JPS59176640A - 漏洩検出装置 - Google Patents
漏洩検出装置Info
- Publication number
- JPS59176640A JPS59176640A JP5026483A JP5026483A JPS59176640A JP S59176640 A JPS59176640 A JP S59176640A JP 5026483 A JP5026483 A JP 5026483A JP 5026483 A JP5026483 A JP 5026483A JP S59176640 A JPS59176640 A JP S59176640A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tube
- plate
- helium gas
- tubes
- vessel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/04—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
- G01M3/20—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
- G01M3/202—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、管板に多数の管を取付けた機器の漏洩を検査
する漏洩検査方法に関する。
する漏洩検査方法に関する。
容器、配管等の気密性を検査する場合、実際に使用する
プロセス流体を用いて実際の使用条件より過酷な条件の
下で漏洩の有無を検査するのが通例であるが、プロセス
流体が放射性物質や爆発性流体等の危険物である場合に
は、実際に使用される流体に関係なくヘリウムガスを用
いて漏洩検査を行なうようにしている。
プロセス流体を用いて実際の使用条件より過酷な条件の
下で漏洩の有無を検査するのが通例であるが、プロセス
流体が放射性物質や爆発性流体等の危険物である場合に
は、実際に使用される流体に関係なくヘリウムガスを用
いて漏洩検査を行なうようにしている。
しかしながらこの従来の方法では、管板に多数の機器を
取付けた機器の漏洩を検査する場合、漏洩箇所を正確に
知ることが困難であった。特に純水素製造機器のように
多数の細管が細かいピッチで配置されているものや、管
の寸法が一様でないものの場−合には、漏洩を検査する
ことがきわめて困難であった。
取付けた機器の漏洩を検査する場合、漏洩箇所を正確に
知ることが困難であった。特に純水素製造機器のように
多数の細管が細かいピッチで配置されているものや、管
の寸法が一様でないものの場−合には、漏洩を検査する
ことがきわめて困難であった。
本発明はこのような事情にもとづいてなされたもので、
その目的は、管板に１数の管を取付けた機器の漏洩の有
無を容易に検査することができ、漏洩箇所も容易かつ正
確に知ることができる漏洩検出方法を提供することにあ
る。
その目的は、管板に１数の管を取付けた機器の漏洩の有
無を容易に検査することができ、漏洩箇所も容易かつ正
確に知ることができる漏洩検出方法を提供することにあ
る。
この目的達成のため、本発明の漏洩検出装置は、管の管
板開口部のみを露出するようにしてこの（表器を容器内
に気密に収納し、容器内をヘリウムガスで加圧して、 （イ） 容器内より管板の開口側へ漏洩したヘリウムガ
スを測定する工程 （ロ）管の開口４ｃり管内へ気密に抽出管を夫々挿入し
、各管内に漏洩したヘリウムガスを卸別に測定する工程 （ハ）夫々の管の開口を凹むようにして管板端面に捕集
管を気密に当接するとともに、管の端部を密封し、各管
と管板との隙間から漏洩したヘリウムガスを捕集管内に
捕集し計測する工程の３つの工程を行なって検査するこ
とを特徴とするものである。
板開口部のみを露出するようにしてこの（表器を容器内
に気密に収納し、容器内をヘリウムガスで加圧して、 （イ） 容器内より管板の開口側へ漏洩したヘリウムガ
スを測定する工程 （ロ）管の開口４ｃり管内へ気密に抽出管を夫々挿入し
、各管内に漏洩したヘリウムガスを卸別に測定する工程 （ハ）夫々の管の開口を凹むようにして管板端面に捕集
管を気密に当接するとともに、管の端部を密封し、各管
と管板との隙間から漏洩したヘリウムガスを捕集管内に
捕集し計測する工程の３つの工程を行なって検査するこ
とを特徴とするものである。
以下、不発明の方法を図面に示す実施例を参照して説明
する。
する。
第１図ないし第３図は検査の工程を順を追つて示すもの
であるが、まず被検査機器である純水素製造機器１の概
要を説明する。図中２は密閉容器で、これは底部を底板
３にて閉塞され、外周上端部に設けられたフランジ４に
はノくツキン５を介して蓋板６が気密に取付けられてい
