JPS5895310A - 顕微鏡の自動焦点装置 - Google Patents
顕微鏡の自動焦点装置Info
- Publication number
- JPS5895310A JPS5895310A JP19311581A JP19311581A JPS5895310A JP S5895310 A JPS5895310 A JP S5895310A JP 19311581 A JP19311581 A JP 19311581A JP 19311581 A JP19311581 A JP 19311581A JP S5895310 A JPS5895310 A JP S5895310A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- cover glass
- objective lens
- electrodes
- microscope
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/241—Devices for focusing
- G02B21/242—Devices for focusing with coarse and fine adjustment mechanism
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、カバーガラスと対物レンズとの間隔?検出し
てこの間隔を設定値に調整することにより自動的に焦点
合わせを行なうようにした顕微鏡の自動焦点装置に関す
る。
てこの間隔を設定値に調整することにより自動的に焦点
合わせを行なうようにした顕微鏡の自動焦点装置に関す
る。
一般に顕微鏡においては複数の対物レンズ金儲えたレボ
ルバ−を回転させて対物レンズを切換えることにより倍
率を変えて観察が行なわれているが、対物レンズを切換
える度に焦点合わせが必要となる1辷め操作が面倒であ
った。
ルバ−を回転させて対物レンズを切換えることにより倍
率を変えて観察が行なわれているが、対物レンズを切換
える度に焦点合わせが必要となる1辷め操作が面倒であ
った。
従って本発明は、カバーガラスと対物レンズに各々電極
を配設してこの電極間の静電容量を測定することにより
カバーガラスと対物レンズとの間隔を検出し自動的に焦
点合わせを行なうようにした顕微鏡の自動焦点装置を提
供せんとするものであって、第1図に示した一実施例に
よりこれ全説明すれば、1はy、l!i微鏡ステージ上
に置かれたスライドガラス、2はカバーガラス、3はカ
バーガラス2に設けられた電極、4は対物レンズ、5は
対物レンズ4に設けられた電極である。dはカバーガラ
ス2の上側即ち電極3と対物レンズ4の電極5との間隔
で、このときの二つの電極3及び5のに 間の静電容量Cは第2図に示すようにC=−(K:比例
定数)なる式で与えられる。ここでCo。
を配設してこの電極間の静電容量を測定することにより
カバーガラスと対物レンズとの間隔を検出し自動的に焦
点合わせを行なうようにした顕微鏡の自動焦点装置を提
供せんとするものであって、第1図に示した一実施例に
よりこれ全説明すれば、1はy、l!i微鏡ステージ上
に置かれたスライドガラス、2はカバーガラス、3はカ
バーガラス2に設けられた電極、4は対物レンズ、5は
対物レンズ4に設けられた電極である。dはカバーガラ
ス2の上側即ち電極3と対物レンズ4の電極5との間隔
で、このときの二つの電極3及び5のに 間の静電容量Cは第2図に示すようにC=−(K:比例
定数)なる式で与えられる。ここでCo。
dOは合焦時の静電容量及び間隔である(第1図(B)
参照)。
参照)。
以−Lのように構成された本発明実施例によれば、カバ
ーガラス2の電極3と対物レンズ4の電極5との間の静
電容量Cを測定し、これと合焦時の静電容量COとを比
較して、C>COの場合にはd<d Oであるから顕微
鏡ステージを下げるか対物レンズを上げ、C<COの場
合にはdad OであるからVA微鏡ステージを上げる
か対物レンズを下げるように、顕微鏡ステージまたは対
物レンズをモータ等で電気的に上下動させてC=C0K
なったときに停止するように制御される。かくして自動
的に対物レンズの焦点合わせが行なわれる。
ーガラス2の電極3と対物レンズ4の電極5との間の静
電容量Cを測定し、これと合焦時の静電容量COとを比
較して、C>COの場合にはd<d Oであるから顕微
鏡ステージを下げるか対物レンズを上げ、C<COの場
合にはdad OであるからVA微鏡ステージを上げる
か対物レンズを下げるように、顕微鏡ステージまたは対
物レンズをモータ等で電気的に上下動させてC=C0K
なったときに停止するように制御される。かくして自動
的に対物レンズの焦点合わせが行なわれる。
尚、このようなサーボ機構は公知のものが使用され得る
。
。
