JPS59181136A - 断層撮影システム - Google Patents
断層撮影システムInfo
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- JPS59181136A JPS59181136A JP59050777A JP5077784A JPS59181136A JP S59181136 A JPS59181136 A JP S59181136A JP 59050777 A JP59050777 A JP 59050777A JP 5077784 A JP5077784 A JP 5077784A JP S59181136 A JPS59181136 A JP S59181136A
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4275—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis using a detector unit almost surrounding the patient, e.g. more than 180°
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明1断層撮影/スデl、 (/(:関し、さらに詳
細ニー(′、[、断層撮1::ヨシステムと共に使用さ
れるデータ収イ1./ステj、I/こ関する。
細ニー(′、[、断層撮1::ヨシステムと共に使用さ
れるデータ収イ1./ステj、I/こ関する。
断層撮影7ステl、においでは、通常は複数個の検出器
r−の列から構成さ)する検出器が、被検体を通過すく
】様々な放射線経路に沿って受取られる放射廖;j i
7応答して信−弓を提供し、被検体の断層画像を一+I
]構成する/こめ(でそれらの信号が処理される。
r−の列から構成さ)する検出器が、被検体を通過すく
】様々な放射線経路に沿って受取られる放射廖;j i
7応答して信−弓を提供し、被検体の断層画像を一+I
]構成する/こめ(でそれらの信号が処理される。
放射線検出2tからデータを収集するシステムを設Fi
1才る場合、被検体をi!−1する各放射線経路につい
て1’iT報内容(d同しであると仮定される。しかし
ながら、4゛での、、)jkrト]線経路について情報
内容は必ずし7/′ も同じでけ1.(<、被検体の中心を通る中・L−線の
外側の経路については情報内容が少ないことがわが一’
−) ′Lいて)41本発明rrこの上・)な認識VC
基づいて、関連する放射線経路に対lるそれぞれの情報
内容(1τi;Y−、)てラーータヂャンネルが形成さ
れ、その結果、外1111jσ)放射線経路しこ必吸と
さ′ノする信号処理装置の鼠とコストが共に低減される
ような断層撮影7゛−タ収集ンステムを提供する。
1才る場合、被検体をi!−1する各放射線経路につい
て1’iT報内容(d同しであると仮定される。しかし
ながら、4゛での、、)jkrト]線経路について情報
内容は必ずし7/′ も同じでけ1.(<、被検体の中心を通る中・L−線の
外側の経路については情報内容が少ないことがわが一’
−) ′Lいて)41本発明rrこの上・)な認識VC
基づいて、関連する放射線経路に対lるそれぞれの情報
内容(1τi;Y−、)てラーータヂャンネルが形成さ
れ、その結果、外1111jσ)放射線経路しこ必吸と
さ′ノする信号処理装置の鼠とコストが共に低減される
ような断層撮影7゛−タ収集ンステムを提供する。
簡潔にいえば、本発明は、放射線検出器からの信号の信
号処理が、断層撮影の被検体の中心な1lTiる放射線
源からの中心線に対する検出器の角イ\装置の関数であ
る断層撮影データ収集システノ、を提供する。放射線経
路が中心線から外側へ遠ざかく)につれて、取出される
検出信号の情報内容は中7し線から取出される検出信号
の情報内容より徐々K lりなくなる。外側の経路から
取出される検出信号の周波数スペクトルは低いので、そ
ノ′1らの検出信−弓のサンプリング速度を情報な拝1
4cわずVこ徐々に口(くすることができる。寸だ、被
検体を通る外側の放射線経路に沿って存在するターゲン
ト情報が少ないことにより外側の経路がデータ収集に寄
l:Jする割合は低くなるので、中心線から外」11の
放射線経路眞対応する信号について、中心線からの耐力
1(に応じて検出信号の分解能を徐々如低り1.2でい
くことができる。検出器の位置に従ってサンプリング速
度又は分解能、あるいけその双方を変化させろことかで
きる。外側の放射線経路に対応する位置prあイ)検出
器の色分解能も中上・線に対応する検出器L(こ比べて
低くすることができる。本発明WよりirU、IA側の
放射線経路のだめの信号プロセッサは低速で分解能も低
くできるので、低コストになる。さらeこ、外側の放射
線経路に使用される信号処理袋V1の数も減らすことが
できる。
号処理が、断層撮影の被検体の中心な1lTiる放射線
源からの中心線に対する検出器の角イ\装置の関数であ
る断層撮影データ収集システノ、を提供する。放射線経
路が中心線から外側へ遠ざかく)につれて、取出される
