JPS5896554A - グラビア製版における一液型腐食法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はグ）フビア製版における新規な一沿型腐食法に
関するものである。

グラビア製版に′おいて一液型腐食法と呼ばれるものは
腐食工程管理の点から優れたものであるといわれている
。これは、一定濃度の塩化第二鉄液をＶツンダ面に供給
しつつ、シリンダ（ロ）転做を変化させて所期のセル深
度カーブを得ようとするものであるが、従来１：おける
方等は腐食中最Ｖヤドク部と他の所望の部分との茸点の
セル深度を検出して行き、上記所望部分のセル深度が中
間設定値と一致する毎に最シャドク部の深度を測定し、
その深度が所定値よりも大きければ回転数を落し、逆に
小さければ回転数をＦげて腐食量をｌｌ整するものであ
る。従って二点のセル深度しか制御し得ないので、中間
調の部分のセル深度が所期の竜ル深度カープシ：合致し
ているか否かは腐食が終了しなければ検知し得ない。

また、従来方法はフィードバック制御であるから、セル
深度測定器、演算制御装置等を要し、れたもので、各種
腐食時間及び各種シリンダ回転数の各々の組合せ感：お
ける腐食特性を予め求めておき、これと所期のセル深度
カーブとの比較から、総腐食特開及びシリンダ回転数を
検出か する熱、あるいは相関性の高い部分毎Ｃ：上記セル深賓
カーブを分断して各部分での腐食時間及び使用すべき回
転数を腐食後期より前期へと順次検出して行き、これに
基づいて実際の腐食を行なうようにしたプリセット方式
の一液型腐食法であることを特徴とする。

以下、図面に示す実施例に基づいて本発明を説明する。

最初に、検査液によりグラビア版材のレジストの浸透特
性を検査する方法について説明する。

なお、検査液は例えば多価アルコールを主成分とする導
電性溶液であり、非腐食性か又は少しばかり腐食性を有
している。

１に１図はグラビア版材のうちシリンダ状のものを表わ
し、図においてＯａは版材の銅層表面に密着せしめられ
たレジストである。レジストｔｌＧには印刷すべき画像
が現像により形成されると共Ｃ：、検査用の階調スケー
ル（例えば、申（ｌｌ　１■１−の４段階）も形成され
ている。

１１２図は上記レジストの特性を検査する装置を示し、
＊Ｓａは当該装置のＩＩｌ！用状態全状態ている０図で
示されるように、レジスト用電極口は抵抗Ｒ１を介して
電源＋ＶＣＯに接続されると共に、レジスト用電極鱒は
抵抗Ｒ，を介して接地されている。また、レジスト用電
極鱒の電位ＶＢはスレッショルド電位Ｖ！菫に設定され
た比較器（至）に入力され、比較器（至）の出力ＣＭ（
２値信号）はアンド回路０８に入力される。アンド回路
（至）にはパルス発振４頭からの所定周波数のクロック
パルスＣＰが入力されており、アンド回路（至）の出力
はカウンタ（ハ）で計数され、その計数値がデコーダ（
至）を経て表示部（２）で浸透時間データとして表示さ
れるようになっている。しかして、カウンタのの計数値
はクリアボタン（至）でクリアされるようになっており
、抵抗Ｒｓは被測定物としてのレジストＯＱの抵抗を表
わしている。レジスト（１（１は電極（至）によって接
地される。

接地箇所は１ｊ！３図の場合版材の銅層（至）である。

しかして、電源ＯＮにより検査動作を開始するが。

この場合、レジスト用電極０４は抵抗Ｒ２を介して接地
されているので、その電位ＶＢは４４図（４）の時点ｔ
ｏ〜ｔ１のように０〔ｖ〕となっており、スレッショル
ド電位（＋　ＶＴｉ　）よりも低くなっている。したが
って、比較器（至）の出力は２値信号の“０１となって
おり（第４図の）参照）、クロックパルスＣＰはアンド
回路（至）で阻止されるのでカウンタ＠は計数を行なわ
ない。