るＯまた底板３および蓋板６の各中心部には、それぞれ
雑水素流入管７、純水素抽出管８が接続され、密閉容器
２は内周面上端部に取付けられ管板９によって雑水素流
入管７に通ずる流入室１０と、純水素抽出管８に通ずる
抽出室１１とに気密に区画されている。そして流入室１
０内には５０〜１００本程度の細管１２・・・が配置さ
れ、これらの一端は管板９全貫通してこの管板９に気密
に取付けられている。なお、上記細管１２・・・は水素
のみを透過する非鉄金属（たとえばパラジクム）製触媒
で、内径が１．４４Ｍ、各細管１２−・・のピッチは３
８程度のものであるＯそ −してこれらの細管
１２・・・の上端は開放され、下端は密封されている。
であるが、まず被検査機器である純水素製造機器１の概
要を説明する。図中２は密閉容器で、これは底部を底板
３にて閉塞され、外周上端部に設けられたフランジ４に
はノくツキン５を介して蓋板６が気密に取付けられてい
るＯまた底板３および蓋板６の各中心部には、それぞれ
雑水素流入管７、純水素抽出管８が接続され、密閉容器
２は内周面上端部に取付けられ管板９によって雑水素流
入管７に通ずる流入室１０と、純水素抽出管８に通ずる
抽出室１１とに気密に区画されている。そして流入室１
０内には５０〜１００本程度の細管１２・・・が配置さ
れ、これらの一端は管板９全貫通してこの管板９に気密
に取付けられている。なお、上記細管１２・・・は水素
のみを透過する非鉄金属（たとえばパラジクム）製触媒
で、内径が１．４４Ｍ、各細管１２−・・のピッチは３
８程度のものであるＯそ −してこれらの細管
１２・・・の上端は開放され、下端は密封されている。
そこで雑水素流入管７を通して流入室１０内へ雑水素を
加圧供給すると、純水素のみが細管ノ２を透過し、この
純水素は純水素抽出管８を通して外部へ抽出される。
加圧供給すると、純水素のみが細管ノ２を透過し、この
純水素は純水素抽出管８を通して外部へ抽出される。
次に漏洩・険査方法の第１工程について、第１図にエリ
説明する。
説明する。
純水素製造機器ｌの雑水素流入管７にはヘリウムガスボ
／ぺ１３を接続し、純水素抽出管８にはヘリクム質量分
析計１４を接続する。また上記分析計１４の流入側には
荒引ポンプ１５を接続し、同分析計１４の流出側にはサ
ンプリングポンプ１６〕と接続する。なお、図中１７は
ヘリウムガスボンベ１３より流出するヘリウムガスのガ
ス圧を表示する圧力計である。
／ぺ１３を接続し、純水素抽出管８にはヘリクム質量分
析計１４を接続する。また上記分析計１４の流入側には
荒引ポンプ１５を接続し、同分析計１４の流出側にはサ
ンプリングポンプ１６〕と接続する。なお、図中１７は
ヘリウムガスボンベ１３より流出するヘリウムガスのガ
ス圧を表示する圧力計である。
そこで、ヘリウムガスボンベ１３エリヘリウムガスを機
器１の流入室１０内へ供給し、その内部を加圧する。ま
た、荒引ポンプ１５にエリ抽出室１ノおよび細管１２・
・・内の空気を吸引し、抽出室１１内を高真空にする。
器１の流入室１０内へ供給し、その内部を加圧する。ま
た、荒引ポンプ１５にエリ抽出室１ノおよび細管１２・
・・内の空気を吸引し、抽出室１１内を高真空にする。
次に荒引ポンプ１５を停止させると同時にチンブリング
ポンプ１６を作動させ、抽出室１１内の真空度を一定に
保持する。このとき機器１を構成する細管１２または細
管１２と管板９との接続部にクラック状の欠陥部がある
と、その欠陥部を通して流入室１０内のヘリウムガスが
抽出室１１側へ漏洩し、その漏洩ヘリウムガスが分析器
１４により測定されることになる。
ポンプ１６を作動させ、抽出室１１内の真空度を一定に
保持する。このとき機器１を構成する細管１２または細
管１２と管板９との接続部にクラック状の欠陥部がある
と、その欠陥部を通して流入室１０内のヘリウムガスが
抽出室１１側へ漏洩し、その漏洩ヘリウムガスが分析器
１４により測定されることになる。
なお、ヘリウムガスは加圧されているので、たとえば細
管１２の一部に１０μ程度のクラック状欠陥部があって
もこれを検出することができる。
管１２の一部に１０μ程度のクラック状欠陥部があって
もこれを検出することができる。
このようにして欠陥が検出された場合は、次の第２工程
と第３工程とでその欠陥位置の検出が行なわれる。
と第３工程とでその欠陥位置の検出が行なわれる。
第２工程は細管１２・・の１本１本について欠陥の有無
を検査するもので、これは第２図の如く、機器１の蓋体
６を検査用蓋体６′と取換えて行なう。この蓋体６′に
は細管１２・・・と同数の孔１７・・・が、各細管１２
・・・に対応して設けられている。また蓋体６′と管板
９との間にはパツキン１８を介在させ、細管１２の内径
より細い外径の漏洩ガス抽出管１９・・を、各孔１７・
・を通し、かつパツキン１８を気密に貫通して各細管１
