JPS59128447A - 人工き裂の付与法 - Google Patents
人工き裂の付与法Info
- Publication number
- JPS59128447A JPS59128447A JP58003331A JP333183A JPS59128447A JP S59128447 A JPS59128447 A JP S59128447A JP 58003331 A JP58003331 A JP 58003331A JP 333183 A JP333183 A JP 333183A JP S59128447 A JPS59128447 A JP S59128447A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test piece
- exposed
- defect
- cut
- flaw detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/30—Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/025—Change of phase or condition
- G01N2291/0258—Structural degradation, e.g. fatigue of composites, ageing of oils
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は超音波探傷法における探傷器の性能確認のため
の人工欠陥を有する試験片の製作方法に関するものであ
る。
の人工欠陥を有する試験片の製作方法に関するものであ
る。
超音波探傷法（０１ｔｒａｓｏｎｉｃ ＴｅｓＮｎｇ
以下Ｕ。
以下Ｕ。
Ｔ法という）を実施する場合にはあらかじめＪＩｓ規格
で規定された「標準試験片」を用い感度調整を行うほか
被測定材の欠陥に類似した人工欠陥を有する金属試験片
（以下校正用試験片という）を製作しておき、これを用
いることによって測定器の探傷機能を校正する手段とす
ることが矧られているが、金属の粒界腐食割れのような
特殊な欠陥を探傷する場合、これを模擬するような欠陥
を金属試験片の任意の部分に生せしめることは極めて困
難であった。
で規定された「標準試験片」を用い感度調整を行うほか
被測定材の欠陥に類似した人工欠陥を有する金属試験片
（以下校正用試験片という）を製作しておき、これを用
いることによって測定器の探傷機能を校正する手段とす
ることが矧られているが、金属の粒界腐食割れのような
特殊な欠陥を探傷する場合、これを模擬するような欠陥
を金属試験片の任意の部分に生せしめることは極めて困
難であった。
本発明はＵ、Ｔ法で金属の粒界応力腐食割れを検査する
場合に、これと類似した欠陥で校正する必要があり、こ
れを満足するような欠陥を作ることを目的として発明さ
れたものである。
場合に、これと類似した欠陥で校正する必要があり、こ
れを満足するような欠陥を作ることを目的として発明さ
れたものである。
本発明は、試験片の所望の部分のみを露出するよう所望
の部分の周辺を密着被覆し、上記所望の部分に腐食液を
供給しつつ試験片に機械的応力を付加することを特徴と
する人工き裂の付与法に係り、金属試験片の所望の部分
（欠陥を生ぜしめたい部分）のみを露出し、その周辺部
をシールして腐食液が露出部のみに作用するようにして
応力を付加する人工き製法を提供しようとするもので、
浸透探傷法、過電流探傷法。
の部分の周辺を密着被覆し、上記所望の部分に腐食液を
供給しつつ試験片に機械的応力を付加することを特徴と
する人工き裂の付与法に係り、金属試験片の所望の部分
（欠陥を生ぜしめたい部分）のみを露出し、その周辺部
をシールして腐食液が露出部のみに作用するようにして
応力を付加する人工き製法を提供しようとするもので、
浸透探傷法、過電流探傷法。
マクナフラックス法等の各種探傷法の校正用として応用
できるものである。
できるものである。
本発明の人工き裂の付与法の第１実施例を第１図乃至第
５図について説明する。第１図は本発明の人工き裂の付
与法の一実施例の試験片の中央部分に円周方向のわれ欠
陥の場合の説明図。
５図について説明する。第１図は本発明の人工き裂の付
与法の一実施例の試験片の中央部分に円周方向のわれ欠
陥の場合の説明図。
第２図はその欠陥部分をシールするシールテープの説明
図、第６図は試験片にシールテープを貼着した説明図、
第４図は試験片に引張り応力を加えｌ［［切抜き部分に
