JPS5912351A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPS5912351A JPS5912351A JP57121002A JP12100282A JPS5912351A JP S5912351 A JPS5912351 A JP S5912351A JP 57121002 A JP57121002 A JP 57121002A JP 12100282 A JP12100282 A JP 12100282A JP S5912351 A JPS5912351 A JP S5912351A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reflected wave
- defect
- reflected
- circuit
- ultrasonic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0618—Display arrangements, e.g. colour displays synchronised with scanning, e.g. in real-time
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/10—Number of transducers
- G01N2291/106—Number of transducers one or more transducer arrays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/26—Scanned objects
- G01N2291/269—Various geometry objects
- G01N2291/2695—Bottles, containers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は原子力発電設備の原子炉圧力容器、配管等を超
音波探傷する装置に関する。
音波探傷する装置に関する。
第１図ないし第４図を参照して従来の超音波探傷装置を
説明する。図中Ｌは走査機構であつ１て、互に直交する
方向に配置された嵯杆２，３およびこれを駆動するモー
タ４，５によって超音波探触子６を互に直交する２方向
に移動させて走査するように構成されている。そして、
上記超音波探触子６からは第２図に示す如く超音波が斜
め方向に発振され、その反射波を受信するように構成さ
れている。そして、被検査゛体Ａに欠陥Ｅがあると、発
振された超音波がこの欠陥Ｅで反射し、その反射波は超
音波探触子６で受信され、第３図に示す如き反射波信号
Ｆを出力する。そして、この反射波信号は信号処理回路
７に送られ、反射波信号の有無、反射波の受信時間Ｔｏ
および超音波探触子６の位置等から欠陥Ｅの有無、位置
等を検出し、この結果を表示機構８上に表示するように
構成されている。
説明する。図中Ｌは走査機構であつ１て、互に直交する
方向に配置された嵯杆２，３およびこれを駆動するモー
タ４，５によって超音波探触子６を互に直交する２方向
に移動させて走査するように構成されている。そして、
上記超音波探触子６からは第２図に示す如く超音波が斜
め方向に発振され、その反射波を受信するように構成さ
れている。そして、被検査゛体Ａに欠陥Ｅがあると、発
振された超音波がこの欠陥Ｅで反射し、その反射波は超
音波探触子６で受信され、第３図に示す如き反射波信号
Ｆを出力する。そして、この反射波信号は信号処理回路
７に送られ、反射波信号の有無、反射波の受信時間Ｔｏ
および超音波探触子６の位置等から欠陥Ｅの有無、位置
等を検出し、この結果を表示機構８上に表示するように
構成されている。
前記従来のものは、第４図に示す如く超音波探触子６の
走査方向前縁部が欠陥Ｅの上方に位置したときから超音
波探触子６の走査方向後縁部が欠陥Ｅの上方から離れる
までの間欠陥Ｅからの反射波が受信され、実際の欠陥Ｅ
が第４図のＥ′の如く変形された欠陥として検出されて
しまう不具合があった。また、欠陥Ｅが被検出体Ａの裏
面近傍にあるような場合には、裏面で反射した超音波が
再度欠陥Ｅで反射する等、複雑な反射径路で超音波探触
子に受信され、検出精度が低下する不具合があった。
走査方向前縁部が欠陥Ｅの上方に位置したときから超音