ここにおいて、導電性の検査液ＳＬをスポイトによって
レジス）　ＧＯ上のレジスト用電極曲及び軸位置に滴下
する。しかして、かかる検査＃８Ｌは導電性であると共
に、レジストＱＯ及びレジスト用電極Ｑ２Ｓ、Ｑ４に接
触するので、この滴下暗点ｔ１から電源（＋　Ｖａｃ）
からの電流が抵抗Ｒ１を経て抵抗Ｒ２及びＲ，に流入す
る。したがって、電位Ｖ。

は抵抗Ｒ１と、抵抗Ｒ２及びＲｉの合成抵抗値との分圧
値（ＶＭ　）となり（＠４図囚参照）、これが比較器−
に入力される。この分圧値ｖＭはスレッショルド電位（
＋　Ｖ？＊　）よりも大きいので、比較器（至）の出力
ＣＭは２値信号の“１１となる（１１４図０３１参照）
。これによってクロックパルスＣＰはアンド回路（至）
を通ってカウンタ（至）（二人力され、計数動作が開始
される。このカウンタ■の計数値はデコーダ＠で時間デ
ータに換算され、計数開始時点ｔ１からの経過時間が表
示部（２）で表示される。

しかして、レジスト輔上に検査液ＳＬが滴下されると、
徐々に検査液８Ｌがレジスト質を浸透するので、その抵
抗Ｒ，は次第に小さくなる。

したがって、電位ｖ１１は１１４図（４）に示すように
時点ｔ１以降徐々に低下し、遂にはスレッショルド電位
ｖＴ、よりも小さくなる（時点ｔ２）。これにより比較
器（２）の出力ＣＭは再び“０′となり、パルス発振器
−からのクロックパルスＣＰはアンド回路（至）で遮断
されカウンタ（２）の計数動作が停止する。かくして、
カウンタ＠は時点ｔ１からｔ２まで、つまりレジス）　
０（Ｉ上に検査液８Ｌを滴下してからその検査液ＳＬが
所定深さくスレッショルド電位■ＴＨの値に対応する）
に浸透するまで、パルス発振器−からのクロックパルス
ＣＰを計算し、これをデコーダ（至）で時間データに変
換してから浸透時間として表示部（至）に表示する。こ
れにより、レジスト■の検査液ＳＬによる浸透時間を間
室することができる。なお、カウンタ（２）の計数値は
クリアボタン（至）を押すことによってクリアされる。

以上のような間室が上記階調スケールの４段階（１、Ｉ
、Ｉ、ＩＶ　）の各部分に対して行なわれ、各浸パ透時
間が検査される。

ここに、階調スケールの各段階（一対応するセルの設定
深度は、原稿のポジ濃度と１１５図の如き対応関係にあ
る。この関係曲線は経験上印刷物に応じて適宜選択決定
されるものである。

また、唖ルの設定深度は上記検査液浸ｊ！１ｆＦ間と８
６図の如き相関関係にあり、検査液浸透時間と腐食液浸
透時間とは１１７図の如き相関関係にある。この場合、
腐食液の濃度は一定に設定されており、濃度が異なれば
図示のカーブも相違してくる。なお、本発明者等の実験
によればこの力°−プはシリンダ回転数とほとんど無関
係に一定であることが確認されている。

さらに一定濃度の腐食液によるシリンダ表−の腐食量は
、シリンダの回転数の影響を受け、回転数が小さい時は
腐食量が少なく、逆に回転数が上がれば腐食量が多（な
り、又腐食時間によっても異なるが、回転数又は腐食時
間を一定に保持すれば検査液浸透時間とセル深度とは一
８図及び＠９図の如く一定の相関関係を保つ。

しかして、前記検査装置による調定結果を１に４４図の
如きレジストの浸透特性を求め、これとＩＪ４７図、第
８図及びＩ！９１！ｉｌとの対比、演算処理等から総腐
食時間、使用すべき各植シリンダ回転数及びそれら各回
転数での対応腐食時間、ならびに回転数変換順序を導出
しつる。

次に、上記第８図及び第９図、のデータの求め方につい
て述べる。

まず、所定の試験用レジストに対して複数種のりリング
回転数（Ａ、Ｂ、Ｏ・・・・・・・・）につき腐食時間
、検査液浸透時間及び腐食後のセル深Ｖの関係を得るた
めの試験を行なう、　ＩＩＩ　０図はそのうち回転数Ａ
でのテスト結果を表わした表である。

