JPS59131110A - ねじ山成形不良検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、連続して大量に製造されるねじ部品に発生ず
るねじ山成形不良、特にねじ；１１高さ不良を検出する
ねじ内成形不良検出装置に関するもので、ねし部品のね
じ；１１に所定の斜め方向から投光することによりねじ
山部のなす包絡線間の幅を簡単かつ連続的に検出するこ
とを目的としている。

以下実施例を図面について説明する。第１図及び第２図
において、（１）は選別装置であり、ねじ部品はパケッ
ト（２）から投入され、移送装置（３）により補助シュ
ート（４）から整列１置に供給される。この整列装置は
所定の間隅をおいて平行に配置された２本のローラ（５
）、（５）からなり、このローラ（５）　、　（５）は
選別装置（１）に取付けた駆動ｆｉ　（６）により中間
プーリ（７）を介し゛　て互いに外方向に回転する。前
記ローラ（５）、（５）にはシュートレール（８）が連
続して架設してあり、ねじ部品の供給が円滑となるよう
若干傾斜しである。前記シュートレール（８）の下端は
選別シュート（９）の上方に達するよう配置されている
。又、シュートレール（８）の下端には、ソレノイド（
１０）により作動する排除板（１１）が配置してあり、
この排除板（１１）によりシュートレール（８）上のね
じ部品の良品、不良品を選別する。

次に本発明の要部について説明する。第３図ないし第６
図において前記シュートレール（８）の下部の両側壁に
は夫々所望ねじ部品のねじ内外径よりも充分大きい幅を
有する光通過穴（１２）。

（１２）が穿設してあり、この光通過穴（＋２）、　（
＋２）の外側にねじ自戒形不良検出装置が取付けである
。このねじ自戒形不良検出装置は固定ブロック（１３）
と移動ブロック（盲４）とから構成してあり、固定ブロ
ック（１３）はシュートレール（８）に固定されるとと
もに移動ブロック（１４）をシュートレール（８）に沿
って移動自在にガイドしている。

この両ブロック間にはコイルばね（１５）が挿入され、
両ブロックを弾力的に連結するとともに移動ブロック（
１４）はシュー］・レール（８）に固定したマイクロヘ
ッド（１６）により調整自在に押圧されている。

前記固定ブロック（１３）には発光器例えば第１発光ラ
ンプ（１７）及び受光器例えば第１７オト！・ランジス
タ（１８）が前記両光ｍ過大（＋２）、　（＋２）の外
側に取付けてあり、第１発光ランプ（１７）の投光方向
をシュートレール（８）の側壁に対して４５度の」二向
き傾斜とするー・方、第１フオトトランジスタ（１Ｂ）
は第１発光ランプ（１７）の光を検出穴（１９）を介し
て受光するよう取付ζ′ｊ、第１光電検出部を構成して
いる。前記検出穴０９）は第１フオトトランジスタ（１
８）の受光面積をねし部品のねじ＋１１高さより小さい
直径の円形面に形成する１一方、移動ブロック（１４）
には第２発光ランプ（２０）及び第２フオトトランジス
タ（２１）が取付ｃ１てあり、第２発光ランプ（２０）
の取付位置はシュートレール（８）を挾んで第１発光ラ
ンプ（１７）と反対側としてあり、第２光電検出部を構
成している。前記第１及び第２光電検出部は良品のねじ
部品のねじ山部のなす包絡線間の輻即ち、ねじ山部のね
じ内外径に一致させて配置しである。

前記両光型検出部は第７図に示す制御回路に接続されて
いる。この制御回路では、第１フオトトランジスタ（１
８）がアンド回１ｍ　（２２）の入力端に接続され、第
２フオトトランジスタ（２１）は微分回路（２３）を介
して前記アンド回路（２２）の伯の入力端に接続されて
いる。アンド回ｖｓ（２２）の出力はワンショットマル
チバイブレータ回１（２４）を介してソレノイドを駆動
するスイッチング回路（２５）に接続してあり、前記ワ
ンショットマルチバイブレータ回路（２４）によりソレ
ノイド（１０）の励磁時間を設定している。

次に本発明の動作について説明する。上記ねじ自戒形不
良検出装置において、シュートレール上を通過するねじ
部品に対して第１及び第２発光ランプ（１７）、（２０
）がシュートレール両側の斜め下方から投光する。ねじ
山は斜め下方から見るとその進み側フランクが露出し、
１ピッチ５− 下側にあるねじＩＩ＋と連続するためとがり三角形状の
ねじ山は略−直線吠となりねじ山部のなす包絡線があら
れれる。このため、第１発光ランプ（１７）の光はねじ
部品の進み側フランクにより遮られ、第１フオトトラン
ジスタ（１Ｂ）は受光しない。この時第２フオトトラン
ジスタ（２１）は受光する。ねし部品が第】光電検出部
を通過してその進行方向に対する前部が第２光電検出部
を通過すると、第２発光ランプ（２０）は第１発光ラン
プ（１７）と同様投光しているため、ねじ部品のねじ山
の進み側フランクにより光は遮られる。

