JPS59135331A - 分光装置における波長算出方法 - Google Patents

分光装置における波長算出方法

Info

Publication number
JPS59135331A
JPS59135331A JP873883A JP873883A JPS59135331A JP S59135331 A JPS59135331 A JP S59135331A JP 873883 A JP873883 A JP 873883A JP 873883 A JP873883 A JP 873883A JP S59135331 A JPS59135331 A JP S59135331A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor array
maximum value
wavelength
points near
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP873883A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsunori Kaji
哲徳 加治
Hisao Tanabe
田辺 尚男
Toshiaki Kita
敏昭 喜多
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP873883A priority Critical patent/JPS59135331A/ja
Publication of JPS59135331A publication Critical patent/JPS59135331A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はセンサアレイを用いた波長測定器に係シ、特に
、高鵜度の波長測定に好適な成長算出方法に関する。
〔従来技術〕
光源の波長を高速に測定する方法として、回折格子とセ
ンサアレイとを組合せたものがある。第1図にその一例
を示す。光源1からの光はスリット2を通った後、凹面
回折格子3で分光された後、センサアレイ4で受光する
。センサアレイ4の出力は増幅器5.アナログ・デジタ
ル変換器6を通つてデジタル信号に変換された後、信号
処理回路7によシ佃号処理を行ない、光源1の成長の値
8を出力する。また、・1−号処理回路7により七ンサ
ドライブ回路9がトリ力され、センサアレイ4をドライ
ブする。
光強1からの光は、直接、ある仏はレンズを通して、あ
るいは元ファイバ11を通して入力される。光ファイバ
11を用いるときは、スリット2ははぶくこともできる
第2図に千1m回折格子3′と凹面鈍10とで構成する
他の光学系の例を示す。
センサアレイ4からの出力は第3図に示すようにセンサ
アレイ4中のセンサの雇ル査号に対応した光強度出力が
得られる。
従来の波長測定器の信号処理回路7においては、光強度
がピークとなるセンサアレイのセル番号(^3図の例で
はn)を検出し、このセル蕾号nから波長λ= f (
n)を求めていた。nとλとの関係式の例としては次式
がある。
= f (+り ここで、Dは回折格子の溝間隔 αは回折格子への入射光の角度 θは回折格子の光軸とセンサアレイ 曲とのなす角 1(1はセンサアレイのセルピッチ に2. i<3は定数である。
このように、光強度がピークとなるセンサアレイのセル
番号nを検出し、このセル番号nから波長λを求める従
来の方法では、測定する波長の精度はセンサアレイのセ
ルの数で一意的に決定される。
センサアレイのセル截は半導体のプロセスなどにより限
界がある。このため、センサアレイを用いた彼長浪11
足器では高精度の波長の測定が回能であった。
〔発明の目的〕 本発明の目的は、センサアレイを用いた波長測定器にお
いて筒精度の波長の算出方法を提供するこ、とにある。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するため本発明においては、センサアレ
イの出力信号のピーク近傍の少なくとも3点の振幅値を
もとに真のピーク位置を算出し、この1直により精密な
波長を算出するようにしたものである。
〔発明の実施例〕
はじめに、本発明の原理について述べる。
本発萌は、光強度が・ピークとなるセンサアレイのセル
番号(n)付近の光強度分布から、光強度が極大となっ
ている位Tltn*を精密に推定し、この推定した位置
n*によ、!lll窩精度に波長λ* == f (n
*)を得ることにある。
般には精度のよい推定位置n*が推定できる。
第4図、第5図は極大付近の4点の振幅をもとに、真の
極大値位置n9を推定する場合である。
第Dセルの出力(yn)が極太になったとする。
Y n r 1 ) Y n −1の時には、第n−1
点と−もn点とを通る第1のinsと、第n+1点と第
n 千2点とを通る第2の直線との交点を、丸の極大値
であると推定する。
Y ”+I <Y n−i  の時には、第n−2点と
hZ n−1点とを通る第1の直線と、第n点とin+
i点とを通る第2の直線との交点を、真の極太値である
と推定する。
ところで、幅の狭いスペクトルの光が入射した場合、第
1図や第2図に例示した回折格子を用いた光学系では、
回折後の光はほぼ左右対称に広がる性質がある。この性
質を用いると、簡単な計算により筒精度に11 *の推
定が可能となる。
左右対称の波形分布としては、正規分布、2次曲線、第