試験用レジストはシリンダの端層の上に密着されており
、所望のテスト用階調スケールがハイライト部からシャ
ドウ部に向けて形成され、例えば申（ｌｌ　（履；・・
・・・・・・・の如く多数区分されると共に、各階−に
ついて検査液用および腐食液用の〆−が複数個設けられ
ている。

そして、例えばすべての階調中（ＷＩ　Ｉｌｌ・・・・
・・・・について検査液をレジストの所定の区−に滴下
してその浸透時間（ｘｌｌ　）　（ｘＤ　）−・−・・
（ｚｌｔ　）・・・・・・・・（ＸＩＶ６　）・・・・
・・を測定し、次いで他区画に所定濃度の腐食液を供給
して腐食時間なＴ１、Ｔ２、Ｔｓ、・・・・・・・・・
と異ならせて腐食を行なった後、レジストを除去してそ
の下の銅層に形成された七ｋｆＪｆＲ度を各区−につい
て（ｊｈ　）　（ｊｌｚ　）・・・・・・・・・（ｊｌ
ｌ）・・・・・・・・・と畦間する。かかる測定を各回
転数Ａの他、Ｂ、１０・・曲・・・・につぃても行な５
゜ 第８図はこの測定結果を片対数でグラフ化したもので、
腐食時間（Ｔ４）についての例示である。このグラフは
各種回転数Ａ％Ｂ、Ｏに関する検査液浸透時間１ｚｌ対
セル深度＋１１の関係を示している。

このようなグラフが他の腐食時間（ＴＩ）（Ｔ２）・・
・・・・・・・についても描かれる（ＷＩ示せず）。

また、王妃間室結果に基づいて、ＩＩ？ｔ！４の如きグ
ラフも作成Ｔる。このグラフは、例えば回転倣囚につい
ての各種実腐食時間（１１、Ｉ２、Ｉ「・・・・・・・
・）に関する検査液浸透時間ｉ：対セル深度１ｊ１の関
係を示している。このようなグラフが他の回転数（Ｂ）
　、　（ＣＩ・・・・・・・・・についても描かれる（
図示せず）。

ここで、実腐★時閏セＩＩは次の関係式から求められる
。

？：Ｙ＋＃ （ただし、Ｙは腐食液浸透時間であり、例えば腐食液付
着時から腐食液と銅とが反応してレジストが黒変するま
での時間として求められる。

テは腐食時間である。） すなわち、実腐食時間は腐食液がシリンダの銅面に達し
た後、実際に銅面を腐食している時間である。

さらに、上記検査液の浸透時間対腐食液の浸透時間の関
係を第７図の如くグラフ化する。このグラフの横軸（＝
は上記レジストの各階調部分Ｃ二おける検査液の浸透時
間体）が目盛られ、縦軸には同じ各階調部分における腐
食液の浸透時間（Ｙ）が目盛られている。

以上のようＣニして検査液の浸透性とセル深度との相関
関係が求められることにより、これを基準データとして
前記版材のレジスト（至）の検査液による浸透特性の測
定結果を以下のよう５二対応せしめ、腐食前に腐食条件
を決定することができる。

なお、グラビア刷版の工程管理を厳密に行なってもレジ
ストは気温、湿度等の変動によりその時々によって性質
を興にするので、これから腐食を關始しようとする直前
に前記浸透特性を検査液を使用して測定装置で検査する
のが望ましい。そこで８６図の結果を得たとする。この
グラフは　１１１図における各階調部分中（ｌｌ　（１
１１１％ｌ）が各々どれ位のセル深度を有しなければな
らないかが経験上予め求められているので、それを基に
して各階１ｌｉＩ１分の検査液浸透時間とセル深度との
関係を描いてなるものである。