腐食液を連続的に供給する説明図、第５図は試験部分の
拡大図を示す。
図、第６図は試験片にシールテープを貼着した説明図、
第４図は試験片に引張り応力を加えｌ［［切抜き部分に
腐食液を連続的に供給する説明図、第５図は試験部分の
拡大図を示す。
１は試験片、２は試験片１の中央部分の円周方向のわれ
欠陥、６は欠陥部分の大きさ０寸法に相当する切抜き窓
、４は切抜き窓５を開けたシールテープで、シールテー
プ４を第３図のように貼着する。このようにして欠陥を
生ぜしめたい部分のみを露出し、その周辺部分が絶縁シ
ールされた状態にすることができる。次いで第４図に示
すように試験片１に引張り応力（荷Ｍ）を加えｌ［Ｋ前
記切抜き窓６部分に腐食液が連続的に供給されるように
構成する。切抜き窓６部分に帯状ガーゼのようなもの５
を接触さぞ、帯状ガーゼ５の上端は腐食液槽６内の腐食
液７１Ｃ浸漬する。帯状ガーゼ５の下端は受液槽８ＶＣ
収容する。一方試験片１の上端はチャック９を介して固
定する・試験片１の下端はチャック１゜を介し重錘２０
を負荷する。
欠陥、６は欠陥部分の大きさ０寸法に相当する切抜き窓
、４は切抜き窓５を開けたシールテープで、シールテー
プ４を第３図のように貼着する。このようにして欠陥を
生ぜしめたい部分のみを露出し、その周辺部分が絶縁シ
ールされた状態にすることができる。次いで第４図に示
すように試験片１に引張り応力（荷Ｍ）を加えｌ［Ｋ前
記切抜き窓６部分に腐食液が連続的に供給されるように
構成する。切抜き窓６部分に帯状ガーゼのようなもの５
を接触さぞ、帯状ガーゼ５の上端は腐食液槽６内の腐食
液７１Ｃ浸漬する。帯状ガーゼ５の下端は受液槽８ＶＣ
収容する。一方試験片１の上端はチャック９を介して固
定する・試験片１の下端はチャック１゜を介し重錘２０
を負荷する。
本発明の作用について説明する。試験片１は上端が固定
され、下端に荷重２ｏが負荷された状態にあり、試験片
１Ｖｃは引張り応力が発生する。このような状態におい
て、切抜き窓３部分には帯状ガーゼ５ｖｃ、ｌ：ｆ）腐
食液７が供給されるため、切抜き窓３部分に露出された
試験片表面。
され、下端に荷重２ｏが負荷された状態にあり、試験片
１Ｖｃは引張り応力が発生する。このような状態におい
て、切抜き窓３部分には帯状ガーゼ５ｖｃ、ｌ：ｆ）腐
食液７が供給されるため、切抜き窓３部分に露出された
試験片表面。
すなわち、われ欠陥を生ぜしめたい部分のみ腐食液７と
接触する。このような状態を一定時間保持すれば、切抜
き窓３部分にゎれ欠陥を生ぜしめるＣとがでさる。第５
図は試験部分を拡大したものである。
接触する。このような状態を一定時間保持すれば、切抜
き窓３部分にゎれ欠陥を生ぜしめるＣとがでさる。第５
図は試験部分を拡大したものである。
次に本発明の人工き裂の付与法の第２実施例を第６図に
ついて説明する。試験片の長手方向（軸方向）Ｖｃわれ
欠陥を生ぜしめる場合について説明する。第６図に示す
ようにシールテープ４１Ｖｃ長手方回の切抜き窓３１を
あけたものを試験片１１に貼着する。この場合われ欠陥
を生ぜしめたい部分と切抜き窓３１部分と一致さぜるこ
とは云う！でもない。ついで第４図の場合と同じく腐食
液７を帯状ガーゼ５を介して前記切抜き窓３１部分の試
験片１１の表面が露出した個所へ供給する。さらに試験
片１１の両端は密栓２１．２２で閉塞し、密栓２２には
配管２３を接続しポンプ２４ＶＣより圧力を加える・２
５は液体（気体）貯槽である。このようにすれば試験片
１１は膨張応力が発生し、切抜き窓３１部分には腐食液
が作用しているため長時間の保持により、切抜き窓３１
部分の試験片表面にわれ欠陥を生ぜしめることができる
。
ついて説明する。試験片の長手方向（軸方向）Ｖｃわれ
欠陥を生ぜしめる場合について説明する。第６図に示す
ようにシールテープ４１Ｖｃ長手方回の切抜き窓３１を
あけたものを試験片１１に貼着する。この場合われ欠陥
を生ぜしめたい部分と切抜き窓３１部分と一致さぜるこ
とは云う！でもない。ついで第４図の場合と同じく腐食
液７を帯状ガーゼ５を介して前記切抜き窓３１部分の試
験片１１の表面が露出した個所へ供給する。さらに試験
片１１の両端は密栓２１．２２で閉塞し、密栓２２には
配管２３を接続しポンプ２４ＶＣより圧力を加える・２
５は液体（気体）貯槽である。このようにすれば試験片
１１は膨張応力が発生し、切抜き窓３１部分には腐食液
が作用しているため長時間の保持により、切抜き窓３１
部分の試験片表面にわれ欠陥を生ぜしめることができる
。