検出信号の情報内容は中7し線から取出される検出信号
の情報内容より徐々K lりなくなる。外側の経路から
取出される検出信号の周波数スペクトルは低いので、そ
ノ′1らの検出信−弓のサンプリング速度を情報な拝1
4cわずVこ徐々に口(くすることができる。寸だ、被
検体を通る外側の放射線経路に沿って存在するターゲン
ト情報が少ないことにより外側の経路がデータ収集に寄
l:Jする割合は低くなるので、中心線から外」11の
放射線経路眞対応する信号について、中心線からの耐力
1(に応じて検出信号の分解能を徐々如低り1.2でい
くことができる。検出器の位置に従ってサンプリング速
度又は分解能、あるいけその双方を変化させろことかで
きる。外側の放射線経路に対応する位置prあイ)検出
器の色分解能も中上・線に対応する検出器L(こ比べて
低くすることができる。本発明WよりirU、IA側の
放射線経路のだめの信号プロセッサは低速で分解能も低
くできるので、低コストになる。さらeこ、外側の放射
線経路に使用される信号処理袋V1の数も減らすことが
できる。
検出器の位置が外側にずれるに従ってサンプリング速度
は低く 7(るが、各検出f?−r、をそれぞれのザン
ブリング速IWで別個に処理することは通常は不要であ
る。本発明を実施するためには、サンプリング速度がか
なり低下する最外部の放射線経路から取出される信号を
別個に処理すれば、それで1分である。中心線から最大
距離の7/8の距離にある検出器の場合は、サンプリン
グ速度は中心線の位置(にあるときに必要とされる速度
の約半分あ才1ばIC1い1、 本発明は、゛ファンビートシステム、逆ファンビーノ、
ンステノ、及び平行ビーノ、システムを含む様々tc
種’1i(tの断層撮影システムにおいて有用である。
は低く 7(るが、各検出f?−r、をそれぞれのザン
ブリング速IWで別個に処理することは通常は不要であ
る。本発明を実施するためには、サンプリング速度がか
なり低下する最外部の放射線経路から取出される信号を
別個に処理すれば、それで1分である。中心線から最大
距離の7/8の距離にある検出器の場合は、サンプリン
グ速度は中心線の位置(にあるときに必要とされる速度
の約半分あ才1ばIC1い1、 本発明は、゛ファンビートシステム、逆ファンビーノ、
ンステノ、及び平行ビーノ、システムを含む様々tc
種’1i(tの断層撮影システムにおいて有用である。
以下、添付の図面を参照して本発明の実施例をさらに詳
細に説明する。
細に説明する。
第1図に示されるファンビーム断層撮影システムは放射
線検出器10を有する。放射線検出器は、放射線源12
から離間して円弧のセグメントに沿って配列される複数
個の検出素子から構成されろ。
線検出器10を有する。放射線検出器は、放射線源12
から離間して円弧のセグメントに沿って配列される複数
個の検出素子から構成されろ。
X線源と検出素子列は回転組立体に取イ;1けられ、x
a源と検出素子列との間に固定配置6.される被検体1
4を中心と1〜、一体のユニットとして連続的に回転す
ることができる。
a源と検出素子列との間に固定配置6.される被検体1
4を中心と1〜、一体のユニットとして連続的に回転す
ることができる。
X線源からの放射線は、被検体を透過して検出素子列に
入射し、検出素子列により検出される。
入射し、検出素子列により検出される。
検出素子列は中心線18をほぼ中心とする中心セグメン
ト16と、中心セグメント]6の内外側にあるセグメン
ト20及び22と、列の両45 VCある最外部セグメ
ント24及び26とを含む。検出素子列の中心セグメン
ト16からの検出信号は信号グロセッーリ28に印加さ
れる。セグメント20及び22からの検出信号は信号プ
ロセッサ30に印加され、最外部セグメント24及び2
6からの検出信号は信号プロセッサ’、+ 217C印
加される。X線源は連続的に動作されるので、検出素子
は連続信号を発生ずる4、連続イバ−C3,4,tそ:
11ぞれの信号プロセッサにより処理され、イ1;号ゾ
l−Iセツザは断層像の再構成及び表示のだめの−jジ
クルーリンブル値データを提供する。
ト16と、中心セグメント]6の内外側にあるセグメン
ト20及び22と、列の両45 VCある最外部セグメ
ント24及び26とを含む。検出素子列の中心セグメン
ト16からの検出信号は信号グロセッーリ28に印加さ
れる。セグメント20及び22からの検出信号は信号プ
ロセッサ30に印加され、最外部セグメント24及び2
6からの検出信号は信号プロセッサ’、+ 217C印
加される。X線源は連続的に動作されるので、検出素子
は連続信号を発生ずる4、連続イバ−C3,4,tそ:
11ぞれの信号プロセッサにより処理され、イ1;号ゾ
l−Iセツザは断層像の再構成及び表示のだめの−jジ
クルーリンブル値データを提供する。
第1図如け2つの座標系が示されでいる。矩形の座(二
?°系は回転軸を中心とし、互いに直交する軸X及びy
を不する。放射線の経路、たとえば経路りは極座標系[
おいて、原点からの半径方向距離rと、経路りとy軸と
のr#11の方向角θとに一〒]r指一定さ、l+る1
、2つの座標系の関係はコンピュータを一使月] 1.
