JPS5915806A - 受光器トラツキング方法 - Google Patents
受光器トラツキング方法Info
- Publication number
- JPS5915806A JPS5915806A JP10164882A JP10164882A JPS5915806A JP S5915806 A JPS5915806 A JP S5915806A JP 10164882 A JP10164882 A JP 10164882A JP 10164882 A JP10164882 A JP 10164882A JP S5915806 A JPS5915806 A JP S5915806A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- point
- angle
- receiver
- field
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Blast Furnaces (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は投光器および受光器よりなシ、その投光角と受
光角より三角測量方式で被測定物体の表面形状を、投光
角を順次変化させながら被測定物表面を走査し測定する
方法において、被測定物表面の該投光点を、狭視野の受
光器の視野内に把えるべく、受光器をトラッキングする
方法に関するものである。
光角より三角測量方式で被測定物体の表面形状を、投光
角を順次変化させながら被測定物表面を走査し測定する
方法において、被測定物表面の該投光点を、狭視野の受
光器の視野内に把えるべく、受光器をトラッキングする
方法に関するものである。
従来、狭視野の受光器を測定点の移動に伴い、受光器を
正確にトラッキングする方法はほとんど実施されていな
かった。その理由は(1)受光器を正確にトラッキング
することは、技術的に困難な要2− 素が多く実現できなかった。(2)受光器の視野を。
正確にトラッキングする方法はほとんど実施されていな
かった。その理由は(1)受光器を正確にトラッキング
することは、技術的に困難な要2− 素が多く実現できなかった。(2)受光器の視野を。
狭視野でなく広視野にすれば、困難なトラッキングを行
う必要がない。等の理由である。
う必要がない。等の理由である。
しかし広視野の受光器は、視野当勺の分解能が、例えば
全視野の17100であるとすれば、全視野の1/10
0の分解能しか有しないことになるが、狭視野の受光器
の視野角が全視野の1/10であるとし、かつ狭視野内
の視野の分解能が、上記と同じ1/100であるとする
と、全視野の1/1000の分解能を有することになる
。従って、受光器に高分解能を必要とする場合は、狭視
野の受光器を測定点の移動に伴い、受光器をトラッキン
グする方法の開発が強く要望されて来た。
全視野の17100であるとすれば、全視野の1/10
0の分解能しか有しないことになるが、狭視野の受光器
の視野角が全視野の1/10であるとし、かつ狭視野内
の視野の分解能が、上記と同じ1/100であるとする
と、全視野の1/1000の分解能を有することになる
。従って、受光器に高分解能を必要とする場合は、狭視
野の受光器を測定点の移動に伴い、受光器をトラッキン
グする方法の開発が強く要望されて来た。
本発明は、この狭視野の受光器をトラッキングする方法
を提供し、高分解能の受光器で実現する目的でなされた
ものである。
を提供し、高分解能の受光器で実現する目的でなされた
ものである。
以下1本発明を図面に示す一実施例を参照して説明する
。
。
本実施例は、受光器トラッキング方法を、レーザを用い
て装入物表面の断面形状を検出する、い〜3− わゆるレーザ方式プロフィルメータを備えた溶鉱炉に適
用したものである。
て装入物表面の断面形状を検出する、い〜3− わゆるレーザ方式プロフィルメータを備えた溶鉱炉に適
用したものである。
第1図は上記レーザ方式プロフィルメータを備えた溶鉱
炉の概略構成図で、図中1は、内部に例えばコークスや