波探触子６の走査方向後縁部が欠陥Ｅの上方から離れる
までの間欠陥Ｅからの反射波が受信され、実際の欠陥Ｅ
が第４図のＥ′の如く変形された欠陥として検出されて
しまう不具合があった。また、欠陥Ｅが被検出体Ａの裏
面近傍にあるような場合には、裏面で反射した超音波が
再度欠陥Ｅで反射する等、複雑な反射径路で超音波探触
子に受信され、検出精度が低下する不具合があった。
本発明は以上の事情にもとづいてなされたもので、その
目的とするところは欠陥の位置や寸法等を正確に検出す
ることができる超音波探傷装置を得ることにある。
目的とするところは欠陥の位置や寸法等を正確に検出す
ることができる超音波探傷装置を得ることにある。
本発明は複数の振動子を配列して構成したアレイ形の超
音波探触子と、この超音波探触子の振動子の任意の１個
に駆動パルスを印加して超音波を発振させる発振回路と
、上記各振動子からの反射波信号を受は各振動子毎に反
射波信号の有無および反射波の受信時間を求める信号処
理回路と、この信号処理回路で求められた結果を表示す
る表示機構とを具備したものである。
音波探触子と、この超音波探触子の振動子の任意の１個
に駆動パルスを印加して超音波を発振させる発振回路と
、上記各振動子からの反射波信号を受は各振動子毎に反
射波信号の有無および反射波の受信時間を求める信号処
理回路と、この信号処理回路で求められた結果を表示す
る表示機構とを具備したものである。
したがって、１個の振動子から発振された超音波は被検
査体の裏面で反射され、全振動子で受信される。よって
この被検査体内に欠陥があると反射された超音波はこの
欠陥で散乱され、この欠陥の影の部分に対応する振動子
には反射波が受信されなくなり、この反射波を受信しな
い振動子の数、位置によって欠陥の位置、寸法を検出し
、欠陥が被検出体の裏面の近傍にあるような場合でも正
確に検出をおこなうことができるものである。
査体の裏面で反射され、全振動子で受信される。よって
この被検査体内に欠陥があると反射された超音波はこの
欠陥で散乱され、この欠陥の影の部分に対応する振動子
には反射波が受信されなくなり、この反射波を受信しな
い振動子の数、位置によって欠陥の位置、寸法を検出し
、欠陥が被検出体の裏面の近傍にあるような場合でも正
確に検出をおこなうことができるものである。
以下第５図ないし第８図を参照して本発明の一実施例を
説明する。図中１０１は超音波探触子であって、被検査
体Ａの表面に密接し、走査機構（図示せず）等によって
この被検査体Ａの表面に沿って移動するように構成され
ている。
説明する。図中１０１は超音波探触子であって、被検査
体Ａの表面に密接し、走査機構（図示せず）等によって
この被検査体Ａの表面に沿って移動するように構成され
ている。
そして、この超音波探触子−１，０−１は複数たとえば
３２個の振動子１０１． 、７θ１． 、１０１３・・
・１０１３、が−列に配列されたアレイ形のものである
。なお、これら振動子１０１．．１０５，１θ１３・・
・ｌ０Ｉｓ２の幅はｌｓｍ以下である。また、１０２は
発振回路であって、選択回路１０３を介して上記各振動
子１０１． 、１０１□、 １０１．−１０１．。
３２個の振動子１０１． 、７θ１． 、１０１３・・
・１０１３、が−列に配列されたアレイ形のものである
。なお、これら振動子１０１．．１０５，１θ１３・・
・ｌ０Ｉｓ２の幅はｌｓｍ以下である。また、１０２は
発振回路であって、選択回路１０３を介して上記各振動
子１０１． 、１０１□、 １０１．−１０１．。
に接続されている。そして、上記発振回路１０２は駆動
パルスを発生するように構成されている。
パルスを発生するように構成されている。
また、上記選択回路１０３は上記超音波探触子１０１の
振動子１０１．．１０１．．１０１．・・・Ｉ ０１３
２のうちの任意の一個を選択し、この選択された振動子
に駆動パルスを送り、この選択された振動子から超音波
を発振させるように構成されている。そして、この選択
された振動子から発振された超音波は被検査体Ａの裏面
あるいは欠陥で反射され、各振動子１０１． 、１０１
． 、１０１゜・・・１０１．２で受信され、これら振
動子１０ハ。
振動子１０１．．１０１．．１０１．・・・Ｉ ０１３
２のうちの任意の一個を選択し、この選択された振動子
に駆動パルスを送り、この選択された振動子から超音波
を発振させるように構成されている。そして、この選択
された振動子から発振された超音波は被検査体Ａの裏面