、 i−断層撮影法の分野では良く知られているラドン
変換により定義される。たとえば、ゲイバー ’、1’
−バー マノ(Gak+or 、T、 Herman
n’)著1イメージ・リコンストラクション・フロノ、
・プロジェクション′ズ−1(Image Recon
struction From Pro−3ecti、
ons 、アノノデミソク・ブレン1発行、1980年
)イ1:参照Cねこと7.移動する検出素−r列につい
ての時間の一11ンフリングは、被検体Q)ラドン変換
の角度(0) (ノロJ”ンプリングに対応する。
?°系は回転軸を中心とし、互いに直交する軸X及びy
を不する。放射線の経路、たとえば経路りは極座標系[
おいて、原点からの半径方向距離rと、経路りとy軸と
のr#11の方向角θとに一〒]r指一定さ、l+る1
、2つの座標系の関係はコンピュータを一使月] 1.
、 i−断層撮影法の分野では良く知られているラドン
変換により定義される。たとえば、ゲイバー ’、1’
−バー マノ(Gak+or 、T、 Herman
n’)著1イメージ・リコンストラクション・フロノ、
・プロジェクション′ズ−1(Image Recon
struction From Pro−3ecti、
ons 、アノノデミソク・ブレン1発行、1980年
)イ1:参照Cねこと7.移動する検出素−r列につい
ての時間の一11ンフリングは、被検体Q)ラドン変換
の角度(0) (ノロJ”ンプリングに対応する。
ソサは通常は第3図に示されるよう
に構成される。各検出信号はそれぞれ対応するフィルタ
34に印加され、一群の検出器r−からのフィルタ出力
はマルチプレクサ36に印加される。、マルチプレクサ
36の出力は第2のマルチプレクサ:つ8に印加される
。第2のマルチプレクサは他の検出素子群からのマルチ
プレクス信号も受信−4′る。第2のマルチプレクサ3
8は、坪−のマルチプレクサを使用する場合より大きい
複数の検出信号のファンインを達成するために使用する
。第2のマルチプレクサ38の出力はA/D変換器40
.に印加され、A/D ’!−換器40から出力される
デジタルサンプル値データは画像プロセッサに印加され
て、さらに処理されるべき断層画像の再構成及び/又は
表示&U使用される。
34に印加され、一群の検出器r−からのフィルタ出力
はマルチプレクサ36に印加される。、マルチプレクサ
36の出力は第2のマルチプレクサ:つ8に印加される
。第2のマルチプレクサは他の検出素子群からのマルチ
プレクス信号も受信−4′る。第2のマルチプレクサ3
8は、坪−のマルチプレクサを使用する場合より大きい
複数の検出信号のファンインを達成するために使用する
。第2のマルチプレクサ38の出力はA/D変換器40
.に印加され、A/D ’!−換器40から出力される
デジタルサンプル値データは画像プロセッサに印加され
て、さらに処理されるべき断層画像の再構成及び/又は
表示&U使用される。
本発明によれば、信号プロセッサ:30の一リングリン
グ速度は信号プロセッサ28のザンブリング速度ヨリ低
く、信号プロセッサ32のサンプリング速度は信号プロ
セッサ30のサンプリング速度より低い。
グ速度は信号プロセッサ28のザンブリング速度ヨリ低
く、信号プロセッサ32のサンプリング速度は信号プロ
セッサ30のサンプリング速度より低い。
各信号プロセッサのサンプリング速度は、人力アリ“「
1グ信吟θ)スペクトル内容をtrE確に表示するブ′
7・・クツ1ブータイ工゛提供′i−るfc ?Off
こ既知の基糸に弔rつ゛C決定さ」)ろ。セグメント2
0及び220つ検出素イーV(−より供糸含されろ41
1月のスーくクト/l=は、rll+Qセクメント1(
1カら11)らコするイ1)シじび)スペクトルので、
(jj壮ゾ「1セツサ30のサンプリング速度に1イ呂
弓ブ11七ツ−リ−28のサンプリング速度よりイ氏く
、しかも人力信刊を適正K te1号化するのに十分L
(:速)Q二である。最外ill(セグメント2・1及
び26から取+1′Jさλ;ろ471号σ)スペクトル
内容はさらに低いため、(Hシ)゛ブr1ヒノ゛リズ3
2のサンプリング速度は信号ブロセツザ;シ0θ)サン
プリング速度よシさら(lこ低し)。−リーンフリング
速度を低く一4゛るにはイ,1−じフ゛ローヒツ勺−の
処Jll! 1.!1玉11,゛−をj!Z <すれば
良く、こノ′1により信号フ”ローにンーリーのコスト
低減を(はかることができる。
1グ信吟θ)スペクトル内容をtrE確に表示するブ′
7・・クツ1ブータイ工゛提供′i−るfc ?Off
こ既知の基糸に弔rつ゛C決定さ」)ろ。セグメント2
0及び220つ検出素イーV(−より供糸含されろ41