6図に示す極大値で折れ曲がった一次直線などがある。
いづれの分布で推定する場合においても、極大値付近の
壊数(3以上)点の振幅値が必要となる。
極大点で折れ曲がった一次直線で近似し、がっ極大値付
近の3点で推定する場合の例を第7図および第8図に示
す。憾大値付近の3点のセンサの蒼号−2n −1、n
 、 n + 1とし、その光強度をそれぞれyn−1
1Y n 、 Y n41とする。
ここで Y n−t 、 yn、 y”+1は、極大点
付近の3点であることより、っぎのいづれがの条件を満
たす。
つぎに、Yn+t  Vn+tが正であるが負であるが
零であるかを判足し、 y’+1.  yn−、が正である場合の精密な極大値
推定位置n*は、 き”+I  Yn−1が負の場合は、 ’Jnやs  Yn−1が零の場合は、* n  =il              ・・・・・
・・・・・・・ (5)2矢曲線で近似し、かつ極大値
付近の3点で推定する場合の例を、第9図に示す。この
場合の8’W ’Wtな悼犬値推定位置n*はつぎのよ
うになる。
正規外曲で近似し、極大値付近の3点で抽足する場合の
精密な、腿犬値推定位置n ばつぎのようになる。
正規分布で近似する場合は、直線や2次曲線で近似する
場合に比べて計算は複雑となる。
どの近似式で近似するかは、光学系や被測定物の性質に
よるが、式(4)、式(5)あるいは式(6)の簡単な
式でも大幅な精度の同上がはかれる。
上に述べた方法により求められた精密な極大値准定位置
n を、センサ番号nと波長λとの関係式λ= f (
n)に代入し、精密な波長の値λ*(λ1=f(n))
を得る。
このようにして、簡単な計算により、7木大値の位置の
精度は従来例に比べて数倍から数十倍向上する。このよ
うな計算は小型のマイクロコンピュータを用いても、短
い時間で行なうことができる。
次に、本発明の一実施例を第10図、第11図および第
12図により説明する。第10図は精密な波長を算出す
る概略のフローである。第11図および第12図は詳細
フローである。この例では、極大値付近の推定方法とし
て、極太点で折れまがった2つの曲線(第6図)で近似
した場合について示す。
第10図、第11図、第12図のフローでは、マイクロ
コンピュータを用いた簡単な計算を対象にしており、す
べて整数計算を行なうものとしている。そこで計算精度
を上げるため、第7図および第8図のn の値を16倍
した数N を計算している。また、λ9とn* との関
係は、一般には式(1)に示す複雑な式となるが、収差
補正付の凹面回折格子などを用いると、λ1とn* と
の間は簡単な一次式が成りたつ。第10図、第11図、
第12図はこの場合を示す。
通常、センサアレイからの出力には、ノイズやセンサの
暗屯bitに起因した過圧が重畳されており原理的には
信号のない所にも信号が出てくる。このような部分で誤
って極大値があると判定する烏合が生じる。第11図お
よび第12図のフローでは、これをさけるため、振幅の
値が所定の値C1に達しない部分では、極大はないもの
としている。
また、第10図で、N*を求める式中の割算は、第11
1図、第12図では、繰り返し引き算をして行なってい
る。
第10図、第11図、および第12図に示す簡単な計算
により、従来例に比べて1桁程度波長の精度が向上した
なお、ノイズ等により、誤まって極大1直があると判定
することをさけるために、上に述べた方法のほかに、つ
ぎに述べる方法もある。
第1の方法は、第1図の増幅器として、所定のレベル以
下の信号をカットし、出力信号を零とするものである。
第2の方法は、センサアレイ中で光が入力さね。
彦いダミーのセルの出力1フコ号値に所定の値を加えた
ものを巣11Nの01とするものである。
デ3の方法は、人力光が零の場合のセンサアレイの各セ
ルごとの出力を記憶しておき、その値に所定の値を加え
たものを、第11図の01とするものである。このよう
にすると、セルごとの暗電流のバラツキの影響をなくす
ことができる。
なおこれまでは、半値幅の狭い発光スペクトルをもつ光
源が入力されたときについて述べたが、半値幅の狭い吸
収スペクトルをもつ光が入力されたときも同様にできる
ことはもちろんである。
〔弁明の効果〕
本発明によれば、センサアレイ出力信号の極大点(もし
くは極小点)伺近の複数(3点以上)の振幅値をもとに
真の極太点(もしくは極小点)の位置を算出し、この値
により精密な波長が算出できるため、セノJ1i1の限
定されたセンサアレイを用いても高精度の波長測定が可
能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は分光器の構成例、第3図はセンサ
アレイからの出力の一部を示した図、第4図および′r
A5図は4点によりピークを推定する方法を示千図、第
6図、第77図、第8図および第9図は3点によりピー
クを推定する方庚を示す図、第10図は実施例の概略フ
a−図、第11図および第12図は実施例の詳細フロー
図である。 1・・・光源、2・・・スリット、3・・・凹面回折格
子、3′・・・平面回折格子、4・・・センサアレイ、
5・・・増幅器、6・・・アナログ・デジタル変換器、
7・・・信号処理回路、9・・・七ンサドライブ回路、
10・・・凹面鏡、烹1図 ¥J 3 図 71−2 71−1  ’n  rL++  +1?Z
 M+3□しすの亡1し1に号 第 〆  図 第  4  図 ¥J  5  図 第  7  図 菓3図 第  ?  図 憲 10  図 蔓 71   口