あるいは欠陥で反射され、各振動子１０１． 、１０１
． 、１０１゜・・・１０１．２で受信され、これら振
動子１０ハ。
１０１ｔ、１０°１１１・・・１０１３．からはそれぞ
れ受信した反射波に対応した反射波信号が出力されるよ
うに構成されている。そして、これら振動子１０１、
、１０１． 、 Ｉ’０１３・・・１０１３．から出力
された反射波信号はそれぞれ走査回路１０４に送られ、
一時紀憶されたのち順次走査され、信号処理回路１０５
に順次送られるように構成されている。そして、この信
号処理回路１０５では各振動子からの反射波信号から、
反射波の受信の有無、反射波の受信時間を求め、この結
果を゛表示機構１０６に表示させるように構成されてい
る。そして、この表示機構１０６は第８図に示す如く振
動子１０１．．１０１．．１０１．・・・１０１ｓ２の
位置をＸ座標、受信時間をＹ座標とし、反射波信号のレ
ベルを輝度に変調して表示するように構成されている。
れ受信した反射波に対応した反射波信号が出力されるよ
うに構成されている。そして、これら振動子１０１、
、１０１． 、 Ｉ’０１３・・・１０１３．から出力
された反射波信号はそれぞれ走査回路１０４に送られ、
一時紀憶されたのち順次走査され、信号処理回路１０５
に順次送られるように構成されている。そして、この信
号処理回路１０５では各振動子からの反射波信号から、
反射波の受信の有無、反射波の受信時間を求め、この結
果を゛表示機構１０６に表示させるように構成されてい
る。そして、この表示機構１０６は第８図に示す如く振
動子１０１．．１０１．．１０１．・・・１０１ｓ２の
位置をＸ座標、受信時間をＹ座標とし、反射波信号のレ
ベルを輝度に変調して表示するように構成されている。
なお、１０７は制御回路であって、発振回路１０２、選
択回路１０３、走査回路１０４および表示機構１０６に
制御信号を送り、これらの作動を制御するように構成さ
れている。
択回路１０３、走査回路１０４および表示機構１０６に
制御信号を送り、これらの作動を制御するように構成さ
れている。
次に上記−実施例の作用を説明する。まず、第７図の如
く制御回路１０７から発振回路１０２に発振信号Ｔが出
力され、発振回路１０２はこれに対応して駆動パルスＰ
を出力する。また、前記の選択回路１０３は上記各４１
動子１０１．。
く制御回路１０７から発振回路１０２に発振信号Ｔが出
力され、発振回路１０２はこれに対応して駆動パルスＰ
を出力する。また、前記の選択回路１０３は上記各４１
動子１０１．。
１０１２、 ｌ０Ｉｓ・・・１０１３□のうちの任意の
１個たとえば５＃目の振動子１０１．を選択し、この５
番目の振動子１０１．に駆動パルスを送る。したがって
、この５番目の振動子１０１ｓから超音波が発振され、
この発振された超音波は被検査体人の裏面で反射し、各
振動子１０１． 、１０．１． 。
１個たとえば５＃目の振動子１０１．を選択し、この５
番目の振動子１０１．に駆動パルスを送る。したがって
、この５番目の振動子１０１ｓから超音波が発振され、
この発振された超音波は被検査体人の裏面で反射し、各
振動子１０１． 、１０．１． 。
１０１ｓ・・・１０１．、で受信され、各撮動子１θ１
１゜１０１１ 、 ＩＯＩｍ・・・１０１３．からは第
７図に示す反射波信号Ｓ１・・・Ｓａｔが出力される。
１゜１０１１ 、 ＩＯＩｍ・・・１０１３．からは第
７図に示す反射波信号Ｓ１・・・Ｓａｔが出力される。
そして、この反射波信号は信号処理回路１０５に送られ
、この信号処理回路１０５で処理されて表示機構１０６
に表示される。そして、この場合、各振動子１０１１，
１０１．，１０１３・・・１０１３．で受信される反射
波は第６図に示す如く各振動子１０１．。
、この信号処理回路１０５で処理されて表示機構１０６
に表示される。そして、この場合、各振動子１０１１，
１０１．，１０１３・・・１０１３．で受信される反射
波は第６図に示す如く各振動子１０１．。
１０１、．１０１．・・・１０１３．毎にそれぞれ異な
る反射径路を通るため、その受信時間がそれぞれ異なる
。そして、この受信時間と各振動子１０１１゜１０１、
、１０１．、・・・１０１３．の位置は所定の関係を
有する。そして、表示機構１０６には各振動子１０１、
、１０１２．１０１．・・・１０１．、の位置をＸ座
標、受信時間をＹ座樗として反射波信号を表示するので
、第８図に示す如く反射波俳号の表示Ｄ・・・は所定の
