JPS59100548A - モジユ−ルｉｃ用試験装置 - Google Patents
モジユ−ルｉｃ用試験装置Info
- Publication number
- JPS59100548A JPS59100548A JP57211626A JP21162682A JPS59100548A JP S59100548 A JPS59100548 A JP S59100548A JP 57211626 A JP57211626 A JP 57211626A JP 21162682 A JP21162682 A JP 21162682A JP S59100548 A JPS59100548 A JP S59100548A
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- JP
- Japan
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- light
- module
- emitting element
- receiving element
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
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- Power Engineering (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、カメラ用ＩＣを電子光学的技術を用いて試
験するようにしたモジュールＩＣ用試験装置に関するも
のである。
験するようにしたモジュールＩＣ用試験装置に関するも
のである。
従来この種の試験装置として、第１図に示すものがあっ
た。
た。
この従来装置は、暗箱（１）内に１発光素子（ＬＥＤ）
（３ａ） 、受光素子（ＳＰＤ）（４ａ）を同一基板上
に備えたモジュールＩＣ基板（２）を入れ、該ＩＣ基板
（２）上の発光素子（３ａ）に対向させて該ＩＣ基板（
？）上の受光素子（４ａ）と同一品種の受光素子（４ｂ
）を暗箱（１）に取付け、ケーブル（５ｂ）を通して、
電流測定計で、基板（２）上の発光素子（３ａ）の輝度
を試験するようにしていた。
（３ａ） 、受光素子（ＳＰＤ）（４ａ）を同一基板上
に備えたモジュールＩＣ基板（２）を入れ、該ＩＣ基板
（２）上の発光素子（３ａ）に対向させて該ＩＣ基板（
？）上の受光素子（４ａ）と同一品種の受光素子（４ｂ
）を暗箱（１）に取付け、ケーブル（５ｂ）を通して、
電流測定計で、基板（２）上の発光素子（３ａ）の輝度
を試験するようにしていた。
また、受光素子（４ａ）を試験する場合は、基板上の受
光素子（４ａ）に対向させてＩＣ基板（２）上の発光素
子（３ａ）と同一品種の発光素子（３ｂ）を暗箱（１）
に取付け、接触子（６ｂ）を通して発光コントロールを
し、基板上の受光素子（４ａ）の感度をケーブル（５ａ
）を通して試験するようにしていた。
光素子（４ａ）に対向させてＩＣ基板（２）上の発光素
子（３ａ）と同一品種の発光素子（３ｂ）を暗箱（１）
に取付け、接触子（６ｂ）を通して発光コントロールを
し、基板上の受光素子（４ａ）の感度をケーブル（５ａ
）を通して試験するようにしていた。
従来の試験装置は以上のように構成されているので、以
下のような欠点があった。
下のような欠点があった。
■ 外付の発光素子（３ｂ）の輝度を一定にするために
（同一品種といえども性能も違うし、同一素子でも劣下
するので）、試験の都度校正が必要となる。
（同一品種といえども性能も違うし、同一素子でも劣下
するので）、試験の都度校正が必要となる。
■ 外付の受光素子（４ｂ）も上記の理由で感度が変わ
るため、試験の都度相関をとり修正が必要となる。
るため、試験の都度相関をとり修正が必要となる。
■ 基板上の発光素子（３ａ）と受光素子（４ａ）を個
々に試験しているために、基準値よシそれぞれ輝度の高
いもの、感度の良いもののみ会格としておシ、そのため
少々輝度が基準値よシ低い発光素子と、これに対して十
分な感度を有する受光素子を組合せたモジュールＩＣや
、その逆の組合せのモジュールＩＣもモジュールＩＣと
しては十分動作するのに不合格となる。
々に試験しているために、基準値よシそれぞれ輝度の高
いもの、感度の良いもののみ会格としておシ、そのため