鉱石等からなる装入物2を充填した溶鉱炉本体を示して
いる。この溶鉱炉本体lの炉壁3上部は、上方に絞り込
まれて傾斜面となっており、この傾斜面には溶鉱炉内部
を介して1例えば相対向して投光窓4および受光窓5が
設けである。
炉の概略構成図で、図中1は、内部に例えばコークスや
鉱石等からなる装入物2を充填した溶鉱炉本体を示して
いる。この溶鉱炉本体lの炉壁3上部は、上方に絞り込
まれて傾斜面となっており、この傾斜面には溶鉱炉内部
を介して1例えば相対向して投光窓4および受光窓5が
設けである。
この時、これらの投光窓4および受光窓5との距離は、
Lに定められる。上記投光窓4は、溶鉱炉本体1外部に
設けたレーザ装置6のレーザ光7を溶鉱炉内に投光する
だめのものである。一方、受光窓5は、受光レンズから
なっており、溶鉱炉本体1内の装入物2表面で乱反射さ
れた前記レーザ光7を集光して、光検出器に導いている
。
Lに定められる。上記投光窓4は、溶鉱炉本体1外部に
設けたレーザ装置6のレーザ光7を溶鉱炉内に投光する
だめのものである。一方、受光窓5は、受光レンズから
なっており、溶鉱炉本体1内の装入物2表面で乱反射さ
れた前記レーザ光7を集光して、光検出器に導いている
。
このようなレーザ方式プロフィルメータを備えた溶鉱炉
は、レーザ装置6のレー=ザ光7を図示しないコリメー
タ等の光学系全弁したのち、反射鏡9で反射させて溶鉱
炉本体l内部に照射し、装入4− 物2表面による上記レーザ光7の乱反射光7aを。
は、レーザ装置6のレー=ザ光7を図示しないコリメー
タ等の光学系全弁したのち、反射鏡9で反射させて溶鉱
炉本体l内部に照射し、装入4− 物2表面による上記レーザ光7の乱反射光7aを。
受光窓5の受光レンズで集光して、受光器8で検出する
。そして、前記レーザ光70投光角α、乱反射光7aの
受光角βおよび前記投光窓4と受光窓5との距離りによ
シ、いわゆる三角測量法の演算を行い、これによシ装入
物20表面各部の高さ。
。そして、前記レーザ光70投光角α、乱反射光7aの
受光角βおよび前記投光窓4と受光窓5との距離りによ
シ、いわゆる三角測量法の演算を行い、これによシ装入
物20表面各部の高さ。
言い換えれば装入物の表面断面形状(プロフィル)を得
る。
る。
ところで、上記反射光7aを受光器8で検出する場合、
従来方式では、受光器8の視野を測定に必要な全視野1
例えば第1図の例では直径全体としていた。従って、直
径全体は本実施例では6500朋もあるので、受光器の
分解能が1/100とすれば、水平位置の分解能は65
雁であり、充分な分解能ではなかった。
従来方式では、受光器8の視野を測定に必要な全視野1
例えば第1図の例では直径全体としていた。従って、直
径全体は本実施例では6500朋もあるので、受光器の
分解能が1/100とすれば、水平位置の分解能は65
雁であり、充分な分解能ではなかった。
一方、本発明の狭視野の受光器のトラッキング方法を実
施すると、受光器の狭視野を直径の1710とすると、
受光器の狭視野は650 amとなる。受光器は上記と
同じ分解能1/100とすれば。
施すると、受光器の狭視野を直径の1710とすると、
受光器の狭視野は650 amとなる。受光器は上記と
同じ分解能1/100とすれば。
水平位置の分解能は6.5朋であシ、高い分解能が5−
得られる。
更に受光器8を狭視野化することで得られる他の利点も
列挙してみる。
列挙してみる。
受光器8で得られた信号から有効な反射光を抽出する信
号処理過程で、広視野では判断しなければならない信号
量が多く、狭視野では少くなり。
号処理過程で、広視野では判断しなければならない信号
量が多く、狭視野では少くなり。
信号処理上から狭視野が有利である。特に相関処理をす
る場合には、処理量が視野の2乗に比例して増大するの
で、狭視野化が極めて有利である。
る場合には、処理量が視野の2乗に比例して増大するの
で、狭視野化が極めて有利である。
また受光器8を広視野化すると、前述のレーザ光70強
い散乱光を視野内に把えることが多く、その結果、受光
器8のダイナミックレンジを大きくする必要があったシ
