JPS59168346A - 単板の欠陥検出装置 - Google Patents
単板の欠陥検出装置Info
- Publication number
- JPS59168346A JPS59168346A JP4338983A JP4338983A JPS59168346A JP S59168346 A JPS59168346 A JP S59168346A JP 4338983 A JP4338983 A JP 4338983A JP 4338983 A JP4338983 A JP 4338983A JP S59168346 A JPS59168346 A JP S59168346A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- veneer
- light
- scanning
- defects
- pattern
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
- G01N21/8986—Wood
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- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は集成単板や合板の素材として用いる単板の生部
、元部、やに、黄変、虫穴、人皮、しみ、われ、かけ等
の欠陥を検出するための単板の欠陥検出装置に関する。
、元部、やに、黄変、虫穴、人皮、しみ、われ、かけ等
の欠陥を検出するための単板の欠陥検出装置に関する。
単板の欠陥を検出する装置とし、てはすでに種々のもの
が提案されているが、上述のように欠陥には多種のもの
があシ、これらすべての欠陥を検出することができるも
のはな、く、今なお目視検査に重点がおかれてＡるのが
現状である。
が提案されているが、上述のように欠陥には多種のもの
があシ、これらすべての欠陥を検出することができるも
のはな、く、今なお目視検査に重点がおかれてＡるのが
現状である。
本発明はこのような点に鑑み為されたものであり、その
目的とするところは棟々の欠陥をすべて検出することが
でき、これまでの目視検査にとってかわることができる
単板の欠陥検出装置を提供するにある。
目的とするところは棟々の欠陥をすべて検出することが
でき、これまでの目視検査にとってかわることができる
単板の欠陥検出装置を提供するにある。
本発明は単板を走査する走査光を出力する光源と、単板
揺方に走査光の走査方向と平行に配設芒れたシリクドル
カルレシズと、シリシドルカルレ、７，２の背方に一端
が並べられてシリシドルカルレンズを通った走査光が一
端に入射する光ファイバーと、光ファイバーの集束させ
た他端に配設された複数個の受光素子と、受光素子出力
から光ファイバー一端に入射した走査光の光パターシの
面積や周囲長等のパラメータを抽出する演算部と、演算
部出力に基いて単板の欠陥の有無を判定する判定部とか
ら成ることを特徴とし、単板を透過した走査光の明るさ
、つまシは単板における透過率だけでなく、単板を透過
した走査光の光パターンの形状や大きさ等を基に欠陥を
検出するようにしたものである。
揺方に走査光の走査方向と平行に配設芒れたシリクドル
カルレシズと、シリシドルカルレ、７，２の背方に一端
が並べられてシリシドルカルレンズを通った走査光が一
端に入射する光ファイバーと、光ファイバーの集束させ
た他端に配設された複数個の受光素子と、受光素子出力
から光ファイバー一端に入射した走査光の光パターシの
面積や周囲長等のパラメータを抽出する演算部と、演算
部出力に基いて単板の欠陥の有無を判定する判定部とか
ら成ることを特徴とし、単板を透過した走査光の明るさ
、つまシは単板における透過率だけでなく、単板を透過
した走査光の光パターンの形状や大きさ等を基に欠陥を
検出するようにしたものである。
図示の実施例により本発明を詳述すると、図中（１）は
２つの波長成分を含んだレーザー光を出力する光源であ
り、この光源（１）からのスポットビーム状のレーザー
光は多角形ミラー（ｌりの回転によって単板（２）の表
面を横切る走査を行なう。単板（１）の背方にはシリン
ドルカルレシズ（３）を上記走査方向と平行に配設して
あり、更にこのシリンドル力ルレシズ（３）の背方には
光ファイバー（４）をその一端がシリシドルカルしＪス