本発明の人工き裂の付与法の第６実施例を試験片が板状
の場合を第７図及び第８図について説明する。第７図は
その側面図、第８図はその斜視図を示す。充分用なる基
盤２６ｖｃ２個の金具２７．２８と螺子２９の６点で試
験片２１ａを支持し、螺子２９を回転さぞ、試験片２１
ａに矢印方向の押圧力を負荷する。次ＶＣ第８図に示す
ようわれ欠陥を生ぜしめたい部分と切抜き窓５２部分が
一致するようにシールテープ４２を貼着する。そして他
の実施例と同様に腐食液７を帯状ガーゼ５を介して前記
切抜き窓３２部分の試験片２１ａの表面が露出した個所
へ供給する。このようにすれば試験片２１ａｖｃは曲げ
応力が発生し、かつその応力がもっとも強い部分に腐食
液が作用するため長期間の保持により切抜き窓部分が板
表面にわｉ欠陥を生ぜしめることができる。
の場合を第７図及び第８図について説明する。第７図は
その側面図、第８図はその斜視図を示す。充分用なる基
盤２６ｖｃ２個の金具２７．２８と螺子２９の６点で試
験片２１ａを支持し、螺子２９を回転さぞ、試験片２１
ａに矢印方向の押圧力を負荷する。次ＶＣ第８図に示す
ようわれ欠陥を生ぜしめたい部分と切抜き窓５２部分が
一致するようにシールテープ４２を貼着する。そして他
の実施例と同様に腐食液７を帯状ガーゼ５を介して前記
切抜き窓３２部分の試験片２１ａの表面が露出した個所
へ供給する。このようにすれば試験片２１ａｖｃは曲げ
応力が発生し、かつその応力がもっとも強い部分に腐食
液が作用するため長期間の保持により切抜き窓部分が板
表面にわｉ欠陥を生ぜしめることができる。
なお本願説明の都合上Ｕ、Ｔ法用の校正用試験片につい
て説明したが、他の原理による測定例えば浸透探傷法、
マグナフラックス法、過電流探傷法等各種の探傷法用の
校正用試験片として使用することも可能である。
て説明したが、他の原理による測定例えば浸透探傷法、
マグナフラックス法、過電流探傷法等各種の探傷法用の
校正用試験片として使用することも可能である。
本発明は以上の構成よりなり、管状試験片あるいは板状
試験片の所望個所に人工的なわれ欠陥例えば粒界腐食割
れを生ぜしめることができ。
試験片の所望個所に人工的なわれ欠陥例えば粒界腐食割
れを生ぜしめることができ。
葦たその大ささ１寸法も応力の大きさ、腐食液の種類、
濃度あるいは試験時間などの牽伸を勘案することにより
経験的に制御することが可能 ゛で９次のような効
果を奏するものである。
濃度あるいは試験時間などの牽伸を勘案することにより
経験的に制御することが可能 ゛で９次のような効
果を奏するものである。
（１）Ｕ、Ｔ法を実施する場合被測定対象物に類似した
欠陥ヲ肩する校正用試験片を容易に製作することができ
る。
欠陥ヲ肩する校正用試験片を容易に製作することができ
る。
（２）測足器の調整に利用すれば９分解能、Ｎ＆度など
が同上し検査能力を高めることが可能となる。
が同上し検査能力を高めることが可能となる。
本発明の実験例を第９図について説明する。
長さ２：２００ｍ＋１）、直径ｂ：２２ｍ、欠陥部Ｃ：
２００１、管の厚さ１．２語で、応力の太ささは試験片
内部圧カニ６５０〜４００眩／１ｍ” （外表面応力
２９〜３３ Ｋｙ−７ｍ”） 、腐食試験液はポリチオ
ン酸（几、Ｔ）、試験時間は３ｕＨｒ、得られたわれの
程度は長さ：２０．５ｍ、深さ： ０．５１ ｍ （管
肉厚に対して４６％）でＵ、Ｔ法の結果は測定感度・＋
１ｏｄＢ・で、Ｕ、Ｔ波形の高８＝６０ｗＩｋ（割れ深
さ４６％〕であった。
２００１、管の厚さ１．２語で、応力の太ささは試験片
内部圧カニ６５０〜４００眩／１ｍ” （外表面応力
２９〜３３ Ｋｙ−７ｍ”） 、腐食試験液はポリチオ
ン酸（几、Ｔ）、試験時間は３ｕＨｒ、得られたわれの
程度は長さ：２０．５ｍ、深さ： ０．５１ ｍ （管
肉厚に対して４６％）でＵ、Ｔ法の結果は測定感度・＋
１ｏｄＢ・で、Ｕ、Ｔ波形の高８＝６０ｗＩｋ（割れ深
さ４６％〕であった。
第１図は本発明の人工き裂の付与法の一実施例で試験の
中央部分に円周方向のわれ欠陥の場合の説明図、第２図
はその欠陥部分をシールするシールテープの説明図、第
３図は試験片にシールテープを貼着した説明図、第４図
は試験片に引張り応力を加え史に切抜き部分に腐食液を
連続的に供給する説明図、第５図は試験部分の拡大図、
第６図は本発明の第２実施例で試験片の軸方向にわれ欠
陥を生ぜしめる場合の説明図。 第７図は本発明の第３実施例を試験片が板状の場合の側
面図、第８図はその斜視図、第９図は実験片の説明図を
示す。 １・・・・・・試験片、２・・・・・・われ欠陥、３・