２・・内に導入させる。なおパツキンＩ８としては、練
り状ゴムと同化剤を使用直前に練り合せて反応させ、時
間の経過に伴ない固化するものを使用する。そして半固
化状態で蓋板６′の裏面に被着するとともに漏洩ガス抽
出管１９を予め貫通しておき、蓋板６′をフランジ４に
取付ける際に蓋板６′と管板９との間で強く圧縮されて
シール効果を高めるようになるものである。
を検査するもので、これは第２図の如く、機器１の蓋体
６を検査用蓋体６′と取換えて行なう。この蓋体６′に
は細管１２・・・と同数の孔１７・・・が、各細管１２
・・・に対応して設けられている。また蓋体６′と管板
９との間にはパツキン１８を介在させ、細管１２の内径
より細い外径の漏洩ガス抽出管１９・・を、各孔１７・
・を通し、かつパツキン１８を気密に貫通して各細管１
２・・内に導入させる。なおパツキンＩ８としては、練
り状ゴムと同化剤を使用直前に練り合せて反応させ、時
間の経過に伴ない固化するものを使用する。そして半固
化状態で蓋板６′の裏面に被着するとともに漏洩ガス抽
出管１９を予め貫通しておき、蓋板６′をフランジ４に
取付ける際に蓋板６′と管板９との間で強く圧縮されて
シール効果を高めるようになるものである。
そこで第１工程と同様に、ヘリウムガスボンベ１３（−
リヘリウムガスを機器１の流入室ｌ。
リヘリウムガスを機器１の流入室ｌ。
内へ供給し、その内部を加工するとともに、荒引ポンプ
１５により細管１２内を高真空にする。
１５により細管１２内を高真空にする。
次に荒引ポンプ１５を停止させ、サンプリングポンプ１
６を作動させて細管１２内の真空度を一定に保持する。
６を作動させて細管１２内の真空度を一定に保持する。
このとき、その細管１２にクラック状の欠陥部があると
、その欠陥部より漏洩するヘリウムガスがヘリウム質量
分析計１４で測定され、欠陥部の存在が確認されること
になる。
、その欠陥部より漏洩するヘリウムガスがヘリウム質量
分析計１４で測定され、欠陥部の存在が確認されること
になる。
このようにしてすべての細管Ｉ２・・・についての検査
を終えた後、第３図に示す第３工程の検査を行なう。
を終えた後、第３図に示す第３工程の検査を行なう。
第３工程は各細管１２と管板９との接続部における欠陥
部の有無を１箇所ずつ検査するもので、これは細管１２
・・・と同数の大径孔２０・・・（ただし１個のみ図示
）を細管１２・・・に対応する位置に設けた検査用蓋板
６”を使用する。なお、細管１２・・・のピッチが小さ
くて大径孔２０°゛。
部の有無を１箇所ずつ検査するもので、これは細管１２
・・・と同数の大径孔２０・・・（ただし１個のみ図示
）を細管１２・・・に対応する位置に設けた検査用蓋板
６”を使用する。なお、細管１２・・・のピッチが小さ
くて大径孔２０°゛。
同志がつながってしまうような場合には、たとえば１個
おきとし、蓋板６″の位置をずらしながら使用するよう
にすればよい。いずれにしても検査は細管接続部につい
て１箇所ごとに行なうので、検査を行なうところの細管
１２の開口端には栓２１を圧入し、他の細管１．２の開
口端は蓋板６“と管板９との間に介挿されたパツキン１
８により密閉される。
おきとし、蓋板６″の位置をずらしながら使用するよう
にすればよい。いずれにしても検査は細管接続部につい
て１箇所ごとに行なうので、検査を行なうところの細管
１２の開口端には栓２１を圧入し、他の細管１．２の開
口端は蓋板６“と管板９との間に介挿されたパツキン１
８により密閉される。
そして蓋板６”の大径孔２０には、内径が細管１２の外
径より大きい漏洩ガス捕集管２２を挿入し、さらに蓋板
６“と管板９との間のパツキン１８を気密に貫通し、細
管１２の開口端周囲部において管板９７ｃ幽接させる。
径より大きい漏洩ガス捕集管２２を挿入し、さらに蓋板
６“と管板９との間のパツキン１８を気密に貫通し、細
管１２の開口端周囲部において管板９７ｃ幽接させる。
そこで第１工程および第２工程と同様にヘリウムガスボ
ンベ１３より流入室ｌｏ内にヘリウムガスを供給し、流
入室１ｏ内を加圧するととモニ、漏洩ガス抽出管１９を
通して荒引ポンプ１５により吸引する。次に荒引ポンプ
１５を停止さぜ、ヅーンブリングボンブ１６を作動させ
てヘリウム質量分析計１４における圧力を一定に保持す
る。このとき、細管１２と管板９との接続部に加圧へり
クムガスが漏洩するような欠陥部があると、その欠陥部
より漏洩するヘリウムガスがヘリウム質量分析計１４で
測定され、欠陥部の存在が確認されることになる。
ンベ１３より流入室ｌｏ内にヘリウムガスを供給し、流
入室１ｏ内を加圧するととモニ、漏洩ガス抽出管１９を
通して荒引ポンプ１５により吸引する。次に荒引ポンプ
１５を停止さぜ、ヅーンブリングボンブ１６を作動させ
てヘリウム質量分析計１４における圧力を一定に保持す
る。このとき、細管１２と管板９との接続部に加圧へり