少々輝度が基準値よシ低い発光素子と、これに対して十
分な感度を有する受光素子を組合せたモジュールＩＣや
、その逆の組合せのモジュールＩＣもモジュールＩＣと
しては十分動作するのに不合格となる。
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、外付の発光素子。
めになされたもので、外付の発光素子。
受光素子を用いず、基板自身の素子を用いることにより
、上記従来の欠点が解消されて試験の作業ＩＩ−Ｌ、伯
頼性が向上し、また実使用条件によシヶ近似した試験を
行なうことができる七ジュールＩＣｍ試験装置を提供す
ることを目的としている。
、上記従来の欠点が解消されて試験の作業ＩＩ−Ｌ、伯
頼性が向上し、また実使用条件によシヶ近似した試験を
行なうことができる七ジュールＩＣｍ試験装置を提供す
ることを目的としている。
以下、本出願の第１．第２の発明の実施例を図について
説明する。
説明する。
第２図−：本出願の第１の発明の一実施例によるモジュ
ールＩＣ用試験装置を示し、図において、（１）は暗箱
、（２）は該暗箱（１）内に入れたモジュールＩＣ基板
、（３）は該ＩＣ基板（２）上に形成された発光素子、
（４）は上記ＩＣ基板（２）土に形成された受光素子、
（６ａ） 。
ールＩＣ用試験装置を示し、図において、（１）は暗箱
、（２）は該暗箱（１）内に入れたモジュールＩＣ基板
、（３）は該ＩＣ基板（２）上に形成された発光素子、
（４）は上記ＩＣ基板（２）土に形成された受光素子、
（６ａ） 。
（６ｂ）は発光素子（３）、受光素子（４）を動作させ
るだめの、ピンに尚てた接触子、（７）は上記発光素子
（３）を光源とする光を受光素子（４）に伝達するオプ
ティカルファイバーである。
るだめの、ピンに尚てた接触子、（７）は上記発光素子
（３）を光源とする光を受光素子（４）に伝達するオプ
ティカルファイバーである。
次に不実施例の作用効果について説明する。本実施例装
置においてモジュールＩＣの良否を試験する場合は、暗
箱（１）内に、モジュールＩＣ基板（２）を入れ、基板
（２）上の発光素子（３）を接触子（６ａ）を通して発
光させ、その光をオプティカルファイバ（７）内を伝達
せしめて、基板（２）上の受光素子（４）で受け、これ
を接触子（６ｂ）を通して電流計で測定し、これにより
発光素子（３）と受光素子（４）を試験する。
置においてモジュールＩＣの良否を試験する場合は、暗
箱（１）内に、モジュールＩＣ基板（２）を入れ、基板
（２）上の発光素子（３）を接触子（６ａ）を通して発
光させ、その光をオプティカルファイバ（７）内を伝達
せしめて、基板（２）上の受光素子（４）で受け、これ
を接触子（６ｂ）を通して電流計で測定し、これにより
発光素子（３）と受光素子（４）を試験する。
そしてこの場合、本実施例装置は発光の強弱のコントロ
ールを発光コントロール（図示せず）によシ接触子（６
ａ）を通して行なうことにより、あらゆる条件の場合に
も、それに応じて受光素子（４）が反応するか否かを試
験できる。
ールを発光コントロール（図示せず）によシ接触子（６
ａ）を通して行なうことにより、あらゆる条件の場合に
も、それに応じて受光素子（４）が反応するか否かを試
験できる。
このように、本実施例装置では、モジュールＩＣ個々に
ついてそれ自身の発光素子（３）を光源として用いてい
るため、よシ実装に近い状態で試験でき、また、一方の
素子が少々性能が低くても他方の素子がそれを十分カバ
ーできる性能があれば、モジュールＩＣとして実使用で
きるものでアシ、このようなモジュールＩＣ全体の良否
の試験もでき、能率的である。
ついてそれ自身の発光素子（３）を光源として用いてい
るため、よシ実装に近い状態で試験でき、また、一方の
素子が少々性能が低くても他方の素子がそれを十分カバ
ーできる性能があれば、モジュールＩＣとして実使用で
きるものでアシ、このようなモジュールＩＣ全体の良否
の試験もでき、能率的である。
ｌお上１己の実施例では、暗箱（１）を用いた場合につ
いて示したがづ←板＜ （２）への外光を遮断する方法
であれは（ＤＪ ｉの方法でもよい。又、オプティカル
ファイバー（７）は暗箱（１）の外に設けてもよく、さ
らにメブテイ力ルファイバーの代わシに鏡を用いてもよ
く、丑だ第３図に示すように受光素子（４ａ）〜（４Ｃ
）の前にレンズ０Ｄがある場合でも角度の−ｙ？なる鏡
（角度をコントロールできる鏡）０２）を入れることに