・・・・・切抜き窓、４・・・・・シールテープ、５・
・・・・・帯状ガーゼ。 ６・・・・・・腐食液槽、７・・・・・・腐食液、８・
・・・・・受液槽。 ９．１０・・・・・・チャック、２０・・・・・・重錘
、１１・・・・・・試験片、３１・・・・・・切抜き窓
、４１・・・・・・シールテープ、２．１．２２・・・
・・・密栓、２５・・・・・・配管。 ２４・・・・・・ポンプ、２５・・・・・・貯槽、２１
ａ・・・・・・試験片、２６・・・・・・基盤、２７．
２８・・・・・・金具。 ２９・・・・・・螺子、３２・・・・・・切抜！怒、４
２・・・・・・シールテープ。
中央部分に円周方向のわれ欠陥の場合の説明図、第２図
はその欠陥部分をシールするシールテープの説明図、第
３図は試験片にシールテープを貼着した説明図、第４図
は試験片に引張り応力を加え史に切抜き部分に腐食液を
連続的に供給する説明図、第５図は試験部分の拡大図、
第６図は本発明の第２実施例で試験片の軸方向にわれ欠
陥を生ぜしめる場合の説明図。 第７図は本発明の第３実施例を試験片が板状の場合の側
面図、第８図はその斜視図、第９図は実験片の説明図を
示す。 １・・・・・・試験片、２・・・・・・われ欠陥、３・
・・・・・切抜き窓、４・・・・・シールテープ、５・
・・・・・帯状ガーゼ。 ６・・・・・・腐食液槽、７・・・・・・腐食液、８・
・・・・・受液槽。 ９．１０・・・・・・チャック、２０・・・・・・重錘
、１１・・・・・・試験片、３１・・・・・・切抜き窓
、４１・・・・・・シールテープ、２．１．２２・・・
・・・密栓、２５・・・・・・配管。 ２４・・・・・・ポンプ、２５・・・・・・貯槽、２１
ａ・・・・・・試験片、２６・・・・・・基盤、２７．
２８・・・・・・金具。 ２９・・・・・・螺子、３２・・・・・・切抜！怒、４
２・・・・・・シールテープ。
Claims (1)
- 試験片の所望の部分のみを露出するよう所望の部分の周
辺を密着被覆し、上記所望の部分に腐食液を供給しつつ
試験片に機械的応力を付加することを特徴とする人工き
裂の付与法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58003331A JPS59128447A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 人工き裂の付与法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58003331A JPS59128447A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 人工き裂の付与法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59128447A true JPS59128447A (ja) | 1984-07-24 |
Family
ID=11554366
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58003331A Pending JPS59128447A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 人工き裂の付与法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59128447A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000214143A (ja) * | 1999-01-22 | 2000-08-04 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 非破壊検査用模擬試験体の製造方法及び非破壊検査方法 |
-
1983
- 1983-01-14 JP JP58003331A patent/JPS59128447A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000214143A (ja) * | 1999-01-22 | 2000-08-04 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 非破壊検査用模擬試験体の製造方法及び非破壊検査方法 |
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