、有効な乱反射光7aの信号レベルが相対的に小さくな
シ、S/N が劣化することが多い。従って受光器8は
狭視野化が望ましい。
い散乱光を視野内に把えることが多く、その結果、受光
器8のダイナミックレンジを大きくする必要があったシ
、有効な乱反射光7aの信号レベルが相対的に小さくな
シ、S/N が劣化することが多い。従って受光器8は
狭視野化が望ましい。
また受光器8を広視野化した場合、装入物2の全体の面
を視野とする必要があシ、受光器8の光学系のピントを
視野の全体で合せることは実際上不可能である。受光器
8を狭視野化する場合には。
を視野とする必要があシ、受光器8の光学系のピントを
視野の全体で合せることは実際上不可能である。受光器
8を狭視野化する場合には。
ピントをそれぞれの視野で最適値に合せることが−6〜
出来る。従って受光器8を狭視野化することは、受光器
5の光学系を最適化するうえで極めて有効な手段である
。
5の光学系を最適化するうえで極めて有効な手段である
。
以上の説明のように、受光器8を狭視野化することは、
実用上有効な受光器を作るうえで不可欠の技術である。
実用上有効な受光器を作るうえで不可欠の技術である。
以下順を追って本発明の狭視野の受光器のトラッキング
方法について説明する。
方法について説明する。
第1図のレーザ光7は、ミラー9によって任意の投光角
αで溶鉱炉本体1の内部に投光できるが、説明の便のた
め第2図のようにA点を回転中心とするミラー9によっ
て、炉内の装入物20表面に投光されるものとする。又
、受光器8は狭視野で、第2図B点を同転中心として角
度トラッキングするものとする。
αで溶鉱炉本体1の内部に投光できるが、説明の便のた
め第2図のようにA点を回転中心とするミラー9によっ
て、炉内の装入物20表面に投光されるものとする。又
、受光器8は狭視野で、第2図B点を同転中心として角
度トラッキングするものとする。
なおここでいう受光器8の回転トラッキングは、受光器
8がB点を中心に回転する場合もあるが、受光器8内部
に設けた受光ミラーで一度反射させる例では、受光ミラ
ーがB点を中心に角度トラッキングする場合もある。
8がB点を中心に回転する場合もあるが、受光器8内部
に設けた受光ミラーで一度反射させる例では、受光ミラ
ーがB点を中心に角度トラッキングする場合もある。
7−
第2図の装入物2表面は、光スポットが受光されるまで
は未知であるので、まず一点を検知する必要がある。第
2図で、投光角を一定の角度αに固定し、未知の位置の
装入物2表面にレーザ光7を投光する。次に狭視野の受
光器を一定の角速度で、全視野(実施例では直径全体)
を走査する。
は未知であるので、まず一点を検知する必要がある。第
2図で、投光角を一定の角度αに固定し、未知の位置の
装入物2表面にレーザ光7を投光する。次に狭視野の受
光器を一定の角速度で、全視野(実施例では直径全体)
を走査する。
この時、狭視野の受光器8は受光角βで受光出来る。こ
の投光角α、受光角βおよびAB間の距離(上記りに相
当)によって、三角測量法の演算で28点がまず1点求
まる。
の投光角α、受光角βおよびAB間の距離(上記りに相
当)によって、三角測量法の演算で28点がまず1点求
まる。
次に、第2図の装入物2表面のP2 + P3以Fを測
定するわけであるが、21点を求めたのと同じ方法では
、1点測定するのに全視野を走査する必要があり長時間
を要するので、多数の点をPlと同じ方法で測定するこ
とは実用上不可能である。次に22点は、21点と垂直
方向位置は同じであると仮定し。
定するわけであるが、21点を求めたのと同じ方法では
、1点測定するのに全視野を走査する必要があり長時間
を要するので、多数の点をPlと同じ方法で測定するこ
とは実用上不可能である。次に22点は、21点と垂直
方向位置は同じであると仮定し。
水平方向のみ一定の距離d離れたP≦にあると仮定する
。
。
このP′2 点にレーザ光7が当るように投光角αを
決め、受光器8は狭視野の中心にv2を測定でき一8= るように受光角β′を求め−レーザ光7を投光角αで投