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、センサアレイを用いた分光装置において、上記セン
    サアレイの出力信号のピーク近傍の少なくとも3点の振
    幅値をもとに真のピーク位置を算出し、この皿により精
    密な波長を算出することを特徴とする分光装置における
    波長算出方法。
JP873883A 1983-01-24 1983-01-24 分光装置における波長算出方法 Pending JPS59135331A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP873883A JPS59135331A (ja) 1983-01-24 1983-01-24 分光装置における波長算出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP873883A JPS59135331A (ja) 1983-01-24 1983-01-24 分光装置における波長算出方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59135331A true JPS59135331A (ja) 1984-08-03

Family

ID=11701285

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP873883A Pending JPS59135331A (ja) 1983-01-24 1983-01-24 分光装置における波長算出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59135331A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996028713A1 (fr) * 1995-03-15 1996-09-19 Yokogawa Electric Corporation Analyseur du spectre optique et spectroscope
US5933235A (en) * 1995-03-15 1999-08-03 Yokogawa Electric Corporation Optical spectrum analyzer and spectrometer
JP2003166881A (ja) * 2001-11-30 2003-06-13 Gigaphoton Inc 波長検出装置及びそれを用いたレーザ装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996028713A1 (fr) * 1995-03-15 1996-09-19 Yokogawa Electric Corporation Analyseur du spectre optique et spectroscope
US5933235A (en) * 1995-03-15 1999-08-03 Yokogawa Electric Corporation Optical spectrum analyzer and spectrometer
JP2003166881A (ja) * 2001-11-30 2003-06-13 Gigaphoton Inc 波長検出装置及びそれを用いたレーザ装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Duggin The field measurement of reflectance factors
Coles et al. Simultaneous measurements of angular scattering and intensity scintillation in the atmosphere
US4222667A (en) Fizeau fringe light evaluator and method
JP4146111B2 (ja) 膜厚計測方法及び装置
JPS58103604A (ja) フイルムの厚さ測定方法及び測定装置
JPS59135331A (ja) 分光装置における波長算出方法
RU2377497C1 (ru) Устройство для измерения деформаций на основе квазираспределенных волоконно-оптических датчиков на брэгговских решетках
JP5548989B2 (ja) 積分型光検出器を使用したフーリエ係数測定法
JPH0599747A (ja) ランプの老化を補償した工業用測色計及び測色方法
TW202134607A (zh) 光學測量裝置的線性校正方法、光學測量方法和光學測量裝置
JPS6367521A (ja) 変位を測定する装置及び方法
JP3057943B2 (ja) 膜厚測定装置
CN109990822B (zh) 一种光电探测模块的频率响应标定装置及方法
RU2104495C1 (ru) Способ измерения физической величины
JPS6215401A (ja) 非接触直径測定装置
JP2679810B2 (ja) 光波長測定装置
CN118347593A (zh) 一种基于特征波长改进的波长标定方法
Wit Simple moiré calibrator for velocity transducers used in Mössbauer effect measurements
JPH05164615A (ja) 放射測温装置
SU1481596A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений объекта
SU711835A1 (ru) Способ определени микроструктуры атмосферных дымок
SU795191A1 (ru) Способ градуировки преобразовател энергии фотонного излучени
SU566147A1 (ru) Спектрометр дл измерени длины волны монохроматического излучени
SU847086A1 (ru) Устройство дл измерени усилий
JPS6223801B2 (ja)