JPS59189546A - ビ−ム偏向方式 - Google Patents

ビ−ム偏向方式

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Publication number
JPS59189546A
JPS59189546A JP58062152A JP6215283A JPS59189546A JP S59189546 A JPS59189546 A JP S59189546A JP 58062152 A JP58062152 A JP 58062152A JP 6215283 A JP6215283 A JP 6215283A JP S59189546 A JPS59189546 A JP S59189546A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
deflection
beam deflection
inputted
counter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58062152A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshimitsu Hamada
浜田 利満
Kazushi Yoshimura
和士 吉村
Hiroshi Makihira
牧平 坦
Tomohiro Kuji
久迩 朝宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58062152A priority Critical patent/JPS59189546A/ja
Publication of JPS59189546A publication Critical patent/JPS59189546A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/24Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Picture Signal Circuits (AREA)
  • Details Of Television Scanning (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はTV左カメラ走査形電子顕微鏡などKおける′
電子ビーム偏向方式に関するものである。
〔発明の背景〕
従来より゛1゛Vカメラ、走査形電子顕微鏡などにおけ
ろ電子ビームの偏向には、偏向コイルあるいは偏向板に
のこぎり波電流あるいはのこぎり波電圧をビーム偏向信
号として加えることにより行なっている。また、のこぎ
り波の高調波成分の影響を押えるため、のこぎり波を三
角波とした方式もある。しかし、ビーム偏向速度を上げ
ると牙1図、矛2図のように偏向コイ・ル、偏向板の応
答性により、偏向コイル電流あるいは偏向板電圧に過渡
現象が発生する。牙1図はのこぎり波の場合で、(a)
は印加するのこぎり波電流、(blは偏向コイル電流を
示し、第2図は三角波の場合で、(alは印加する三角
波電流(bJは偏向コイル電流を示す。TV左カメラ走
査形電子顕微鏡を映像人力θ)手段として用いるパター
ン検査装置では、この過渡現象の影響を小さくするため
、ビーム偏向速度を小さくしているか、これは映像入力
時間が長くなることを意味しており、結局は検査時間が
長くなるという欠点を有していた。
〔発明の目的〕
本発明の目的は上記した従来技術の欠点をなくし、ビー
ム偏向速度なたかめることがでさる電子ビーム偏向力式
を提供するにある。
〔発明の概要〕
本発明は偏向コイル電流あるいは偏向板電圧の直線部(
場合によっては近似的に直線と見なせる部分)において
映像人力を行ない、かつ所定の範囲において映像入力を
行なうため、ビーム偏向信号に過渡現象に対応した偏向
信号を付加したことを特徴とする電子ビーム偏向方式で
ある。
〔発明の実施例〕
以下本発明を図に示″f実施例に基いて具体的に説明す
る。、31−3図は走査形電子顕微鏡の原理を示したも
のである。陰極1を出た電子は陽極2により加速され、
電子レンズ6.4を通って試料5に焦点を結ぶ。電子レ
ンズは5の表面における電子ビームの直径が小さくなる
ように配置されており、電子ビームの直径を小さくする
こ。
とにより走査形電子顕微鏡像を鮮明にする。3はコンデ
ンサレンズ、4は対物レンズと呼ばれろ。試料の商さが
バラツクとぎ、6の焦点合せには4のコイルに流れる電
流を変えて行なう。
6は偏向コイルであり、電子ビームを試料5の表面上で
走査するためにある。試料5に電子が照射されると、試
料5の表面からは試料の組成、。
形状等に依存する2次電子、反射電子が発生し、それら
を検出器7により検出する。検出器7の出力は増幅器8
を介し、CRT9の輝度変調電極へ供給される。一方1
0は走査回路であり、出力は偏向コイル6およびCRT
の偏向コイル11へ供給され走査形電子顕微鏡の電子ビ
ームの走査と同期し、検出器7で得られる検出信号がC
RT9へ表示される。一般に走査形電子顕微鏡は4・6
図に示すようにたろが、常時電子ビームを試料5に照射
するので、本発明では別の走査回路を用意する。そして
増幅器8で得られる検出信号をマイコン等の処理装置1
2で処理てろことにより、試料5上のパターンの検査、
寸法測定等を行うことができる。
ところで上記走査形電子顕微鏡における映像信号の処理
について説明する。即ちビーム偏向信号が三角波の場合
について以下に説明する。
矛4図に本発明の全体構成を示す。矛6図において21
はクロック、22.2’SはANDゲートであり、21
は22.23を介し、可逆カウンタ24へ入力されろ。
24の内容はD/Aコンバータ25を介し、ビーム偏向
信号26となり、走査形電子顕微鏡の偏向コイルへの信
号となる。
24のキャリ信号C、ボロウ信号2BはR−8型フリツ
プフロツプ7へ入力され、27の出力Q、Qは各々22