曲線上に並ぶ。そして、この被検査体Ａの内部たとえば
裏面の近傍に欠陥Ｅがある場合、被検査体Ａの裏面で反
射した超音波はこの欠陥Ｅによって遮ぎられ、この欠陥
Ｅの影の部分に対応する振動子ζこは反射波が受信され
ない。したがって、表示機材ｘｏｅ上の表示には第８図
に示す如くこの欠陥Ｅの影に対応した部分に反射波信号
の表示されない部分Ｃが生じる。したがって、この反射
波信号が表示されない部分Ｃの位置、長さ等により欠陥
Ｅの付値、寸法等が検出できる。また、欠陥Ｅで反射し
た反射波は他の振動子で受信され、第８図に示す如くこ
の欠陥Ｅからの反射波信号の表示Ｄ′も表示され、これ
によっても欠陥Ｅの位置、寸法等が検出できる。
る反射径路を通るため、その受信時間がそれぞれ異なる
。そして、この受信時間と各振動子１０１１゜１０１、
、１０１．、・・・１０１３．の位置は所定の関係を
有する。そして、表示機構１０６には各振動子１０１、
、１０１２．１０１．・・・１０１．、の位置をＸ座
標、受信時間をＹ座樗として反射波信号を表示するので
、第８図に示す如く反射波俳号の表示Ｄ・・・は所定の
曲線上に並ぶ。そして、この被検査体Ａの内部たとえば
裏面の近傍に欠陥Ｅがある場合、被検査体Ａの裏面で反
射した超音波はこの欠陥Ｅによって遮ぎられ、この欠陥
Ｅの影の部分に対応する振動子ζこは反射波が受信され
ない。したがって、表示機材ｘｏｅ上の表示には第８図
に示す如くこの欠陥Ｅの影に対応した部分に反射波信号
の表示されない部分Ｃが生じる。したがって、この反射
波信号が表示されない部分Ｃの位置、長さ等により欠陥
Ｅの付値、寸法等が検出できる。また、欠陥Ｅで反射し
た反射波は他の振動子で受信され、第８図に示す如くこ
の欠陥Ｅからの反射波信号の表示Ｄ′も表示され、これ
によっても欠陥Ｅの位置、寸法等が検出できる。
したがって、このものは欠陥Ｅの影に相当する部分を複
数の振動子１０１＋ 、 １０１． 、ノ０１３・・・
１０１３．で検出するので、従牙の如く欠陥Ｅが変形さ
れた形で検出されてしまうこ七がない。
数の振動子１０１＋ 、 １０１． 、ノ０１３・・・
１０１３．で検出するので、従牙の如く欠陥Ｅが変形さ
れた形で検出されてしまうこ七がない。
また、欠陥Ｅが被検査体Ａの裏面近傍にある場合、被検
査体Ａの裏面で反射した超音波が丙°度欠陥Ｅで反射し
、複雑な径路で反射するが、本願のものはこのような反
射波は利用せず、欠陥Ｅの影に相当する部分を検出する
ものであるから欠陥Ｅが釜検査体Ａの裏面近傍にあるよ
うな場合でも高精度な検出が可能である。
査体Ａの裏面で反射した超音波が丙°度欠陥Ｅで反射し
、複雑な径路で反射するが、本願のものはこのような反
射波は利用せず、欠陥Ｅの影に相当する部分を検出する
ものであるから欠陥Ｅが釜検査体Ａの裏面近傍にあるよ
うな場合でも高精度な検出が可能である。
本発明は複数の系動子を配列して構成したアレイ形の超
音波探触子と、この超音波探触子の振動子の任意の１個
に駆動パルスを印加して超音波を発振させる発振回路と
、上記各振動子からの反射波信号を受は各撮動子毎に反
射波信号の廟無および反射波の受信時間を求める信号処
理回路と、この信号処理回路で求められた結果を表示す
る表示機１１Ｊとを具（Ｖ Ｌだものである。
音波探触子と、この超音波探触子の振動子の任意の１個
に駆動パルスを印加して超音波を発振させる発振回路と
、上記各振動子からの反射波信号を受は各撮動子毎に反
射波信号の廟無および反射波の受信時間を求める信号処
理回路と、この信号処理回路で求められた結果を表示す
る表示機１１Ｊとを具（Ｖ Ｌだものである。
したが″つて、１１固の揚ドｈ子から発振された超音波
は被検査体のｌ而でＪワ−射され、全振動子で受１言さ
れる。よってこの被検査体内に欠陥かあると反射された
超音波はこの欠陥で散乱され、この欠陥の影の部分に５
（［応する′Ｊｇｉ動子には反射波が受イごされなくな
り、この反射波を受信しない振動子の数、位置によ一つ
°Ｃ欠陥の位置、寸法を検出し、欠陥が植検出体の４を
面の近傍にあるよ・うな場合でも正確に検出をおこなう
ことができる等その効果は大である。
は被検査体のｌ而でＪワ−射され、全振動子で受１言さ
れる。よってこの被検査体内に欠陥かあると反射された
超音波はこの欠陥で散乱され、この欠陥の影の部分に５
（［応する′Ｊｇｉ動子には反射波が受イごされなくな
り、この反射波を受信しない振動子の数、位置によ一つ