第3図は本発明による自動焦点装置に用いるカバーガラ
スの一例を示している。6はカバーガラス、7はカバー
ガラス6の両面に全面に亘って一様に設けられた透明電
極である。第4図はカバーガラスの他の例な示すもので
、8はカバーガラス、9はカバーカラス8の上面及び下
面の各々四辺に設けられた電極で、この場合、通常の電
極でも透明電極でもよい。第3図、第4図に示されたカ
バーガラス6及び8は何れも電極が観察の邪rj11に
ならないように形成、されている。尚カバーガラスの電
極は例えば第5図に示すようにクレンメルIOに設けた
弾性接点端子11により計測装置に接続されるようにな
っており、静電容量の測定を精度よく行なうために接点
の影響を少なくするよう接点端子は好ましくはカバーガ
ラスを押える押えバネの形状のプラスチック等の絶縁材
料製端子カバー12内に埋め込まれ補強されている(第
6図恰照)。
スの一例を示している。6はカバーガラス、7はカバー
ガラス6の両面に全面に亘って一様に設けられた透明電
極である。第4図はカバーガラスの他の例な示すもので
、8はカバーガラス、9はカバーカラス8の上面及び下
面の各々四辺に設けられた電極で、この場合、通常の電
極でも透明電極でもよい。第3図、第4図に示されたカ
バーガラス6及び8は何れも電極が観察の邪rj11に
ならないように形成、されている。尚カバーガラスの電
極は例えば第5図に示すようにクレンメルIOに設けた
弾性接点端子11により計測装置に接続されるようにな
っており、静電容量の測定を精度よく行なうために接点
の影響を少なくするよう接点端子は好ましくはカバーガ
ラスを押える押えバネの形状のプラスチック等の絶縁材
料製端子カバー12内に埋め込まれ補強されている(第
6図恰照)。
第7図及び第8図は本発明による自動焦点装置に用いる
対物レンズの例を示しており、第7図ではリング状の電
@13が対物レンズ4の鏡筒部に設けられており、第8
図では対物レンズ4の先端カバ一部分に電極14が設け
られている。
対物レンズの例を示しており、第7図ではリング状の電
@13が対物レンズ4の鏡筒部に設けられており、第8
図では対物レンズ4の先端カバ一部分に電極14が設け
られている。
また、静電容量の検出の際に対物レンズ側の電極とカバ
ーガラス側の電極の水平方向位置がずれることによって
、静電容量が変化してしまう。これを防止するため、カ
バーガラスが対物レンズの1方の正規の位置へ持ち来だ
されるようにステージを水平方向に移動させ、例えば第
9図に示すように幾つかに等分割された電極15を使用
して各電極部分における静電容量を検出し、すべての静
電容量が等しくなるように調整すればよい。
ーガラス側の電極の水平方向位置がずれることによって
、静電容量が変化してしまう。これを防止するため、カ
バーガラスが対物レンズの1方の正規の位置へ持ち来だ
されるようにステージを水平方向に移動させ、例えば第
9図に示すように幾つかに等分割された電極15を使用
して各電極部分における静電容量を検出し、すべての静
電容量が等しくなるように調整すればよい。
さらに、カバーガラスの厚さには実際1僅かなバラツキ
があるため、これを補正するとさらに正確な焦点合わせ
が行なわれ得る。このために力Iく−ガラスの上面及び
下面に電極を設け、この電極間の静電容量全測定してカ
バーカラスの厚さを補正した上で本発明による装置を使
用すれば一層正確に焦点合わせを行なうことができる。
があるため、これを補正するとさらに正確な焦点合わせ
が行なわれ得る。このために力Iく−ガラスの上面及び
下面に電極を設け、この電極間の静電容量全測定してカ
バーカラスの厚さを補正した上で本発明による装置を使
用すれば一層正確に焦点合わせを行なうことができる。
上述の如く本発明によれば、カバーガラスと対物レンズ
に各々電極全配設してこの電極間の静電容量を測定する
ことによりカバーガラスと対物レンズとの間隔を検出し
て自動的に焦点合わせを行なうようにしたから、対物レ
ンズヶ切換える度に焦点合わせ全手作業で行なう必要が
なく操作が簡単になるという効果がある。
に各々電極全配設してこの電極間の静電容量を測定する
ことによりカバーガラスと対物レンズとの間隔を検出し
て自動的に焦点合わせを行なうようにしたから、対物レ
ンズヶ切換える度に焦点合わせ全手作業で行なう必要が
なく操作が簡単になるという効果がある。
第1図は本発明による顕微鏡の自動焦点装置の一実施例
を示す図、第2図は二つの電極の間の間隔と静電容量と
の関係を示す図、第、3図及び第4図は本発明による装
置で使用する電極を備えだカバーガラスの例を示す斜視
図、第5図はカバーガラスの電極のための接点端子の一
例ケ示す斜視図、第6図は接点端子の他の例を示す断面
図である。 l ・スライドガラス、2,6.8 カバーガラス
、3,5,7.9 ・電極、4一対物レンズ、10
クレンメル、11−接点端子、12・ 端子カバー、
