気ガスとの化
合物を付着させて薄膜を形成する。
このようなイオンブレーティングの前処理としてイオン
ボンバードを行なう際、従来は薄膜形成時と同様に直流
電源8によって負の直流電圧を基板3に印加していた。
そのため、ゴミの付着やその他の原因により基板表面に
異常放電が生ずると、それが持続成長するため基板3の
表面に稲妻状あるいは虫食い状の傷が走り、商品価値が
なくなってしまうことがあった。
このようなことは、第1図に示した装置のようなフィラ
メントやプローブを使わないイオンボンバードにおいて
も、あるいは蒸着の際のクリーニングや、エツチング加
工においても同様である。
この発明は、このような問題を解決するためになされた
もので、イオンボンバードによる基板(被処理物品)の
表面処理の際に、異常放電による大きな傷ができないよ
うにすることを目的とする。
そのため、この発明は、イオンボンバード時に基板に印
加する電圧をパルス状にして、異常放電が起っても持続
しないようにしたイオンボンバードによる表面処理方法
を提供するものである。
第2図は、この発明を実施するイオンブレーティング装
置の一例を示す構成図であり、第1図と異なる点は、基
板3にアース(ベルジャ1.蒸発源2.フィラメント5
もアースしである)に対して負電圧を印加するための電
源回路11として、3− 直流電圧とを切換えて出力し得るものを使用した点であ
る。
この電源回路11は、例えば第3図(イ)に示すような
3相全波整流波形の負の直流電圧と、同図(ロ)に示す
ように3相のうちの1相のみの半波整流波形の負のパル
ス電圧とを、手動又は自動的に切換えて出力できるよう
になっている。
そして、イオンボンバード時には、基板3にパルス電圧
を印加し、イオンブレーティング時には直流電圧を印加
する。
このようにすれば、イオンボンバードによる基板3の表
面の清浄化及び加熱昇温処理中に、異常放電が起っても
印加電圧が断続するためlパルス間しか持続せず、大き
く成長することができないので、基板3の表面に目立つ
ような傷ができることはない。
なお、イオンブレーティング中基板3に電圧を印加しな
い方式のイオンブレーティングや蒸着の前処理、あるい
はエツチング加工のためのイオンボンバード等において
は、基板に電圧を印加する4− ための電源として単にパルス電源を用いればよく、その
パルス波形も単相交流の半波整流波形に限るものではな
い。
以上説明したように、この発明によれば、イオンボンバ
ードによる物品の表面処理中に異常放電が起っても、そ
れが長時間持続することがなくなるので、被処理物品の
表面に稲妻状あるいは虫食い状の目立つ傷ができること
がなく、製品の歩留りが大幅に向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のイオンブレーティング装置の一例を示
す構成図である。 第2図は、この発明を実施するイオンブレーティング装
置の一例を示す構成図である。 第3図(イ)、(ロ)は、それぞれ第2図の装置におい
て、イオンブレーティング時とイオンボンバード時に基
板に印加する電圧波形の例を示す波形図である。 1・・・ベルジャ(真空容器) 2・・・蒸発源3・・
・基板(被処理物品)  4・・・ブローブ5・・・フ
イラメン1〜    11・・・電源回路−7= 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)真空容器内に配設した基板に負電圧を印加してイ
    オンボンバードする表面処理方法において、前記基板に
    印加する電圧をパルス状にしたことを特徴とするイオン
    ボンバードによる表面処理方法。
JP12756282A 1982-07-23 1982-07-23 イオンボンバ−ドによる表面処理方法 Pending JPS5919327A (ja)

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JP12756282A JPS5919327A (ja) 1982-07-23 1982-07-23 イオンボンバ−ドによる表面処理方法

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JPS5919327A true JPS5919327A (ja) 1984-01-31

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ID=14963092

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5015493A (en) * 1987-01-11 1991-05-14 Reinar Gruen Process and apparatus for coating conducting pieces using a pulsed glow discharge
WO2003034525A1 (fr) * 2001-10-10 2003-04-24 Nippon Metal Industry Co., Ltd. Separateur plein pour pile a combustible du type a electrolyte polymere solide
WO2005124913A1 (ja) * 2004-06-22 2005-12-29 Honda Motor Co., Ltd. 燃料電池用セパレータの製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2003034525A1 (fr) * 2001-10-10 2003-04-24 Nippon Metal Industry Co., Ltd. Separateur plein pour pile a combustible du type a electrolyte polymere solide
WO2005124913A1 (ja) * 2004-06-22 2005-12-29 Honda Motor Co., Ltd. 燃料電池用セパレータの製造方法

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