JPH0479101B2 - - Google Patents

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JPH0479101B2
JPH0479101B2 JP20241285A JP20241285A JPH0479101B2 JP H0479101 B2 JPH0479101 B2 JP H0479101B2 JP 20241285 A JP20241285 A JP 20241285A JP 20241285 A JP20241285 A JP 20241285A JP H0479101 B2 JPH0479101 B2 JP H0479101B2
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JP
Japan
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scanning
electron beam
dynamic focus
objective lens
focus lens
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JP20241285A
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JPS6261253A (ja
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Seiichi Nakagawa
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Jeol Ltd
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Nihon Denshi KK
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【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はエレクトロンチヤンネリングパターン
を表示することのできる電子線装置に関する。
[従来の技術] 第3図は、エレクトロンチヤンネリングパター
ンを得るための従来の電子線装置を示すための図
で、図中1は電子銃であり、電子銃1よりの電子
線EBは集束レンズ2,3により集束された後、
対物絞り4を通過する。対物絞り4を通過した電
子線EBは偏向器5x,5yにより偏向され、対
物レンズ6の前焦点面U上を走査する。7xは走
査速度の可変なX方向走査信号を発生するX走査
速度可変走査信号発生回路であり、同様に7yは
Y走査速度可変走査信号発生回路である。8は走
査速度切換回路であり、オペレーターの操作に基
づいて走査速度制御信号を発生してX及びY走査
速度可変走査信号発生回路7x,7yに送り、こ
れら回路7x,7yより発生する走査信号の周波
数を例えばテレビスキヤンと写真撮影用の低速ス
キヤンとの間で切換えるためのものである。X及
びY走査速度可変走査信号発生回路7x,7yの
出力信号は前記電子線EBの前焦点面U上の走査
を行なうため、各々前記偏向器5x,5yに供給
されている。又、X及びY走査速度可変走査信号
発生回路7x,7yよりの走査信号は二乗回路9
x,9yに供給されている。これら二乗回路9
x,9yよりの出力信号は加算回路10を介して
空芯コイルより成るダイナミツク補正コイル11
に供給されている。12は試料Sよりの二次電子
を検出する二次電子検出器であり、検出器12よ
りの検出信号は、陰極線管13に輝度信号として
送られている。前記X及びY走査速度可変走査信
号発生回路7x,7yよりの出力信号は陰極線管
13のX及びY偏向コイル13x,13yにも供
給されている。
ところで、前記偏向器5x,5yへの走査信号
の供給により電子線EBが対物レンズ6の前焦点
面Uを走査すると、電子線は試料S上への入射点
を固定した状態において、試料Sに対する入射角
を周期的に変化させるはずであるが、対物レンズ
6には球面収差がある。そのため、前記X及びY
走査信号を各々Xi,Yiとするとき、対物レンズ
の焦点距離が見かけ上、下記の△Fだけずれてし
まう。
△F∝Cs(Xi2+Yi2) …(1) 但し、第(1)式においてCsは対物レンズの球面
収差係数である。
そこで、微小領域のエレクトロン・チヤンネリ
ングパターンを得ようとする場合には、対物レン
ズの近傍に上記ダイナミツクフオーカスレンズ1
1を設けて、(1)式で与えられる量だけ焦点距離を
電子線の走査に同期してシフトさせている。
[発明が解決しようとする問題点] ところで、ダイナミツクフオーカスレンズ11
は前述したように応答速度を高めるため、空芯コ
イルから成つているため、レンズ11からの漏れ
磁束が対物レンズ6のヨークに流れ込んでしま
う。
写真撮影のために、X走査速度可変走査信号発
生回路7xより第4図aに示す如きX走査信号が
発生させると(以下簡単のためX走査信号につい
てのみ説明するが、Y走査信号につても全く同様
である)、X走査信号は二乗回路9xにおいて二
乗されて第4図bに示す信号に変換された後、ダ
イナミツクフオーカスレンズ11に送られる。こ
のようにX走査信号の周波数が比較的小さい場合
には、対物レンズ6の前記漏れ磁束に対する磁気
余効も目だたないため、ダイナミツクフオーカス
レンズ11の実効的なレンズ強度は第4図cに示
すように変化し(1)式の補正を満足に行なうことが
できる。しかしながら、テレビスキヤン観察をす
るため、X走査速度可変走査信号発生回路7xよ
り第5図aに示す如きX走査信号を発生させる
と、X走査信号は二乗回路9xにおいて二乗され
て第5図bに示す如き信号に変換された後、ダイ