1月のスーくクト/l=は、rll+Qセクメント1(
1カら11)らコするイ1)シじび)スペクトルので、
(jj壮ゾ「1セツサ30のサンプリング速度に1イ呂
弓ブ11七ツ−リ−28のサンプリング速度よりイ氏く
、しかも人力信刊を適正K te1号化するのに十分L
(:速)Q二である。最外ill(セグメント2・1及
び26から取+1′Jさλ;ろ471号σ)スペクトル
内容はさらに低いため、(Hシ)゛ブr1ヒノ゛リズ3
2のサンプリング速度は信号ブロセツザ;シ0θ)サン
プリング速度よシさら(lこ低し)。−リーンフリング
速度を低く一4゛るにはイ,1−じフ゛ローヒツ勺−の
処Jll! 1.!1玉11,゛−をj!Z <すれば
良く、こノ′1により信号フ”ローにンーリーのコスト
低減を(はかることができる。
中・IL借!11から外J5へ角11↓的にす′Jlた
放射形美糸イb各り、1−リj;l,j (u、さ〕す
るブータの範囲は、中心付近をjmイ)放111に1,
J1経路(てより提イ1(さ牙するデータJン範囲より
くνfcい0)で、外側位(ぺからσ)検出イ晋ー胃を
符号イし一ケる’7+7 )i”l 1.てーOー1分
If1イ能を低(1,、rcければなら7仁い。従つて
、信号プロセッサ30におけるアナログ/デンタル変換
の分解能は信号プロセッサ28の変換の分111イ能よ
り低く、信号プロセッサ32の変換の分解rite.
liそれよりさらにイ氏い。アナログ/デンタル変換分
解能を低くするためには、低速1′1.−T)低コスl
− +7.)変換器を使用すれば良い。
放射形美糸イb各り、1−リj;l,j (u、さ〕す
るブータの範囲は、中心付近をjmイ)放111に1,
J1経路(てより提イ1(さ牙するデータJン範囲より
くνfcい0)で、外側位(ぺからσ)検出イ晋ー胃を
符号イし一ケる’7+7 )i”l 1.てーOー1分
If1イ能を低(1,、rcければなら7仁い。従つて
、信号プロセッサ30におけるアナログ/デンタル変換
の分解能は信号プロセッサ28の変換の分111イ能よ
り低く、信号プロセッサ32の変換の分解rite.
liそれよりさらにイ氏い。アナログ/デンタル変換分
解能を低くするためには、低速1′1.−T)低コスl
− +7.)変換器を使用すれば良い。
信号プロセッサ30のサンプリング速度と分解能ヲ・共
ニ、信号プロセンーリ−28のサンプリング速度と分解
能よシ低くすることができる。あるいは、サンプリング
速度か分解能かのいずれか一方を,fi Qプロセノザ
28より低くすることもできる。同様に、信号プロセッ
サ32のサンプリング速Iり又は分1fIイ能、あるい
はその双方を信号プロセッサ30の対11″L、するパ
ラメータより低くすることかできる。
ニ、信号プロセンーリ−28のサンプリング速度と分解
能よシ低くすることができる。あるいは、サンプリング
速度か分解能かのいずれか一方を,fi Qプロセノザ
28より低くすることもできる。同様に、信号プロセッ
サ32のサンプリング速Iり又は分1fIイ能、あるい
はその双方を信号プロセッサ30の対11″L、するパ
ラメータより低くすることかできる。
検出素子列の外側のセグメン) VC人射伺る放射線経
路から取出される情報内容は少7”Cいので、夕1側の
セグメントに含棟れる検出素子の色分厘4ii::イト
低くすることができる。従って、セグメント2()及び
22に含・1れる検出素7の数は少へ:くて良く、j狐
外部セグメント24及び26に含まれる検出素r−のI
VY kt ;”5らにlしfc <で良い。このよう
に列ケこ7(1)つて険出素1′の色分・解能を低くす
る構成を七′37Rび)サンプリング速度及び変換分1
5イ能の低]・と関連1−て採II+−することができ
る。そJ)結果、外側σつ放射線経路117−、ついて
の11,号処理を実行するプこめの装?r1を誠1ど4
ことができろ。
路から取出される情報内容は少7”Cいので、夕1側の
セグメントに含棟れる検出素子の色分厘4ii::イト
低くすることができる。従って、セグメント2()及び
22に含・1れる検出素7の数は少へ:くて良く、j狐
外部セグメント24及び26に含まれる検出素r−のI
VY kt ;”5らにlしfc <で良い。このよう
に列ケこ7(1)つて険出素1′の色分・解能を低くす
る構成を七′37Rび)サンプリング速度及び変換分1
5イ能の低]・と関連1−て採II+−することができ
る。そJ)結果、外側σつ放射線経路117−、ついて
の11,号処理を実行するプこめの装?r1を誠1ど4
ことができろ。
第2図にシ■ミさノする別の実施例においては、÷()
11−″。
11−″。