光し、受光器8は受光角β′となるように角度トラッキ
ングする。
決め、受光器8は狭視野の中心にv2を測定でき一8= るように受光角β′を求め−レーザ光7を投光角αで投
光し、受光器8は受光角β′となるように角度トラッキ
ングする。
装入物2表面のレーザ光7の実際に当った点P2はP′
2 と異なるので、受光器8は視野内の中心から離れ
た所に光スポットを検知する。この光スポットの中心か
らの離れ量により、真の受光角βを演算する。上記投光
角αと真の受光角βと、AB間の距離から上記同様に三
角測量法の演算で22点が決まる。
2 と異なるので、受光器8は視野内の中心から離れ
た所に光スポットを検知する。この光スポットの中心か
らの離れ量により、真の受光角βを演算する。上記投光
角αと真の受光角βと、AB間の距離から上記同様に三
角測量法の演算で22点が決まる。
次に22点が求まると、同様の方法でP3以下が求まる
。従って、すべての測定すべき点が、この方法で求める
ことが出来る。
。従って、すべての測定すべき点が、この方法で求める
ことが出来る。
なお、ここで受光器の狭視野の大きさをDとすると、上
記一定距離dは、dく−が一般的には適当な関係である
。装入物2表面の凹凸の程度で、dは適当に決める必要
がある。dが充分小さいと。
記一定距離dは、dく−が一般的には適当な関係である
。装入物2表面の凹凸の程度で、dは適当に決める必要
がある。dが充分小さいと。
受光器のトラッキングを失敗し、受光器8の視野を光ス
ポットがはずれる事はないが、dが大きいと、装入物2
の表面の凹凸の程度によっては、受9− 光器のトラッキングに失敗し、受光器8の視野に光スポ
ットが入らないことがある。この時にはPlを求めたと
同じ方法を適用すれば、必ず装入物2表面が見つかり、
受光器のトラッキングの失敗から回復することが出来る
。
ポットがはずれる事はないが、dが大きいと、装入物2
の表面の凹凸の程度によっては、受9− 光器のトラッキングに失敗し、受光器8の視野に光スポ
ットが入らないことがある。この時にはPlを求めたと
同じ方法を適用すれば、必ず装入物2表面が見つかり、
受光器のトラッキングの失敗から回復することが出来る
。
又、21点からP′2を仮ボする時、第3図のように装
入物2の表面形状の概略形状が事前に判っている時には
、pl の垂直位置をP、と同じとするのでなく、P
、を通る概略形状からP′2点を予測することが出来る
。この結果、第2図と第3図を比較すると、P2とP′
2 の予測誤差が第3図の方が少く、受光器8のトラッ
キングを失敗することが、上記dを大きくしても、はと
んど皆無に近くなる。
入物2の表面形状の概略形状が事前に判っている時には
、pl の垂直位置をP、と同じとするのでなく、P
、を通る概略形状からP′2点を予測することが出来る
。この結果、第2図と第3図を比較すると、P2とP′
2 の予測誤差が第3図の方が少く、受光器8のトラッ
キングを失敗することが、上記dを大きくしても、はと
んど皆無に近くなる。
以上のように1本発明の狭視野の受光器のトラッキング
方法を適用すると、狭視野の高分解能の受光器を使用す
ることが可能となシ、かつ万一トラッキングを失敗する
ことがあっても、確実に回復することが出来る。
方法を適用すると、狭視野の高分解能の受光器を使用す
ることが可能となシ、かつ万一トラッキングを失敗する
ことがあっても、確実に回復することが出来る。
特に第1図で述べたレーザ式プロフィルメータに適用し
た実施例では、受光器を従来実現不可能10− であったレベルの高分解能で使用できたこと、信号処理
量が極めて少なくて済んだこと、極めて高いS/Nを実
現できたこと、光学系のピント調整が最適化できたこと
など多大の効果があった。
た実施例では、受光器を従来実現不可能10− であったレベルの高分解能で使用できたこと、信号処理
量が極めて少なくて済んだこと、極めて高いS/Nを実
現できたこと、光学系のピント調整が最適化できたこと
など多大の効果があった。
図は本発明の一実施例を説明するもので、第1図はレー
ザ方式プロフィルメータを備えた溶鉱炉の概略構成図、