°Ｃ欠陥の位置、寸法を検出し、欠陥が植検出体の４を
面の近傍にあるよ・うな場合でも正確に検出をおこなう
ことができる等その効果は大である。
第１図ないし第４図は従来例を示し、第１図は概略構成
図、第２図は超音波の発振彷態を示す模式的な図、第３
図は反射波信号の波形図、第４図は欠陥の検出状態を説
明する模式的な図である。第５図ないし第８図は本発明
の一実施例を示し、第５図は概略構成図、第６図は欠陥
の検出状態を説明する模式的な図、第７図は発振信号、
駆動パルスおよび各反射波信号の波形図、第８図は表示
機構の表示例を示す図である。 １０１・・・超音波探触子、１０１１ 、 Ｉ ０１１
ｒ１０１３・・・１０１３２・・・振動子、１０２・
・・発振回路、１０３・・・選択回路、１０４・・・走
査回路、１０６・・・駆動回路。 出−人代理人 弁理士 鈴 江 武 ９八 第１図 第２図 ２４０− 第３図 第４図 第６図 １０１５ １０１３ 第７図 第８図
図、第２図は超音波の発振彷態を示す模式的な図、第３
図は反射波信号の波形図、第４図は欠陥の検出状態を説
明する模式的な図である。第５図ないし第８図は本発明
の一実施例を示し、第５図は概略構成図、第６図は欠陥
の検出状態を説明する模式的な図、第７図は発振信号、
駆動パルスおよび各反射波信号の波形図、第８図は表示
機構の表示例を示す図である。 １０１・・・超音波探触子、１０１１ 、 Ｉ ０１１
ｒ１０１３・・・１０１３２・・・振動子、１０２・
・・発振回路、１０３・・・選択回路、１０４・・・走
査回路、１０６・・・駆動回路。 出−人代理人 弁理士 鈴 江 武 ９八 第１図 第２図 ２４０− 第３図 第４図 第６図 １０１５ １０１３ 第７図 第８図
Claims (2)
- （１）複数の振動子を配列して構成したアレイ形の超音
波探触子と、この超音波探触子の捗動子の任意の１個に
駆動パルスを印加して超音波を発振させる発振回路と、
上記各振動子で受信された反射波に対応した反射波信号
を受は上記各振動子毎に反射波信号の有無および反射波
の受信時間を求める信号処理回路と、この信号処理回路
で求めた結果を表示する表示機構とを具備したことを特
命とする超音波探傷装置。 - （２）前記表示機構は前記各振動子の位置をＸ軸座標、
各反射波の受信時間をＹ軸座標に表示するものであるこ
とを特徴とする特許 求の範囲第１項記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57121002A JPS5912351A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57121002A JPS5912351A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5912351A true JPS5912351A (ja) | 1984-01-23 |
Family
ID=14800346
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57121002A Pending JPS5912351A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5912351A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63236845A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-03 | 株式会社 岡谷壁材 | 内外装仕上材 |
| JPH02223442A (ja) * | 1989-02-27 | 1990-09-05 | Eidai Co Ltd | 耐候性のすぐれた木質材料 |
| JPH0445837U (ja) * | 1990-08-22 | 1992-04-17 | ||
| JPH04127342U (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-19 | トステムウツドワーク株式会社 | 化粧板 |
| JP2021076500A (ja) * | 2019-11-11 | 2021-05-20 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置及びジェットポンプビームの検査方法 |