素子り1し0の最外部セグメント42及び44のイ灸1
1に、(・]げイ1゛?けプロセッサ48に結合され、
中間セグメ71圓の検出素子はイ計弓フロセン−リ−5
2に糸1ξ合さノする。イ小出素了ー列の両端の最外部
−ヒグメント42及び42てrレランブリング速度か多
少低くなるθ−)で、(4 ”’jプrJヒツサ48は
、信号)゛ロセノヅ52より9逼Ijpi的に低い一す
ングリング速jWで動作する。信号フ。
1に、(・]げイ1゛?けプロセッサ48に結合され、
中間セグメ71圓の検出素子はイ計弓フロセン−リ−5
2に糸1ξ合さノする。イ小出素了ー列の両端の最外部
−ヒグメント42及び42てrレランブリング速度か多
少低くなるθ−)で、(4 ”’jプrJヒツサ48は
、信号)゛ロセノヅ52より9逼Ijpi的に低い一す
ングリング速jWで動作する。信号フ。
ロ七ソリ゛48シ・こおけイ)アナログ/デンタル変換
σ)多)IQイf1f−をイハ刊ソロセツリ−52の分
解能より低くすることができろa. r+iJ述のよつ
に、信刊フ“ロセツ勺−48の1)ンフリング速度又は
分押r能、あるいはそθ)双ノjイビ伯シ3プロセッサ
52より低く11−ることかできる。
σ)多)IQイf1f−をイハ刊ソロセツリ−52の分
解能より低くすることができろa. r+iJ述のよつ
に、信刊フ“ロセツ勺−48の1)ンフリング速度又は
分押r能、あるいはそθ)双ノjイビ伯シ3プロセッサ
52より低く11−ることかできる。
中心線からの距離の関数としての最適4C.標本イヒ周
波数を下記の表に示す。
波数を下記の表に示す。
中心線からの圧路( 標本化周波数0
]、001、/.2
()8 7、う/4
+1 6
67/8 、 +1
.48] 5/16
0.:( 5最太距前の7/8の外方圧加にある検出素
子については、サンプリング速度は中心線ににある検.
出素子のサンプリング速度の約半分て良い。すl虞わち
、従来のシステムで通常必要とされだ1・1ヒント変換
器ではなく、13ビツト変換器を使用し7てサンプリン
グを実行することができる,。
]、001、/.2
()8 7、う/4
+1 6
67/8 、 +1
.48] 5/16
0.:( 5最太距前の7/8の外方圧加にある検出素
子については、サンプリング速度は中心線ににある検.
出素子のサンプリング速度の約半分て良い。すl虞わち
、従来のシステムで通常必要とされだ1・1ヒント変換
器ではなく、13ビツト変換器を使用し7てサンプリン
グを実行することができる,。
以上、本発明によく)ファンビーノ、断層撮影/スプム
の実施例を説明した。第4図は、本発明による逆ファン
ビーム断層撮影ゾステj・の実施例を示す。この場合、
一連の静止検出素子54が円に沿一つで配列され、円の
内部にx′lQ#56を411持する回転組立体が支持
されている。X線源がある任意の回転位置にあイ)とき
、複数個の検出素子が照射され、X線di;iが回転1
゛る間、各検出素子は照射領域の外側にあり、活性化検
出素イ/iTを構成する検出素子は連続、的υ7二変化
していり1.検出信号はコミュテータ586r印加され
、コミュテータは出カイへ号をそれぞ′11の信号ブ「
Jセッサ60及び62に供給する。コミュテ・−夕58
は、公知のようにX線源のE]転に従って照射さオ]る
検出器1群54を信号プロセツーリ−に結合−→ろよう
Vこ動作する11本発明てよれば、コミj−データ58
は照射領域内部における検出素子の位置G・0丁、’e
つてそれらの検出素子を各信号プロセッサ()0及び(
12に結合」るように動作する。1゛なわち、第4図り
C承される位置においては、中心に位置する検出器r6
0はコミュテータ58により信号プロセッサ60に結合
され、外側(Cイs>置する検出素子68及び7()Q
↓コミュ戸−夕によりイシ;−号プロセソザ62に結合
される。外側の(α出素−rのだめの信号グロセッリ−
62の一リーンブリング速度及び/又は変換分解能は1
;1弓ゾ[7センザ60より低い。
の実施例を説明した。第4図は、本発明による逆ファン
ビーム断層撮影ゾステj・の実施例を示す。この場合、
一連の静止検出素子54が円に沿一つで配列され、円の
内部にx′lQ#56を411持する回転組立体が支持
されている。X線源がある任意の回転位置にあイ)とき
、複数個の検出素子が照射され、X線di;iが回転1
゛る間、各検出素子は照射領域の外側にあり、活性化検
出素イ/iTを構成する検出素子は連続、的υ7二変化
していり1.検出信号はコミュテータ586r印加され
、コミュテータは出カイへ号をそれぞ′11の信号ブ「
Jセッサ60及び62に供給する。コミュテ・−夕58
は、公知のようにX線源のE]転に従って照射さオ]る