よシ、複数のＳＰＤをそれぞれ試験できる。
いて示したがづ←板＜ （２）への外光を遮断する方法
であれは（ＤＪ ｉの方法でもよい。又、オプティカル
ファイバー（７）は暗箱（１）の外に設けてもよく、さ
らにメブテイ力ルファイバーの代わシに鏡を用いてもよ
く、丑だ第３図に示すように受光素子（４ａ）〜（４Ｃ
）の前にレンズ０Ｄがある場合でも角度の−ｙ？なる鏡
（角度をコントロールできる鏡）０２）を入れることに
よシ、複数のＳＰＤをそれぞれ試験できる。
第４図は本出願の第２の発明の一実施例によるモジュー
ルＩｃ用試験装置を示し、図において、（１）は暗箱、
（２）は該暗箱（１）内に入れたモジュールＩＣ基板、
（３）は該ＩＣ基板（２）上に形成された発光素子、（
４）に１」二記ＩＣ基板（２）上に形成された受光素子
、（６ａ）。
ルＩｃ用試験装置を示し、図において、（１）は暗箱、
（２）は該暗箱（１）内に入れたモジュールＩＣ基板、
（３）は該ＩＣ基板（２）上に形成された発光素子、（
４）に１」二記ＩＣ基板（２）上に形成された受光素子
、（６ａ）。
（６ｂ）は発光素子（３）、受光素子（４）全動作させ
るだめの、ピンに当てた接触子、（７）は発光素子（３
）を光り・Ｎとする光を受光素子（４）に伝達するオプ
ティカルファイバーである。捷た（８）は上記光を減衰
するためのフィルター、（９）は減衰力の異なる伺枚も
のフィルターを設けた時の回転軸である。
るだめの、ピンに当てた接触子、（７）は発光素子（３
）を光り・Ｎとする光を受光素子（４）に伝達するオプ
ティカルファイバーである。捷た（８）は上記光を減衰
するためのフィルター、（９）は減衰力の異なる伺枚も
のフィルターを設けた時の回転軸である。
次に動作について説明する。
本実施例装置で試験する場合は、暗箱（１）内にモジュ
ールＩＣ基板（２）を入れ、基板上の発光素子（Ｌ Ｅ
Ｄ ） （３）を接触子（６ａ）を通して発光させ、
その光をオプティカルファイバー（７）内を伝達せしめ
て基板上の受光素子（４）で受け、これを接触子（６ｂ
）を通して電流計で測定し、このようにして発光素子（
３）と受光素子（４）を試験する。
ールＩＣ基板（２）を入れ、基板上の発光素子（Ｌ Ｅ
Ｄ ） （３）を接触子（６ａ）を通して発光させ、
その光をオプティカルファイバー（７）内を伝達せしめ
て基板上の受光素子（４）で受け、これを接触子（６ｂ
）を通して電流計で測定し、このようにして発光素子（
３）と受光素子（４）を試験する。
そして実装上では、発光素子（３）が放った光は物質に
当って反射し、これを受光素子（４）が感知するのであ
シ、その物質の遠近によシ、発光される光の強さは一定
でも受光されるものは変化する。そこで、試験時には、
光を減衰させるために、フィルター（８）を入れる。し
かも、遠近により変化する分を、回転する減衰力の異な
る何種類かのフィルターを取付けることによシ光の減衰
具合を調節する。
当って反射し、これを受光素子（４）が感知するのであ
シ、その物質の遠近によシ、発光される光の強さは一定
でも受光されるものは変化する。そこで、試験時には、
光を減衰させるために、フィルター（８）を入れる。し
かも、遠近により変化する分を、回転する減衰力の異な
る何種類かのフィルターを取付けることによシ光の減衰
具合を調節する。
なお、上記の実施例では、暗箱（１）を用いた場合鵡
について示したが、これは基板間（２）への外光を遮断
する方法であれば、何れの方法でもよい。またフィルタ
（８）を入れる箇所はオプティカルファイバ−＋７＋の
途中でなく端でもよい。
する方法であれば、何れの方法でもよい。またフィルタ
（８）を入れる箇所はオプティカルファイバ−＋７＋の
途中でなく端でもよい。
以上のように本出願の第１の発明に係るモジュールＩＣ
用試験装置によれば、モジュールＩＣの発光素子からの
光を受光素子に伝達する光伝達手段を設けてモジュール
ＩＣ自身の発光素子を光源として発光、受光素子を試験
するようにしたので、実使用条件に近似した試験を行な
うことができ、又外部素子を使用する必要がなく試験の
作業性。
用試験装置によれば、モジュールＩＣの発光素子からの
光を受光素子に伝達する光伝達手段を設けてモジュール
ＩＣ自身の発光素子を光源として発光、受光素子を試験
するようにしたので、実使用条件に近似した試験を行な
うことができ、又外部素子を使用する必要がなく試験の