クムガスが漏洩するような欠陥部があると、その欠陥部
より漏洩するヘリウムガスがヘリウム質量分析計１４で
測定され、欠陥部の存在が確認されることになる。
このようにしてすべての細管接続部についての検査を行
なう。
なう。
以上の如く、第１工程で欠陥部の有無を確認し、欠陥部
があるときはその欠陥部の箇所を第２工程および第３工
程で検出することができる。
があるときはその欠陥部の箇所を第２工程および第３工
程で検出することができる。
また、第１工程におけるヘリウム質量分析計１４の測定
量は、第２工程の測定量と第３工程の測定量との和とな
る。
量は、第２工程の測定量と第３工程の測定量との和とな
る。
そして、このように欠陥部の箇所を正確に検出できるの
で欠陥部を有する細管に閉栓すれば、純水素製造機器と
しては再使用できる経済的効果も得られる。
で欠陥部を有する細管に閉栓すれば、純水素製造機器と
しては再使用できる経済的効果も得られる。
なお本発明は実施例のものに限らず、たとえば熱交換器
のチューブの欠陥の検査等にも有効である。
のチューブの欠陥の検査等にも有効である。
以上詳述したように、本発明の検査方法によれば、管仮
に多数の管を取付けた機器の欠陥部の有無およびその箇
所を正確かつ容易に知ることができる。
に多数の管を取付けた機器の欠陥部の有無およびその箇
所を正確かつ容易に知ることができる。
図は本発明の一実施例を示すもので、第１図ないし第３
図は純水素製造機器の検査の工程を順を追って示す概略
構成図である。 １・・・純水素製造機器、９・・・管板、１２・・・細
管、１３・ベリラムガスボンベ、１４・ヘリウム質４分
析計、１５・・荒引ポンプ、１６・・・サンプリングポ
ンプ、１８・・パツキン、１９・・抽出管、２２・・捕
集管。 出ｊ頭人復代〕里人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図
図は純水素製造機器の検査の工程を順を追って示す概略
構成図である。 １・・・純水素製造機器、９・・・管板、１２・・・細
管、１３・ベリラムガスボンベ、１４・ヘリウム質４分
析計、１５・・荒引ポンプ、１６・・・サンプリングポ
ンプ、１８・・パツキン、１９・・抽出管、２２・・捕
集管。 出ｊ頭人復代〕里人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 管板と、この管板に多数取付けられた管とからなる機器
の漏洩を検出する方法であって、管の管板開口側のみを
露出するようにしてこの機器を容器内に気密に収納し、
容器内をヘリウムガスで加圧して、 （イ）容器内エリ管板の開口側へ漏洩したヘリウムガス
を測定する工程 （ロ）管の開口エリ管内へ気密に抽出管を夫々挿入し、
各管内に漏洩したヘリウムガスを個別に測定する工程 （ハ）夫々の管の開口を囲むようにして管板端面に捕集
管を気密に当接するとともに、管の端部を密封し、各管
と管板との隙間から漏洩したヘリウムガスを捕集管内に
捕集し計測する工程の３つの工・程を行なって検査する
ことを特徴とする漏洩検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5026483A JPS59176640A (ja) | 1983-03-25 | 1983-03-25 | 漏洩検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5026483A JPS59176640A (ja) | 1983-03-25 | 1983-03-25 | 漏洩検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59176640A true JPS59176640A (ja) | 1984-10-06 |
Family
ID=12854107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5026483A Pending JPS59176640A (ja) | 1983-03-25 | 1983-03-25 | 漏洩検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59176640A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6886389B1 (en) * | 2003-12-10 | 2005-05-03 | The Boeing Company | Systems and methods for detecting and locating leaks in internal pressure vessels |