検出器1群54を信号プロセツーリ−に結合−→ろよう
Vこ動作する11本発明てよれば、コミj−データ58
は照射領域内部における検出素子の位置G・0丁、’e
つてそれらの検出素子を各信号プロセッサ()0及び(
12に結合」るように動作する。1゛なわち、第4図り
C承される位置においては、中心に位置する検出器r6
0はコミュテータ58により信号プロセッサ60に結合
され、外側(Cイs>置する検出素子68及び7()Q
↓コミュ戸−夕によりイシ;−号プロセソザ62に結合
される。外側の(α出素−rのだめの信号グロセッリ−
62の一リーンブリング速度及び/又は変換分解能は1
;1弓ゾ[7センザ60より低い。
第5図は、本発明による平行ビーl、断層撮影システム
の実施例を示す。この場合、X線源72と中−の検出器
74Fi互いに部間L7て配置され、ti: if矢1
1]76により示される並進路に沿って移動−1−るこ
とができる。通常、X線源は中−の検111器eこ人射
し。
の実施例を示す。この場合、X線源72と中−の検出器
74Fi互いに部間L7て配置され、ti: if矢1
1]76により示される並進路に沿って移動−1−るこ
とができる。通常、X線源は中−の検111器eこ人射
し。
うる細い放射線ビームを発生する/こめのコリメータを
含む。検出信号はコミュテータ78すこ印加さJl、コ
ミュテータは第1の信号プロセッサ80及び第2の信号
プロセッサ82に信号を供給する。コミュテータは、被
検体84に対する検出器の4’j?貿の関数に従ってい
ずれか一方の信号プロセッサに信号を供給する。検出器
が被検体を通る中心線の外fllll K位置している
とき、コミュテータ78は、低いサンプリング速度及び
/又は低い分解能を有する介ン創プロセッサに検出信号
を供給する。検出器が中心線を中心とする所定の中心領
域の内部(Cあるときは、コミュテータは、高いサンプ
リング速度及び/又は分解能で動作する信号プロセッー
リー80VrX信吟を(41、給する。検出器の並進速
度も、中心線に対する検出器の位置の関数として変化さ
せることができる。
含む。検出信号はコミュテータ78すこ印加さJl、コ
ミュテータは第1の信号プロセッサ80及び第2の信号
プロセッサ82に信号を供給する。コミュテータは、被
検体84に対する検出器の4’j?貿の関数に従ってい
ずれか一方の信号プロセッサに信号を供給する。検出器
が被検体を通る中心線の外fllll K位置している
とき、コミュテータ78は、低いサンプリング速度及び
/又は低い分解能を有する介ン創プロセッサに検出信号
を供給する。検出器が中心線を中心とする所定の中心領
域の内部(Cあるときは、コミュテータは、高いサンプ
リング速度及び/又は分解能で動作する信号プロセッー
リー80VrX信吟を(41、給する。検出器の並進速
度も、中心線に対する検出器の位置の関数として変化さ
せることができる。
平行ビーム断層撮影システムの別の実施例におイテv↓
、コミュヅ°−夕78を省略することができ、被+θ′
!f本(lζン・Jl−る検IN Rnのf−ン装置に
?/Y−ってサン7゜リンク速以を1.’lj (Jl
、才るだめに11変ジンプリンタ性能をイビ4る?1′
し−・σ〕信シづプロセッサを使用することが−できる
1、イハ号ブ「ノセソサは、検出器の位了イ如従って′
α゛化1化石−1簀能を有することもできる。
、コミュヅ°−夕78を省略することができ、被+θ′
!f本(lζン・Jl−る検IN Rnのf−ン装置に
?/Y−ってサン7゜リンク速以を1.’lj (Jl
、才るだめに11変ジンプリンタ性能をイビ4る?1′
し−・σ〕信シづプロセッサを使用することが−できる
1、イハ号ブ「ノセソサは、検出器の位了イ如従って′
α゛化1化石−1簀能を有することもできる。
本発明によれば、より低コストの断層撮影データ収集シ
ステムを構成することができる。外側の放射線経路から
の471号を処理するA/D変換変換子の速度及び/又
は分)リイ能を低くすることにより、変換i’!i旨〕
コストを低減することができる。
ステムを構成することができる。外側の放射線経路から
の471号を処理するA/D変換変換子の速度及び/又
は分)リイ能を低くすることにより、変換i’!i旨〕
コストを低減することができる。
ま/1−、クト(+!11の放射線経路について使用さ
れる変](I器の数、も少なくて良いので、ハードウェ
ア全体の=+−′/、l・を低減できる。
れる変](I器の数、も少なくて良いので、ハードウェ
ア全体の=+−′/、l・を低減できる。
本発明は添イ1の’ly’f’t’請求の範囲に指示さ
れる以外のものにより限定さtlない。