-
1982
- 1982-07-12 JP JP57121002A patent/JPS5912351A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63236845A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-03 | 株式会社 岡谷壁材 | 内外装仕上材 |
| JPH02223442A (ja) * | 1989-02-27 | 1990-09-05 | Eidai Co Ltd | 耐候性のすぐれた木質材料 |
| JPH0445837U (ja) * | 1990-08-22 | 1992-04-17 | ||
| JPH04127342U (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-19 | トステムウツドワーク株式会社 | 化粧板 |
| JP2021076500A (ja) * | 2019-11-11 | 2021-05-20 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置及びジェットポンプビームの検査方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4634336B2 (ja) | 超音波探傷方法及び超音波探傷装置 | |
| JPH0664023B2 (ja) | 超音波検査システム | |
| CA3138634C (en) | System and method for scanning an object using an array of ultrasonic transducers | |
| JPS58223059A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| US3673860A (en) | Non-destructive testing system having pattern recognition means | |
| JPS5912351A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| Ludwig et al. | A nondestructive ultrasonic imaging system for detection of flaws in metal blocks | |
| CN117030856A (zh) | 一种动态聚焦相控阵超声检测方法、装置、设备及介质 | |
| JPH03122563A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JP5235028B2 (ja) | 超音波探傷方法及び超音波探傷装置 | |
| JPS63177056A (ja) | 超音波検査方法 | |
| JPH09229909A (ja) | 移動被検体の検査方法および検査装置 | |
| JP2001324485A (ja) | 超音波探傷結果表示方法及び超音波探傷装置 | |
| JP2001324484A (ja) | 超音波探傷方法および超音波探傷装置 | |
| JP2816212B2 (ja) | 超音波探傷法 | |
| JPH0264451A (ja) | 超音波探傷器 | |
| EP4012401A2 (en) | Ultrasonic probe alignment using ultrasound signals | |
| SU1293630A1 (ru) | Способ ультразвукового контрол изделий | |
| JPS6411143B2 (ja) | ||
| JPH05172789A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPH0215025B2 (ja) | ||
| JPH04136758A (ja) | アークアレイ形超音波探触子を用いる探傷方式 | |
| JPS58139062A (ja) | 超音波探傷用画像表示装置 | |
| JPH11118777A (ja) | 扇形走査式超音波検査装置 | |
| JPH10253599A (ja) | 超音波探傷方法および装置 |