ナミツクフオーカスレンズ11に送られるが、前
述した対物レンズ6の磁気余効が顕著になるた
め、ダイナミツクフオーカスレンズ11の実効的
なレンズ強度は第5図cに示すようになり、第(1)
式の補正を充分行なうことはできない。
このような欠点を解決するため、ダイナミツク
フオーカスレンズ11を対物レンズ6から離間し
て配置することも考えられたが、ダイナミツクフ
オーカスレンズに供給する電流を増加させなけれ
ばならないだけでなく、コイルインダクタンスに
基因する歪が大きくなり好ましくない。
又、ダイナミツクフオーカスレンズ11の外側
を磁気遮蔽板で囲み、対物レンズ6への漏れ磁束
を無くすことも考えられたが、磁気遮蔽板に対物
レンズ6の磁束が流れ込み、対物レンズ6の収差
に関する諸特性を劣化させるため、好ましくな
い。
本発明は、このような従来の欠点を解決して、
電子線の入射角の変化の速度を高速に切換えた場
合にも理想的なダイナミツク補正を行なうことの
できる電子線装置を提供することを目的としてい
る。
[発明の構成] そのため、本発明は走査速度可変走査信号発生
回路より発生するX及びY方向走査信号を各々
Xi,Yiとするとき、X及びY偏向器にXi,Yiを
供給して対物レンズの前焦点面上を電子線により
走査することにより入射点を固定した状態で試料
への電子線の入射角を変化させ、該変化に伴う検
出信号を表示手段に導入してエレクトロン・チヤ
ンネリングパターンを表示するにあたつて、該対
物レンズの近傍に配置されたダイナミツクフオー
カスレンズにXi2+Yi2なる補正信号を供給して
対物レンズの球面収差に基づく電子線の照射位置
の変動を補正するようにした電子線装置におい
て、該走査速度可変走査信号発生回路より発生す
る走査信号の周波数が高められた際に、ダイナミ
ツクフオーカスレンズから対物レンズヨークに流
れ込む漏れ磁束に対する磁気余効によりダイナミ
ツクフオーカスレンズに流れる電流の波形が歪む
のを相殺するように予め波形の変形した走査信号
を該ダイナミツクフオーカスレンズに供給する手
段を備えている電子線装置を特徴としている。
[実施例] 以下、図面に基づき本発明の実施例を詳述す
る。
第1図は本発明の一実施例を示すためのもの
で、第1図においては、第2図と同一の構成要素
に対して同一番号を付している。
第1図において、14xは波形変換回路であ
り、回路14xは第2図aにおいて点線で示す回
路7xよりのX走査速度可変走査信号を同図にお
いて実線で示すような波形のX走査信号に変換す
るためのものである。14yもY走査信号につい
て同様の変換を行なうための波形変換回路であ
る。波形変換回路14x,14yよりの信号は
各々切換回路15x,15yを介して前記二乗回
路9x,9yに送られている。二乗回路9x,9
yの出力信号は各々加算回路16x,16yに送
られている。17x,17yは直流信号発生回路
であり、これら直流信号発生回路17x,17y
よりの出力信号は各々切換回路18x,18yを
介して前記加算回路16x,16yに送られてい
る。又、切換回路15x,15y,18x,18
yには前記走査速度切換回路8より切換制御信号
が送られている。
このような構成において、始めに例えばテレビ
スキヤン観察を行なうため、走査速度切換回路8
を操作してテレビスキヤン速度での走査を指示す
ると、X走査速度可変走査信号発生回路7xより
第2図aにおいて点線(あるいは第5図において
実線)で示すX走査信号が発生し、このX走査信
号は偏向コイル5x,5yに供給されると共に、
陰極線管13の偏向コイル13x,13yに供給
される。この際、走査速度切換回路8よりの切換
制御信号が切換回路15x,15y,18x,1
8yに供給されているため、切換回路15x,1
5y,18x,18yは同図において点線で示す
接続状態となる。そのため、第2図aにおいて点
線で示すX走査信号は変換回路14xにおいて同
図の実線で示すように変換された後、二乗回路9
xに送られる。その結果、二乗回路9xの出力信
号は第2図bに示すものとなる。二乗回路9xの
出力信号は加算回路16xに送られるが、加算回
路16xには切換回路18xを介して直流信号発
生回路17xよりの信号が送られているため、加
算回路16xの出力信号は第2図cに示すように
レベルの下げられた信号となる。この信号は加算
回路10において、Y方向の同様の処理を受けた
信号と加算されてダイナミツクフオーカスレンズ
11に送られる。ダイナミツクフオーカスレンズ
11に送られる信号は、ダイナミツクフオーカス
レンズ11による実効的なレンズ強度が第(1)式で
与えられる理想的なものからずれるのを相殺でき
るように、予め波形を変型されたものとなつてい
るため、ダイナミツクフオーカスレンズ11にお
ける実効的なレンズ強度は第2図dに示すような
ものとなり、理想的なものとなる。そのため、テ
レビスキヤン速度用の高速の走査信号により電子
線の試料に対する入射角を変化させても、電子線
の試料Sへの入射点を殆んど一点に固定して微小
領域のエレクトロン・チヤンネリングパターンを
陰極線管13に表示することができる。
次に、陰極線管で観察したエレクトロン・チヤ
ンネリングパターンの写真撮影を行なうため、電
子線EBを写真撮影用の低速走査にする場合には、
走査速度切換回路8により低速走査を指示する
と、X走査速度可変走査信号発生回路7xより発
生するX走査信号は第4図aに示すようになり、
このX走査信号が偏向コイル5x,5yに送られ
ると共に、陰極線管13のX及びY偏向コイル1
3x,13yに供給される。この際、走査速度切
換回路8よりの指示信号に基づいて切換回路15
x,15y,18x,18yは第1図において実
線で示す接続状態に切換えられる。そのため、二
乗回路9xには、何等波形の変換を受けてない走