| FR2918037A1 (fr) * | 2007-06-29 | 2009-01-02 | Sunaero Helitest Soc Par Actio | Procede de maintenance d'un reservoir d'aeronef. |
-
1983
- 1983-03-25 JP JP5026483A patent/JPS59176640A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6886389B1 (en) * | 2003-12-10 | 2005-05-03 | The Boeing Company | Systems and methods for detecting and locating leaks in internal pressure vessels |
| FR2918037A1 (fr) * | 2007-06-29 | 2009-01-02 | Sunaero Helitest Soc Par Actio | Procede de maintenance d'un reservoir d'aeronef. |
| WO2009007614A2 (fr) * | 2007-06-29 | 2009-01-15 | Sunaero-Helitest | Procede de maintenance d'un reservoir d'aeronef |
| WO2009007614A3 (fr) * | 2007-06-29 | 2009-03-19 | Sunaero Helitest | Procede de maintenance d'un reservoir d'aeronef |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20080307858A1 (en) | Apparatus and Process for Leak-Testing and Qualification of Fluid Dispensing Vessels | |
| US3672207A (en) | Apparatus for verifying hermeticity of small electronic assemblies | |
| US20080060421A1 (en) | Leak characterization apparatuses and methods for fluid storage containers | |
| CN107340101A (zh) | 一种密封装置气体微泄漏评价装置及方法 | |
| US3487677A (en) | Method for leak detection | |
| US3572096A (en) | Method and apparatus for inspecting sealed packages for leaks | |
| US4583394A (en) | Device and method for leak location | |
| JP6534627B2 (ja) | 被検査容器の漏洩検査方法、及び漏洩検査装置 | |
| JP4374241B2 (ja) | 対象物の密封性を測定するためのシステム及び方法 | |
| JPS60111132A (ja) | タンクの漏洩検査方法 | |
| JP4968668B2 (ja) | ハウジングなどの漏れ検査装置 | |
| JPS59176640A (ja) | 漏洩検出装置 | |
| CN115336421B (zh) | 一种用于单组元推力器的氦质谱检漏装置 | |
| Vinogradov et al. | How to choose a leak detection method | |
| JP2827204B2 (ja) | 良品容器選別方法 | |
| JPH03231132A (ja) | ブレーキキャリパのリークテスタ | |
| JPS6336128A (ja) | ガス封入機器の漏洩検査装置 | |
| JP4002148B2 (ja) | ヒートパイプのリーク検査方法およびその検査装置 | |
| JP4249675B2 (ja) | 低温容器内の配管のガス漏れ箇所検査システム | |
| Anderson | Leak testing | |
| JPS5844325A (ja) | 容器の漏れ検査装置 | |
| CN219977699U (zh) | 绝缘油等离子色谱仪样气通路气密性检测装置 | |
| RU2538420C2 (ru) | Устройство контроля герметичности микроструктур | |
| JPS5817336A (ja) | ホイールのエア洩れ検査装置 | |
| JPH02673Y2 (ja) |