.23へ入力され、24にキャリ信号が発生するまで、
24はカウントアツプされ、今ヤリ信号が発生するとボ
ロウ信号が発生するまでカウントダウンされる。このと
きの26の信号波形を】14図(a)に示している。ま
た、24の出力は比較器2B、29,30.31へ入力
され、各々設定値N、、 N2. N、、 N、と比較
され−等しくなったとぎ、28’、  29,30゜3
1は出力を発生する。28.2’9の出方はANDゲー
ト12.13を介しR−8型フリツプフロツプ64へ入
力され、50.31の出方はA N I) ’i’ −
ト35. 36 ヲ介シRS型フリップフロップ67へ
入力される。32.53のもう1つの入力は27のQ信
号であり、口5,6のもう1つの入力は27のQ信号で
ある。−fなわち、ろ4は24がカウントアツプ中にの
み出力を発生し、37は4がカウントダ、ラン中にのみ
出力を発生する。34.37の出力はANDゲート18
.39を介し、クロック21とのANDをとり、ORゲ
ート4oへ入力され、走査形電子顕微鏡の検査器7から
検出されて増幅器8で増幅された映像信号のサンプリン
グ信号41となる。以上の動作を矛5図を用いて説明す
る。
矛5図において、fa)は上述のようにビーム偏向信号
であり、(blはビーム偏向信号に対する映像サンプリ
ング信号を示している。矛5図からも明らかようにビー
ム偏向信号の立上りにおいては、可逆カウンタ4の内容
がN1〜N2の間において映像信号をサンプリングし、
立下りにおいては可逆カウンタ4の内容がN3〜N4の
間において映像信号をサンプリングする。272図に示
したように三角波をビーム偏向信号として用いると、過
渡現象は三角波の頂点直後にある。よって矛4図おいて
、可逆カウンタ4の内容がO,N 。
キャリ信号を発生し、N3になるまでの間に過渡現象が
発生するようにN1.札を設定てれば、映像サンプリン
グにおいて過渡現象の影響を無視−「ることができる。
N2はビーム偏向信号の立下りにおけろ過渡現象発生範
囲に対応する立上り部分で映像サンプリングを停止する
ために設け、凡は立上りにおける過渡現象発生範囲に対
応する立下り部分で映像サンプリングを停止するために
設けている。偏向コイルにはヒステリシスがないので、
N、= N4.’ N2= N8とすることができるが
、一般に偏向コイルにはヒステリシスが存在するのでへ
、4N、l N2今N3とし、ヒステリシスを考慮した
ものにする必要がある。
本実施例ではビーム偏向信号に三角波を用いているが、
のこぎり波を用いたとぎは、211図からも明らかなよ
うに本実施例においてN1だけを有効となるようにすれ
ばよい。′fなわち、ビーム偏向開始から過渡現象がな
(なるまでの間−映像サンプリングを停止すれはよい。
また、本実施例において可逆カウンタ24の長さを可変
にすれば、映像サンプリング数を一定になるようにする
ことは容易である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、ビーム偏向信号に
対する偏向コイルあるいは偏向板における過渡現象の影
響を取り除いた映像サンプリングが可能となるのでビー
ム偏向速度を高めることができ、走査型電子顕微鏡を用
いてパターンを検査するのに検査速度を一段と向上させ
ることができる効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
矛1図及び第2図は各々従来技術の欠点な説明するため
の図、之16図は本発明に係る走査型電子顕微鏡の概略
構成を示した図1,74図は本発明の一実施例を示す図
、矛5図は本発明の実施例における偏向信号と映像サン
プリング信号を示した図である。 6 ・偏向コイル、7・・・検波器、8・・・増幅器、
12・・・処理装置、21・・・クロック、22,23
゜3−2.33,35,36.38.39・・・AへD
ゲート、24・・・可逆カウンタ、25・・・D/A変
換器、26・・ビーム偏向信号、27,34.37・・
・R−8型フリツプフロツプ、28,29,30ろ1・
・・比較器、40・・01(、ゲート、41・・・映像
サンプリング信号。 第1図 第 21!21 第 3 図 第 4 図 第 52

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1L子ビームを偏向するためのビーム偏向信号に偏向コ
    イルあるいは偏向板で生じる過渡現象に対応する無駄な
    ビーム偏向信号を付加し、かつ無駄な偏向期間では映像
    信号を無効とでるビーム偏向方式。
JP58062152A 1983-04-11 1983-04-11 ビ−ム偏向方式 Pending JPS59189546A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58062152A JPS59189546A (ja) 1983-04-11 1983-04-11 ビ−ム偏向方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58062152A JPS59189546A (ja) 1983-04-11 1983-04-11 ビ−ム偏向方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59189546A true JPS59189546A (ja) 1984-10-27

Family

ID=13191842

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58062152A Pending JPS59189546A (ja) 1983-04-11 1983-04-11 ビ−ム偏向方式

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JP (1) JPS59189546A (ja)

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