JPS59150354A - 電子部品の負荷選別装置 - Google Patents
電子部品の負荷選別装置Info
- Publication number
- JPS59150354A JPS59150354A JP2499383A JP2499383A JPS59150354A JP S59150354 A JPS59150354 A JP S59150354A JP 2499383 A JP2499383 A JP 2499383A JP 2499383 A JP2499383 A JP 2499383A JP S59150354 A JPS59150354 A JP S59150354A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- disk
- test
- conveying
- electronic component
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電子部品の負荷選別装置に関する。
従来例の構成とその問題点
まず、従来の円筒状電子部品（以下、部品と記す）の製
造工程を第１図（ａ）〜（ｑ）と共に説明すると、部品
（碍子）に抵抗体となる皮膜を蒸着しく第１図（ａ））
、これに部品の両側から金属性キャップを圧入しく第１
図（ｂ） ） 、皮膜部に任意の抵抗値に溝を切り（第
１図（Ｃ） ） 、部品の中心軸外側から他の電子部品
、基板等に実装可Ｒｈとなる様、金属性キャップ部に任
意長の金属性リード線を溶接しく第１図（ｄ） ） 、
抵抗体とキャーツブ部表面に絶縁性保護皮膜を塗装しく
第１図（ｅ））、これを乾燥させる。
造工程を第１図（ａ）〜（ｑ）と共に説明すると、部品
（碍子）に抵抗体となる皮膜を蒸着しく第１図（ａ））
、これに部品の両側から金属性キャップを圧入しく第１
図（ｂ） ） 、皮膜部に任意の抵抗値に溝を切り（第
１図（Ｃ） ） 、部品の中心軸外側から他の電子部品
、基板等に実装可Ｒｈとなる様、金属性キャップ部に任
意長の金属性リード線を溶接しく第１図（ｄ） ） 、
抵抗体とキャーツブ部表面に絶縁性保護皮膜を塗装しく
第１図（ｅ））、これを乾燥させる。
次に特性試験（パルス過負荷試験、ノイズ試験）。
抵抗値判別を行ない（第１図（す）、良品となった部品
に抵抗値を記録する工程（第１図（ｑ））になっている
。
に抵抗値を記録する工程（第１図（ｑ））になっている
。
上記工程の場合、特性試験、抵抗値判別で不良とされた
部品は最終工程において廃棄されるのであるが、これと
同時に特性試験、抵抗値判別以前の付加価値も同時に廃
棄されることになる。
部品は最終工程において廃棄されるのであるが、これと
同時に特性試験、抵抗値判別以前の付加価値も同時に廃
棄されることになる。
発明の目的
本発明は溝切工程済後、抵抗値判別、パルス負荷試験、
ノイズ試験、抵抗値判別の順で特性チェックを行ない、
良品のみをリード線溶接工程に流し、付加価値損失の発
生を未然に防止することを目的とする。
ノイズ試験、抵抗値判別の順で特性チェックを行ない、
良品のみをリード線溶接工程に流し、付加価値損失の発
生を未然に防止することを目的とする。
発明の構成
本発明の電子部品の負荷選別装置は、円形状主面の縁部
に沿って多数個の貫通孔が設けられた円板状搬送ディス
クと、前記円板状搬送ディスクを回転する手段と、前記
貫通孔の１つに電子部品本体を供給する手段と、前記供
給された電子部品本体が前記ディスクにより回転搬送さ
れた後、前記電子部品本体の測定判別、パルス過負荷試
験を行なう手段と、前記パルス過負荷試験の後、前記デ
ィスクの回転搬送中に冷却した前記部品本体のノイズ試
験、測定判別を行なう手段とを有するものである。
に沿って多数個の貫通孔が設けられた円板状搬送ディス
クと、前記円板状搬送ディスクを回転する手段と、前記
貫通孔の１つに電子部品本体を供給する手段と、前記供
給された電子部品本体が前記ディスクにより回転搬送さ
れた後、前記電子部品本体の測定判別、パルス過負荷試
験を行なう手段と、前記パルス過負荷試験の後、前記デ
ィスクの回転搬送中に冷却した前記部品本体のノイズ試
験、測定判別を行なう手段とを有するものである。
実施例の説明
以下第２図（ａ） 、 （ｂ）、第３図とともに本発明
の実施例における負荷選別装置について説明する。
の実施例における負荷選別装置について説明する。
まず、第２図（ａ） 、 （ｂ）により同装置における
測定部および良品と不良品の選別部の構成を説明する。
測定部および良品と不良品の選別部の構成を説明する。
図のように絶縁性円板上搬送ディスク３に丸ホール８を
設け、ここに部品１を供給し、これが測定部までくると
上接点２が部品１を押える丑で下が９完全に押え込んだ