第2図は受光器I・ラツキン・グ方法の説明図、第3図
は受光器トラッキング方法の他の例の説面図である。 コ、・・溶鉱炉本体 2・・・装入物3 炉壁
4・・投光窓 5・・・受光窓 6・・・レーザ装置7・・
・レーザ光 7a・・乱反射光8・・・受光器
9・・反射鏡A・・レーザ光7の回転中心 B・・受光器8の回転中心 Pl、P2.P3・・・装入物2の表面の光スポットp
’、、 、 p′、l、 P′4 装入物2の表面の
光スポットの予測位置 一1]、− 第7図 第2コ 白□ 第3訂 手続補正書(自発) 昭和58年8月29日 寺許庁長官 若杉和夫 殿 1事件の表示 昭和57年特許願第101648号2発
明の名称 受光器トラッキング方法3補正をする者 事
件との関係 特許出願人件 所 東京都千代田区大手
町2丁目6番3号名 称 (665) 新日本製鐵
株式全針1代 理 人 住 所 東京都中央区日本橋3丁目3番3号5補正命
令の日付 昭和 年 月 日(発送日)1、 明
細書、第8頁、155行目次にP2Jを1従って1)2
」と補正する。 2 同、同頁、199行目投光角α」ヲ「投光角α2」
と補正する。 3、同、第9頁、7行目[真の受光角βを−1を「真の
受光角β2を」と補正する。 4 同、同頁、8〜9行目の「上記投光角αと真の受光
角βと、AB間の距離から」を「上記投光角α2と真の
受光角β2と、AB間の距離T、 h・ら」と補正する
。 5、 同、同頁、17〜19行の全行全以下のように補
正する。 「dは適当な値に決める必要がある。CIが充分小さい
と、受光器8の視野仝光スポットがはきい」。 6、 同、第10頁、3行目の「装入物2」全1装入物
2の」と補正する。 7、 同、同頁、9行目の「222点を予測する」を「
222点がQ2′ の位置伺近にあること全予測する」
と補正する。 8、同、同頁、11行の全行を以下のように補正する。 「すると、P2との予測誤差が第2図のP2′よりも第
3図のQ2′の方が少なく、」。 9、第2図及び第3図音別紙のとおり補正する。 以 上
ザ方式プロフィルメータを備えた溶鉱炉の概略構成図、
第2図は受光器I・ラツキン・グ方法の説明図、第3図
は受光器トラッキング方法の他の例の説面図である。 コ、・・溶鉱炉本体 2・・・装入物3 炉壁
4・・投光窓 5・・・受光窓 6・・・レーザ装置7・・
・レーザ光 7a・・乱反射光8・・・受光器
9・・反射鏡A・・レーザ光7の回転中心 B・・受光器8の回転中心 Pl、P2.P3・・・装入物2の表面の光スポットp
’、、 、 p′、l、 P′4 装入物2の表面の
光スポットの予測位置 一1]、− 第7図 第2コ 白□ 第3訂 手続補正書(自発) 昭和58年8月29日 寺許庁長官 若杉和夫 殿 1事件の表示 昭和57年特許願第101648号2発
明の名称 受光器トラッキング方法3補正をする者 事
件との関係 特許出願人件 所 東京都千代田区大手
町2丁目6番3号名 称 (665) 新日本製鐵
株式全針1代 理 人 住 所 東京都中央区日本橋3丁目3番3号5補正命
令の日付 昭和 年 月 日(発送日)1、 明
細書、第8頁、155行目次にP2Jを1従って1)2
」と補正する。 2 同、同頁、199行目投光角α」ヲ「投光角α2」
と補正する。 3、同、第9頁、7行目[真の受光角βを−1を「真の
受光角β2を」と補正する。 4 同、同頁、8〜9行目の「上記投光角αと真の受光
角βと、AB間の距離から」を「上記投光角α2と真の
受光角β2と、AB間の距離T、 h・ら」と補正する
。 5、 同、同頁、17〜19行の全行全以下のように補
正する。 「dは適当な値に決める必要がある。CIが充分小さい
と、受光器8の視野仝光スポットがはきい」。 6、 同、第10頁、3行目の「装入物2」全1装入物
2の」と補正する。 7、 同、同頁、9行目の「222点を予測する」を「
222点がQ2′ の位置伺近にあること全予測する」
と補正する。 8、同、同頁、11行の全行を以下のように補正する。 「すると、P2との予測誤差が第2図のP2′よりも第