れる以外のものにより限定さtlない。
第+ ill i(L、不発7廟によるノアンビート断
層撮影/ステムの略図、 第2図4−4.、本発明によるファンビート断層撮影シ
ステノ・の別の実施例を示す略図、 第3図は、第1図及び第2図の実施例において使用され
る信号プロセッサのブロック線図、第4図は、本発明に
よる逆ファンヒーム断層撮影システムの略図、及び 第5図は、本発明による戸17行ビーl、断層撮影シス
テムの略図である。 10 放射線検出器、12 ・放射線源(X線源)
16 中上・セグメント、20.22 セグメント
、24゜26・最外部セグメント、28.3(1,32
信号プロセッサ、40・A/D変換器、712.44・
最外部セグメント、46 検出素子列、48・信号プ
ロセッサ、50 中間セグメント、52・・信号プロ
セッサ、57I−・検出素子、5G 放射線源”、5
8・・・コミュテータ、60.62 信号プロセッサ
、66 、68 、70 検出素子、72 放射線
源、74・検出器、78 コミュテータ、80.82
信号プロセッサ。 (・よ刀11r1 FIG、3 手続補正書()7式) %式% ) 2 発明の名称 断層撮影/ステノ・ 3、 補1トをする者 事件どの関係 出願人 氏名(名称) アラ「Jノック・ワーフ1?レー/ヨ
ノ4、代理人 住所 束中、都港区南青III l’l11番1号5?
lli+l命令ノIf(−1’(白Q)(電送1.1)
IMイ 不11 年 月
11(i、 i重重の別車 明イIll l’G全文 7、 tlli 11)内′1 クイノ゛浄、1:、 L/こ四面1告を提出し1ず。
層撮影/ステムの略図、 第2図4−4.、本発明によるファンビート断層撮影シ
ステノ・の別の実施例を示す略図、 第3図は、第1図及び第2図の実施例において使用され
る信号プロセッサのブロック線図、第4図は、本発明に
よる逆ファンヒーム断層撮影システムの略図、及び 第5図は、本発明による戸17行ビーl、断層撮影シス
テムの略図である。 10 放射線検出器、12 ・放射線源(X線源)
16 中上・セグメント、20.22 セグメント
、24゜26・最外部セグメント、28.3(1,32
信号プロセッサ、40・A/D変換器、712.44・
最外部セグメント、46 検出素子列、48・信号プ
ロセッサ、50 中間セグメント、52・・信号プロ
セッサ、57I−・検出素子、5G 放射線源”、5
8・・・コミュテータ、60.62 信号プロセッサ
、66 、68 、70 検出素子、72 放射線
源、74・検出器、78 コミュテータ、80.82
信号プロセッサ。 (・よ刀11r1 FIG、3 手続補正書()7式) %式% ) 2 発明の名称 断層撮影/ステノ・ 3、 補1トをする者 事件どの関係 出願人 氏名(名称) アラ「Jノック・ワーフ1?レー/ヨ
ノ4、代理人 住所 束中、都港区南青III l’l11番1号5?
lli+l命令ノIf(−1’(白Q)(電送1.1)
IMイ 不11 年 月
11(i、 i重重の別車 明イIll l’G全文 7、 tlli 11)内′1 クイノ゛浄、1:、 L/こ四面1告を提出し1ず。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1) 放射線倣と、放射線検出器、1:を含む断層
撮影ンステノ・において使J:fl qれ、前記放射線
検出器の出力信号のデジタル化表示を提供する手段と; 前記放射線源から断層撮影の被験体の中心を通る基準線
に対して検出される放射線の位置の関数リング速度及び
/又は分解能を提供する手段とを、f% (iii+す
るデータ収集システム。 (2)放射線源と、少なくとも1つの放射線検出器とを
含む、断層j爪形7スデムに使用され、断層撮影の被検
体を通過するそれぞれの放射線経路に対応する検出信号
コ)デジタル化信号表示を提1j(するL段と; 1111 ii+、放射線源から断層撮影の被検体の中
心を通る基準線に対して検出される放射線の位置σ)関
”として、前記デジタル化信号表示のサンプリング速度
及び/又は分解能を提供する手段とを具備するデータ収
、集システム。 (3) 放射線源と、放射線源に対して離間した関係
で円弧のセグメントに沿って配列される検出器列とを含
む断層撮影システムにおいて使用され、前記放射線源と
検出器列との間の中心線を中心とする中心セグメントの
内部(に含まねる検出器列の検出器に結合される第1の
信号プローヒップと;前記中心セグメントの両外側のセ
グメントに含まれる検出器列の検出器に結合される少な
くとも1くの第2の信号プロセッサとを具備し、前記第
2の信号プロセッサのサンプリング速度及び/又は分!
