JPS59178033A - 中継器の立ち上がり特性の検出方式 - Google Patents
中継器の立ち上がり特性の検出方式Info
- Publication number
- JPS59178033A JPS59178033A JP58052966A JP5296683A JPS59178033A JP S59178033 A JPS59178033 A JP S59178033A JP 58052966 A JP58052966 A JP 58052966A JP 5296683 A JP5296683 A JP 5296683A JP S59178033 A JPS59178033 A JP S59178033A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- repeater
- circuit
- pulse
- burst signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａン０発明の技術分野
未発明は中継器の立し上がり特性の検出方式に係り、特
に光通信方式の中継器の立ち上がり特性の検出方式に関
するものである。
に光通信方式の中継器の立ち上がり特性の検出方式に関
するものである。
（ｂ）、従来技術と問題点
中継器に信号が到着した時、特に光通信方式の中継器を
使用している場合、最初の或時間（普通は数〜数十ｍＳ
程度である）は符号誤りが多い。
使用している場合、最初の或時間（普通は数〜数十ｍＳ
程度である）は符号誤りが多い。
此れは中継器の出力レベルを一定に保持する為に使用さ
れているＡＧＣ増幅器が定當状態になるまでの間に発生
するもので、従来は出力信号の波形をブラウン管等で観
測し、其の波形の歪等から符号誤りの多い時間帯の長さ
を推測していた。
れているＡＧＣ増幅器が定當状態になるまでの間に発生
するもので、従来は出力信号の波形をブラウン管等で観
測し、其の波形の歪等から符号誤りの多い時間帯の長さ
を推測していた。
（Ｃ）４発明の目的
本発明の目的は従来技術の有する上記の欠点を除去し、
符号誤りの多い時間帯の長さ即ち中継器の立ち上がり特
性を定量的に測定する中継器の立ち上がり特性の検出方
式を提供することである。
符号誤りの多い時間帯の長さ即ち中継器の立ち上がり特
性を定量的に測定する中継器の立ち上がり特性の検出方
式を提供することである。
（ｄ）９発明の構成
上記の目的は本発明によれば、パターン発生回路出力に
より駆動されるバースト信号発生回路の出力信号を被測
定中継器に入力し、前記バースト信号発生回路の出力信
号を所定の遅延特性を持つ遅延回路に入力し、前記被測
定中継器の出力と前記遅延回路の出力とを誤り検出回路
に入力して比較することにより誤りを検出して出力パル
スを出力し、且つ前記バースト信号発生回路出力信号の
立ち上がり１ビツト目のパルスを任意のピノ１〜数たけ
遅延させることにより任意のビット数の１１コのパルス
を作成し、前記任意のビ、／ト数の中のパルスにより、
前記誤り検出回路の出力パルスを計数するカウンタが前
記出力パルスを計数するのをインヒビソトすることを特
徴とする中継器の立ち上がり特性の検出方式を提供する
ことにより達成される。
より駆動されるバースト信号発生回路の出力信号を被測
定中継器に入力し、前記バースト信号発生回路の出力信
号を所定の遅延特性を持つ遅延回路に入力し、前記被測
定中継器の出力と前記遅延回路の出力とを誤り検出回路
に入力して比較することにより誤りを検出して出力パル
スを出力し、且つ前記バースト信号発生回路出力信号の
立ち上がり１ビツト目のパルスを任意のピノ１〜数たけ
遅延させることにより任意のビット数の１１コのパルス
を作成し、前記任意のビ、／ト数の中のパルスにより、
前記誤り検出回路の出力パルスを計数するカウンタが前
記出力パルスを計数するのをインヒビソトすることを特
徴とする中継器の立ち上がり特性の検出方式を提供する
ことにより達成される。
（ｅ）９発明の実施例
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図で図中、１
はパターン発生回路、２はバースト信号作成回路、３ば
被測定系、４は誤り検出回路、５はアンド・ゲート、６
ばカウンタ、７は遅延回路、８は外部から設定して任意
のピント遅らせることの出来る遅延回路、９は計数をイ
ンヒヒ・ノドするパルス作成回路である。
はパターン発生回路、２はバースト信号作成回路、３ば
被測定系、４は誤り検出回路、５はアンド・ゲート、６
ばカウンタ、７は遅延回路、８は外部から設定して任意
のピント遅らせることの出来る遅延回路、９は計数をイ
ンヒヒ・ノドするパルス作成回路である。
第２図は第１図の動作を説明する為の図である・以下第
１図に従って本発明の詳細な説明する。
１図に従って本発明の詳細な説明する。
パターン発生回路１よりの信号を受り、ノ＼−スト信号
作成回路２は第２図の■に示ず様なノ＼−スト信号を被
測定系（例えは光中継器）に人力３−ると同時に、バー
スト信号の最初の立ち上がりの１ヒント（第２図の■に
示３−）を遅延回路８に人力する。
作成回路２は第２図の■に示ず様なノ＼−スト信号を被
測定系（例えは光中継器）に人力３−ると同時に、バー
スト信号の最初の立ち上がりの１ヒント（第２図の■に
示３−）を遅延回路８に人力する。