次に、１８６図の浸透特性曲線（至）が！軸と交わると
考えられる点、すなわちセル深度Ｊ＝Ｏとなる点ｐを推
定してその点における、検査液浸透時間（ｘｐ　）を求
め、この検査液浸透時間に応じた腐食液浸透時間（Ｙｐ
）をＩＩＩ図より求め、これを総腐食時間として決定す
る。もちろん、ｊ＝ｏとすべきレジスト部分の検査液浸
透時間を実地に求めて点ｐを決定してもよい。

上記Ａｐは例えば第６図における（Ｘ肛、Ａｌｌと（ｘ
Ｉ、ｊｌ）の二点を結ぶ直線が！軸と交差Ｃる点として
、又は曲線（財）の（ｘＩ、　）■）における接線がＸ
軸と交差する点として設定することがで〜る。

このように、総腐食時間（Ｙｐ　）が決定され、これが
仮にＴ４に等しければその時間に対応する各種シリンダ
回転数についての検査液浸透時間゛対セル深度の関係デ
ータ（８１４８図）を遥出し第６図の曲線（至）と比較
する。

当該レジスト叫については格６図の曲線−に沿って腐食
がなされるよう条件設定するのが緻も望ましいので、曲
線（至）に近接するデータを選出し、仮にそれがシリン
ダ回転数Ｂのものであれば、シリンダの使用回転数Ｂ、
総腐食時間Ｔ４として腐食工程を行なうものと決定する
。

しかし、回転数Ｂの一種類だけでは、曲線−を満足でき
ない場合も起り得る。かかる場合には腐食をＮ期に分断
して各々における最適腐食条件を設定するものとする。

すなわち、総腐食時間（Ｙｐ　）が仮にＴ４に等しけれ
ばその時間に対応する第８図のデータな遥出し、！１！
１１図の如く比較する。当該レジストすなわち、検査液
浸透時間が大なる方から比較してＩＩＢ図の中から選択
する。すなわち、腐食量後期たる＠Ｎ期（ただし、Ｎ＝
２．３．４．５・・・・・・・・・）の腐食条件から設
定を始める。

この場合、点ＱＮ−１を境として、右部分が曲線（至）
と近接している、従って、検査液浸透時間がｘＭ−１か
らｘＩまでの特性を有するレジスト部分については回転
数人の影響を受けさせることにより、１１１６図の曲線
（至）における点Ｑヨー、以降の曲線部分に沿った腐食
が可能となる。

よって、腐食ＮＪ９］（二部用する回転数を人と決定す
る。

また、この決定した回転数Ａの使用時間は、点Ｑヨー、
における検査液の浸ｊ１１１１１間”Ｍ−１に対応する
レジスト部分を当該腐食液が浸透しきるまでの時間を上
記決定した総腐食時間Ｔ４から差し引と いた時閲宜なる。

しかして、回転数人の使用時間は、１１７図のグラフよ
り、検査液の浸透時間ｘ１〜．に相当する腐食液の浸透
時間ＹＭ−１を総腐食時間〒４から差し引いた時間（’
ｒ４−Ｙｍ−１）として求められる。

次に、腐食率Ｍ−１期以前に使用する回転数とその使用
時間を求める操作について述べる。

ここで仮に、腐食を第１期と第２期の二つに分けた場合
（Ｎ−２）ｌ二おけるセルの腐食量の割合を第１２図で
模式的６：表わす。図において、−虐（至）の破線部分
は腐食第１期の腐食量、実線部分は腐食！１！２期の腐
食量を夫々表わしている。

すなわち、図で示されるようｄ二、鋼層の腐食は傭食第
１期と腐食第２期の両者により段階的４：なされるが、
各々の腐食するセル深度は各々の回転数と相関性を何し
ている。また、各々の腐食によるセル深度は実腐食時間
とも相関性を有している。

従って、図示の如く腐食の第１期と第２期の［ｌ」転数
の変化による境界線（鎖線）を生ずる。

そして、境界線よりも左方の検査液浸透時間が大きいレ
ジスト部では腐食第２期の回転数だけの影會を受け、境
界線よりも右方の検査液浸透時間が小さいレジスト部で
は腐食第１期の回転数と第２期の回転数の両方の影響を
受ける。しかも、腐食＠１期の回転数は上記の境界線よ
り左方のレジスト部での腐食８８２期の回転数によるセ
ル深度（実線部）を差し引いたセル深度（破線部）に影
響を及ぼす。