この瞬間に第１発光ランプ（１７）の光がねじ部品のね
じ山の進み側フランクに遮られず、検出穴（１９）を介
して第１フオトトランジスタ（曹８）が受光すると、ね
じ部品のねじ内外径が所定寸法に達しないことを検出し
、その寸法不良を検出する。尚、本実施例では発光ラン
プがシュートレール（８）の両側から投光しているため
、リード角の大きいねじ部品ζ゛こついてもねじ内外径
の寸法測定が可能となっている。又、本実施例は右６− ねじについてのみ説明しであるが、左ねじの場合には右
ねじのときの第１及び第２発光ランプの位置をシュート
レールに対して対称の位置にすることにより同様の効果
が生じる。さらに、本実施例はねじ部品に限定して説明
されているが、ねじ部品に代えリング状突条を有する部
品についても同様の効果が生じる。

以」二説明したように本発明はねじ部品のねじ山を所定
の斜め方向から投光して略−直線となったねじ山部の外
径を測定するように構成しているため、表面が凹凸の激
しいねじ部品であってもその最外径を簡単に測定するこ
とができ、ねじ山外径の不足するねじ部品の検出を連続
して行うことが可能どなる等の利点がある。又本発明は
発光器、受光器を有する固定ブロック、移動ブロックを
相互に案内するように構成しているため移動ブロックは
固定ブロックに対して極めて円滑に摺動でき、発光器間
の間隙の設定が極めて高精度に行うことができる等の利
点がある。又、本発明は極めてコンパクトに構成されて
いるため、極めて小さなねじにも充分対応することがで
きる等の利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る選別装置の全体図、第２図は第１
図のＡ−Ａ線に沿った要部断面図、第３図は本発明の正
面図、第４図は第３図の一部切欠側面図、第５図は第３
図の平面図、第６図（Ａ）は第５図のＢ−１１ｔＩＡに
沿った断面図、第６図（８）は第５図のＣ−Ｃ線に沿フ
た断面図、第７図は本発明に係る制御回路、第８図はそ
のタイムチャート図である。 （１）は選別装置、　　　（２）はパケット、（３）は
移送装置、　　　（４）は補助シュー！・、（５）はロ
ーラ、　　　　（６）は駆動源、（７）は中間プーリ、
　　（８）はシュートレール、（９）は選別シュート、
　（１０）はソレノイド、（１１）は排除板、　　　　
（１２）は光通過穴、（１３）は固定ブロック、　（１
４）は移動ブロック、（Ｉ５）はコイルばね、　　（１
６）はマイクロヘッド、（１７）は第１発光ランプ、 （１８）は第１フオトトランジスタ、 （１９）は検出穴、　　　　（２０）は第２発光ランプ
、（２１）は第２フオトトランジスタ、 （２２）はアンド回路、　　（２３）は微分回路、（２
４）はワンショットマルチバイブレータ回路、（２５）
はスイッチング回路、 特許出願人　口束精工株式会社 ９− 第７図 、、□′″ 四二二口げ甲

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ねじ部品の頭部下面を支持してねじ部品を供給するシュ
   ートレール（８）の側壁に光通過穴（１２）（１２）を
   設け、このシュートレール（８）の前記光通過穴（１２
   ）（１２）に対応した位置に固定ブロック（１３）を取
   付けるとともに前記光通過穴（１２Ｘ１２）に対応した
   位置に移動ブロック（１４）を配置し、この固定ブロッ
   ク（１３）と移動ブロック（１４）とを相互に案内する
   ようにして移動ブロック（１４）を固定ブロック（１３
   ）に対して移動可能に構成し、前記固定ブロック（ｔ３
   ）に発光器受光器を取付け、発光器の投光方向を前記光
   通過穴（１２）（１２）を通り所望ねじの軸心に対して
   斜め方向とする一方、 移動ブロック０４）にも発光器、受光器を取付け、発光
   器の投光方向を前記光通過穴（１２）を通り所望ねじの
   軸心に対して斜め方向とし、前記両発光器間の間隙を所
   望ねじのねじ１１１外径としたことを特徴とするねじ内
   成形不良検出装置。