状態で本体ベース４が下接点となって測定を行なう。こ
の測定が終ると円板状搬送ディスク３が回転し次の部品
を測定する。
設け、ここに部品１を供給し、これが測定部までくると
上接点２が部品１を押える丑で下が９完全に押え込んだ
状態で本体ベース４が下接点となって測定を行なう。こ
の測定が終ると円板状搬送ディスク３が回転し次の部品
を測定する。
これで１サイクルが終了しその繰り返しを行なう。
第２図（ｂ）は電子部品本体１の良品、不良品を選別す
る部分の構成を示している。部品１の良品の場合は、電
磁石５が働き部品１を吸着し、不良箱アに落下しない。
る部分の構成を示している。部品１の良品の場合は、電
磁石５が働き部品１を吸着し、不良箱アに落下しない。
ところが部品１の不良品の場合は電磁石が働かないため
、本体ベース４に設けた丸ホール６を通り不良箱に落下
する。
、本体ベース４に設けた丸ホール６を通り不良箱に落下
する。
第３図は本発明の実施例における負荷選別装置の全体構
成図である。
成図である。
円板状搬送ディスク３はギアボックス１０（モータ及び
ギアが収納されている）から出ているシャフト１１がか
さ両歯車１２を介して間欠運動をするようになっている
。また各接点は同じギアボックス１ｏから出ているシャ
フト１３が任意の角度だけ円運動を行ない、シャフト１
３に連結されている各接点は部品を完全に押える位置か
ら離れる位置まで往復運動する構造になっている。部品
はパーツフィーダー９から供給口１４を介して円板状搬
送デ、イスク３に投入され円板状搬送ディスク３が間欠
運動し接点１５で抵抗値を測定する。その際、良品と判
定された部品は次の搬送位置に電磁石１６がありこれが
動作し、部品がこれに吸着され次に搬送される。不良の
場合、電磁石が働かず、しかも電磁石の真下に当たる本
体ベース１７に部品が通れる丸穴がおいているため、そ
こを通過して落下し選別される。良品は搬送ディスクで
搬送され、パルス過負荷試験の接点１８で負荷をかけ、
次のノイズ試、験の接点１９まで搬送される。
ギアが収納されている）から出ているシャフト１１がか
さ両歯車１２を介して間欠運動をするようになっている
。また各接点は同じギアボックス１ｏから出ているシャ
フト１３が任意の角度だけ円運動を行ない、シャフト１
３に連結されている各接点は部品を完全に押える位置か
ら離れる位置まで往復運動する構造になっている。部品
はパーツフィーダー９から供給口１４を介して円板状搬
送デ、イスク３に投入され円板状搬送ディスク３が間欠
運動し接点１５で抵抗値を測定する。その際、良品と判
定された部品は次の搬送位置に電磁石１６がありこれが
動作し、部品がこれに吸着され次に搬送される。不良の
場合、電磁石が働かず、しかも電磁石の真下に当たる本
体ベース１７に部品が通れる丸穴がおいているため、そ
こを通過して落下し選別される。良品は搬送ディスクで
搬送され、パルス過負荷試験の接点１８で負荷をかけ、
次のノイズ試、験の接点１９まで搬送される。
パルス過負荷試験を行なった直後は部品が発熱するため
、次のノイズ試験抵抗値選別ができない（これは、部品
が安定条件でないため各特性値がバラつくため）から特
性試験される接点まで部品が冷却されるに充分な搬送距
離をおくような特別の配慮をしている。
、次のノイズ試験抵抗値選別ができない（これは、部品
が安定条件でないため各特性値がバラつくため）から特
性試験される接点まで部品が冷却されるに充分な搬送距
離をおくような特別の配慮をしている。
そしてノイズ試験をされ、再度接点２０で抵抗値選別（
上記の抵抗値選別と同じ原理）され、不良品はマグネッ
ト２１が働かないのでそのまま落下し、良品は通過し、
次の搬送架所のベース部に丸ホールが設けであるため、
そこに落下する。
上記の抵抗値選別と同じ原理）され、不良品はマグネッ
ト２１が働かないのでそのまま落下し、良品は通過し、
次の搬送架所のベース部に丸ホールが設けであるため、
そこに落下する。
発明の効果
本発明の負荷選別装置は、次のような効果を有するもの
で工業上の利用価値が高い。
で工業上の利用価値が高い。
（１）リード線のない部品を供給するために、リード線
のひっかかりによるつまりがなく、円滑に供給すること
ができ、長時間の無人運転も可能である。
のひっかかりによるつまりがなく、円滑に供給すること
ができ、長時間の無人運転も可能である。
（２）部品を安定した冷却状態で抵抗値判別、特性試験
を行なうので正確に選別することができる。
を行なうので正確に選別することができる。
（３）最終工程の付加価値が上がる。
ある測定部及びマグネット部の断面図、第３図は本発明
の負荷選別装置の斜視図である。 １・・・・・・電子部品、３・・・・・・円板状搬送デ
ィスク、８・・・・・・丸ホール、１４・・・・・・供
給口、１５．１８゜１９．２０・・・・・・接点、１６