（３）の集光点よりも後方位置に並ぶように配設しであ
る。またこの光ファイバー（４）は上下４段に配設して
おシ、各段の光ファイバー（４）の他端は２つにふりわ
けて集束きせていて夫々にフィルター（１０）を介して
フォトマルチづライセーからなる受光素子（６）を臨ま
せている。ここで図中左方に並ぶ上下４つのフイエしタ
ー（１０）はある波長入、を透過し、図中右方に並ぶ上
下４つのフィルター （１０１は他の波長χ□を透過す
る選択透過フィルターである。向、各段の光ファイバー
（４）は、その２つにわけられた集束端に略同じ光を出
すようＫなっている。
２つの波長成分を含んだレーザー光を出力する光源であ
り、この光源（１）からのスポットビーム状のレーザー
光は多角形ミラー（ｌりの回転によって単板（２）の表
面を横切る走査を行なう。単板（１）の背方にはシリン
ドルカルレシズ（３）を上記走査方向と平行に配設して
あり、更にこのシリンドル力ルレシズ（３）の背方には
光ファイバー（４）をその一端がシリシドルカルしＪス
（３）の集光点よりも後方位置に並ぶように配設しであ
る。またこの光ファイバー（４）は上下４段に配設して
おシ、各段の光ファイバー（４）の他端は２つにふりわ
けて集束きせていて夫々にフィルター（１０）を介して
フォトマルチづライセーからなる受光素子（６）を臨ま
せている。ここで図中左方に並ぶ上下４つのフイエしタ
ー（１０）はある波長入、を透過し、図中右方に並ぶ上
下４つのフィルター （１０１は他の波長χ□を透過す
る選択透過フィルターである。向、各段の光ファイバー
（４）は、その２つにわけられた集束端に略同じ光を出
すようＫなっている。
妊て、単板（２）Ｋ入射するある径をもったスポットビ
ームとしてのレーザー走査光は、この単板（２）を透過
した後にシリシドルカルレシズ（３）を通るだめに、単
板（２）に何ら欠陥がなければ上下４段の光ファイバー
（４）の一端が並ぶ而には一定形状の且つ一定の大きさ
の楕円状の光パターンＡを第１図に示すように描くこと
となり、この光パターンＡが走査につれて上記面を移動
していく。走査途中に何ら欠陥部分を透過しなければ、
光ファイバー（４）の集束された各他端から出てくる光
レベルは夫々走査の間一定である。しかし、走査途中に
単板（２）の欠陥部分を透過すれば、この欠陥部分を透
過した走査光が元ファイバー（４）の一端が並ぶ面に描
く光パターンＡＪ−１：たとえは２４２図（ａ）や同図
（ｂ）に示すようなものとなり、従ってこの時にはいず
れかの、あるいはすべての受光素子（６）の出力レベル
が変動する。
ームとしてのレーザー走査光は、この単板（２）を透過
した後にシリシドルカルレシズ（３）を通るだめに、単
板（２）に何ら欠陥がなければ上下４段の光ファイバー
（４）の一端が並ぶ而には一定形状の且つ一定の大きさ
の楕円状の光パターンＡを第１図に示すように描くこと
となり、この光パターンＡが走査につれて上記面を移動
していく。走査途中に何ら欠陥部分を透過しなければ、
光ファイバー（４）の集束された各他端から出てくる光
レベルは夫々走査の間一定である。しかし、走査途中に
単板（２）の欠陥部分を透過すれば、この欠陥部分を透
過した走査光が元ファイバー（４）の一端が並ぶ面に描
く光パターンＡＪ−１：たとえは２４２図（ａ）や同図
（ｂ）に示すようなものとなり、従ってこの時にはいず
れかの、あるいはすべての受光素子（６）の出力レベル
が変動する。
一万、これらの受光素子（５）に接続された処理回路は
１．第５図に示すように複数個の第１次パラメータ抽出
部（１２）と第２次パラメータ抽出部（１３）とから成
る演算部（６）と、バッフアメ七り（７）と、判定回路
（８）とから構成され、演算部（６）は、異なる波長の
元を受ける２組の受光素子（６）群に応じて２組有して
いる。しかして演算部（６）の第１次パラメータ抽出部
（Ｉ２）においては、前記上下に並ぶ複数個の受光素子
（５）からの出力を時系列的に演算処理して前記光パタ
ー、、７Ａの周囲長や面積等のパラメータを抽出する。
１．第５図に示すように複数個の第１次パラメータ抽出
部（１２）と第２次パラメータ抽出部（１３）とから成
る演算部（６）と、バッフアメ七り（７）と、判定回路
（８）とから構成され、演算部（６）は、異なる波長の
元を受ける２組の受光素子（６）群に応じて２組有して