このことから、一般にＮ期からなる腐食の場合は、ｔｌ
Ａ６ｔｌｌＪの浸透特性曲線（至）より腐食＠ＩＬＱの
回転数の影響分を差し引いた新たな曲線がどの回転数に
影響されているかを検出すれば、腐食ｌｌＮ−１期以前
に使用すべき回転数及び時間を求めることができる。

しかして、Ｉｌｌ　１図のごとく分岐点ｑ、−１におけ
るセル深度Ｊ１−１を求め、そのセル＃度が得られるた
めの回転数Ａにおける。実腐食時間−２を第９図より求
める。そして１１１１５図の如く浸透特性−線−から実
腐食峙閲＃マ１回転数Ａの曲線−を差し引き、新たな曲
ＩＩａ１４４）を得る。

この−線−は腐食ｌｌＮ−１期以前の腐食条件ヲ表わし
ている。従って、この曲ＩＩ−が横軸と交差する点が腐
食＠Ｎ−１期以前に要する腐食時間を間接的に示してい
る。すなわち、この腐食時間は検査液浸透時間ＸＩ１．
−４に相当するレジスト部において腐食液が浸透完了す
る時間ＹＮ−４である。これは総腐食時間Ｔ４から回転
数人の使用時間（Ｔ、　−Ｙ、　、　）を差し引いた時
間（Ｔ４−（Ｔ４−ＹＮ−＋））と等しい・ そして、曲線（４４１と第１４図の如きＹｌ−１を腐食
時間とした各槽目転数に関する検査液ｌ浸透時間対セル
深度のデータとを第１５図の如く比較し、相互に最も近
似した曲線を１１！１４図から選択する。この場合曲線
−（９１４図）と近接している。

これにより、腐食ｌｌＮ−１期に使用する回転数は回転
数Ｃと決定する。そしてこの場合Ｎ＝２となり、腐食を
第１期と第２期とに分けるものと決定する。

なお、上記差し引いて求めた新たな曲線−が、＠１４図
の各曲線と良好に近接しない場合は、１述の操作を繰り
返すものとする、 すなわち、１８１６図の如く新たな曲線に）が位置する
ものとすれば、分岐点Ｑウー２を決定し、これに基づい
て！Ｊ１３図、ｉ＠１４図及び第１５図において述べた
と同様な操作を行なって、腐食＠Ｎ−１期及び腐食量Ｎ
−２期の腐食時間及び使用回転数を決定する。しかして
、この場合は腐食が１１１期、第２期、１８３期に分け
られることとなる。王妃新たな曲線−がさらに＠Ｎ−５
分岐点（図示せず）を有しておれば上記操作がさらに繰
り返される。

かくして、上記第１５％　１４．１５図の結果が得られ
た場合には、腐食第１期をシツンダ同転数０、時間ＹＩ
Ｉ−４Ｊ腐食第２期を回転数Ａ、待時間Ｔａ−Ｙｗ−４
）の夫々の条件下において行なえば、１１１６図の曲線
（至）に沿った良好な腐食を達成し得、所期のセル深度
を有する刷版を得ることができるものである。

なお１本発明において一般に分岐点が（Ｎ−１）個見出
された場合、腐食はＮ個の期に分けて１．２．３・・・
・・・・・Ｎの順に各々の設定回転数及びその使用時間
でなされることになる。

なお、検査液による検査によりレジスト特性が望ましく
ないものであることがわかったならば、検査液が腐食性
のないものである場合にはレジストのみを再度作り直せ
ばよく、また検査液が少しばかり腐食性を有する場合に
は版材を＋ントペーパー等で軽く研摩するだけでその上
にレジストを再開形成すればよい。通常、腐食液は導電
性を有しており、腐食液を使用して前記検査を行なった
場合は版材自体も作り直す必要がある。

上記実施例において腐食量をセル深度として表わしたが
セル深度とセル体積との相関性を予め求めておけば、セ
ル体積として表わしても上記と同様な結果を得ることが
できる。