遅延回路８は測定者が任意に設定したパルス数だけ入力
パルスを遅らせることが出来る遅延回路であり、第２図
の■のパルスを第２図の■に示ず様に測定者が任意に設
定したパルス数たけ入力パルスを遅らせる。
パルスを遅らせることが出来る遅延回路であり、第２図
の■のパルスを第２図の■に示ず様に測定者が任意に設
定したパルス数たけ入力パルスを遅らせる。
此の結果計数をインヒビソトするパルス作成回路９は第
２図の■に示す様に測定者が任意に設定したパルス数だ
けの時間１１〕のパルスを生し、此のパルスがアンド・
ケート５に印加される。
２図の■に示す様に測定者が任意に設定したパルス数だ
けの時間１１〕のパルスを生し、此のパルスがアンド・
ケート５に印加される。
叉遅延回路７は被測定系３と同一の遅延時間を持つ様に
調整されている。
調整されている。
バースト信号作成回路２の出力（第２図の■）は被測定
系３及び遅延回路７に人力され、誤り検出回路４で夫々
の出力が対比されて符号誤り信号を出力する。
系３及び遅延回路７に人力され、誤り検出回路４で夫々
の出力が対比されて符号誤り信号を出力する。
前述の様に最初の数十ｍｓは連続的に符号誤りを発生す
るのでカウンタ６の計数値は急速に増加するが、計数を
インヒビソトするパルス作成回路９の動作により、測定
者の設定した時間内はカウンタ６の入力が抑えられる。
るのでカウンタ６の計数値は急速に増加するが、計数を
インヒビソトするパルス作成回路９の動作により、測定
者の設定した時間内はカウンタ６の入力が抑えられる。
従って遅延回路８の設定値を色々変化してカウンタ６の
計数値を調べることにより中継器の立ぢ上がり特性を検
出することができる。
計数値を調べることにより中継器の立ぢ上がり特性を検
出することができる。
叉遅らせるビット数をシステムのアイドリンク・パルス
の量に合わせることによりバースト状の信号の誤り率を
測定することにも利用出来る。
の量に合わせることによりバースト状の信号の誤り率を
測定することにも利用出来る。
（ｆ）０発明の効果
以上詳細に説明した様に本発明によれは、中継器の立ち
上がり特性を簡単に検出出来ると云う大きい効果がある
。
上がり特性を簡単に検出出来ると云う大きい効果がある
。
第１図は本発明の一実施例を示すプロ・７・り図で図中
、１はパターン発生回路、２はノ＼−スト（、Ｍ号作成
回路、３は被測定系、４は誤り検出回１７＆、５はアン
ド・ゲート、６はカウンタ、７６よ遅延回路、８は外部
から設定して任意のビット遅らせることの出来る遅延回
路、９は計数をインヒビ・ノド１−るパルス作成回路で
ある。 第２図は第１図の動作を説明する為の図である。
、１はパターン発生回路、２はノ＼−スト（、Ｍ号作成
回路、３は被測定系、４は誤り検出回１７＆、５はアン
ド・ゲート、６はカウンタ、７６よ遅延回路、８は外部
から設定して任意のビット遅らせることの出来る遅延回
路、９は計数をインヒビ・ノド１−るパルス作成回路で
ある。 第２図は第１図の動作を説明する為の図である。
Claims (1)
- パターン発生回路出力により駆動されるバースト信号発
生回路の出力信号を被測定中継器に人力し、前記バース
ト信号発生回路の出力信号を所定の遅延特性を持つ遅延
回路に入力し、前記被Ｊ１１定中継器の出力と前記遅延
回路の出力とを誤り検出回路に入力して比較することに
より誤りを検出して出力パルスを出力し、且つ前記バー
スト信号発生回路出力信号の立ち上がり１ヒツト目のパ
ルスを任意のビット数だけ遅延させることにより任意の
ビット数の巾のパルスを作成し、前記任意のビット数の
巾のパルスにより、前記誤り検出回路の出力パルスを計
数するカウンタが前記出力パルスを計数するのをインヒ
ビノドすることを特徴とする中継器の立ち上がり特性の
検出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58052966A JPS59178033A (ja) | 1983-03-29 | 1983-03-29 | 中継器の立ち上がり特性の検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58052966A JPS59178033A (ja) | 1983-03-29 | 1983-03-29 | 中継器の立ち上がり特性の検出方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59178033A true JPS59178033A (ja) | 1984-10-09 |
Family
ID=12929625
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58052966A Pending JPS59178033A (ja) | 1983-03-29 | 1983-03-29 | 中継器の立ち上がり特性の検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59178033A (ja) |
-
1983
- 1983-03-29 JP JP58052966A patent/JPS59178033A/ja active Pending
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