査信号が送られると共に、加算回路16xには直
流信号発生回路17xより直流信号が送られてこ
ないため、加算回路16xよりの出力信号は第4
図bに示すようなものとなる。そのため、低速走
査の場合にもダイナミツクフオーカスレンズ11
のレンズ強度は第(1)式の焦点距離のシフトを満足
に補正できるものとなり、試料Sの微小領域に電
子線EBの照射を固定した状態でエレクトロン・
チヤンネリングパターンを得、写真撮影を行なう
ことができる。
尚、上述した実施例は本発明の一実施例に過ぎ
ず、実施にあたつては、幾多の他の態様をとり得
る。
例えば、上述した実施例においては走査速度を
2段階に切換えるようにしたが、3段階あるいは
それ以上に切換える場合にも本発明は同様に適用
でき、その場合には、波形変換回路と直流信号発
生回路との対を切換えの段階に応じて複数設ける
ことが望ましい。
又、上述した実施例においては、波形変換回路
と直流信号発生回路の組み合わせにより最終的に
必要な波形を得るようにしたが、波形変換回路か
ら必要な波形を出力できるように構成することも
できる。
又、上述した実施例においては、二次電子検出
信号に基づいて像を表示する場合に、本発明を適
用したが、反射電子や吸収電子像等に基づいて像
を表示する場合にも、本発明は同様に適用でき
る。
更に又、上述した実施例においては、アナログ
信号に基づいて像を表示するような装置に本発明
を適用したが、検出信号を一旦デジタル信号に変
換する型の装置にも本発明は同様に適用でき、そ
の場合、歪を相殺するための波形の変形した走査
信号もデジタル的に作成した後、アナログ信号に
変換して偏向器に供給することもできる。
[発明の効果] 上述した説明から明らかなように、本発明に基
づく電子線装置においては、前記走査速度可変走
査信号発生回路より発生する走査信号の周波数が
高められた際に、ダイナミツクフオーカスレンズ
から対物レンズヨークに流れ込む漏れ磁束に対す
る磁気余効によりダイナミツクフオーカスレンズ
に流れる電流の波形が歪むのを相殺するように予
め波形の変形した走査信号を該ダイナミツクフオ
ーカスレンズに供給する手段を備えているため、
高速用の走査信号により電子線を偏向した場合に
も、ダイナミツクフオーカスレンズにより理想的
な補正を行なうことができる。従つて、走査信号
の周波数にかかわらず、試料の極めて狭い領域の
エレクトロン・チヤンネリングパターンを表示す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すための図、第
2図は上記一実施例装置の高速角度走査時におけ
る動作を説明するための図、第3図は従来装置を
説明するための図、第4図は上記一実施例装置及
び従来装置における低速角度走査時における動作
を説明するための図、第5図は従来装置の高速角
度走査時の欠点を説明するための動作説明図であ
る。 1……電子銃、2,3……集束レンズ、4……
絞り、5x,5y……偏向器、6……対物レン
ズ、7x,7y……走査速度可変走査信号発生回
路、8……走査速度切換回路、9x,9y……二
乗回路、10,16x,16y……加算回路、1
2……二次電子検出器、13……陰極線管、15
x,15y,18x,18y……切換回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 走査速度可変走査信号発生回路より発生する
    X及びY方向走査信号を各々Xi,Yiとするとき、
    X及びY偏向器にXi,Yiを供給して対物レンズ
    の前焦点面上を電子線により走査することにより
    入射点を固定した状態で試料への電子線の入射角
    を変化させ、該変化に伴う検出信号を表示手段に
    導入してエレクトロン・チヤンネリングパターン
    を表示するにあたつて、該対物レンズの近傍に配
    置されたダイナミツクフオーカスレンズにXi2
    Yi2なる補正信号を供給して対物レンズの球面収
    差に基づく電子線の照射位置の変動を補正するよ
    うにした電子線装置において、該走査速度可変走
    査信号発生回路より発生する走査信号の周波数が
    高められた際に、ダイナミツクフオーカスレンズ
    から対物レンズヨークに流れ込む漏れ磁束に対す
    る磁気余効によりダイナミツクフオーカスレンズ
    に流れる電流の波形が歪むのを相殺するように予
    め波形の変形した走査信号を該ダイナミツクフオ
    ーカスレンズに供給する手段を備えていることを
    特徴とする電子線装置。
JP20241285A 1985-09-12 1985-09-12 電子線装置 Granted JPS6261253A (ja)

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JPS6261253A JPS6261253A (ja) 1987-03-17
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JPH0432143A (ja) * 1990-05-25 1992-02-04 Hitachi Ltd 電子線装置
JPH08138602A (ja) * 1994-11-08 1996-05-31 Hitachi Ltd 電子線装置
US6452175B1 (en) * 1999-04-15 2002-09-17 Applied Materials, Inc. Column for charged particle beam device
JP7027538B2 (ja) * 2018-06-04 2022-03-01 株式会社日立ハイテク 電子線装置

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