・・・・・・電磁石、１７・・川・本体ベース。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 （α） （Ａ）
ど０λ（Ｃぜζ）
（ｅλ−巳コロー ｔｌ＋ Ｍ２図
の負荷選別装置の斜視図である。 １・・・・・・電子部品、３・・・・・・円板状搬送デ
ィスク、８・・・・・・丸ホール、１４・・・・・・供
給口、１５．１８゜１９．２０・・・・・・接点、１６
・・・・・・電磁石、１７・・川・本体ベース。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 （α） （Ａ）
ど０λ（Ｃぜζ）
（ｅλ−巳コロー ｔｌ＋ Ｍ２図
Claims (1)
- 円形状主面の縁部に沿って多数個の貫通孔が設けられた
円板状搬送ディスクと、前記円板上搬送ディスクを回転
する手段と、前記貫通孔の１つに電子部品本体を供給す
る手段と、前記供給された電子部品本体が前記ディスク
により回転搬送された後、前記電子部品本体の測定判別
、パルス過負荷試験を行なう手段と、前記パルス過負荷
試験の後、前記ディスクの回転搬送中に冷却した前記部
品本体のノイズ試験、測定判別を行なう手段とを有する
電子部品の負荷選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2499383A JPS59150354A (ja) | 1983-02-16 | 1983-02-16 | 電子部品の負荷選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2499383A JPS59150354A (ja) | 1983-02-16 | 1983-02-16 | 電子部品の負荷選別装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59150354A true JPS59150354A (ja) | 1984-08-28 |
Family
ID=12153499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2499383A Pending JPS59150354A (ja) | 1983-02-16 | 1983-02-16 | 電子部品の負荷選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59150354A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01187473A (ja) * | 1988-01-22 | 1989-07-26 | Toshiba Corp | Ｉｃテストハンドリング装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5464478A (en) * | 1977-10-31 | 1979-05-24 | Kokuyou Denki Kougiyou Kk | Device for continuously and automatically measuring electric parts |
| JPS55121605A (en) * | 1979-03-13 | 1980-09-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Resistance value sorter |
-
1983
- 1983-02-16 JP JP2499383A patent/JPS59150354A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5464478A (en) * | 1977-10-31 | 1979-05-24 | Kokuyou Denki Kougiyou Kk | Device for continuously and automatically measuring electric parts |
| JPS55121605A (en) * | 1979-03-13 | 1980-09-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Resistance value sorter |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01187473A (ja) * | 1988-01-22 | 1989-07-26 | Toshiba Corp | Ｉｃテストハンドリング装置 |
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