また、上記腐食条件を設定するに際し、予め求めた第１
０図の如き基準データをコンピュータに記憶させておき
、これと第６図のデータを比較するなどの演算処理をコ
ンピュータにさせることにより条件を設定することもで
きる。

本発明は以上のような構成及び作用を有するから、次の
ような効果を奏する。

■腐食の前にレジストの浸透特性を把握し、しかもその
浸透特性にあった腐食条件を設定し、像の階調に応じた
再現性に優れたセル深度が得られ、熟練を要さずして品
質の安定した刷版を作製できる。

■品質の安定した刷版の作製が可能なため、後工程にお
ける版修正の負担が大幅Ｃ二軽減される。

■腐食条件の設定をグラフより判断することも可能であ
り、また１４１０図の如き試験結果な予めコンピュータ
に記憶させることによＩ）コンピューターの演算処理に
より判断することも可能である。しかも演算処理でもと
めた条件で腐食機を制御しかつ版材を腐食することが可
能である。

■腐食前に決定した回転数及び時間ぺ；従ってシリンダ
を回転させれば良く、しかも腐食液は一液のみで足るか
ら腐食工程の操作及び設備の簡素化を図り、安価な腐食
機にてより高精度な腐食作業を行なうことが可能である
。

〔実施例１〕 腐食しようとするグラビア版材のレジスト（二ｔ７、ｔ
２．０．８％０．４）につき検査液の浸透時間を測定し
たところ、２．０〔飲〕、６３〔軟〕。

Ｉ　Ｚｎ　ｒｓｓｃ）　、　４９．口〔飲〕であった。

そしてこの階調スケールに応じたセル設定深度を５５〔
μｍ〕、２０〔踊〕、１０〔μｍ〕、２〔μｍ〕として
「検査液浸透時間Ｊ対「セル設定深度」のグラフを作成
した。次にこのグラフの浸透特性曲線がセル深度：０と
なる点での検査液浸透時間６４Ｃｍ３を求め、「検査液
浸透時間」対「腐食液浸透時間」のグラフで換算して、
総腐食時間を６６０（ｓｅｅ）　（１１（分〕）と決定
した。そして各種回転数で各々１１分間腐食した時の「
検査液浸透時間１対「セル深度」のグラフと比較して、
当該腐食に使用する回転数３０（ｒｐｍ）を得た。かく
して、このレジストにおいて設定セル深度を得るために
は、一種類の濃度の腐食液（この場合は３９°Ｂｅ腐食
液使用）の使用６：より、総腐食時間１１分間、回転数
５０（ｒｐｍ）で行なえばよいことがわかり、この条件
通りにタッチローラ方式で腐食した。その結果、各スケ
ールの深度は３６（Ｊｉｍ）、２１〔μｍ〕、１０〔μ
ｍ）、２（μｍ）となり、最初設定したセル深度にほぼ
一致した。

〔実施例２〕 腐食しようとするグラビア版材のレジストに設けである
ｗｔｉｌｌｌスケール４段階（ポジ濃度で、ｔ７、ｔ２
、α８、ａ４）につき検査液の浸透時間を調定したとこ
ろ、ｔ６〔細）　、　ｔ　７　（ｍ）。

１４　Ｇ　（ｍｌ）、４７．５（ａｌｔ）であった。そ
してこの階調スケールに応じたセル設定深度を３５Ｃμ
ｍ）、２０（＃ａ）、１０（Ｊａｍ）、２〔μｍ〕とし
て「検査液浸透時間」対「セル設定深度」のグラフを作
成した。次にこのグラフの浸透特性曲線がセル深度；０
となるムでの検査液浸透時間６４〔（資）〕を求め、「
検査液浸透時間」対「腐食液浸透時間」のグラフで換算
して総腐食時間を６６０〔謝３（１１（分〕）と決定し
た。モして各檀回転做で各々１１分間腐食した時の［検
査液浸透時間」対「セル深度」のグラフと比較して、腐
食ｌｌＮ期に使用する回転数２０［ｒｐｍ］を得た。ま
た同時にｌｌＮ−１分岐点を求めてその分岐点に相当す
る検査液浸透時間４５（ｍ）を「検査液浸透時間」対１
イ食液浸透時間」のグラフで換算して腐食液の浸透時間
９０（ｍ）を得た。そしてこれを総腐食時間６６０（ｍ
ｅ）から差し引いた値５７０１”５ｅｅ）　（９，５分
）を腐食剤Ｎ期の時間と決定する。