作業性。
信頼性を向上できる効果がある。
また本出願の第２の発明に係るモジュールＩＣ用試験装
置によれば、発光素子からの光を減衰する光減衰手段を
上記光伝達手段内に設けたので、より実使用に即して試
験でき、又各々の発光素子の特性により光の強弱が一定
しないということはなく、より信頼性を向上できる効果
がある。
置によれば、発光素子からの光を減衰する光減衰手段を
上記光伝達手段内に設けたので、より実使用に即して試
験でき、又各々の発光素子の特性により光の強弱が一定
しないということはなく、より信頼性を向上できる効果
がある。
第１図は従来のモジュールＩＣ用試験装置の断面図、第
２図は本出願の第１の発明の一実施例によるモジュール
ＩＣ用試験装置の断面図、第３図は上記第１の発明の他
の実施例の断面図、第４図は本出願の第２の発明の一実
施例によるモジュールＩＣ用試験装置の断面図である。 （１）・・・外光遮光器（暗箱） 、＋２１・・・モジ
ュールＩＣ基板、（３）・・・発光素子、（４）・・・
受光素子、（６ａ）・・・発光接触子、（６ｂ）・・・
受光接触子、（７）・・・光伝達手段（オプティカルフ
ァイバー） 、（９１・・・光減衰手段（フィルター） なお、図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代 理 人 葛 野 信 −第１図 第２図 第３図 第４図 Ｌ１ノ、 ′ｆ由 正 よ゛ （自発）Ｖ’ｌ、
ｌ’ｌ’ Ｉｊ長１゛１殿 １、 １ｃｆ’ｌの表示 持１げ（昭５７−２１
１６２６ 号２ づご明の名称 モジュールＩＣ用試験装置 ′）１山止をする右 ・ＩＧ１！ｌ−との関係 特許出願人（−１Ｅ
所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号名
称（６０１） 三菱電機株式会社代表者片山仁八部 ・１代理人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号
５、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄及び図面（第１図）う、
補正の内容 （１）第１図を別紙のとおり訂正する。 （２）明細書をつぎのとおり訂正する。 ページ 行 訂 正 前 訂
正 後３１４ （５ｂ） （５ａ） ３ ２０ 接触子（６ｂ） ケーブル（５ｂ）
４１１〜２ ケーブル（５ａ） 接触子（６ｂ）
７１９１ＳＰＤ 受光素子（ＳＰＤ）□ □ １ １ ；
２図は本出願の第１の発明の一実施例によるモジュール
ＩＣ用試験装置の断面図、第３図は上記第１の発明の他
の実施例の断面図、第４図は本出願の第２の発明の一実
施例によるモジュールＩＣ用試験装置の断面図である。 （１）・・・外光遮光器（暗箱） 、＋２１・・・モジ
ュールＩＣ基板、（３）・・・発光素子、（４）・・・
受光素子、（６ａ）・・・発光接触子、（６ｂ）・・・
受光接触子、（７）・・・光伝達手段（オプティカルフ
ァイバー） 、（９１・・・光減衰手段（フィルター） なお、図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代 理 人 葛 野 信 −第１図 第２図 第３図 第４図 Ｌ１ノ、 ′ｆ由 正 よ゛ （自発）Ｖ’ｌ、
ｌ’ｌ’ Ｉｊ長１゛１殿 １、 １ｃｆ’ｌの表示 持１げ（昭５７−２１
１６２６ 号２ づご明の名称 モジュールＩＣ用試験装置 ′）１山止をする右 ・ＩＧ１！ｌ−との関係 特許出願人（−１Ｅ
所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号名
称（６０１） 三菱電機株式会社代表者片山仁八部 ・１代理人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号
５、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄及び図面（第１図）う、
補正の内容 （１）第１図を別紙のとおり訂正する。 （２）明細書をつぎのとおり訂正する。 ページ 行 訂 正 前 訂
正 後３１４ （５ｂ） （５ａ） ３ ２０ 接触子（６ｂ） ケーブル（５ｂ）
４１１〜２ ケーブル（５ａ） 接触子（６ｂ）
７１９１ＳＰＤ 受光素子（ＳＰＤ）□ □ １ １ ；
Claims (6)