3図のQ2′の方が少なく、」。 9、第2図及び第3図音別紙のとおり補正する。 以 上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 投光器および受光器よりなり、その投光角と受光角
より三角測量方式等で、被測定物体の表面形状を投光角
を順次変化させながら、被測定物表面を走査し測定する
方法において、投光角を定方向に固定し、未知位置の被
測定物体の表面に光を投射し、受光器を一定の角速度で
走査し、未知位置の被測定物体表面の光スポットを受光
器で検知することで、未知位置の被測定物体表面の1点
の位置を実測し、その既知位置の1点から、微少距離前
れた点の垂直位置を上記既知位置と同一と推定し、投光
角を微少角偏向させ、その推定点に向け、かつ受光器は
受光器の視野の中央に、その推定点を把えるべく位置に
微少角偏向させ、未知位置の光スポットを受光器の視野
内に把え、その投光角および実際の受光角から、微少距
1− 離落れた点の位置を検知し、この新たに検知した既知位
置から、更に微少距離前れた未知の点の位置を次々に検
知することを特徴とする受光器トラッキング方法。 2 微少距離前れた点の位置を、既知の垂直位置と同一
と推定するのでなく、既知の測定点を通る予め定めた概
略形状から推定する特許請求の範囲第1項記載の受光器
トラッキング方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10164882A JPS5915806A (ja) | 1982-06-14 | 1982-06-14 | 受光器トラツキング方法 |
US06/502,112 US4588297A (en) | 1982-06-14 | 1983-06-08 | Optical profile measuring method |
DE19833321287 DE3321287A1 (de) | 1982-06-14 | 1983-06-13 | Optisches profilmessverfahren und vorrichtung zu seiner durchfuehrung |
KR1019830002632A KR870000478B1 (ko) | 1982-06-14 | 1983-06-14 | 광학적 윤곽측정방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10164882A JPS5915806A (ja) | 1982-06-14 | 1982-06-14 | 受光器トラツキング方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5915806A true JPS5915806A (ja) | 1984-01-26 |
Family
ID=14306195
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10164882A Pending JPS5915806A (ja) | 1982-06-14 | 1982-06-14 | 受光器トラツキング方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5915806A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105805340A (zh) * | 2016-05-24 | 2016-07-27 | 重庆市山城燃气设备有限公司 | 一种防盗拆锁控止回球阀 |
-
1982
- 1982-06-14 JP JP10164882A patent/JPS5915806A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105805340A (zh) * | 2016-05-24 | 2016-07-27 | 重庆市山城燃气设备有限公司 | 一种防盗拆锁控止回球阀 |
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