次に、上記ＩＩ（Ｎ−１）分岐点でのセル深度２１５（
師）を求め、そのセル深度が得られるための上記回転数
２０　（ｒｐｍ　）における実腐食時間９５〔分〕を求
め、この実腐食時間９５ｃ分〕、回転数２０　（ｒｐｍ
　）の「検査液浸透時間」対「セル深度Ｊグラフの曲線
を上記浸透特性曲線から差し引いて新たな曲線を求める
と共に腐食時間ｔｓｒ分）を得た。モしてｔ５〔分〕を
腐食時間とする各種回転数に関する「検査液浸透時間」
対「セル深度」のグラフと王妃新たな曲線とを比較し、
回転数４０（ｒｐｍ）の曲線とよく近接するので、Ｎ＝
２と決定すると共に腐食１１１期に使用する回転数を４
０　（ｒｐｍ　）と決定し、またそのｒｆ用時間も１５
〔分〕と決定した。

かくして、このレジストにおいて設定セル深度を得るた
めには、一種類の濃度の腐食液（この場合は３９°Ｂｅ
腐食液使用）の使用により、腐食１１１期を時間１５分
間、回転数４０　（ｒｐｍ　）で行ない、腐食第２期を
時間９５分間、回転数２０　ｒ　ｒｐｍ　）で行なえば
よいことがわかり、この条件通りにタッチローラ方式で
腐食した。その結果各スケールのセル深度は、３６　（
ａｍ　）。