- （１）発光素子及び受光素子が同一基板上に設けられた
モジュールＩＣからなる被試験体の良否を試験するモジ
ュールＩＣ用試験装置であって、外部からの光を遮断し
上記被試験体を収容する外光遮断器と、上記被試験体の
発光素子に発光コントロール装置を接続する発光接触子
と、上記被試験体の受光素子に電流計を接続する受光接
触子と、上記発光素子からの光を受光素子に伝達する光
伝達手段とを備えたことを特徴とするモジュールＩＣ用
試験装置。 - （２）上記外光遮断器が暗箱であることを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載のモジュールＩｃ用試験装置。 - （３）上記光伝達手段がオプティカルファイバーである
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項又は第２項記載
のモジュールＩＣ用試験装置。 - （４）発光素子及び受光素子が同一基板上に設けられた
モジュールＩＣからなる被試験体の良否を試験するモジ
ュールＩＣ用試験装置であって、外部からの光を遮断し
上記被試験体を収容する外光遮断器と、上記被試験体の
発光素子に発光コントロール装置を接続する発光接触子
と、上記被試験体の受光素子に電流計を接続する受光接
触子と、上記発光素子からの光を受光素子に伝達する光
伝達手段と、該光伝達手段内に設けられ上記光を減衰す
る光減衰手段とを備えたことを特徴とするモジュールＩ
Ｃ用試験装置。 - （５）上記外光遮断器が暗箱であることを特徴とする特
許請求の範囲第４項記載のモジュールＩＣ用試験装置。 - （６）上記光伝達手段がオプティカルファイバーである
ことを特徴とする特許請求の範囲第４項又は第５項記載
のモジュールＩＣ用試験装置。 載のモジュールＩＣ用試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57211626A JPS59100548A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | モジユ−ルｉｃ用試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57211626A JPS59100548A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | モジユ−ルｉｃ用試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59100548A true JPS59100548A (ja) | 1984-06-09 |
Family
ID=16608882
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57211626A Pending JPS59100548A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | モジユ−ルｉｃ用試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59100548A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4882470A (en) * | 1986-08-19 | 1989-11-21 | Tokyo Gas Kabushiki Kaisha | Boring device for opening passages to branch portions of a lined main pipe line |
-
1982
- 1982-11-30 JP JP57211626A patent/JPS59100548A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4882470A (en) * | 1986-08-19 | 1989-11-21 | Tokyo Gas Kabushiki Kaisha | Boring device for opening passages to branch portions of a lined main pipe line |
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