いる。しかして演算部（６）の第１次パラメータ抽出部
（Ｉ２）においては、前記上下に並ぶ複数個の受光素子
（５）からの出力を時系列的に演算処理して前記光パタ
ー、、７Ａの周囲長や面積等のパラメータを抽出する。
第２次パラメータ抽出部（１３）では更に（周囲長）２
／面積などのパラメータを抽出する。そしてこれらパラ
メータを基に判定回路（８）・において単板（２）の欠
陥の有無及び欠陥があってもそれが許容される範囲の欠
陥であるかどうかを判定するのである。ここで、波長の
異なる２つの光に対して処理を行なっているのは単板（
２）の固有の色の差に対して補正を行なえるようにして
判に能力を高めるためである。
／面積などのパラメータを抽出する。そしてこれらパラ
メータを基に判定回路（８）・において単板（２）の欠
陥の有無及び欠陥があってもそれが許容される範囲の欠
陥であるかどうかを判定するのである。ここで、波長の
異なる２つの光に対して処理を行なっているのは単板（
２）の固有の色の差に対して補正を行なえるようにして
判に能力を高めるためである。
第５図以下に示すのけ、こうして欠陥の有無が検出烙れ
た後の単板（２）における導管ｕ５）の方向の検出装置
ａである。梁成単板（１６）は多数枚の単板（２）を槓
ノー接着して形成したフリッチを複数枚の単板（２）を
通る面でスライスすることによって得るものであるため
に、各単板（２）の導ｆｔ１５１の方向が一致していな
いと第４図に示すように不自然なものとなる。
た後の単板（２）における導管ｕ５）の方向の検出装置
ａである。梁成単板（１６）は多数枚の単板（２）を槓
ノー接着して形成したフリッチを複数枚の単板（２）を
通る面でスライスすることによって得るものであるため
に、各単板（２）の導ｆｔ１５１の方向が一致していな
いと第４図に示すように不自然なものとなる。
図中（ｌηは単板（２）間の接着面が表面にあられれて
表現されている木目である。ざて、この導管ｔ１６）の
方向の検出装置面であるが、これはレーザー光を出力す
る光源シ１）と、ミラー（２２と、半球状ドーム体（至
）の内面に多数個のフォトタイオードなどの受光素子（
２５１を同心円状で且つ放射状となるように５次元的に
配列したアレイ受光器（２３）とから構成され、アレイ
受光器（２３）の頂点からアレイ受光器（２３）内に導
ひいたレーザー光を単板（２）表面に照射し、この反射
光をアレイ受光器（２３）の各受光素子（２５）にて受
光するようになっている。また各受光素子（２５）は第
７図に示すようにマルチづレクサ喘とＡ／Ｄ変換器（２
力とを介して処理判定回路値８）に接続でれている。
表現されている木目である。ざて、この導管ｔ１６）の
方向の検出装置面であるが、これはレーザー光を出力す
る光源シ１）と、ミラー（２２と、半球状ドーム体（至
）の内面に多数個のフォトタイオードなどの受光素子（
２５１を同心円状で且つ放射状となるように５次元的に
配列したアレイ受光器（２３）とから構成され、アレイ
受光器（２３）の頂点からアレイ受光器（２３）内に導
ひいたレーザー光を単板（２）表面に照射し、この反射
光をアレイ受光器（２３）の各受光素子（２５）にて受
光するようになっている。また各受光素子（２５）は第
７図に示すようにマルチづレクサ喘とＡ／Ｄ変換器（２
力とを介して処理判定回路値８）に接続でれている。
導管０６）は反射率が低くて細長いものであるからアレ
イ受光器（２３）内面における受光レベルの分布は、導
管（１６）の方向に応じて第６図に示すようになる。図
中ハツチツノ部分は受光レベルの高い部分である。この
ような受光レベルの分布から導管（１６）の方向を検出
するわけであり、積層接着してフリッチを形成する場合
、各単板（２）を導管０５）方向が揃うように積層接着
できるのである。
イ受光器（２３）内面における受光レベルの分布は、導
管（１６）の方向に応じて第６図に示すようになる。図
中ハツチツノ部分は受光レベルの高い部分である。この
ような受光レベルの分布から導管（１６）の方向を検出
するわけであり、積層接着してフリッチを形成する場合
、各単板（２）を導管０５）方向が揃うように積層接着
できるのである。
本発明は前述のように単板を透過した走査光の光パター
シの形状や太すキ等を基に単板における欠陥の有無を判
別するものでろり、種々の欠陥をいずれも検出すること
ができてこれまでの目視による検査の自動化、省人化を