２０（Ａｍ）、１０〔−〕、２〔−〕となり、最初設定
したセル深度にほぼ一致した。

【図面の簡単な説明】

１８１図はグラビアシリンダの斜視図である。 ｊ２図はレジスト検査装置の測定回路の一例を示す回路
図、第３図はレジスト検査装置とシリンダとの関係を示
す説明図、１８４図は上記間室回路における一部波形図
である。 １ｇ５図は、ポジ濃度対セル設定深度のグラフ、第６図
は、検査液の浸透時間対セルの設定探度の横動対数グラ
フ、＠７図は検査液浸透時間対腐食液浸透時間の関係グ
ラフ、＠８図、第１４図は、回転数を変化させた場合の
検査液浸透時間対セル深度の横軸対数グラフ、１８９図
は、実腐食時間を変化させた場合の検査液浸透時間対セ
ル探度の横軸対数グラフ、＠１０図は試験用″Ｃ／シス
トに対する試験結果の表の一例、ＩＩ！１１図は、第６
図と嘱８図のグラフを比較した検査液浸透時間対セル深
度の横軸対数グラフである。 第１２図はシリンダのレジスト及び銅層の模式垂直断面
図である、 ＠１３図は１１６図と４９ｔｇとン比較した検査液浸透
時間対セル深度の横軸対数グラフである。 第１５図は弗１３図と第１４図とを比較した検査液浸透
時間対セル深反の横軸対数グラフである。 ４１６図はレジストの浸透特性カーブが第１４図のグラ
フと全体的に一致しない場合の第１５図と同様な対比グ
ラフである。 １０・・・・・・・・レジスト ３２・・・・・・・・・銅層 ５４・・・・・・・・レジスト浸透特性曲線特許出願人
　大日本印刷株式会社 代理人　弁理士　　　小　西　淳　債 才２図 才８図 才４図 ｔｏ　　ｔ、　　　　　　　　ｔ２　　　　　　　を牙
６図 牙６図 Ｘ、Ｘ、　　Ｘ、Ｘｌ　Ｘｐ　＠Ｍｉｑ随塀？４　Ｘ　
）オフ図 ＸＮ−１ｘｐ　　　Ｍ液の浸透時間［Ｘ１才　１１　図 〜−ｔ　ＸＩ　ｘｐ　　　検査液の浸透時間（Ｘ＋ト濡
Ｎ← 才８図 牙９図 検査液の浸透時間（Ｘｌ 才１０図 回転数Ａ 才　１２　　閃 牙　１３　　図 牙　１４　　図 Ｘｓ−′　　　　　検査液浸透時間（Ｘ１才　１５　　
図 検査液浸透時間（Ｘｌ 牙　１６　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１１所定濃度の腐食液をグクビアシリンダ表面Ｓ二供
   給してシリンダ表面にグラビアセルを鳥食形成する際、
   シリンダの回転数を変化させてセルの腐食量を調整する
   一腋型腐食法Ｃおいて、ｋシストの多数のテスト用階調
   スケールの各段階における検査液浸透時間対腐食液浸透
   時間の関係データ並びに各種腐食時間及び各櫂ｉ？ン！
   回転数の各々の組合わせにおける検査液浸透時間対セル
   腐食量の関係データからなる基準データに、印刷に供す
   べきシリンダのレジストの検査液浸透時間対セルの設定
   腐食量の関係データを対比させて腐食液を供給する前に
   総腐食時間及びシリンダ回転数を予め求め、しかる後当
   該求められた総腐食時間及びシリンダ回転１Ｉｋｔ−従
   ってシリンダを腐食することを特徴とする一液型腐食法
   。 （２）所定濃度の腐食液をグラビアシリンダ表面に供給
   してＶ５ンダ衰１１ｋＨニグフピ１セに４Ｉ：員禽形成
   する際、ｖ５ンダの回転数を変化させてセルの腐食量を
   調整する一液型腐食法において、 ａ、レジストの多数のテスト用階調スケールの各段階に
   おける検査液浸透時間と腐食液浸透時間との関係、 ｂ、各槓腐食時間及び各種シリンダ回転数の各々の組合
   せにおける検査液浸透時間とセル腐食量との関係、 Ｏ０各種実腐食時間及び上記各種ｖ９９ンダ転数の各々
   の組合せｌ：おける上記すと同様な関係、 の三通りのデータを予め求め、腐食液を供給する前に ｄ、印刷に供するグラビアシリンダのレジストの階調ス
   ケールの各段階鑑：おける検査液浸透時間とセルの設定
   腐食量との関係の検出、・、上記ａのデー！と上記ｄの
   データからの総腐食ｌＩＩＭｌの検出、 ｆ、上記・で検出した総腐食時間に対応する上記すのデ
   ータと上記ｄのデータとの比較による腐食第Ｎ期に使用
   すべきシリンダ回転数及び第（Ｍ−１）分岐点の検出、 ｇ、上記ａのデータと上記ｆのデータからの腐食第ｙ期
   の腐食時間の検出、 ｈ、上期ｇで検出した腐食第Ｎ期のりリング回転数での
   上記第（Ｍ−１）分岐点における実腐食時間の上記Ｃか
   らの検出、 １゜上記りで検出した実腐食時間及び上記ｆで検出した
   りリング回転数に対応する上記Ｃの関係を上記覆の関係
   から差し引く処理と、その処理による上記第（Ｍ−１）
   分岐点以前の腐食期における検査液浸透時間とセルの腐
   食量との関係の検出、 ｊ、上記ａのデータと上記１のデータによる腐食第（Ｍ
   −１）期以前の腐食時間の検出に、上記ｊで検出した腐
   食時間に対応する上記すのデータと上記１のデータとの
   比較Ｃ：よる当該腐食第（Ｍ−１）期以前の腐食におい
   て使用すべきシリンダ回転数の検出、１、上記Ｎが３以
   上の場合に必要に応じて上記に以降においてなされる上
   記ｆと同様な第（Ｍ−２）〜第１分岐点の検出と、上記
   ｇ、ｈ、ｉ、ｊ、にと同様な操作の繰返し６二よる腐食
   第（１！−２）期〜第１期Ｃ：使用すべきＶ９ンダ回転
   数及び腐食時間の検出、を行なった後、ｖ９ンダに腐食
   液を供給しつつ各腐食期の腐食を第１．２．５、・・・
   ・・・・・・ｙの順Ｃ：各々の回転数及び腐食時間で行
   なうことを特徴とする一液型腐食法。