!lTF能が諒記第1の信号ゾロ−ヒップより低いデー
タ収集システム。 (4)前記第1及び第2の信号プロセッサは、そわ。 それ、前記検出器列の検出器から取出されるアナログデ
ータを表示するデジタルサンプル値データを提供するア
ナログ/デジタル変換手段を含み;前記第2のffl
弓グロセソザのアジログ/デジタル変換手段は前記第1
の信号プロセッサのアナログ/デジタル変換手段のサン
プリング速度よシ低いサンプリング速度を有する 4”I” t?′l’請求の範囲第3項記載のブータ収
集システム。 (5) 前記第1及び第2の信号プロセッサは、それぞ
れ、前記検出器列の検出器から取出されるアナログデー
タを表示するテジタルザンプル値テータを提供−4るア
ジログ/デジタル変換手段を含み;前記第2の信号プロ
セッサのアナログ/デジタル変換手段は、前記第1の信
号プロセッサのアジログ/デジタル変換手段の変換分解
能より低い変換分解能を有ずイ) ’l”I’ rt′T請求の範囲第3項記載のデータ収
集システム。 ((i) 前記?4′r、I及び第2の(r信号プロ
セッサは、それぞり、、検出器列の検出器から取出され
るアナログ)°5−夕を表示する7−ジタルザンプル値
データを提1j(才るアナログ、′デジタル変換手段を
含み;前記第2の’1rlj号プロセソザのアブログ/
デジタル変換手段のサンプリング速度及び変換分解能は
、前記第1の信号プロセッサのアナログ/デジタル変換
手段のサンプリング速度及び変換分111子能より低い
特許請求の範囲第3項記載のテータ収集ンステム。 (7) 前記検出器列の検出器の角分解能は外(11
1のセグメントの検出器になるに従って低り7:cる!
[旨午請求の範囲第3項記載のテータ収集ノステノ・。 (8)、放射線源と、放射線源に対して離間した関係で
円弧のセグメントに沿って配列さノする検出器列とを含
む断層撮影システムにおいて使用され、前記放射線源と
検出器列との間の中心線を中心とする中心セグメントの
内部に含まれる検出器列の検出4眞結合される第1の手
段と; 前記中心セグメントの両外側のセグメントニa寸れる検
出器列の検出器に結合される第2の手段とを具備し、 前記第2の手段は、前記検出(Fj号のデジタル化信号
表示に関して、前記第1の手段より低いサンプリング速
度及び/又は分解能を提供するように動作する ノーク収イ47スフームC4
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US47610283A | 1983-03-17 | 1983-03-17 | |
US476102 | 1983-03-17 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59181136A true JPS59181136A (ja) | 1984-10-15 |
Family
ID=23890510
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59050777A Pending JPS59181136A (ja) | 1983-03-17 | 1984-03-16 | 断層撮影システム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0119664B1 (ja) |
JP (1) | JPS59181136A (ja) |
DE (1) | DE3478566D1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007020906A (ja) * | 2005-07-19 | 2007-02-01 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6233308B1 (en) * | 1999-03-19 | 2001-05-15 | General Electric Company | Methods and apparatus for artifact compensation with variable angular sampling |
US7231014B2 (en) * | 2005-02-14 | 2007-06-12 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Multiple mode flat panel X-ray imaging system |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5447494A (en) * | 1977-08-26 | 1979-04-14 | Philips Nv | Method of processing measured data by computer tomograph and computer tomograph |
JPS5464987A (en) * | 1977-10-11 | 1979-05-25 | Philips Nv | Device for determining local portion absorptive value |
JPS5633908B2 (ja) * | 1977-09-22 | 1981-08-06 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4206359A (en) * | 1974-01-31 | 1980-06-03 | E M I Limited | Radiography |
DE2705640A1 (de) * | 1977-02-10 | 1978-08-17 | Siemens Ag | Rechnersystem fuer den bildaufbau eines koerperschnittbildes und verfahren zum betrieb des rechnersystems |
US4222104A (en) * | 1978-11-02 | 1980-09-09 | E M I Limited | Radiography |
US4464777A (en) * | 1980-10-22 | 1984-08-07 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Radiography apparatus |
-
1984
- 1984-03-16 JP JP59050777A patent/JPS59181136A/ja active Pending
- 1984-03-16 EP EP19840200386 patent/EP0119664B1/en not_active Expired
- 1984-03-16 DE DE8484200386T patent/DE3478566D1/de not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5447494A (en) * | 1977-08-26 | 1979-04-14 | Philips Nv | Method of processing measured data by computer tomograph and computer tomograph |
JPS5633908B2 (ja) * | 1977-09-22 | 1981-08-06 | ||
JPS5464987A (en) * | 1977-10-11 | 1979-05-25 | Philips Nv | Device for determining local portion absorptive value |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007020906A (ja) * | 2005-07-19 | 2007-02-01 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3478566D1 (en) | 1989-07-13 |
EP0119664B1 (en) | 1989-06-07 |
EP0119664A2 (en) | 1984-09-26 |
EP0119664A3 (en) | 1986-01-08 |
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