図れるものである。
シの形状や太すキ等を基に単板における欠陥の有無を判
別するものでろり、種々の欠陥をいずれも検出すること
ができてこれまでの目視による検査の自動化、省人化を
図れるものである。
第１図は本発明一実施例の斜視図、第２図（ａ）（ｂ）
は欠陥部に対応する光パターンの例を正す正面図、第５
図は同上の処理回路のブロック回路図、第４図は未成単
板の正面図、第５図は導管の方向の検出装置の斜視図、
第６図（ａ） （ｂ）は同上受光レベル分布の説明図、
第７図は同上のブロック回路図であり、（ｌ）は光源、
（２）は単板、（３）はシリシドルカルレシズ、（４）
は光ファイバー、（５）は受光素子、（６）は演算部、
（８）は利足回路を示す。 代理人 弁理士 石 １）長 七 第５図 第６図 （ａ）（ｂ） 第７図
は欠陥部に対応する光パターンの例を正す正面図、第５
図は同上の処理回路のブロック回路図、第４図は未成単
板の正面図、第５図は導管の方向の検出装置の斜視図、
第６図（ａ） （ｂ）は同上受光レベル分布の説明図、
第７図は同上のブロック回路図であり、（ｌ）は光源、
（２）は単板、（３）はシリシドルカルレシズ、（４）
は光ファイバー、（５）は受光素子、（６）は演算部、
（８）は利足回路を示す。 代理人 弁理士 石 １）長 七 第５図 第６図 （ａ）（ｂ） 第７図
Claims (1)
- （１）単板を走査する走査光を出力する光源と、単板背
方に走査光の走査方向と平行に配役されたシリシドルカ
ルレンズと、シリンドルカルレシズの背方に一端が並べ
られてシリシドルカルレンズを通った走査光が一端に入
射する光ファイバーと、光ファイバーの集束させた他端
に配設をれた複数個の受光素子と、受光素子出力から光
ファイバー一端に入射した走査光の光パターンの面積や
周囲長等のパラメータを抽出する演算部上、演算部出力
に基いて単板の欠陥の有無を判定する判定部とから成る
ことを特徴とする単板の欠陥検出装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4338983A JPS59168346A (ja) | 1983-03-15 | 1983-03-15 | 単板の欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4338983A JPS59168346A (ja) | 1983-03-15 | 1983-03-15 | 単板の欠陥検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59168346A true JPS59168346A (ja) | 1984-09-22 |
Family
ID=12662436
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4338983A Pending JPS59168346A (ja) | 1983-03-15 | 1983-03-15 | 単板の欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59168346A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62223647A (ja) * | 1986-03-26 | 1987-10-01 | Hitachi Ltd | 異物検出方法および装置 |
| CN104345063A (zh) * | 2014-09-10 | 2015-02-11 | 德清县传琪装饰材料有限公司 | 一种木皮检测装置 |
-
1983
- 1983-03-15 JP JP4338983A patent/JPS59168346A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62223647A (ja) * | 1986-03-26 | 1987-10-01 | Hitachi Ltd | 異物検出方法および装置 |
| CN104345063A (zh) * | 2014-09-10 | 2015-02-11 | 德清县传琪装饰材料有限公司 | 一种木皮检测装置 |
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