13114.15 −電極。 弁理士 篠 原 泰 司 。 第5図 第7図 第8図 59−
を示す図、第2図は二つの電極の間の間隔と静電容量と
の関係を示す図、第、3図及び第4図は本発明による装
置で使用する電極を備えだカバーガラスの例を示す斜視
図、第5図はカバーガラスの電極のための接点端子の一
例ケ示す斜視図、第6図は接点端子の他の例を示す断面
図である。 l ・スライドガラス、2,6.8 カバーガラス
、3,5,7.9 ・電極、4一対物レンズ、10
クレンメル、11−接点端子、12・ 端子カバー、
13114.15 −電極。 弁理士 篠 原 泰 司 。 第5図 第7図 第8図 59−
Claims (2)
- (1)対物レンズに設けた電極と、カバーガラスに設け
た電極と、該二つの電極の間の静電容量を検出する手段
と、該静電容量から二つの電極の間の間隔を求める装置
と、該二つの電極の間の間隔を所足値に調整する装置と
を含んでいることを特徴とする、顕微鏡の自動焦点装置
。 - (2)カバーガラスの両面VC電極を設け、この間の静
電容量を求めることにより前記二つの電極の間の間隔を
補正するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲(
1)に記載の装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19311581A JPS5895310A (ja) | 1981-12-01 | 1981-12-01 | 顕微鏡の自動焦点装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19311581A JPS5895310A (ja) | 1981-12-01 | 1981-12-01 | 顕微鏡の自動焦点装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5895310A true JPS5895310A (ja) | 1983-06-06 |
Family
ID=16302497
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19311581A Pending JPS5895310A (ja) | 1981-12-01 | 1981-12-01 | 顕微鏡の自動焦点装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5895310A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02136212U (ja) * | 1989-04-20 | 1990-11-14 | ||
DE10244619A1 (de) * | 2002-09-25 | 2004-04-08 | Olympus Biosystems Gmbh | Einrichtung und Verfahren zur optischen Objektuntersuchung |
CN101770068A (zh) * | 2009-12-31 | 2010-07-07 | 上海杰远环保科技有限公司 | 一种能够实现镜头自动调节的方法及系统 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5191566A (en) * | 1975-02-07 | 1976-08-11 | Sangyosharyoniokeru shokoseigyosochi |
-
1981
- 1981-12-01 JP JP19311581A patent/JPS5895310A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5191566A (en) * | 1975-02-07 | 1976-08-11 | Sangyosharyoniokeru shokoseigyosochi |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02136212U (ja) * | 1989-04-20 | 1990-11-14 | ||
DE10244619A1 (de) * | 2002-09-25 | 2004-04-08 | Olympus Biosystems Gmbh | Einrichtung und Verfahren zur optischen Objektuntersuchung |
CN101770068A (zh) * | 2009-12-31 | 2010-07-07 | 上海杰远环保科技有限公司 | 一种能够实现镜头自动调节的方法及系统 |
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